CN102314898A - 回放设备、回放方法和程序 - Google Patents

Abstract

提供了回放设备、回放方法和程序。该回放设备包括：调整部件，基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于第一数据记录表面的倾斜；调整量测量部件，从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；获取部件，获取回放设备的慧形象差；和计算部件，基于第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于与第一数据记录表面不同的第二数据记录表面的倾斜。

Description

回放设备、回放方法和程序

技术领域

本公开涉及回放设备、回放方法和程序。

背景技术

由于在光学记录介质(光盘)的记录和再现中使用的光学拾取器的物镜的倾斜或者由于光盘的倾斜而发生慧形象差(coma aberration)。为了最小化慧形象差，调整物镜的倾斜和光盘的倾斜等。

例如在日本专利申请公开No.JP-A-2005-209283中公开了校正球面像差(spherical aberration)和慧形象差以获得在多层光记录介质的任何信息记录表面上的期望的斑点特性(spot characteristic)的技术。

发明内容

在这种情况下，利用具有多个信息记录表面的多层光学记录介质，当校正慧形象差时，当一次校正每一层时调整时间显著增加。例如，当光盘具有四层信息记录表面时，执行四次调整，并且与具有一层或两层的光盘相比，调整时间增加。

此外，在日本专利申请公开No.JP-A-2005-209283中不考虑初始的慧形象差。在此，初始的慧形象差是在光学拾取器的制造中产生的由物镜等引起的慧形象差。因此，在日本专利申请公开No.JP-A-2005-209283中，精度在实际使用中是不足的。

考虑到前面所述，期望提供能够在多层光学记录介质中快速调整倾斜和减少慧形象差的新颖的和改进的回放设备、回放方法和程序。

按照本公开的实施例，提供了回放设备，包括：调整部件，其基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于第一数据记录表面的倾斜；调整量测量部件，其从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；获取部件，其获取回放设备的慧形象差；和计算部件，其基于第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于与第一数据记录表面不同的第二数据记录表面的倾斜。

计算部件可以基于第一倾斜调整量、第二倾斜调整量和慧形象差，计算第三倾斜调整量以调整关于与第一数据记录表面和第二数据记录表面不同的第三数据记录表面的倾斜。

获取部件可以通过直接测量回放设备的物镜的慧形象差来获取慧形象差。

当物镜是倾斜的和固定的时，获取部件可以测量其余的慧形象差作为透镜倾斜并获取慧形象差。

计算部件可以基于第二倾斜调整量和慧形象差，计算第三倾斜调整量以调整关于与第一数据记录表面和第二数据记录表面不同的第三数据记录表面的倾斜。

按照本公开的另一实施例，提供了回放方法，包括步骤：基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于第一数据记录表面的倾斜；从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；获取回放设备的慧形象差；和基于第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于第二数据记录表面的倾斜，该第二数据记录表面与第一数据记录表面不同。

按照本公开的另一实施例，提供了程序，包括命令计算机以执行以下步骤的指令：基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于第一数据记录表面的倾斜；从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；获取回放设备的慧形象差；和基于第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于第二数据记录表面的倾斜，该第二数据记录表面与第一数据记录表面不同。

按照上面描述的本公开，可以在多层光学记录介质中快速调整倾斜并且减少慧形象差。

附图说明

图1是示出按照本公开第一实施例的光盘驱动设备的硬件电路块的硬件电路配置的框图；

图2示出按照本实施例的系统控制器的框图；

图3是示出多层光盘的示例的部分截面图；

图4是示出光盘、支撑并旋转光盘的主轴电机和光学拾取器的基本单元的部分侧视图；

图5是示出在可以直接测量的情况下推导出计算倾斜调整量的计算公式的方法的流程图；

图6是在物镜在制造时被倾斜并且附加的情况下推导出计算倾斜调整量的计算公式的方法的流程图；和

图7是示出用于估计关于多层光盘2的多个数据记录表面的倾斜校正量的方法的流程图。

具体实施方式

以下参考附图详细描述本公开的优选实施例。注意，在该说明书和附图中，具有基本上相同功能和结构的结构元件用相同的附图标记表示，并且省略对这些结构元件的重复解释。

注意，将按照以下顺序给出说明。

1.第一实施例

2.第二实施例

3.调整L0层的倾斜优选的原因

1.第一实施例

第一实施例的配置

图1示出按照本公开第一实施例的光盘驱动设备1的硬件电路块的硬件电路配置。光盘2可以被内部地加载到光盘驱动设备1中。光盘驱动设备1提供有光学拾取器3，以使得光学拾取器3面向内部地加载的光盘2的数据记录表面。此外，光学拾取器3由线程机构4保持为使得其可以在光盘2的径向方向上(以下称为盘径向方向)移动。

