CN102221613B - 样本分析仪 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：试剂容器固定部件，用于固定带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的复数支试剂容器；天线部件，向所述试剂容器固定部件所固定的试剂容器的电子标签发射电波；及限制部件，设置于所述试剂容器固定部件固定的试剂容器的电子标签与所述天线部件之间，用于限制所述天线部件发射的电波的范围。

Description

样本分析仪
技术领域：
本发明涉及一种样本分析仪，特别是涉及一种配置有带有电子标签的试剂容器的样本分析仪，所述电子标签上记录着试剂信息。
背景技术：
人们已经知道，历来有一种样本分析仪配置带有记录着试剂信息的电子标签的试剂容器。
比如日本专利公报No.2009/210444上公开了一种自动分析装置，其包括：固定数支带无线IC标签的试剂容器的试剂容器固定部件，其中所述无线IC标签上记录有试剂信息；从无线IC标签接收电波的天线部件；从天线部件接收无线IC标签返回的电波的信息读取及存储部件；探测在天线部件正面位置有无试剂容器的传感器。此自动分析装置中，当试剂容器位于天线部件正面位置时实施试剂信息读取作业，当试剂容器不在天线部件正面位置时信息读取及存储部件不向天线部件发送信号，不实施试剂信息读取作业。
在数支试剂容器并列固定的分析仪中，一次读取作业可能从数个电子标签读取试剂信息，此时很难判断哪个试剂信息是从读取目标电子标签读取的信息。
比如，日本专利公报No.2009/210444上公开的自动分析装置中，如果从与天线部件正面位置的试剂容器相邻的试剂容器的无线IC标签读取了试剂信息，很难辨别哪个试剂信息是从天线部件正面位置的试剂容器的电子标签读取的信息。为避免这种情况发生，必须确保试剂容器之间有很大的配置间隔，因此存在仪器体积相应增大的问题。
发明内容：
本发明的范围只由后附权利要求书所规定，在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。
即，本发明提供：
(1)一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：试剂容器固定部件，用于固定带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的复数支试剂容器；天线部件，向所述试剂容器固定部件所固定的试剂容器的电子标签发射电波；及限制部件，设置于所述试剂容器固定部件固定的试剂容器的电子标签与所述天线部件之间，用于限制所述天线部件发射的电波的范围。
(2)(1)所述的样本分析仪，其中，所述限制部件包含带间隙的金属部件，所述间隙用于让所述天线部件发射的所述电波通过。
(3)(2)所述的样本分析仪，其中，所述间隙一直延伸到所述金属部件的末端。
(4)(2)所述的样本分析仪，其中，所述间隙的垂直方向长度大于所述间隙的水平方向长度。
(5)(1)所述的样本分析仪，包括：移动所述试剂容器固定部件和所述天线部件中的至少其中之一的驱动部件。
(6)(5)所述的样本分析仪，其中，所述限制部件相对于所述天线部件的位置是固定的。
(7)(6)所述的样本分析仪，其中，所述驱动部件移动所述试剂容器固定部件，使读取目标试剂信息的电子标签位于所述天线部件的正面位置；及所述限制部件用于限制所述天线部件发射的电波到达与所读取的目标电子标签相邻的电子标签。
(8)(6)所述的样本分析仪，其中，所述天线部件包含发射电波的天线基板和固定所述天线基板的天线固定部件；及所述限制部件安装在所述天线固定部件上。
(9)(8)所述的样本分析仪，包括：收纳所述试剂容器固定部件和所述天线部件的收纳部件；及冷却所述试剂的冷却部件，其中所述天线固定部件在可透过电波的状态下覆盖所述天线基板。
(10)(1)所述的样本分析仪，其中，所述复数支试剂容器包括复数支带第一电子标签的第一试剂容器和复数支带第二电子标签的第二试剂容器；所述试剂容器固定部件包含固定所述复数支第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述复数支第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；所述天线部件包含向所述第一电子标签发射电波的第一天线部件和向所述第二电子标签发射电波的第二天线部件；及所述限制部件包含设置在所述第一电子标签和所述第一天线部件之间的第一限制部件，以及设置在所述第二电子标签和所述第二天线部件之间的第二限制部件。
(11)(1)所述的样本分析仪，其中，所述复数支试剂容器包含带第一电子标签的第一试剂容器和带第二电子标签的第二试剂容器；所述试剂容器固定部件包含固定所述第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；所述天线部件配置在所述第一试剂容器固定部件和所述第二试剂容器固定部件之间；及所述限制部件设在所述第一电子标签和所述天线部件之间以及所述第二电子标签和所述天线部件之间这两个位置中的至少其中一处。
(12)(11)所述的样本分析仪，其中，所述第一试剂容器固定部件从平面看呈圆环形，固定复数支第一试剂容器；所述第二试剂容器固定部件从平面看在所述第一试剂容器固定部件内侧呈圆环形，固定复数支第二试剂容器；及所述限制部件设在所述第二试剂容器固定部件的第二试剂容器的第二电子标签和所述天线部件之间。
(13)一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：试剂容器固定部件，用于固定复数支带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的试剂容器；向所述电子标签发射电波的天线部件，其中所述天线部件向所述电子标签发射的电波范围受到限制。
(14)(13)所述的样本分析仪，其中，所述天线部件包含限制向所述电子标签发射电波的范围的限制部件。
根据上述(1)或(13)的结构，可以防止误读取无需读取试剂信息的电子标签上记录的试剂信息。因此，即使不加大相邻试剂容器之间的配置间隔，也可以防止误读取无需读取试剂信息的电子标签上记录的试剂信息。从而可以抑制仪器本身体积增大。
根据上述(2)的结构，可以用金属部件间隙以外的部分遮挡不需要的电波，从而可以方便地将天线部件发射的电波范围限制在所希望的范围内。
根据上述(3)的结构，可以使间隙不被金属部件包围，从而避免金属部件产生涡电流。如此可以防止通过间隙的电波输出减弱。如果间隙完全被金属部件包围，通过间隙的电波就会在间隙周围的金属部件产生涡电流，电波的输出会因这种涡电流而削弱。
根据上述(4)的结构，可以防止在试剂容器水平方向相邻配置的状态下，误读取无需读取试剂信息的电子标签上记录的试剂信息。
根据上述(5)的结构，可以用天线部件切实读取数支试剂容器各自附带的电子标签的试剂信息。
根据上述(6)的结构，即使天线部件移动，限制部件和天线部件的相对位置关系不变，不必进行相互间的对位，因此可以用天线部件更切实地读取数支试剂容器各自所附带的电子标签的试剂信息。又因为不必为数支试剂容器逐个设置限制部件，以此可以控制零部件数量的增加。
根据上述(8)的结构，可以将限制部件固定地安装在天线固定部件上，可以切实保持限制部件和天线部件的相对位置关系。
根据上述(9)的结构，当用冷却部件冷却试剂时，可以用覆盖天线基板的天线固定部件防止因结露而产生的水滴附着在天线基板上。以此还可以防止因天线基板上附着水滴而引起构成天线基板的线路短路。
根据上述(10)的结构，可以用更短的时间获取记录在数个电子标签中的试剂信息。
