CN102214129A - 内存容限测试报告管理系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种内存容限测试报告管理系统及方法，包括：接收用户于容限测试报告中选择的栏位；生成各个测试参数类型的相关容限值表单；在每个表单中查找每个引线的各个容限类型的最小容限值，并根据最小容限值计算得到每个引线对应的各个容限类型的准确容限值；在准确容限值中找到每个参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值；获取最小准确容限值，并载入一个最终报表中；当最小准确容限值等于容限标准值时，判定该最小准确容限值是边沿值；当最小准确容限值大于该容限标准值时，判定该最小准确容限值符合标准；当最小准确容限值小于该容限标准值时，判定该最小准确容限值不符合标准。利用本发明，可以快速整理内存容限测试报告中参数。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试报告管理系统及方法，尤其涉及一种内存容限测试报告管理系统及方法。
背景技术
内存的容限测试是印刷电路板(printed circuit board，PCB)测试中最重要的测试之一，该容限包括电压容限和时间容限。在高速PCB设计中，有很大一部分工作是进行噪声预算，规划系统各种噪声源产生噪声大小，这就涉及到电压容限。电压容限是指内存和CPU之间信号输出输入在最坏情况下的灵敏度之间的差值。时间容限是指在内存的读写测试中，时钟信号和数据信号之间的时间误差。
然而上述容限测试结束后，会产生所有引线的时间容限(TimingMargin)和电压容限(Voltage Margin)，使得容限测试报告中的数据非常繁杂，需要人工去删除数据中重复无用的部分，然后计算出该测试中所有最小容限值，再由人工来判断该最小容限值是否符合标准，浪费了大量的时间和人力。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种内存容限测试报告管理系统，可以自动整理内存容限测试报告中的数据。
还有必要提供一种影像测量方法，可以自动整理内存容限测试报告中的数据。
一种内存容限测试报告管理系统，运行于主机上，该主机连接于数据库，该数据库中存储对待测内存进行容限测试后产生的容限测试报告，该系统包括：接收模块，用于接收用户于所述容限测试报告中选择的栏位；生成模块，用于根据用户选择的栏位生成各个测试参数类型的相关容限值表单；计算模块，用于在每个测试参数类型对应的表单中查找每个引线的各个容限类型的最小容限值，并根据该最小容限值和该容限类型的容限起始值计算得到每个引线对应的各个容限类型的准确容限值；所述计算模块，还用于在上述计算出来的每个引线对应的各个容限类型的准确容限值中找到每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值；所述接收模块，还用于获取每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值，并将该最小准确容限值载入一个最终报表中；所述计算模块，还用于当一个测试参数类型的一个容限类型对应的最小准确容限值等于该容限类型的容限标准值时，判定该最小准确容限值是边沿值；若该最小准确容限值大于该容限标准值，则判定该最小准确容限值符合标准；若该最小准确容限值小于该容限标准值，则判定该最小准确容限值不符合标准；及查找模块，用于在历史文档中查找该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，并将该解决方法载入至该最终报表中。
一种内存容限测试报告管理方法，该方法包括如下步骤：接收用户于容限测试报告中选择的栏位；根据用户选择的栏位生成各个测试参数类型的相关容限值表单；在每个测试参数类型对应的表单中查找每个引线的各个容限类型的最小容限值，并根据该最小容限值和该容限类型的容限起始值计算得到每个引线对应的各个容限类型的准确容限值；在上述计算出来的每个引线对应的各个容限类型的准确容限值中找到每个参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值；获取每个参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值，并将该最小准确容限值载入一个最终报表中；当一个测试参数类型的一个容限类型对应的最小准确容限值等于该容限类型的容限标准值时，判定该最小准确容限值是边沿值；当该最小准确容限值大于该容限标准值时，判定该最小准确容限值符合标准；当该最小准确容限值小于该容限标准值时，判定该最小准确容限值不符合标准；及在历史文档中查找该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，并将该解决方法载入至所述最终报表中。
相较于现有技术，所述内存容限测试报告管理系统及方法，快速整理出用户需要的时间容限和电压容限的相关参数，并自动生成容限曲线图，节省了时间，提高了工作效率。
附图说明
图1是本发明内存容限测试报告管理系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是图1中主机1的功能模块图。
图3是本发明内存容限测试报告管理方法较佳实施例的作业流程图。
图4是测试参数类型为写操作的表单示意图。
图5是测试参数类型为写操作的曲线图。
主要元件符号说明
| 主机 | 1 |
| 待测内存 | 2 |
| 数据库 | 3 |
| 制表工具 | 10 |
| 内存容限测试报告管理系统 | 12 |
| 接收模块 | 20 |
| 生成模块 | 21 |
| 计算模块 | 22 |
| 查找模块 | 23 |
具体实施方式
如图1所示，是本发明内存容限测试报告管理系统较佳实施例的运行环境图。该内存容限测试报告管理系统12运行于主机1上，该主机1分别连接于待测内存2及数据库3。本较佳实施例中，该待测内存2为双倍速率同步动态随机存储器(double data rate，DDR 3)，该待测内存2包括五个阵列(rank)。该主机1包括制表工具10和内存容限测试报告管理系统12，该制表工具10用于在主机1测试待测内存2的容限后，将所测得的数据生成测试报告。该内存的容限包括电压容限和时间容限。本实施例中，该制表工具10为Excel软件。所述数据库3可以外置于主机1，也可以内置于主机1中。