在用于在光盘驱动设备1中再现数据的光盘2的数据记录表面上形成摆动(已摆动的)沟槽(引导沟槽)。例如，沟槽预先摆动以具有恒定的线速度和均匀的频率。沟槽(和在沟槽之间的槽脊)形成在其上记录数据的轨道。关于沟槽的摆动，将数据记录表面中的地址信息(以下称为盘地址信息)(被称为前沟槽中地址(ADIP)信息)嵌入到光盘2中。

在光盘驱动设备1中，系统控制器5(例如是微型计算机)响应于从外部的音频视频(AV)系统AVS1发布的各种命令，例如读命令，整体地执行设备的中央控制。系统控制器5还执行多种处理。以这种方式，在光盘2被加载到光盘驱动设备1中并且光盘驱动设备1被激活的状态中，当输入开启电源命令时，或者在激活完成之后可以进行操作的状态中(即，电源开启的状态中)，当光盘2被加载到光盘驱动设备1中时，系统控制器5进入启动模式。

在此时，基于系统控制器5的控制，伺服电路6驱动线程机构4并使得光学拾取器3例如移动到面对光盘2的最里面的圆周的位置。此外，基于系统控制器5的控制，主轴驱动电路7驱动主轴电机8并且因此使得光盘2以恒定速度旋转。此外，当光盘2旋转时，激光驱动器9基于系统控制器5的控制而产生激光控制信号。所产生的激光控制信号(该激光控制信号使得连续发射激光束)被发送到光学拾取器3。

当光学拾取器3从激光驱动器9接收到激光控制信号时，基于激光控制信号，光学拾取器3使得激光束从激光二极管连续发射并且使得发射的激光束聚焦在物镜上并且照射光盘2的数据记录表面。此外，例如使用多个光接收元件，光学拾取器3接收并且光电转换当激光束由光盘2的数据记录表面反射时获得的反射光。以这种方式，光学拾取器3产生与由多个光接收元件中的每一个接收的反射光的量对应的电流值的信号(以下称为光电信号)并且将光电信号发送到矩阵电路10。

当矩阵电路10从光学拾取器3接收由多个光接收元件产生的光电信号时，在将每个光电信号转换为电压值之后，矩阵电路10选择性地使用电压值以执行矩阵计算处理、放大处理等。以这种方式，基于光电信号，矩阵电路10产生焦点误差信号，该焦点误差信号指示激光束的焦点关于光盘2的数据记录表面配合(correct)到何种程度。

此外，基于光电信号，矩阵电路10产生跟踪误差信号，该跟踪误差信号指示激光束的照射位置关于光盘2的数据记录表面的轨道配合到何种程度。矩阵电路10然后将焦点误差信号和跟踪误差信号发送到伺服电路6。

要指出的是，在此时，基于系统控制器5的控制，伺服电路6产生焦点搜索信号并且将焦点搜索信号发送到光学拾取器3。产生焦点搜索信号以搜索物镜的期望的位置，以使得激光束正确地聚焦在光盘2的数据记录表面上。以这种方式，伺服电路6使用焦点搜索信号以使得光学拾取器3的物镜沿着光轴移动，以例如逐步地移动靠近光盘2的数据记录表面。在此时，基于从矩阵电路10提供的焦点误差信号，执行焦点拉进(pull-in)操作，以使得激光束正确地聚焦在数据记录表面上。

然后，当这种焦点拉进操作完成时，伺服电路6基于从矩阵电路10连续提供的焦点误差信号，产生焦点控制信号并且将焦点控制信号发送到光学拾取器3。以这种方式，伺服电路6通过使用焦点控制信号以在沿着光轴的方向上适当地移动光学拾取器3的物镜，使得其接近(即移动靠近)光盘2的数据记录表面(该方向在以下称为接近方向)并且在相反方向上适当地移动光学拾取器3的物镜以使得其与数据记录表面分开(即，移动离开)(该方向在以下称为远离方向)，来使得激光束聚焦在光盘2的数据记录表面上。通过这样做，伺服电路6与光学拾取器3和矩阵电路10一起形成焦点伺服回路，并且因此关于光盘2的数据记录表面跟踪激光束的焦点。