根据上述(11)的结构，可以共用一个天线部件来获取第一电子标签和第二电子标签上记录的试剂信息，从而得以相应地控制零部件数量的增加。
根据上述(12)的结构，在第一试剂容器固定部件内环一侧的、基本上为圆环状的第二试剂容器固定部件，其外环周长小于第一试剂容器固定部件，因此，数支第二试剂容器往往会比数支第一试剂容器更紧凑地配置。即使如此，也可以避免天线部件发射的电波误到达无需读取试剂信息的电子标签。
附图说明：
图1为本发明第一实施方式涉及的免疫分析仪的整体结构斜视图；
图2为图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪的整体结构平面图；
图3为说明图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪结构的框图；
图4为图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪的试剂放置部件内部斜视图；
图5为图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪的试剂放置部件内部平面图；
图6为图1所示第一实施方式涉及的读取试剂放置部件的R3试剂容器IC标签时的状态放大平面图；
图7为图1所示第一实施方式涉及的读取试剂放置部件的R2试剂容器IC标签时的状态放大平面图；
图8为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件内侧天线部件的斜视图；
图9为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件内侧天线部件的平面图；
图10为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件内侧天线部件的背面图；
图11为图10试剂放置部件内侧天线部件沿400-400线的截面图；
图12为图1所示第一实施方式涉及的内侧天线部件的天线基板的平面图；
图13为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件外侧天线部件的斜视图；
图14为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件外侧天线部件的正面图；
图15为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件外侧天线部件的背面图；
图16为图15所示试剂放置部件外侧天线部件沿500-500线的截面图；
图17为图1所示第一实施方式涉及的外侧天线部件的天线基板的平面图；
图18为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件的R3试剂容器的侧面图；
图19为图1所示第一实施方式涉及的试剂放置部件的R2试剂容器的侧面图；
图20为图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪测定运作的流程图；
图21为图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪读取试剂信息处理的流程图；
图22为图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪的吸移试剂和写入试剂信息处理的流程图；
图23为说明本发明第二实施方式涉及的免疫分析仪结构的框图；
图24为图23所示第二实施方式涉及的免疫分析仪的试剂放置部件内部平面图；
图25为图23所示第二实施方式涉及的读取IC标签时的状态放大平面图；
图26为图23所示第二实施方式涉及的试剂放置部件的天线部件的斜视图；
图27为图23所示第二实施方式涉及的试剂放置部件的天线部件的正面图；
图28为图23所示第二实施方式涉及的免疫分析仪读取试剂信息处理的流程图；及
图29为图23所示第二实施方式涉及的免疫分析仪吸移试剂和写入试剂信息的处理的流程图。
具体实施方式：
下面根据附图说明本发明的具体实施方式。
(第一实施方式)
首先参照图1～图19就本发明第一实施方式涉及的免疫分析仪1的结构进行说明。
本发明第一实施方式涉及的免疫分析仪1是一种用血液等样本进行与传染病(B型肝炎、C型肝炎等)相关的蛋白质、肿瘤标记及甲状腺激素等各项检查的仪器。
此免疫分析仪1是定量测定或定性测定待测血液等样本(血样)中所含抗原和抗体等的装置。当定量测定样本中所含抗原时，此免疫分析仪1先让磁性粒子(R2试剂)结合到与样本所含抗原已结合的捕捉抗体(R1试剂)，然后用一次BF(结合分离，Bound Free)分离器11的磁铁(无图示)吸引已结合(Bound)的抗原、捕捉抗体和磁性粒子，以此除去含有未反应(Free)的捕捉抗体的R1试剂。免疫分析仪1让磁性粒子结合的抗原与标记抗体(R3试剂)结合，用二次BF分离器12的磁铁(无图示)将已结合(Bound)的磁性粒子、抗原和标记抗体吸过来，以此除去含未反应(Free)的标记抗体的R3试剂。添加分散液(R4试剂)和在与标记抗体反应过程中发光的发光底物(R5试剂)后，测定标记抗体与发光底物反应产生的发光量。经过这一过程，定量测定与标记抗体结合的样本中所含抗原。
免疫分析仪1如图1和图2所示，包括测定装置2、与测定装置2相邻配置的运样装置(供样器)3以及由与测定装置2电路连接的PC(电脑)组成的控制装置4。
运样装置3可运送放置盛放样本的、无图示的数支试管的样架。运样装置3可以将装有样本的试管运送到样本分装臂5的吸样位。
控制装置4如图3所示，包括CPU4a、显示器4b、输入设备4c和存储部件4d。CPU4a可以根据用户用输入设备4c输入的测定条件等，让测定装置2(后述的CPU2a)进行测定，同时分析测定装置2测得的测定结果，将该分析结果显示到显示器4b上。存储部件4d由硬盘构成，用于分别存储后述R1试剂容器24、R3试剂容器25和R2试剂容器26各自的试剂信息和位置信息。关于存储部件4d待后详述。
测定装置2如图2所示，由样本分装臂5、R1试剂分装臂6、R2试剂分装臂7、R3试剂分装臂8、反应部件9、供杯部件10、一次BF分离器11、二次BF分离器12、吸头供应部件13、检测部件14、R4/R5试剂供应部件15、试剂放置部件16及RFID(射频识别(Radio FrequencyIdentification))模块17构成。
如图3所示，测定装置2中各机械装置(各种分装臂和反应部件9等)由设置在测定装置2的CPU2a控制。运样装置3也受CPU2a的控制。测定装置2中还设有存储部件2b，存储部件2b中存有使CPU2a控制测定装置2的各机械装置的运作的控制程序。根据此控制程序，CPU2a进行后述读取试剂信息处理和吸移试剂及写入试剂信息的处理。
如图2所示，供杯部件10可容纳无图示的多个反应杯，能够依次、逐个地向样本分装臂5的注样位供应反应杯。
R1试剂分装臂6吸移放置在试剂放置部件16的R1试剂，并将吸移的R1试剂分装(注入)到配置在注样位的反应杯中。R1试剂分装臂6还能用无图示的抓钳将配置在注样位的反应杯移送到反应部件9。
吸头供应部件13的作用是将被放入的数个吸头(无图示)逐一运到样本分装臂5的吸头安装位。吸头在吸头安装位被安装到样本分装臂5的吸移管前端。
样本分装臂5在吸头安装位装上吸头后，吸移由运样装置3运送到吸样位的试管内的样本，将样本分装(注入)到已由R1试剂分装臂6分装入R1试剂的、注样位上的反应杯中。
R2试剂分装臂7具有吸移放置在试剂放置部件16的R2试剂的功能。R2试剂分装臂7将吸移的R2试剂分装到(注入)装有R1试剂和样本的反应杯中。
反应部件9围绕在平面看时基本上呈圆形的试剂放置部件16的周围，基本上呈圆环形。反应部件9可顺时针方向旋转，可以将放在反应杯固定部件9a的反应杯移到进行各种处理(分装试剂等)的各个处理位置上。