该数据库3用于存储该待测内存2的容限测试报告、待测内存2的容限标准值、以及容限起始值。该容限标准值包括电压容限标准值和时间容限标准值。该容限起始值包括电压容限起始值和时间容限起始值。该数据库3中还存储了一个历史文档，该历史文档用于记载容限测试报告中存在不符合标准的容限值的解决办法。当测试报告中存在不符合标准的容限值时，该内存容限测试报告管理系统12从该历史文档中查找解决办法，若没有该解决办法，通知测试人员解决，并记载该解决办法至该历史文档中。
如图2所示，是图1中内存容限测试报告管理系统12的功能模块图。所述内存容限测试报告管理系统12包括：接收模块20、生成模块21、计算模块22及查找模块23。所述模块是具有特定功能的软件程序段，该软件存储于计算机可读存储介质或其它存储设备，可被计算机或其它包含处理器的计算装置执行，从而完成管理内存容限测试报告的作业流程。
接收模块20用于接收用户于所述容限测试报告中选择的栏位。本实施例中，用户选择的栏位包括：测试参数类型、测试通道、阵列编号、容限类型、各个引线的容限值。所述容限测试报告中记载了该待测内存2的所有测试参数类型的容限值。该测试参数类型包括：写操作、读操作、内存参考电压、CPU参考电压。容限类型包括电压容限(voltagemargin)和时间容限(timing margin)，电压容限分为高准位电压(highlevel voltage)容限和低准位电压(low level voltage)容限，时间容限分为响应时间(setup time)容限和保持时间(hold time)容限。写操作和读操作的容限类型为时间容限，内存参考电压和CPU参考电压的容限类型为电压容限。
生成模块21用于根据用户选择的栏位生成各个测试参数类型的相关容限值表单。其中，该生成模块21删除用户不需要的栏位，并生成各个测试参数类型对应的表单。如图4所示，是根据用户选择的栏位生成的写操作的相关容限值表单示意图。该例子中是对32位数据宽度72引线的单内联内存模块(signal inline memory module，SIMM)进行写操作容限测试。
计算模块22用于在每个测试参数类型对应的表单中查找每个引线的各个容限类型的最小容限值，并根据该最小容限值和该容限类型的容限起始值计算得到每个引线的各个容限类型的准确容限值。如在图4所示的写操作的容限值表单中，容限类型为setup time的第0引线的最小容限值为7，第1引线的最小容限值为27，若该容限类型的容限起始值为1，则该计算模块22将第0引线的最小容限值减去该容限起始值得到数值6，即为该第0引线的准确容限值，将第1引线的最小容限值减去该容限起始值得到数值26，即为该第1引线的准确容限值。
该计算模块22还用于在上述计算出来的每个测试参数类型的每个容限类型的各个引线的准确容限值中找到每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值。参考图4所示的测试参数类型为写操作的容限值表单，经过计算模块22的准确容限值计算，可以得到容限类型为setup time的各个引线的准确容限值，再从该每个准确容限值中找到一个最小准确容限值。
所述生成模块21还用于根据上述计算出的每个引线的各个容限类型的准确容限值生成每个测试参数类型对应的曲线图。该曲线图的横坐标上的每个单位分别表示每个引线，纵坐标表示每个引线的各个容限类型的准确容限值。如图5所示，该图为参数类型为写操作对应的曲线图，该图中显示的是在测试参数类型为写操作时，各个引线在两种容限类型下对应的准确容限值的曲线图。
该生成模块21还用于利用制表工具10生成一个最终报表，该最终报表用于记载该待测内存2的所有参数类型的测试结果。
所述接收模块20还用于获取每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值，并将该最小准确容限值载入该最终报表中。
所述计算模块22还用于将该最终报表中每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值与数据库中存储的每个容限类型对应的容限标准值进行比较，查看每个最小准确容限值是否与所述容限标准值相同。当一个最小准确容限值等于容限标准值时，则该计算模块22判定该最小准确容限值是边沿值。
若一个最小准确容限值不等于该容限标准值，该计算模块22判断该最小准确容限值是否大于该容限标准值。若该最小准确容限值小于该容限标准值，则该计算模块22判定该最小准确容限值不符合标准。当该最小准确容限值大于该容限标准值时，该计算模块22判定该最小准确容限值符合标准。本实施例中，对于上述三种情况，可用不同的颜色于该报表中标注每个最小准确容限值，以说明每个最小准确容限值与容限标准值之间的关系。
查找模块23用于在历史文档中查找该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法。若该历史文档中存在该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，则所述生成模块21从该历史文档中载入该解决办法至所述最终报表中。若该历史文档中不存在该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，则该生成模块21于该最终报表中提示测试人员该问题尚无资料参考。
如图3所示，是本发明内存容限测试报告管理方法较佳实施例的作业流程图。
步骤S30，接收模块20接收用户于所述容限测试报告中选择的栏位。本实施例中，用户选择的栏位包括：测试参数类型、测试通道、阵列编号、容限类型、各个引线的容限值。所述容限测试报告中记载了该待测内存2的所有测试参数类型的容限值。该测试参数类型包括：写操作、读操作、内存参考电压、CPU参考电压。容限类型包括电压容限(voltage margin)和时间容限(timing margin)，电压容限分为高准位电压(high level voltage)容限和低准位电压(low level voltage)容限，时间容限分为响应时间(setup time)容限和保持时间(hold time)容限。写操作和读操作的容限类型为时间容限，内存参考电压和CPU参考电压的容限类型为电压容限。