此外，基于系统控制器5的控制，伺服电路6产生轨道搜索信号，产生该轨道搜索信号以将激光束的照射位置对准在光盘2的数据记录表面上的轨道上，并且将轨道搜索信号传输到光学拾取器3。以这种方式，伺服电路6使用轨道搜索信号以例如在盘径向方向上逐步移动光学拾取器3的物镜。在此时，基于从矩阵电路10提供的跟踪误差信号，执行激光束的轨道拉进操作，使得激光束的照射位置对准数据记录表面的轨道。

然后，当激光束的这种轨道拉进(pull-in)操作完成时，伺服电路6基于从矩阵电路10连续提供的跟踪误差信号，产生跟踪控制信号并且将跟踪控制信号发送到光学拾取器3。以这种方式，伺服电路6通过使用跟踪控制信号以在盘径向方向上适当地移动光学拾取器3的物镜，使得激光束照射到光盘2的轨道上。通过这样做，伺服电路6与光学拾取器3和矩阵电路10一起形成跟踪伺服回路，并且因此关于光盘2的轨道跟踪激光束的照射位置。

此外，当焦点拉进操作和轨道拉进操作完成时，在将从光学拾取器3提供的多个光电信号中的每一个转换为电压值之后，矩阵电路10选择性地使用电压值以执行矩阵计算处理、放大处理等。以这种方式，除了基于光电信号产生焦点误差信号和跟踪误差信号，矩阵电路10还产生摆动信号，该摆动信号指示在光盘2上形成的沟槽的摆动的幅度(以下称为摆动幅度)。矩阵电路10然后将摆动信号发送到摆动电路11。

摆动电路11解调从矩阵电路10提供的摆动信号并且产生流数据以检测盘地址信息。摆动电路11将流数据发送到地址产生电路12。地址产生电路12对从摆动电路11提供的流数据执行解码处理，并且将作为解码处理的结果获得的盘地址信息发送到系统控制器5。

以这种方式，系统控制器5可以按照从地址产生电路12提供的盘地址信息来检测关于光盘2的数据记录表面的激光束的照射位置。注意，系统控制器5处于如下状态，在该状态中其可以检测并且获得激光束关于光盘2的数据记录表面的照射位置作为例如盘地址信息，并且然后，当从AV系统AVS1发布读命令时，系统控制器5从启动模式转换到再现模式。

在此时，当由AV系统AVS1指定了指示数据读开始位置的地址信息时，系统控制器5使得在那时从地址产生电路12提供的盘地址信息(即，在那个时间点激光束关于光盘2的数据记录表面的照射位置)与指示读开始位置的地址信息比较，并且必要时产生搜寻(seek)命令信号。然后系统控制器5将搜寻命令信号发送到伺服电路6。

当伺服电路6从系统控制器5接收搜寻命令信号时，伺服电路6临时分离跟踪伺服回路。然后，伺服电路6基于搜寻命令信号产生搜寻控制信号，并且将搜寻控制信号发送到线程机构4。伺服电路6因此使用搜寻控制命令信号驱动线程机构4，并且使得光学拾取器3执行搜寻操作，以使得其在盘径向方向上跳过多个轨道。

应当指出，当系统控制器5使得光学拾取器3在盘径向方向上执行搜寻操作时，其产生轨道跳跃命令信号并且将轨道跳跃命令信号发送到伺服电路6。当伺服电路6从系统控制器5接收轨道跳跃命令信号时，基于轨道跳跃命令信号，伺服电路6在跟踪伺服回路处于分离状态的同时产生跳跃控制信号，并且将跳跃控制信号发送到线程机构4。

伺服电路6因此使用跳跃控制命令信号驱动线程机构4并且使得光学拾取器3在盘径向方向上稍微移动，由此将激光束的照射位置拉到包括光盘2上的再现目标的数据读开始位置的轨道。注意，当相对于轨道拉动激光束的照射位置完成时，伺服电路6再次形成跟踪伺服回路。

此外，在此时，系统控制器5向激光驱动器9指定激光束的读出输出值。由此，按照系统控制器5的命令，激光驱动器9产生激光控制信号从而以读出输出值连续发射激光束，并且将激光控制信号发送到光学拾波器3。

以这种方式，基于从激光驱动器9提供的激光控制信号，光学拾取器3使得以读出输出值从激光二极管连续发射激光束。发射的激光束被聚焦在物镜上并且照射到光盘2的数据记录表面上。此外，使用多个光接收元件，光学拾取器3接收并光电转换当激光束由光盘2的数据记录表面反射时获得的反射光。以这种方式，光学拾取器3产生光电信号并且然后将光电信号发送到矩阵电路10。