一次BF分离器11的作用是：用无图示的抓钳将装有样本、R1试剂和R2试剂的反应杯从反应部件9运送到一次BF分离器11后，从反应杯内的试样分离(B/F分离)未反应的R1试剂(不需要成份)和磁性粒子。
R3试剂分装臂8可吸移放置在试剂放置部件16的R3试剂。当装有一次BF分离器11进行了B/F分离后的试样的反应杯从一次BF分离器11运到反应部件9时，R3试剂分装臂8将吸移的R3试剂分装到(注入)该反应杯中。
二次BF分离器12的作用是：在无图示的抓钳将装有一次BF分离器11进行了B/F分离的试样和R3试剂的反应杯从反应部件9运送到二次BF分离器12后，从反应杯内的试样分离未反应的R3试剂(不需要成份)和磁性粒子。
R4/R5试剂供应部件15通过无图示的管向装有二次BF分离器12进行了B/F分离后的试样的反应杯中依次分装R4试剂和R5试剂。
检测部件14用于通过光电倍增管(Photo Multiplier Tube)获取与经一定处理的样本的抗原结合的标记抗体和发光底物在反应过程中发出的光，以此测定该样本中的抗原含量。
试剂放置部件16如图2所示，包括基本上呈圆筒形的机壳16a(参照图4)、从上覆盖机壳16a的盖部16b、设置在盖部16b上、在用户更换后述R1试剂容器24、R3试剂容器25和R2试剂容器26时开关的开关部件16c。在盖部16b上面与R1试剂、R2试剂和R3试剂的吸移位相对应的位置上面有可开关的窗口(无图示)。通过此窗口可以由R1试剂分装臂6、R2试剂分装臂7和R3试剂分装臂8分别吸移R1试剂、R2试剂和R3试剂。本发明的“收纳部件”由机壳16a和盖部16b构成。
如图4～图7所示，试剂放置部件16的机壳16a上设有R1/R3放置部件18、R2放置部件19、内侧天线部件20和外侧天线部件21。具体而言，如图5所示，R1/R3放置部件18和R2放置部件19配置在机壳16a内部，其中，从平面看，所述R1/R3放置部件18有着与机壳16a中心○基本相同的中心○，基本上呈圆环形；R2放置部件19有着与机壳16a中心○基本相同的中心○，基本上呈圆环形。R1/R3放置部件18设置在R2放置部件19的内环一侧(中心○一侧)。在机壳16a上，侧壁的一部分沿垂直方向(图4的Z方向)被切开，形成缺口116a。
试剂放置部件16上设有内侧旋转驱动部件16d(参照图3)和外侧旋转驱动部件16e(参照图3)，其中所述内侧旋转驱动部件16d以中心○为旋转中心水平(箭头C1方向和箭头C2方向)转动R1/R3放置部件18；所述外侧旋转驱动部件16e以中心○为旋转中心水平(箭头D1方向和箭头D2方向)转动R2放置部件19。内侧旋转驱动部件16d和外侧旋转驱动部件16e由CPU2a分别控制驱动。机壳16a底部中心○附近设有冷却R1试剂、R2试剂和R3试剂的风扇16f和帕尔贴设备(Peltier device)16g(参照图3)。由于此冷却处理，试剂放置部件16内有时可能会结露。
内侧天线部件20如图8～图11所示，包括天线基板20a、基板安装部件20b、盖组件20c。基板安装部件20b和盖组件20c均由可透过电波的树脂构成。
天线基板20a如图12所示，由在板状基板的箭头X1方向一侧表面(参照图11)的线圈形天线配线120a构成，可以通过此线圈形天线配线120a收发电波。天线基板20a的中央部附近有一对螺丝孔220a，用于插入后述一对螺丝钉20g(参照图11)。线圈形天线配线120a围绕在一对螺丝孔220a周围。
天线基板20a如图6所示，配置在基板安装部件20b内部，并使天线基板20a的箭头X1方向一侧表面与R1/R3放置部件18相对。这样，天线基板20a可以向R1/R3放置部件18一侧发射读取用电波和写入用电波。天线基板20a连接在RFID模块17的后述天线切换基板17c(参照图3)上。
基板安装部件20b上如图10和图11所示，有基本上呈矩形的平坦表面20d、从平坦表面20d向箭头X2方向(参照图11)延伸的壁部20e和从平坦表面20d的箭头Z2方向一侧下端向箭头X2方向延伸的固定部件20f。平坦表面20d在箭头X1方向一侧(参照图11)向垂直方向(Z方向)延伸。
壁部20e如图10所示，从平面看为基本上呈矩形的框。如图11所示，天线基板20a由一对螺丝20g和螺母20h固定在平坦表面20d的箭头X2方向一侧的壁部20e所包围的表面。以此，天线基板20a固定在壁部20e所包围的空间里。天线基板20a中除二个安装螺丝的地方外均不与平坦表面20d接触。这样可以防止天线基板20a的线圈形天线配线120a(参照图12)接触基板安装部件20b。基板安装部件20b的固定部件20f由一对螺丝20i固定在机壳16a的底面(参照图6)。
盖组件20c为向箭头X2方向陷下去的凹形，盖组件20c的凹形部分从箭头X2方向覆盖壁部20e所包围的空间。盖组件20c由四个螺丝20j(参照图10)固定在基板安装部件20b。如此，固定在壁部20e所包围的空间内的天线基板20a被基板安装部件20b和盖组件20c所覆盖，同时，壁部20e所包围的空间处于与外隔离的状态。又由于基板安装部件20b和盖组件20c由树指构成，即使天线基板20a处在被基板安装部件20b和盖组件20c所覆盖的状态下，天线基板20a向R1/R3放置部件18(箭头X1方向)发射的读取用电波和写入用电波以及后述IC标签27发射的应答电波也可以穿过基板安装部件20b和盖组件20c，到达R1/R3放置部件18和天线基板20a。
在此，第一实施方式如图8所示，内侧天线部件20的箭头X1方向一侧的表面安装有平板状金属板22。此金属板22由四个螺丝20k和螺母201(参照图10)在平坦表面20d的四处加以固定。如此，平板状金属板22与基板安装部件20b的平坦表面20d紧密接触。
金属板22由可吸收电波(读取用电波、写入用电波和应答电波)的铝板构成。金属板22如图9所示，与平坦表面20d一样，向垂直方向(Z方向)延伸，并基本上呈矩形。
在第一实施方式，金属板22的水平方向(C方向)靠中央处有缺口22a。从金属板22的箭头Z1方向外端22b沿垂直方向(Z方向)略成矩形地切掉金属板22的Z方向全长的三分之二左右，以此形成此缺口22a。以此，金属板22的垂直上方(箭头Z1方向)的外端22b被缺口22a分开。缺口22a的垂直方向(Z方向)长度L1比缺口22a的水平方向(C方向)宽度W1大。
如图6所示，金属板22设置在内侧天线部件20和R1/R3放置部件18的R3试剂容器25之间的区域。天线基板20a通过金属板22垂直方向(Z方向)切掉的缺口22a(参照图8)，向R1/R3放置部件18(箭头X1方向)发射读取用电波和写入用电波，未通过缺口22a的天线基板20a的读取用电波和写入用电波被金属板22吸收。缺口22a的水平方向(C方向)宽度W1(参照图9)比天线基板20a的水平方向宽度W2(参照图9)略小一些。因此，天线基板20a发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围为范围A1(点划线)。另一方面，如果未设置金属板22，则天线基板20a发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围为大于范围A1的范围A2(双点划线)。即金属板22具有限制内侧天线部件20(天线基板20a)的读取范围和写入范围的功能。
外侧天线部件21如图13～图16所示，包括锁件(lock part)21a、天线基板21b、基板安装部件21c和盖组件21d。锁件(lock part)21a、基板安装部件21c和盖组件21d均由可以透过电波的树脂构成。
