CN113744789B - 一种在研发阶段测试ssd稳定性的方法、系统、设备和介质 - Google Patents

一种在研发阶段测试ssd稳定性的方法、系统、设备和介质 Download PDF

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Abstract

本发明提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法、系统、设备和介质。该方法包括采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试；选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。基于该方法，本发明还提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的系统、设备和存储介质。本发明可以有效的测试运行中的SSD是否稳定，并且从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题，节省后续因SSD客诉问题产生的人力成本及物料成本。

Description

一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法、系统、设备和介质
技术领域
本发明属于硬盘稳定性测试技术领域，特别涉及一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法、系统、设备和介质。
背景技术
随着服务器的发展，对机器配置的要求越来越高，对于服务器配置中关键部件SSD要求也越来越高。SSD(Solid State Disk)固态硬盘，其中稳定性是SSD非常重要的一个指标，业务在使用SSD过程中经常会出现SSD跌落不稳定，性能波动大的现象。但是分析问题根因时，通过问题的现象追踪其在研发测试时的结果，发现当时引入测试时确实是没有问题的。
现有技术中，随机搭建一台服务器样机，在服务器系统下跑单盘SSD的稳定性的脚本，跑完后处理数据日志，从数据上来检查是否有性能的跌落，来判断SSD是否稳定，测试时未去验证服务器的稳定性，直接将待测试的SSD搭建到服务器中，每次测试服务器都是随机的搭建的。测试结果只能反应出当前的SSD和服务器兼容性较好，只能判断这一个盘在这一个服务器是验证pass的，不能有效证明这种型号的盘是稳定的，如果换个机器测试可能结果会差异很大。同样会导致在研发阶段测试是通过的，但是在实际应用的过程中依然会出现SSD跌落不稳定，性能波动大的现象。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法、系统、设备和介质，从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，包括以下步骤：
采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；
将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试；选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
进一步的，所述采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器的过程为：
选取一块出货量产的SSD分别搭配多台配置相同的服务器；
每台机器测试N次，选取其中一次的测试数据作为标准数据，其余N-1的测试数据分别与标准数据进行差异化对比，每台机器选出差异化最大值；
从所述差异化最大值中选取出最小的测试数据对应的服务器为基准服务器。
进一步的，所述待引入测试的SSD插入至基准服务器的插槽与所述已经出货量产的SSD插入至基准服务器的插槽相同。
进一步的，所述将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试的过程还包括：在每天固定时间内进行1次测试，连续测试M次。
进一步的，所述在每天固定时间内进行1次测试之后，将之前的测试数据格式化，然后再进行下一次测试。
进一步的，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试的过程为：选取其中一次的测试数据作为基准数据，其余M-1的测试数据分别与基准数据进行差异化对比，选取出波动最大的数据。
进一步的，如果波动超过10％，则判定稳定性测试不通过；如果波动小于10％，则判断稳定性测试通过。
本发明还提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的系统，包括搭建模块和测试模块；
所述搭建模块用于采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；
所述测试模块用于将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
本发明还提出了一种设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现所述的方法步骤。
本发明还提出了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的方法步骤。
发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
本发明提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法、系统、设备和介质。该方法包括采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试；选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。本发明采用已经出货量产稳定的SSD硬盘搭配配置相同的服务器，选取出基准服务器。采用稳定的基准服务器去做SSD的引入测试，经过多次测试结果对比判断SSD的稳定性。本发明可以有效的测试运行中的SSD是否稳定，并且从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题，节省后续因SSD客诉问题产生的人力成本及物料成本。本方法中采用多次测试来判断波动，SSD的稳定性不是只看一次的结果有没有明显跌落来判定，而是在稳定的服务器上通过多次测试数据的结果对比来判断，即使每次都有跌落，但是每次跌落的位置一致，也是可以判断SSD是稳定的，所以本发明能够有效提高SSD稳定测试的准确率。
基于一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，本发明还提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的系统、设备和存储介质，同样具有上述方法的作用，在此不做赘述。
附图说明
如图1为本发明实施例1一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法流程图；
如图2为本发明实施例1一种在研发阶段测试SSD稳定性的系统示意图。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
实施例1
本发明提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题。
如图1为本发明实施例1一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法流程图。
在步骤S100中，采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；
选取一块出货量产的SSD分别搭配多台配置相同的服务器；
每台机器测试N次，选取其中一次的测试数据作为标准数据，其余N-1的测试数据分别与标准数据进行差异化对比，每台机器选出差异化最大值；
从差异化最大值中选取出最小的测试数据对应的服务器为基准服务器。
该步骤中，选取多台配置相同的服务器，分别搭配相同的成熟出货的SSD进行稳定性测试，每台机器测试11次，第1次作为基准，后10次的结果每次与基准对比差异，每台机器将产生10组差异值，每台取差异最大的那个值，从中找出最小的，此台机器为最稳定的。