当矩阵电路10从光学拾取器3接收多个光电信号时，在将每个光电信号转换为电压值之后，矩阵电路10选择性地使用电压值以执行矩阵计算处理、放大处理等。以这种方式，基于光电信号，矩阵电路10产生焦点误差信号、跟踪误差信号和摆动信号。此外，矩阵电路10还产生与再现目标的数据对应的高频信号(以下称为RF信号)。然后，除了将焦点误差信号和跟踪误差信号发送到伺服电路6并且将摆动信号发送到摆动电路11之后，矩阵电路10还将RF信号发送到读取器电路13。

读取器电路13对从矩阵电路10提供的RF信号执行二进制处理，并且将作为二进制处理的结果获得的调制数据发送到解调电路14。此外，读取器电路13在那时使用RF信号以执行锁相回路(PLL)处理，并且由此产生用于再现处理的操作时钟(以下称为再现操作时钟)。然后读取器电路13将再现操作时钟提供到其它部件。

解调电路14与从读取器电路13提供的再现操作时钟同步地操作。然后，解调电路14对从读取器电路13提供的调制数据执行解调处理，诸如运行长度受限的解码处理，并且将作为结果获得的编码数据发送到解码器15。

解码器15也与在那时从读取器电路13提供的再现操作时钟同步地操作。然后，例如对从解调电路14提供的添加了误差校正码的编码的数据的每个单元块，解码器15执行误差检测/校正处理和解码处理，诸如解交织处理。解码器15由此产生再现目标数据并且将产生的数据存储在内部缓冲器中。

此外，按照来自AV系统AVS1的命令，例如每次解码器15将与预定数量的单元块、诸如四个单元块对应的数据存储在缓冲器中时，解码器15从缓冲器中读出预定数量的单元块的数据并且将数据发送到AV系统AVS1。以这种方式，系统控制器5可以再现记录在光盘2的数据记录表面上的数据并且将数据传送到AV系统AVS1。

在此时应当注意，例如基于从读取器电路13提供的再现操作时钟，主轴驱动电路7检测主轴电机8的当前旋转速度。此外，例如主轴驱动电路7使得当前旋转速度与预定参考速度比较，这使得光盘2以恒定的线速度旋转。主轴驱动电路7由此产生主轴误差信号，该主轴误差信号指示主轴电机8的旋转速度在何种程度上与参考速度匹配。

然后，基于主轴误差信号，主轴驱动电路7产生主轴控制信号，并且将主轴控制信号发送到主轴电机8。主轴驱动电路7以这种方式使用控制信号来使得主轴电机8旋转，并且由此使得光盘2以恒定的线速度旋转。

光学拾取器3具有用于监视激光束的输出的光接收元件(以下，这些被特别地称为监视光接收元件)。为此原因，光学拾取器3使用监视光接收元件，接收并光电转换当激光束由光盘2的数据记录表面反射时获得的一些反射光。由此，光学拾取器3产生激光束输出监视信号(以下称为输出监视信号)并且将输出监视信号发送到激光驱动器9。

激光驱动器9具有自动功率控制(APC)电路。作为结果，在控制光学拾取器3的激光二极管的同时，激光驱动器9将从光学拾取器3提供的输出监视信号馈送到APC电路。以这种方式，激光驱动器9使用APC电路基于输出监视信号监视激光束的输出，并且适当地调整激光控制信号的值，由此执行控制，以使得以恒定的读出输出来输出激光束，而无论环境温度的变化等如何。

此外，当激光束正被照射到光盘2的数据记录表面上时，伺服电路6基于例如作为跟踪误差信号的低频分量获得的线程误差信号产生线程控制信号。伺服电路6将线程控制信号发送到线程机构4。伺服电路6由此使用线程控制信号驱动线程机构4并且使得光学拾取器3在盘径向方向上逐渐移动。以这种方式，伺服电路6可以使得从光盘2的数据记录表面沿着轨道读取再现目标数据。

接下来参考图2解释按照本实施例的光盘驱动设备1的系统控制器5。图2是示出按照本实施例的系统控制器5的框图。

如图2所示，系统控制器5包括测量部件102和估计部件104。

测量部件102是调整部件的示例，并且调整关于光盘2的多个数据记录表面之中的一个数据记录表面的倾斜。此外，测量部件102是调整量测量部件的示例，并且从调整倾斜的结果计算用于数据记录表面之一的倾斜调整量。注意，在倾斜调整中，通过检测激光束的光轴方向等，将光学拾取器3的物镜倾斜并调整以使得减少慧形象差。公知技术可用于倾斜调整，并且在本说明书中省略详细解释。