如图7所示，锁件(lock part)21a的水平方向一侧(箭头D1方向一侧)的末端有向内(箭头Y1方向)的阶差121a。另一方面，锁件(lockpart)21a的水平方向另一侧(箭头D2方向一侧)的末端有向外(箭头Y2方向)的阶差221a。如此，当锁件(lock part)21a锁(lock)在机壳16a的缺口116a时，在箭头D1方向一侧，机壳16a内侧面和阶差121a相向配置，在箭头D2方向一侧，机壳16a外侧面和阶差221a相向配置。如此，锁件(lock part)21a从内外夹住机壳16a，锁在机壳16a上。
天线基板21b如图17所示，是在板状基板的箭头Y1方向表面(参照图12)配置线圈状天线配线121b而形成的，通过此线圈状天线配线121b可收发电波。天线基板21b的四个角附近有分别用来插入后述四个螺丝21h(参照图15)的四个螺丝孔221b。线圈状天线配线121b比螺丝孔221b靠内侧。
天线基板21b如图17所示，配置在基板安装部件21c内部，使天线基板21b的箭头Y1方向一侧表面与R2放置部件19相对。这样，天线基板21b可以向R2放置部件19发射读取用电波和写入用电波。天线基板21b连接在RFID模块17的后述天线切换基板17c(参照图3)上。
基板安装部件21c上如图13和图16所示，有基本上呈矩形的平坦表面21e、围绕平坦表面21e并面向箭头Y2方向(参照图16)的阶差部件21f和从阶差部件21f周围向箭头Y2方向延伸的壁部21g。平坦表面21e在箭头Y1方向一侧(参照图16)向垂直方向(Z方向)延伸，除箭头Y2方向一侧表面的天线基板21b安装部分外，都向箭头Y1方向一侧凹陷。
如图15和图16所示，天线基板21b由四个螺丝21h和螺母21i固定在平坦表面21e的箭头Y2方向一侧壁部21g所包围的表面。以此，天线基板21b固定在壁部21g所包围的空间内。天线基板21b安装在平坦表面21e上时，除安装在平坦表面21e的部分外，其他部分不与平坦表面21e(凹陷部分)接触。这样，可以防止在天线基板21b的螺丝孔221b内侧的线圈状天线配线121b(参照图17)接触到基板安装部件21c。
盖组件21d如图16所示，有向箭头Y2方向凹陷的凹形，盖组件21d的凹形部分从箭头Y2方向覆盖壁部21g所包围的空间。盖组件21d由四个螺丝21j(参照图15)固定在锁件(lock part)21a。如此，固定在壁部21g所包围的空间内的天线基板21b被基板安装部件21c和盖组件21d所覆盖，同时，壁部21g所包围的空间处于与外隔离的状态。又由于基板安装部件21c由树指构成，即使天线基板21b处在被基板安装部件21c和盖组件21d所覆盖的状态下，天线基板21b向R2放置部件19(箭头Y1方向)发射的读取用电波和写入用电波以及后述IC标签28发射的应答电波也可以穿过基板安装部件21c和盖组件21d，到达R2放置部件19和天线基板21b。
第一实施方式如图13所示，外侧天线部件21的箭头Y1方向一侧的表面安装有金属板23。具体而言，金属板23由平坦表面23a和在平坦表面23a的水平方向(D方向)两端、厚度基本与平坦表面23a相同的阶差部件23b构成。金属板23的阶差部件23b由四个螺丝21k和螺母21l(参照图15)在外侧天线部件21的阶差部件21f的四处加以固定。金属板23其平坦表面23a与基板安装部件21c的平坦表面21e紧密接触，同时阶差部件23b与基板安装部件21c的阶差部件21f紧密接触。金属板23由可吸收电波(读取用电波、写入用电波和应答用电波)的铝板构成。
如图14所示，在第一实施方式，金属板23的平坦表面23a的水平方向(D方向)靠中央处有缺口23c。从平坦表面23a的箭头Z1方向外端23d沿垂直方向(Z方向)略成矩形地切掉平坦表面23a(金属板23)的Z方向全长的四分之三左右，以此形成此缺口23c。以此，金属板23的箭头Z1方向的外端23d被缺口23c分开。缺口23c的垂直方向(Z方向)长度L2比缺口23c的水平方向(D方向)宽度W3大。
如图7所示，金属板23设置在外侧天线部件21和R2放置部件19的R2试剂容器26之间的区域。天线基板21b通过金属板23垂直方向(Z方向)切掉的缺口23c(参照图13)，向R2放置部件19(箭头Y1方向)发射读取用电波和写入用电波，未通过缺口23c的天线基板21b的读取用电波和写入用电波被金属板23的平坦表面23a吸收。缺口23c的水平方向宽度W3(参照图14)比天线基板21b的水平方向宽度W4(参照图14)小。因此，天线基板21b发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围为范围B1(点划线)。另一方面，如果未设置金属板23，则天线基板21b发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围为比B1大的范围B2(双点划线)。即金属板23具有限制外侧天线部件21(天线基板21b)的读取范围和写入范围的功能。
R1/R3放置部件18上如图5所示以等角度(约14.4度)间隔配置了25个由可透过电波的树脂制成的R1/R3固定件18a。此R1/R3固定件18a上分别固定有盛放含捕捉抗体的R1试剂(第一试剂)的R1试剂容器24和盛放含标记抗体的R3试剂的R3试剂容器25。R1/R3固定件18a在外侧(R2放置部件19一侧)固定R1试剂容器24，内侧(中心O一侧)固定R3试剂容器25。
R2放置部件19上以等角度(约14.4度)间隔配置了25个由可透过电波的树脂制成的R2固定件19a。此R2固定件19a上分别固定有盛放含磁性粒子的R2试剂(第二试剂)的R2试剂容器26。R1试剂容器24、R3试剂容器25和R2试剂容器26可由用户放置和更换。
如图18所示，R3试剂容器25上有吸移R3试剂时开关的盖25a和盛放R3试剂的试剂盛放部件25b。另如图19所示，R2试剂容器26上有吸移R2试剂时开关的盖26a和盛放R2试剂的试剂盛放部件26b。另外，如图6和图7所示，R1试剂容器24与R3试剂容器25形状基本相同，R1试剂容器24上有吸移R1试剂时开关的盖24a和盛放R1试剂的、无图示的试剂盛放部件。盖24a和盖25a随着R1/R3放置部件18的转动而开关，盖26a则随着R2放置部件19的转动而开关。
如图18所示，R3试剂容器25的试剂盛放部件25b内侧(图6箭头X2方向)的侧面有安装IC标签27的IC标签安装部件25c。如图19所示，R2试剂容器26的试剂盛放部件26b外侧(图7箭头Y2方向)的侧面为安装IC标签28的IC标签安装部件26c。即如图6所示，当R3试剂容器25放在R1/R3放置部件18上时，R3试剂容器25的IC标签27正好冲着试剂放置部件16的内侧(箭头X2方向)。如图7所示，当R2试剂容器26放在R2放置部件19上时，R2试剂容器26的IC标签28正好冲着试剂放置部件16的外侧(箭头Y2方向)。R1试剂容器24的侧面与R3试剂容器25不同，未装IC标签。
IC标签27上记录有R3试剂容器25中的R3试剂的试剂信息以及固定在和R3试剂容器25共用的R1/R3固定件18a上的R1试剂容器24中的R1试剂的试剂信息。IC标签28上记录R2试剂容器26中的R2试剂的试剂信息。具体而言，IC标签27和IC标签28记录着测定项目、试剂种类(种类识别信息)、批号、序号、保存期限、填充量、余量及使用期限等作为试剂信息。
如图6所示，R3试剂容器25的IC标签27在内侧天线部件20的正面位置(正对位置)进行读写。同样，如图7所示，R2试剂容器26的IC标签28在外侧天线部件21的正面位置进行读写。此时，IC标签27和IC标签28分别根据内侧天线部件20和外侧天线部件21发射的读取用电波，发射含IC标签27和IC标签28中存储的试剂信息的应答电波。IC标签27和IC标签28根据内侧天线部件20和外侧天线部件21发射的写入用电波，将存储的试剂信息改写为写入用电波中所含新的试剂信息。