步骤S31，生成模块21根据用户选择的栏位生成各个测试参数类型的相关容限值表单。该生成模块21删除用户不需要的栏位，并生成各个测试参数类型对应的表单。如图4所示，是根据用户选择的栏位生成的以测试参数类型为写操作的容限值表单示意图。
步骤S32，计算模块22在上述生成的每个测试参数类型对应的表单中查找每个引线的各个容限类型的最小容限值，根据该最小容限值和该容限类型的容限起始值计算得到每个引线的各个容限类型的准确容限值；然后从所计算出的每个容限类型的各个引线的准确容限值中找到每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值。例如，在图4中，当容限类型为setup time时，第0引线的最小容限值为7，第1引线的最小容限值为27，若该容限类型setup time的容限起始值为1，则该计算模块22将每个引线的最小容限值减去该容限起始值得到的数值即为该引线的setup time的准确容限值。
步骤S33，所述生成模块21根据上述计算出的每个引线的各个容限类型的准确容限值生成每个测试参数类型对应的曲线图。该曲线图的横坐标上的每个单位分别表示每个引线，纵坐标表示每个引线的各个容限类型的准确容限值。如图5所示，该图中显示了两条曲线，分别对应每条引线在测试参数类型为写操作时的两个容限类型(setup time和holdtime)的准确容限值。
步骤S34，生成模块21利用所述制表工具10生成一个最终报表，该最终报表用于记载该待测内存2的所有测试参数类型的测试结果。接收模块20获取每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值，并将该最小准确容限值载入该最终报表中。
步骤S35，所述计算模块22将该最终报表中每个最小准确容限值与数据库中存储的该容限类型的容限标准值进行比较，查看每个最小准确容限值是否与所述容限标准值相同。当一个最小准确容限值等于容限标准值时，于步骤S36中，该计算模块22判定该参数类型对应的最小准确容限值是边沿值，并于该最终报表中标注该最小准确容限值，结束流程。本实施例中，可用一种颜色来标准该最小准确容限值来区别其他最小准确容限值。若一个最小准确容限值与容限标准值不相同，则进入步骤S37。
步骤S37，该计算模块22判断该最小容限值是否大于所述容限标准值。当该最小准确容限值大于该容限标准值时，于步骤S38中，该计算模块22判定该最小准确容限值符合标准。若该最小准确容限值小于该容限标准值，进入步骤S39。
步骤S39，该计算模块22判定该最小准确容限值不符合标准。
步骤S40，查找模块23在历史文档中查找该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法。若该历史文档中存在该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，于步骤S41中，则所述生成模块21从该历史文档中调入该解决办法至所述最终报表中。若该历史文档中不存在该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，进入步骤S42。
步骤S42，该生成模块21于该最终报表中提示测试人员该问题尚无资料参考。
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种内存容限测试报告管理系统，运行于主机上，该主机连接于数据库，该数据库中存储对待测内存进行容限测试后产生的容限测试报告，其特征在于，该系统包括：
接收模块，用于接收用户于所述容限测试报告中选择的栏位；
生成模块，用于根据用户选择的栏位生成各个测试参数类型的相关容限值表单；
计算模块，用于在每个测试参数类型对应的表单中查找每个引线的各个容限类型的最小容限值，并根据该最小容限值和该容限类型的容限起始值计算得到每个引线对应的各个容限类型的准确容限值；
所述计算模块，还用于在上述计算出来的每个引线对应的各个容限类型的准确容限值中找到每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值；
所述接收模块，还用于获取每个测试参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值，并将该最小准确容限值载入一个最终报表中；
所述计算模块，还用于当一个测试参数类型的一个容限类型对应的最小准确容限值等于该容限类型的容限标准值时，判定该最小准确容限值是边沿值；若该最小准确容限值大于该容限标准值，则判定该最小准确容限值符合标准；若该最小准确容限值小于该容限标准值，则判定该最小准确容限值不符合标准；及
查找模块，用于在历史文档中查找该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，并将该解决方法载入至该最终报表中。
2.如权利要求1所述的内存容限测试报告管理系统，其特征在于，所述测试参数类型包括：写操作、读操作、内存参考电压、CPU参考电压。
3.如权利要求1所述的内存容限测试报告管理系统，其特征在于，所述生成模块还用于根据每个引线的各个容限类型的准确容限值生成每个测试参数类型对应的曲线图。
4.如权利要求1所述的内存容限测试报告管理系统，其特征在于，所述生成模块，还用于当历史文档中不存在该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法时，于所述最终报表中提示测试人员该问题尚无资料参考。
5.如权利要求1所述的内存容限测试报告管理系统，其特征在于，所述容限类型包括：电压容限和时间容限；电压容限分为高准位电压容限和低准位电压容限；时间容限分为响应时间容限和保持时间容限。
6.一种内存容限测试报告管理方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