估计部件104是获取部件的示例，并且获取光盘驱动设备1和光学拾取器3本身的慧形象差。估计部件104可以测量物镜的慧形象差并且获取慧形象差。替代地，当物镜在制造光学拾取器3时被倾斜和固定时，估计部件104可以测量其余的慧形象差作为透镜倾斜并且可以获取慧形象差。

估计部件104是计算部件的示例。基于对于另一层的和关于慧形象差的测量的倾斜调整结果量和/或估计的倾斜调整量，估计部件104计算另一层的倾斜调整量。

第一实施例的操作

接下来，将解释按照本实施例的用于估计多层光盘2的多个数据记录表面的倾斜校正量的方法。图7是示出用于估计多层光盘2的多个数据记录表面的倾斜校正量的方法的流程图。在本实施例中，示出了一种方法，在该方法中，通过倾斜物镜来执行倾斜调整。注意，甚至当使用不同于物镜的其它组件，诸如液晶元件来执行倾斜调整时，可以采用类似的方法。

首先，将多层光盘2插入到光盘驱动设备1中(步骤S31)。通过这样做，开始准备将数据记录到多层光盘2上或再现在多层光盘2上的数据。以下，作为用于记录或用于再现的准备，将解释倾斜调整。

更具体地，关于多层光盘2的多个数据记录表面的某单个层(例如L0层)执行倾斜调整(步骤S32)。因为由于光学拾取器3的物镜倾斜并且由于光盘2的倾斜而发生慧形象差，所以可以通过倾斜物镜来减少慧形象差。

然后，当调整完成时，获取倾斜调整结果量[deg]，其指示用于某单个层的倾斜调整的物镜的倾斜角度。

接下来，从存储器6读出预先估计或计算的初始慧形象差Ic。然后，基于获取的倾斜调整结果量和基于初始慧形象差Ic，估计每个其它层(例如L1层、L2层和L3层)的倾斜调整量(步骤S33)。倾斜调整量是一角度[deg]，对于关于其它层的倾斜调整以该角度倾斜物镜。正如后面将解释的，如果对于某单个层获取倾斜调整结果量，则可以估计用于其它层之一的倾斜调整量，并且如果可以对于其它层之一估计倾斜调整量，则可以对于其它层中的另一个估计倾斜调整量。

然后，当数据实际被写到数据记录表面上或从数据记录表面读取时，基于每一层的估计的倾斜调整量，倾斜物镜，并且将数据记录到多层光盘2上或者再现多层光盘2上的数据。

接下来，将解释用于估计或计算初始慧形象差Ic的方法和用于计算倾斜调整量的方法。初始慧形象差Ic是在光学拾取器3的制造时发生的由物镜等导致的慧形象差。图5是示出在可以直接测量的情况下用于推导出计算倾斜调整量的计算公式的方法的流程图。图6是在物镜在制造时被倾斜和附加的情况下用于推导出计算倾斜调整量的计算公式的方法的流程图。

初始慧形象差Ic存在两种模式，即，可以直接测量初始慧形象差的情况(第一工作示例)和当制造时物镜被倾斜和安装时测量其余的慧形象差作为透镜倾斜并且计算初始慧形象差Ic的情况(第二工作示例)。

在第一工作示例中，当获取了初始慧形象差Ic时，将初始慧形象差Ic存储在存储器16中。在第二工作示例中，代替初始慧形象差Ic，将用于计算初始慧形象差Ic的参数预先存储在存储器16中。读出参数并且计算初始慧形象差Ic。

在物镜被倾斜和调整之后的误差[λrms]如以下公式所示：

[公式1]

Error＝DTs_LiDt+Ic-LTs_LiTLi_adj    公式1

这里，Dt是加载的多层光盘2的歪斜(skew)量[deg]。

初始慧形象差Ic是对光学拾取器3特定的慧形象差[λrms]。当初始慧形象差Ic的方向与如图4所示当倾斜Dt时发生的象差的方向相同时，初始慧形象差Ic被定义为正的。

TLi_adj是一角度[deg]，对于Li层以该角度倾斜和调整物镜。

LTs_Li是从透镜倾斜[deg]转换为慧形象差[λrms]的转换因数。通过在物镜的设计时的仿真和通过物镜的实际测量计算上述转换因数LTs_Li。

Dts_Li是从盘倾斜[deg]转换为慧形象差[λrms]的转换因数，并且由公式2表示。

[公式2]

$\frac{t}{2}\frac{(N^2-1)N^2\sin \mathrm{Dt}\cos \mathrm{Dt}}{{(N^2-{\sin }^2\mathrm{Dt})}^{\frac{5}{2}}}{\mathrm{NA}}^3$ 公式2