设定相邻R1和R3固定件18a之间的间隔及范围A1，使得在对一个IC标签27进行读写时，不对其他IC标签27进行读写。同样，设定相邻R2固定件19a之间的间隔及范围B1，使得在对一个IC标签28进行读写时，不对其他IC标签28进行读写。
控制装置4的存储部件4d如图3所示，与IC标签27和28区分开来，分别存储25个R1试剂容器24、25个R3试剂容器25和25个R2试剂容器26各自的试剂信息。存储部件4d还存储25个R1试剂容器24、25个R3试剂容器25和25个R2试剂容器26各自的初始位置和从R1/R3放置部件18及R2放置部件19各初始位置的旋转角度，将其作为位置信息。如此，存储部件4d中相对应地存储25个R1试剂容器24、25个R3试剂容器25和25个R2试剂容器26的位置信息和试剂信息。
免疫分析仪1接通电源(无图示)后，CPU2a便读取放置在试剂放置部件16的所有试剂容器(R3试剂容器25和R2试剂容器26)的IC标签(IC标签27和28)，获取各试剂容器的位置信息和试剂信息。当存储部件4d中存有试剂信息时，控制装置4的CPU4a将存储部件4d中存储的试剂信息更新为接通电源时从IC标签获取的试剂信息。这样，即使在免疫分析仪1切断电源期间，R1试剂容器24、R3试剂容器25和R2试剂容器26分别被更换为新的R1试剂容器24、R3试剂容器25和R2试剂容器26，也可以将控制装置4的存储部件4d中的试剂信息更新为现在放置在试剂放置部件16的试剂的试剂信息。
RFID模块17如图2所示，设于试剂放置部件16外部，如图3所示，包括读写型基板17a、连接读写型基板17a和CPU2a的接口基板17b及天线切换基板17c。
读写型基板17a根据CPU2a的指示让内侧天线部件20(外侧天线部件21)发射约13.56MHz频带的读取用电波和写入用电波。读写型基板17a还从IC标签27和28为回应读取用电波而发射的、被内侧天线部件20和外侧天线部件21接收的应答电波中获取试剂信息，同时将试剂信息输出到CPU2a。
天线切换基板17c的作用是根据读写型基板17a的指示，切换地使用内侧天线部件20或外侧天线部件21其中之一发射读取用电波和写入用电波，同时切换地使用内侧天线部件20或外侧天线部件21其中之一接收应答电波。
下面参照图3和图20就本发明第一实施方式涉及的免疫分析仪1(测定装置2)的测定运作进行说明。
首先当测定装置2接通电源后，测定装置2的CPU2a在步骤S1进行CPU2a的初始化(程序初始化)、测定装置2各部件运行检查等初始化处理。
然后，在步骤S2进行试剂信息读取处理。关于此试剂信息读取处理待后详述。
在步骤S3，由CPU2a判断是否有用户的测定指示。此用户下达的测定指示通过控制装置4(参照图3)传达到CPU2a。当判断没有用户的测定指示时，进入步骤S6。
在步骤S3如果判断有用户的测定指示，则在步骤S4由CPU2a进行试剂吸移和试剂信息写入处理。关于此试剂吸移和试剂信息写入处理待后详述。
在步骤S5，在测定装置2进行样本测定。在步骤S6由CPU2a判断用户是否下达了关机指示。如果判断没有关机指示，则返回步骤S3。如果判断有关机指示，则在步骤S7由CPU2a实施测定装置2的关机处理。至此，测定装置2的CPU2a测定运作结束。
下面参照图6、图7和图21就图20的步骤S2所示本发明第一实施方式涉及的免疫分析仪1的试剂信息读取处理进行详细说明。
在步骤S201，R1/R3放置部件18(R2放置部件19)由CPU2a向箭头C1(D1)方向或箭头C2(D2)方向(参照图6和图7)旋转，使读取目标的IC标签27(28)位于正对内侧天线部件20(外侧天线部件21)的位置。在步骤S202，CPU2a从内侧天线部件20(外侧天线部件21)向读取目标的IC标签27(28)发射读取用电波。
此后，在步骤S203，CPU2a判断内侧天线部件20(外侧天线部件21)是否在一定时间内收到IC标签27(28)回应读取用电波而发射的应答电波。即，CPU2a判断RFID模块17的读写型基板17a根据从内侧天线部件20(外侧天线部件21)收到的应答电波而获取的试剂信息是否在一定时间内输出到CPU2a。当判断内侧天线部件20(外侧天线部件21)未在一定时间内收到应答电波时，判断读取失败，CPU2a在步骤S204向控制装置4发送读取错误信息。在控制装置4的显示器4b上显示位于一定位置的试剂容器的试剂信息(读取目标试剂容器的试剂信息)读取失败。然后进入步骤S206。
另一方面，当判断内侧天线部件20(外侧天线部件21)在一定时间内收到应答电波时，在步骤S205，应答电波中所含读取目标的试剂信息传送至控制装置4。在控制装置4，根据从CPU2a收到的读取目标试剂信息更新存储部件4d的试剂信息。然后进入步骤S206。
最后，在步骤S206，CPU2a判断25个IC标签27和25个IC标签28是否已全部读完。当判断尚未读完时，返回步骤S201，进行新的IC标签的读取。当判断全部读完时，试剂信息读取处理结束，进入图20所示步骤S3。
下面参照图6、图7和图22，就图20步骤S4所示本发明第一实施方式涉及的免疫分析仪1的试剂吸移和试剂信息写入处理进行详细说明。
首先，在步骤S401，R1/R3放置部件18(R2放置部件19)由CPU2a向箭头C1(D1)方向或箭头C2(D2)方向(参照图6和图7)旋转，使待吸移的R1试剂容器24或R3试剂容器25(R2试剂容器26)位于吸移R1试剂或R3试剂(R2试剂)的吸移位。此时，R1试剂容器24的盖24a或R3试剂容器25的盖25a(R2试剂容器26的盖26a)随R1/R3放置部件18(R2放置部件19)的转动而打开。
在步骤S402，吸移R1试剂或R3试剂(R2试剂)。此后，在步骤S403，CPU2a向箭头C1(D1)方向或箭头C2(D2)方向转动R1/R3放置部件18(R2放置部件19)，使待写入的IC标签27(IC标签28)处于正对内侧天线部件20(外侧天线部件21)的位置。此时，R1试剂容器24的盖24a或R3试剂容器25的盖25a(R2试剂容器26的盖26a)随R1/R3放置部件18(R2放置部件19)的转动而关闭。
在步骤S404，CPU2a从内侧天线部件20(外侧天线部件21)向待写入IC标签27(IC标签28)发射读取用电波。然后，在步骤S405，CPU2a判断内侧天线部件20(外侧天线部件21)是否在一定时间内收到应答电波。当判断内侧天线部件20(外侧天线部件21)没有在一定时间内收到应答电波时，在步骤S406，CPU2a向控制装置4发送读取错误信息，在控制装置4的显示器4b上显示试剂信息未能写入待写入IC标签的信息。然后结束试剂吸移和试剂信息写入处理，进入图20所示步骤S5。
当在步骤S405，判断内侧天线部件20(外侧天线部件21)在一定时间内收到应答电波时，在步骤S407，包含试剂余量等信息的写入用电波由内侧天线部件20(外侧天线部件21)发射到待写入IC标签27(IC标签28)。在步骤S408，与写入待写入IC标签27(28)的试剂信息相同的信息由CPU2a传送至控制装置4后，试剂吸移和试剂信息写入处理完成，进入图20所示步骤S5。在控制装置4，根据CPU2a传送的待写入试剂信息，更新待写入的试剂信息。
在第一实施方式，如上所述，将金属板22设置于内侧天线部件20和R1/R3放置部件18的R3试剂容器25之间，同时将金属板23设置于外侧天线部件21和R2放置部件19的R2试剂容器26之间。以此可以防止内侧天线部件20和外侧天线部件21误读取无需读取试剂信息的IC标签所记录的试剂信息。因此，即使不在相邻R3试剂容器25之间设置大的配置间隔，也可以防止误读取无需读取的IC标签所记录的试剂信息，从而得以控制免疫分析仪1机身的增大。通过设置内侧天线部件20和外侧天线部件21，可以在更短时间内获取数个IC标签所记录的试剂信息。