接收用户于容限测试报告中选择的栏位；
根据用户选择的栏位生成各个测试参数类型的相关容限值表单；
在每个测试参数类型对应的表单中查找每个引线的各个容限类型的最小容限值，并根据该最小容限值和该容限类型的容限起始值计算得到每个引线对应的各个容限类型的准确容限值；
在上述计算出来的每个引线对应的各个容限类型的准确容限值中找到每个参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值；
获取每个参数类型的每个容限类型对应的最小准确容限值，并将该最小准确容限值载入一个最终报表中；
当一个测试参数类型的一个容限类型对应的最小准确容限值等于该容限类型的容限标准值时，判定该最小准确容限值是边沿值；
当该最小准确容限值大于该容限标准值时，判定该最小准确容限值符合标准；
当该最小准确容限值小于该容限标准值时，判定该最小准确容限值不符合标准；及
在历史文档中查找该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法，并将该解决方法载入至所述最终报表中。
7.如权利要求6所述的内存容限测试报告管理方法，其特征在于，所述测试参数类型包括：写操作、读操作、内存参考电压、CPU参考电压。
8.如权利要求6所述的内存容限测试报告管理方法，其特征在于，该方法还包括：根据每个引线的各个容限类型的准确容限值生成每个测试参数类型对应的曲线图。
9.如权利要求6所述的内存容限测试报告管理方法，其特征在于，该方法还包括：当历史文档中不存在该不符合标准的最小准确容限值对应的解决办法时，于所述最终报表中提示测试人员该问题尚无资料参考。
10.如权利要求6所述的内存容限测试报告管理方法，其特征在于，所述容限类型包括：电压容限和时间容限；电压容限分为高准位电压容限和低准位电压容限，时间容限分为响应时间容限和保持时间容限。
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: SCIENBIZIP CONSULTING (SHENZHEN) CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY (SHENZHEN) CO., LTD. Effective date: 20150309 Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY CO., LTD. Effective date: 20150309 |
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| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| C53 | Correction of patent of invention or patent application | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 528437 Guangdong province Zhongshan Torch Development Zone, Cheung Hing Road 6 No. 222 north wing trade building room Applicant after: Zhongshan yunchuang Intellectual Property Service Co.,Ltd. Address before: 518109 Guangdong province Shenzhen city Longhua District Dragon Road No. 83 wing group building 11 floor Applicant before: SCIENBIZIP CONSULTING (SHEN ZHEN) Co.,Ltd. |
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| COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: APPLICANT; FROM: SCIENBIZIP CONSULTING (SHENZHEN) CO., LTD. TO: ZHONGSHAN YUNCHUANG INTELLECTUAL PROPERTY SERVICE CO., LTD. |
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| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20150309 Address after: 518109 Guangdong province Shenzhen city Longhua District Dragon Road No. 83 wing group building 11 floor Applicant after: SCIENBIZIP CONSULTING (SHEN ZHEN) Co.,Ltd. Address before: 518109 Guangdong city of Shenzhen province Baoan District Longhua Town Industrial Zone tabulaeformis tenth East Ring Road No. 2 two Applicant before: HONG FU JIN PRECISION INDUSTRY (SHENZHEN) Co.,Ltd. Applicant before: HON HAI PRECISION INDUSTRY Co.,Ltd. |
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| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20150415 Termination date: 20160406 |