这里，盘厚度是t、折射率是N并且数值光圈是NA。

第一工作示例：可以直接测量初始慧形象差的情况

将描述可以在光学拾取器3的制造等时直接测量由对光学拾取器3特定的物镜引起的慧形象差的情况，即，可以直接获得初始慧形象差Ic的情况。

首先，测量初始慧形象差Ic(步骤S11)。用于直接测量初始慧形象差Ic的方法例如包括使用干涉计、诸如Mach-Zehnder干涉计的方法或使用Shack-Hartmann波前传感器的方法，等等。

如果将对于其已经获得了倾斜调整结果量或倾斜调整量的层作为基本层(Lb)，则对于其要估计倾斜调整量的层是目标层(Lt)。

在此，当可以通过倾斜物镜完全执行倾斜调整时，公式1的两边都为零(0)。换言之，获得以下公式。

[公式3]

$\left\{\begin{array}{c}0={\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lt}}\mathrm{Dt}+\mathrm{Ic}-{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}{\mathrm{TLt}}_{\mathrm{adj}}\\ 0={\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}\mathrm{Dt}+\mathrm{Ic}-{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lb}}{\mathrm{TLb}}_{\mathrm{adj}}\end{array}\right.$ 公式3

如果从上述公式3移除Dt，则获得以下公式4。

[公式4]

TLt_adj＝ATLb_adj+BIc    公式4

在此，因数A和B通过以下公式5表示。

[公式5]

$A=\frac{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lt}}}{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}}\frac{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lb}}}{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}},B=\frac{1}{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}}\left(\frac{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}-{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lt}}}{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}}\right),$ 公式5

由此，从公式4可以计算对于目标层的倾斜调整量(即，关于目标层倾斜并调整物镜的角度)。可以从基本层倾斜调整结果量或倾斜调整量和初始慧形象差Ic计算倾斜调整量。

第二工作示例：在制造时物镜被倾斜和附加以增加倾斜校正量的范围并且可以测量其余的慧形象差作为透镜倾斜的情况。

当要测量的物镜等的初始慧形象差Ic大时应用第二工作示例。当初始慧形象差Ic小时，当插入了盘歪斜为零[deg]的盘时，无需倾斜物镜。另一方面，当初始慧形象差Ic大时，即使当插入了盘歪斜为零[deg]的盘时，也需施加电压并倾斜物镜。例如，在为了消除初始慧形象差Ic而施加的电压是100[mV]并且可施加的电压是±200[mV]时，在正面上只能再施加100[mV]，并且关于具有大程度歪斜的盘，倾斜调整可能变得不可能。

为了解决上述问题，在光学拾取器3的制造时，将物镜倾斜并附加以使得初始慧形象差Ic被消除(步骤S21)。倾斜角度被置为θrad[deg]。此外，关于具有零盘倾斜的盘，测量在附加物镜之后剩余的盘倾斜量Rs(剩余歪斜Rs)(步骤S22)。在这种情况下，在光学拾取器3的制造等时，通过以下公式6表示对光学拾取器3特定的物镜等的初始慧形象差Ic。

[公式6]

Ic＝LTs_L0θrad+DTs_L0Rs    公式6

这指示当物镜被完全倾斜和调整时，上述公式1的两边都变为零。换言之，获得以下公式7。

[公式7]

$\left\{\begin{array}{c}0={\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lt}}\mathrm{Dt}+\mathrm{Ic}-{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}({\mathrm{TLt}}_{\mathrm{adj}}-\mathrm{\θrad})\\ 0={\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}\mathrm{Dt}+\mathrm{Ic}-{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lb}}({\mathrm{TLb}}_{\mathrm{adj}}-\mathrm{\θrad})\\ \mathrm{Ic}={\mathrm{LTs}}_{L0}\mathrm{\θrad}+{\mathrm{DTs}}_{L0}\mathrm{Rs}\end{array}\right.$ 公式7

如果移除Ic和Dt，则获得以下公式8。

[公式8]

TLt_adj＝ATLb_adj+Bθrad+CRs_L0    公式8

在此，因数A、B和C由以下公式9表示。

[公式9]

$A=\frac{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lt}}}{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}}\frac{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lb}}}{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}},C=\frac{{\mathrm{DTs}}_{L0}}{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}}(1-\frac{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lt}}}{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}}),$ 公式9

$B=\frac{{\mathrm{LTs}}_{L0}}{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}}-1-\frac{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lt}}}{{\mathrm{DTs}}_{\mathrm{Lb}}}\frac{({\mathrm{LTs}}_{L0}+{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lb}})}{{\mathrm{LTs}}_{\mathrm{Lt}}},$