在第一实施方式，如上所述，在金属板22的水平方向(C方向)靠近中央处有缺口22a，在金属板23的水平方向(D方向)靠近中央处有缺口23c。以此可以用金属板22和23的缺口22a和缺口23c以外的部分吸收不需要的电波，从而更方便地将内侧天线部件20和外侧天线部件21发射的电波范围限制在所希望的范围。
在第一实施方式，如上所述，使缺口22a和缺口23c延伸到箭头Z1方向一侧外端22b和23d，以此可以使缺口22a和缺口23c不被金属板22和23包围，从而得以防止金属板22和23发生涡电流。以此可以轻松地防止通过缺口22a和缺口23c的电波输出减弱。
在第一实施方式，如上所述，使金属板22缺口22a的垂直方向长度L1大于水平方向的宽度W1，同时使金属板23缺口23c的垂直方向长度L2大于水平方向的宽度W3。以此可以防止在R3试剂容器25之间和R2试剂容器26之间在水平方向相邻配置时，内侧天线部件20和外侧天线部件21误从不需要读取试剂信息的IC标签接收电波，同时可以防止内侧大线部件20和外侧天线部件21误将电波发射到无需写入试剂信息的IC标签27和28。
在第一实施方式，如上所述，设置了内侧旋转驱动部件16d和外侧旋转驱动部件16e，所述内侧旋转驱动部件16d使R1/R3放置部件18向箭头C1方向和箭头C2方向旋转；所述外侧旋转驱动部件16e使R2放置部件19向箭头D1方向和箭头D2方向旋转。以此可以用内侧天线部件20和外侧天线部件21切实读取数支R3试剂容器25的IC标签27所记录的试剂信息和数支R2试剂容器26的IC标签28所记录的试剂信息。
在第一实施方式，如上所述，将天线基板20a(21b)固定在基板安装部件20b(21c)的箭头X2(Y2)方向一侧的壁部20e(21g)所包围的表面，将金属板22(23)装在基板安装部件20b(21c)的箭头X1(Y1)方向一侧表面，从而相对于内侧天线部件20(外侧天线部件21)固定了金属板22(23)的位置。以此，即使内侧天线部件20(外侧天线部件21)移动，金属板22(23)与内侧天线部件20(外侧天线部件21)的相对位置关系不变，无需相互对位，从而得以用内侧天线部件20(外侧天线部件21)更加切实地读取数支R3试剂容器25的IC标签27所记录的试剂信息(数支R2试剂容器26的IC标签28所记录的试剂信息)。
在第一实施方式，如上所述，金属板22(23)安装在基板安装部件20b(21c)上。以此，无需为防止内侧天线部件20(外侧天线部件21)发射的电波到达读取目标IC标签以外的IC标签，而对数支R3试剂容器25(数支R2试剂容器26)分别设置金属板22(23)，从而可以控制零部件数量的增加。又由于将金属板22(23)安装在基板安装部件20b(21c)上加以固定，可以切实保持金属板22(23)与内侧天线部件20(外侧天线部件21)的相对位置关系。
在第一实施方式，如上所述，将金属板22(23)安装在基板安装部件20b(21c)的一侧，天线基板20a(21b)安装在基板安装部件20b(21c)的另一侧，可以防止金属板22(23)和天线基板20a(21b)不必要地(过度地)接近。因此，可以防止由于金属板22(23)和天线基板20a(21b)不必要地(过度地)靠近而使金属板22(23)的功能受损。
在第一实施方式，如上所述，基板安装部件20b(21c)和盖组件20c(21d)均由能透过电波的树脂构成，并且用基板安装部件20b(21c)和盖组件20c(21d)覆盖天线基板20a(21b)。以此，在风扇16f和帕尔贴设备(Peltier device)16g冷却试剂时，可以通过覆盖天线基板20a(21b)的基板安装部件20b(21c)和盖组件20c(21d)防止天线基板20a(21b)附着结露的水滴。这样可以防止因天线基板20a(21b)附着水滴而使构成天线基板20a(21b)的电路发生短路。
(第二实施方式)
下面参照图23～图29说明第二实施方式。此第二实施方式涉及的免疫分析仪301，仅以在测定装置302的试剂放置部件316设置一个天线部件330，并仅在天线部件330一侧表面安装金属板331为例进行说明。
首先参照图23～图27就本发明第二实施方式涉及的免疫分析仪301的结构进行说明。
在第二实施方式，如图23所示，试剂放置部件316设有一个天线部件330。具体来说，此天线部件330如图24和图25所示，在机壳316a内，设置在R1/R3放置部件18的外环一侧(与中心O相对一侧)，且设置在R2放置部件19的内环一侧。即，天线部件330从平面看，夹在R1/R3放置部件18和R2放置部件19之间。与第一实施方式相同，基本上呈圆环形的R1/R3放置部件18设置于基本上呈圆环形的R2放置部件19内环一侧(中心O一侧)，但它又与第一实施方式不同，机壳316a没有缺口116a。
天线部件330如图26和图27所示，包括天线基板330a和从外侧(箭头X4方向)固定天线基板330a的基板安装部件330b。基板安装部件330b下部用螺丝330c固定在机壳316a底面。即天线部件330固定在机壳316a底面(参照图24)。
天线基板330a如图25所示，配置在基板安装部件330b内部，天线基板330a的内(箭头X3方向)表面与R1/R3放置部件18相对，天线基板330a的外(箭头X4方向)表面与R2放置部件19相对。
在第二实施方式，天线基板330a可以从箭头X3方向一侧的表面向R1/R3放置部件18一侧(箭头X3方向)发射读取用电波和写入用电波，同时可以从箭头X4方向一侧的表面向R2放置部件19(箭头X4方向)发射读取用电波和写入用电波。天线基板330a可以接收IC标签27和28为应答读取用电波而发射的应答电波。以此，天线部件330可以对配置在箭头X3方向一侧的后述R1试剂容器324的IC标签27进行读写作业，同时对配置在箭头X4方向一侧的R2试剂容器26的IC标签28进行读写作业。天线基板330a连接在RFID模块317的读写型基板317a上。
基板安装部件330b由可透过电波的树脂构成。这样，从天线基板330a的箭头X4方向一侧表面向R2放置部件19(箭头X4方向)发射的读取用电波和写入用电波以及IC标签28发射的应答电波，都可以穿过基板安装部件330b到达R2放置部件19和天线基板330a。天线基板330a用螺丝330d和螺母330e固定在基板安装部件330b。
在此，在第二实施方式，如图26所示，天线部件330的箭头X3方向一侧表面上安装有平板状金属板331。此金属板331由螺丝330f和无图示的螺母固定在基板安装部件330b。金属板331由可吸收电波(读取用电波、写入用电波和应答电波)的铝板构成。如图27所示，金属板331向垂直方向(Z方向)延伸，基本上呈矩形。
金属板331上有缺口331a。从金属板331的箭头Z1方向外端331b沿垂直方向(Z方向)略成矩形地切掉金属板331的Z方向全长的三分之二左右，以此形成此缺口331a。以此，金属板331的箭头Z1方向的外端331b被缺口331a分开。缺口331a的垂直方向长度L3比缺口331a的水平方向宽度W5大。
在第二实施方式，如图25所示，平板形金属板331设置于天线部件330和R1/R3放置部件18的R1试剂容器324之间的区域。天线基板330a通过在金属板331垂直方向(Z方向)切去的缺口331a向R1/R3放置部件18(箭头X3方向)发射电波，而未通过缺口331a的天线基板330a的电波被金属板331吸收。缺口331a的水平方向宽度W5(参照图27)略小于天线基板330a的水平方向宽度W6(参照图27)。以此，金属板331限制从天线基板330a向箭头X3方向发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围(范围E1(粗点划线))，因此，金属板331具有限制天线部件330(天线基板330a)在箭头X3方向的读取范围和写入范围的功能。
另一方面，天线部件330的箭头X4方向一侧未设置限制读取范围和写入范围的金属板。因此，天线基板330a向箭头X4方向发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围(范围E2(粗双点划线))以及天线基板330a从箭头X4方向接收的应答电波的水平方向范围不受限制。其结果，从天线基板330a向箭头X3方向发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围E1(粗点划线)小于天线基板330a向箭头X4方向发射的读取用电波和写入用电波的水平方向范围E2(粗双点划线)。
与第一实施方式IC标签27装在R3试剂容器25上不同，在第二实施方式，IC标签27安装在R1试剂容器324的箭头X4方向一侧。且当R1试剂容器324配置在R1/R3放置部件18时，R1试剂容器324的IC标签27面向R2放置部件19一侧(箭头X4方向一侧)。
在第二实施方式，只设置了一部天线部件330，不需要切换天线用的第一实施方式的天线切换基板17c。如图23所示，天线部件330的天线基板330a直接连接在读写型基板317a。
第二实施方式的其他结构与第一实施方式相同。
在第二实施方式涉及的免疫分析仪301的测定运作中，试剂信息读取处理以及试剂吸移和试剂信息写入处理以外的处理，均与图20所示第一实施方式相同。
下面参照图25和图28详细说明本发明第二实施方式涉及的免疫分析仪301的试剂信息读取处理。
首先在步骤S201a，由CPU302a向箭头C1(D1)方向或箭头C2(D2)方向(参照图25)旋转R1/R3放置部件18(R2放置部件19)，使读取目标的IC标签27(28)位于正对天线部件330的箭头X3方向表面(箭头X4方向一侧表面)的位置。在步骤S202a，CPU302a从天线部件330向读取目标的IC标签27(28)发射读取用电波。
此后，在步骤S203a，CPU302a判断天线部件330是否在一定时间内收到IC标签27(28)回应读取用电波而发射的应答电波。当判断天线部件330未在一定时间内收到应答电波时，判断为读取失败，CPU302a在步骤S204向控制装置4发送读取错误信息。然后进入步骤S206。
另一方面，当判断天线部件330在一定时间内收到应答电波时，在步骤S205a，CPU302a判断天线部件330收到的应答电波中所含试剂信息是否为读取目标的试剂信息。CPU302a根据读取的试剂信息中所含试剂种类判断是否为读取目标的试剂信息。当判断应答电波中所含试剂信息不是读取目标的试剂信息时，返回上述步骤S204。当判断应答电波中所含试剂信息是要读取的试剂信息时，在步骤S205b将应答电波中所含读取目标试剂信息传送至控制装置4。然后进入步骤S206。
最后，在步骤S206，CPU302a判断25个IC标签27和25个IC标签28是否已全部读完。当判断尚未读完时，返回步骤S201a，进行新的IC标签的读取。当判断全部读完时，试剂信息读取处理结束，进入图20所示步骤S3。
下面参照图25和图29详细说明本发明第二实施方式涉及的免疫分析仪301的试剂吸移和试剂信息写入处理。
首先在步骤S401，CPU302a向箭头C1(D1)方向或箭头C2(D2)方向(参照图25)旋转R1/R3放置部件18(R2放置部件19)，使待吸移的R1试剂容器324或R3试剂容器325(R2试剂容器26)位于吸移位。此时，R1试剂容器324的盖324a或R3试剂容器325的盖325a(R2试剂容器26的盖26a)随R1/R3放置部件18(R2放置部件19)的转动而打开。
在步骤S402，吸移R1试剂或R3试剂(R2试剂)。此后，在步骤S403a，CPU302a向箭头C1(D1)方向或箭头C2(D2)方向转动R1/R3放置部件18(R2放置部件19)，使待写入的IC标签27(IC标签28)处于正对天线部件330的箭头X3方向表面(箭头X4方向表面)的位置。此时，R1试剂容器324的盖324a或R3试剂容器325的盖325a(R2试剂容器26的盖26a)随R1/R3放置部件18(R2放置部件19)的转动而关闭。
在步骤S404a，CPU302a从天线部件330向待写入IC标签27(IC标签28)发射读取用电波。然后，在步骤S405a，CPU302a判断天线部件330是否在一定时间内收到应答电波。当判断天线部件330在一定时间内没有收到应答电波时，在步骤S406，CPU302a向控制装置4发送读取错误信息，在控制装置4的显示器4b上出现试剂信息未能写入待写入IC标签的信息。然后结束试剂吸移和试剂信息写入处理，进入图20所示步骤S5。
当在步骤S405a判断天线部件330在一定时间内收到应答电波时，在步骤S407a，CPU302a判断天线部件330接收的应答电波中所含试剂信息是否为待写入IC标签中所记录的试剂信息。当判断应答电波中所含试剂信息不是待写入IC标签中所记录的试剂信息时，进入上述步骤S406。当在步骤S407a判断应答电波中所含试剂信息是待写入IC标签中所记录的试剂信息时，在步骤S407b，包含试剂余量等信息的写入用电波由天线部件330发射到待写入IC标签27(IC标签28)。在步骤S408，与待写入IC标签27(28)的试剂信息相同的信息传送至控制装置4后，试剂吸移和试剂信息写入处理完成，进入图20所示步骤S5。
在第二实施方式，如上所述，从平面看时，天线部件330夹在R1/R3放置部件18和R2放置部件19之间，将平板状金属板331设于天线部件330和R1/R3放置部件18的R1试剂容器324之间。以此可以通过金属板331将天线部件330发射的电波范围限制在所希望的范围，从而防止天线部件330发射的电波误到达无需读取试剂信息的IC标签。而且，读取记录在IC标签27和IC标签28上的试剂信息时可以共用一个天线部件330，可以相应地控制零部件数量的增加。
在第二实施方式，如上所述，将基本上呈圆环状的R1/R3放置部件18设置在基本上呈圆环状的R2放置部件19的内环一侧，同时将平板状金属板331设于天线部件330和R1/R3放置部件18的R1试剂容器324之间。如此，可以避免在读取相互挨得很近的IC标签27时，天线部件330发射的电波误到达无需读取试剂信息的IC标签。
第二实施方式的其他效果与第一实施方式相同。
此次公开的实施方式应该认为其在所有方面均为例示，绝无限制性。本发明的范围不受上述实施方式的说明所限，仅由权利要求书的范围所示，而且包括与权利要求书同样意思及围内的所有变形。
比如上述第一和第二实施方式列举了本发明的样本分析仪应用于免疫分析仪1(301)的例子，但本发明不限于此。只要是具备用于读取电子标签的试剂信息的天线部件的仪器，本发明均可适用，除免疫分析仪外，也可适用于凝血分析仪、尿样测定仪和基因扩增检测仪等。
在上述第一和第二实施方式例示，金属板22和23(331)(限制部件)由可以吸收电波(读取用电波、写入用电波和应答电波)的铝板制成，但本发明不限于此。在本发明中，限制部件也可以由铝之外的其他金属部件构成，还可以由金属部件和非金属部件构成。限制部件只要可以限制电波即可，也可以不含金属部件。
在上述第一和第二实施方式，金属板22和23(331)上形成有延伸到箭头Z1方向一侧外端22b和23d(331b)的缺口22a和23c(331a)(间隙)，但本发明不限于此。在本发明中，对金属板的缺口形状无特别限定。比如缺口(间隙)也可以延伸到垂直方向(Z方向)两外端。还可以将缺口(间隙)延伸到水平方向的外端。还可以将缺口(间隙)切成基本上呈S形的弯曲状。