可以从公式9计算用于目标层的倾斜调整量(即，关于目标层将物镜倾斜并调整的角度)。可以从基本层倾斜调整结果量或倾斜调整量、物镜被倾斜和附加时的θrad[deg]、和附加物镜之后的剩余盘倾斜量Rs，来计算倾斜调整量。

在制造时，将第一工作示例或第二工作示例的方法的各个值存储在存储器中(步骤S12或步骤S23)。

然后，当插入盘时(步骤S31)，例如执行关于L0层的倾斜调整(步骤S32)。然后，可以顺序地估计其它层L1、L2和L3的倾斜调整值(步骤S33)。换言之，当计算了下一层的TLt_adj时，关于某一层使用公式4或公式8计算的TLt_adj代替公式4或公式8中的TLt_adj。通过重复这样，可以顺序地计算多个层的倾斜调整值。

以上述方式，按照本实施例，在一层的倾斜调整之后，有可能估计其余的层的倾斜调整，并且由此可以减小倾斜调整时间。此外，由于考虑了初始慧形象差，因此可以提高倾斜调整性能。

2.第二实施例

现在解释期望比第一实施例甚至更高程度的倾斜调整精度的情况。具体地，在第二实施例中，从两层估计另一单个层的倾斜调整量。

例如，当对于两层L0和L1执行倾斜调整时，使用在第一实施例中描述的方法，可以从两个变量计算L0层倾斜调整量，即(1)作为L0层的倾斜调整结果获得的L0层的倾斜调整结果量，和(2)从L1层倾斜调整量估计的L0层倾斜调整量。

在这种情况下，通过基于L1层的调整变化和由乘以初始慧形象差的测量误差的各个因数获得的误差估计值来计算用于平均的比率，可以将从L0层本身的调整误差和L1层所估计的L0层的倾斜调整量计算为具有最小误差。然后，将所计算的比率用于计算L0层的倾斜调整量，以得到提高的调整精度。

此外，可以从L0层估计并获得、或从L1层估计并获得L2层。

3.调整L0层的倾斜优选的理由

接下来，解释为何对L0层而不是对其它层执行倾斜调整要更好的理由。如图3所示，当从光学拾取器3侧上的表面(即，从激光入射侧上的表面)看时，L0层位于光盘2的深度位置，即，在具有厚度的位置，这些层按照L1、L2、L3的顺序越来越靠近光学拾取器3侧上的表面。L0层例如位于离光盘2的表面100μm深度的位置，并且其它层被布置为以10μm或更答的间隔互相临近。LTs_Li接近与盘厚度成反比的值，而DTs_Li接近与盘厚度成比例的值。

例如，以L0层和L1层为例，假定以下三个假设。

慧形象差对于L0层倾斜调整误差和对于L1倾斜调整误差是相同的。

Ic测量精度好并且测量误差为零(当然，Ic值对于每个个体差别是不同的)。

[公式10]

LTs_Li＝α/t_Li，DTs_Li＝βt_Li

如果假定，L0调整精度对于L0的盘倾斜转换是0.1度，则按照以下公式11表达L0的物镜转换精度。

[公式11]

$0.1\frac{\mathrm{\α}}{t_{L0}^2}$

然后，按照公式12表达L1的物镜转换精度。

[公式12]

$0.1\frac{\mathrm{\α}}{t_{L0}{t}_{L1}}$

此处，从L0到L2估计的误差表达为公式13。

[公式13]

eTL2_adj＝A(TL0_adj+eTL0_adj)+B(Ic+eIc)-{ATL0_adj+BIc}

此处，eTLO_adj是调整误差并且eIc是Ic测量误差。此外，如果此时假定eIc＝0，则获得公式14。

[公式14]

${\mathrm{eTL}2}_{\mathrm{adj}}=\frac{{\mathrm{DTs}}_{L2}}{{\mathrm{DTs}}_{L0}}\frac{{\mathrm{LTs}}_{L0}}{{\mathrm{LTs}}_{L2}}\mathrm{eTL}{0}_{\mathrm{adj}}$

$=\frac{t_{L2}^2}{t_{L0}^2}{\mathrm{eTL}0}_{\mathrm{adj}}$

$=0.1\frac{t_{L2}^2}{t_{L0}^2}\frac{\mathrm{\α}}{t_{L0}^2}$

类似地，从L1至L2估计的误差表达为公式15。

[公式15]