在上述第一和第二实施方式，在金属板22和23(331)上切出缺口22a和23c(331a)(间隙)，但本发明不限于此。本发明也可以不在金属板上设置缺口。比如也可以在金属板上开出与外端不连接的孔作为间隙。
在上述第一和第二实施方式，将金属板22和23(331)固定在内侧天线部件20的基板安装部件20b和外侧天线部件21的基板安装部件21c(天线部件330的基板安装部件330b)上，但本发明不限于此。本发明也可以不将金属板固定在天线部件上，而固定在机壳、试剂容器固定部件、试剂容器固定件或试剂容器等其中的某一个。
上述第一和第二实施方式将缺口22a(331a)的水平方向宽度W1(W5)设计得略小于天线基板20a(330a)的水平方向宽度W2(W6)，在上述第一实施方式，将缺口23c的水平方向宽度W3设计得小于天线基板21b的水平方向宽度W4，但本发明不限于此。在本发明中，只要能限制天线部件发射的电波范围，也可以让缺口的水平方向宽度基本与天线基板的水平方向宽度相同，甚至可以比天线基板的水平方向宽度大。
上述第二实施方式中，从平面看时，天线部件330配置在夹在R1/R3放置部件18和R2放置部件19之间，但本发明不限于此。比如也可以将天线部件配置在R1/R3放置部件与R2放置部件相反的一侧(内环一侧)，还可以将天线部件配置在R2放置部件与R1/R3放置部件相反的一侧(外环一侧)。
上述第二实施方式将金属板331设置在天线部件330与R1/R3放置部件18的R1试剂容器324之间的区域，但本发明不限于此。本发明也可以将金属板设置在天线部件与R2放置部件的R2试剂容器之间的区域，而不是天线部件与R1/R3放置部件的R1试剂容器之间的区域。还可以在天线部件与R1/R3放置部件的R1试剂容器之间以及天线部件与R2放置部件的R2试剂容器之间的区域都设置金属板。
在上述第一和第二实施方式，R1/R3放置部件18和R2放置部件19基本上呈圆环形，但本发明不限于此。也可以使R1/R3放置部件和R2放置部件以并列状态向一定方向直线延伸。
在上述第一和第二实施方式，设置有25支R1试剂容器24、25支R3试剂容器25和25支R2试剂容器26，但本发明不限于此。本发明也可以使R1试剂容器、R3试剂容器和R2试剂容器的个数各不相同。R1试剂容器(R3试剂容器和R2试剂容器)的个数也可以为25个以外的其他个数。比如R1试剂容器、R3试剂容器和R2试剂容器也可以仅各有一个。
在上述第一和第二实施方式，由内侧旋转驱动部件16d和外侧旋转驱动部件16e分别转动R1/R3放置部件18和R2放置部件19，但本发明不限于此。本发明也可以不让R1/R3放置部件和R2放置部件转动，而设置转动天线部件的驱动部件来使天线部件旋转。
在上述第一和第二实施方式，金属板22和23(金属板331)安装在内侧天线部件20和外侧天线部件21(天线部件330)，但本发明不限于此。本发明的天线部件也可以不包含金属板。此时，可以将金属板(限制部件)配置在天线部件的基板安装部件和天线基板之间。比如可以将金属板(限制部件)配置在基板安装部件的天线基板一侧表面。还可以不设金属板(限制部件)，通过改变天线基板形状来限制天线基板向电子标签发射的电波范围。比如可以将天线基板设为曲面，以此来限制天线基板发射的电波范围。

Claims (12)

1.一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：
试剂容器固定部件，用于固定带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的复数支试剂容器；
天线部件，向所述试剂容器固定部件所固定的试剂容器的电子标签发射电波；及
限制部件，设置于所述试剂容器固定部件固定的试剂容器的电子标签与所述天线部件之间，用于限制所述天线部件发射的电波的范围；
其中，所述限制部件包含带间隙的金属部件，所述间隙用于让所述天线部件发射的所述电波通过。
2.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于：所述间隙一直延伸到所述金属部件的末端。
3.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于：所述间隙的垂直方向长度大于所述间隙的水平方向长度。
4.根据权利要求1所述的样本分析仪，包括：移动所述试剂容器固定部件和所述天线部件中的至少其中之一的驱动部件。
5.根据权利要求4所述的样本分析仪，其特征在于：所述限制部件相对于所述天线部件的位置是固定的。
6.根据权利要求5所述的样本分析仪，其特征在于：所述驱动部件移动所述试剂容器固定部件，使读取目标试剂信息的电子标签位于所述天线部件的正面位置；及所述限制部件用于限制所述天线部件发射的电波到达与所读取的目标电子标签相邻的电子标签。
7.根据权利要求5所述的样本分析仪，其特征在于：所述天线部件包含发射电波的天线基板和固定所述天线基板的天线固定部件；及所述限制部件安装在所述天线固定部件上。
8.根据权利要求7所述的样本分析仪，包括：收纳所述试剂容器固定部件和所述天线部件的收纳部件；及冷却所述试剂的冷却部件，其中所述天线固定部件在可透过电波的状态下覆盖所述天线基板。
9.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于：
所述复数支试剂容器包括复数支带第一电子标签的第一试剂容器和复数支带第二电子标签的第二试剂容器；
所述试剂容器固定部件包含固定所述复数支第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述复数支第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；
所述天线部件包含向所述第一电子标签发射电波的第一天线部件和向所述第二电子标签发射电波的第二天线部件；及
所述限制部件包含设置在所述第一电子标签和所述第一天线部件之间的第一限制部件，以及设置在所述第二电子标签和所述第二天线部件之间的第二限制部件。
10.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于：
所述复数支试剂容器包含带第一电子标签的第一试剂容器和带第二电子标签的第二试剂容器；
所述试剂容器固定部件包含固定所述第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；
所述天线部件配置在所述第一试剂容器固定部件和所述第二试剂容器固定部件之间；及
所述限制部件设在所述第一电子标签和所述天线部件之间以及所述第二电子标签和所述天线部件之间这两个位置中的至少其中一处。
11.根据权利要求10所述的样本分析仪，其特征在于：
所述第一试剂容器固定部件从平面看呈圆环形，固定复数支第一试剂容器；
所述第二试剂容器固定部件从平面看在所述第一试剂容器固定部件内侧呈圆环形，固定复数支第二试剂容器；及
所述限制部件设在所述第二试剂容器固定部件的第二试剂容器的第二电子标签和所述天线部件之间。
12.一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：
试剂容器固定部件，用于固定复数支带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的试剂容器；
向所述电子标签发射电波的天线部件，其中所述天线部件向所述电子标签发射的电波范围受到限制；
所述天线部件包含限制向所述电子标签发射电波的范围的限制部件；
其中，所述限制部件包含带间隙的金属部件，所述间隙用于让所述天线部件发射的所述电波通过。
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