${\mathrm{eTL}2}_{\mathrm{adj}}=\frac{{\mathrm{DTs}}_{L2}}{{\mathrm{DTs}}_{L1}}\frac{{\mathrm{LTs}}_{L1}}{{\mathrm{LTs}}_{L2}}{\mathrm{eTL}1}_{\mathrm{adj}}$

$=0.1\frac{t_{L2}^2}{t_{L1}^2}\frac{\mathrm{\α}}{t_{L0}{t}_{L1}}$

因此，由于L0层的厚度大于L1层的厚度，所以调整误差更小。该差别表达为公式16。

[公式16]

$\frac{t_{L1}^3}{t_{L0}^3}$

换言之，当从具有较大厚度的层执行估计时，调整误差变得更小。

以上参考附图详细描述了本公开的示例性实施例。然而，本公开不限于上面描述的示例。本领域技术人员应当理解的是，只要在所附权利要求或其等价物的范围内，可以根据设计要求或其他因素进行各种修改、组合、部分组合和替换。

例如，在上述第一和第二实施例中，描述了将按照本公开的回放设备应用于光盘驱动设备1的情况。然而，本公开不限于该示例并且可以广泛应用于多种其它结构的记录/回放设备，诸如可以将数据记录到光盘上或者可以再现在光盘中的数据的信息处理设备，包括个人计算机或游戏控制台、汽车导航设备、电视接收器等。

此外，在上述第一和第二实施例中，系统控制器5按照多种程序执行多种处理。可以将程序预先存储在光盘驱动设备1的ROM中，或者可以使用程序存储介质安装程序。然后，程序存储介质使得程序被安装到光盘驱动设备1中并且处于可执行的状态。程序存储介质例如可以是封装介质，诸如软盘、CD-ROM或DVD。替代地，程序存储介质可以是在上面临时地或永久地存储多种程序的半导体存储器或磁盘等。此外，作为将程序存储到这种程序存储介质上的方法，可以使用有线或无线通信介质，诸如局域网、因特网或数字卫星广播等。替代地，可以经由多种通信接口、诸如路由器或调制解调器等来存储程序。

本申请包含涉及与在2010年6月30日在日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2010-149581中公开的主题有关的主题，将其全部内容通过引用合并于此。

Claims (11)

1.一种回放设备，包括：

调整部件，基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于所述第一数据记录表面的倾斜；

调整量测量部件，从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；

获取部件，获取所述回放设备的慧形象差；和

计算部件，基于所述第一倾斜调整量和所述慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于与所述第一数据记录表面不同的第二数据记录表面的倾斜。

2.根据权利要求1所述的回放设备，

其中，所述计算部件基于所述第一倾斜调整量、第二倾斜调整量和慧形象差，计算第三倾斜调整量以调整关于与所述第一数据记录表面和第二数据记录表面不同的第三数据记录表面的倾斜。

3.根据权利要求2所述的回放设备，

其中，所述获取部件通过直接测量所述回放设备的物镜的慧形象差来获取所述慧形象差。

4.根据权利要求2所述的回放设备，

其中，当物镜倾斜并且固定时，所述获取部件测量其余的慧形象差作为透镜倾斜并获取慧形象差。

5.根据权利要求1所述的回放设备，

其中，所述计算部件基于所述第二倾斜调整量和慧形象差，计算第三倾斜调整量以调整关于与所述第一数据记录表面和第二数据记录表面不同的第三数据记录表面的倾斜。

6.根据权利要求5所述的回放设备，

其中，所述获取部件通过直接测量所述回放设备的物镜的慧形象差来获取所述慧形象差。

7.根据权利要求5所述的回放设备，

其中，当物镜倾斜并且固定时，所述获取部件测量其余的慧形象差作为透镜倾斜并获取慧形象差。

8.根据权利要求1所述的回放设备，

其中，所述获取部件通过直接测量所述回放设备的物镜的慧形象差来获取所述慧形象差。

9.根据权利要求1所述的回放设备，

其中，当物镜倾斜并且固定时，所述获取部件测量其余的慧形象差作为透镜倾斜并获取慧形象差。

10.一种回放方法，包括步骤：

基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于所述第一数据记录表面的倾斜；

从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；

获取所述回放设备的慧形象差；和

基于所述第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于第二数据记录表面的倾斜，所述第二数据记录表面与第一数据记录表面不同。

11.一种程序，包括命令计算机以执行以下步骤的指令：

基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于所述第一数据记录表面的倾斜；

从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；

获取所述回放设备的慧形象差；和

基于所述第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于第二数据记录表面的倾斜，其中所述第二数据记录表面与第一数据记录表面不同。

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