本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
在步骤S200中，将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试；首先，待引入测试的SSD插入至基准服务器的插槽与所述已经出货量产的SSD插入至基准服务器的插槽相同
在每天固定时间内进行1次测试，连续测试M次。
在每天固定时间内进行1次测试之后，将之前的测试数据格式化，然后再进行下一次测试。
在机器不变的情况下，做10次SSD的稳定性测试，每次测试前格式化，将每次的测试数据整理。
在步骤S300中，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
将10次的测试数据与基准数据对比波动差异，取波动最大的数据，按照波动标准给出SSD稳定性的结论，例如最大波动超过10％判fail,10％以内判pass。
以下为其中一部分测试数据的举例说明，从数据可以看出在数据块128K第4次测试时，SSD数据波动为90％，超过10％，这样可以判定SSD不稳定，测试fail，将128k的数据结果反馈给厂商分析。
4K 16K 128K 1024K
基准 321931 983529 2408610 2779196
第1次 332109 983989 2408425 2769186
第2次 321010 992888 2501482 2798424
第3次 319987 1019927 2412327 2803225
第4次 321821 992307 243237 2753278
第5次 321922 979596 2501127 2699810
第6次 330087 977935 2404535 2729380
第7次 319891 988543 2506816 2803247
第8次 320987 979638 2398562 2768423
第9次 330326 984255 2423267 2699478
第10次 320323 985786 2435713 2753423
最大波动 3％ 4％ 90％ 3％
如果波动超过10％，则判定稳定性测试不通过；如果波动小于10％，则判断稳定性测试通过。本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
本发明可以有效的测试运行中的SSD是否稳定，并且从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题，节省后续因SSD客诉问题产生的人力成本及物料成本。本方法中采用多次测试来判断波动，SSD的稳定性不是只看一次的结果有没有明显跌落来判定，而是在稳定的服务器上通过多次测试数据的结果对比来判断，即使每次都有跌落，但是每次跌落的位置一致，也是可以判断SSD是稳定的，所以本发明能够有效提高SSD稳定测试的准确率。
实施例2
基于本发明实施例1提出的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，本发明实施例2还提出了一种在研发阶段测试SSD稳定性的系统。如图2为本发明实施例1一种在研发阶段测试SSD稳定性的系统示意图，该系统包括：搭建模块和测试模块；
搭建模块用于采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器。
选取一块出货量产的SSD分别搭配多台配置相同的服务器；
每台机器测试N次，选取其中一次的测试数据作为标准数据，其余N-1的测试数据分别与标准数据进行差异化对比，每台机器选出差异化最大值；
从差异化最大值中选取出最小的测试数据对应的服务器为基准服务器。
该步骤中，选取多台配置相同的服务器，分别搭配相同的成熟出货的SSD进行稳定性测试，每台机器测试11次，第1次作为基准，后10次的结果每次与基准对比差异，每台机器将产生10组差异值，每台取差异最大的那个值，从中找出最小的，此台机器为最稳定的。
本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
测试模块用于将待引入测试的SSD在基准服务器上进行多次稳定性测试，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
首先，待引入测试的SSD插入至基准服务器的插槽与所述已经出货量产的SSD插入至基准服务器的插槽相同
在每天固定时间内进行1次测试，连续测试M次。
在每天固定时间内进行1次测试之后，将之前的测试数据格式化，然后再进行下一次测试。
在机器不变的情况下，做10次SSD的稳定性测试，每次测试前格式化，将每次的测试数据整理。
选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
将10次的测试数据与基准数据对比波动差异，取波动最大的数据，按照波动标准给出SSD稳定性的结论，例如最大波动超过10％判fail,10％以内判pass。
如果波动超过10％，则判定稳定性测试不通过；如果波动小于10％，则判断稳定性测试通过。本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
本发明可以有效的测试运行中的SSD是否稳定，并且从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题，节省后续因SSD客诉问题产生的人力成本及物料成本。本方法中采用多次测试来判断波动，SSD的稳定性不是只看一次的结果有没有明显跌落来判定，而是在稳定的服务器上通过多次测试数据的结果对比来判断，即使每次都有跌落，但是每次跌落的位置一致，也是可以判断SSD是稳定的，所以本发明能够有效提高SSD稳定测试的准确率。
实施例3
本发明还提出了一种设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现方法步骤如下：
从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题。
如图1为本发明实施例1一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法流程图。
在步骤S100中，采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；
选取一块出货量产的SSD分别搭配多台配置相同的服务器；
每台机器测试N次，选取其中一次的测试数据作为标准数据，其余N-1的测试数据分别与标准数据进行差异化对比，每台机器选出差异化最大值；
从差异化最大值中选取出最小的测试数据对应的服务器为基准服务器。
该步骤中，选取多台配置相同的服务器，分别搭配相同的成熟出货的SSD进行稳定性测试，每台机器测试11次，第1次作为基准，后10次的结果每次与基准对比差异，每台机器将产生10组差异值，每台取差异最大的那个值，从中找出最小的，此台机器为最稳定的。
本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
在步骤S200中，将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试；首先，待引入测试的SSD插入至基准服务器的插槽与所述已经出货量产的SSD插入至基准服务器的插槽相同。
在每天固定时间内进行1次测试，连续测试M次。
在每天固定时间内进行1次测试之后，将之前的测试数据格式化，然后再进行下一次测试。
在机器不变的情况下，做10次SSD的稳定性测试，每次测试前格式化，将每次的测试数据整理。
在步骤S300中，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
将10次的测试数据与基准数据对比波动差异，取波动最大的数据，按照波动标准给出SSD稳定性的结论，例如最大波动超过10％判fail,10％以内判pass。
如果波动超过10％，则判定稳定性测试不通过；如果波动小于10％，则判断稳定性测试通过。本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
本发明可以有效的测试运行中的SSD是否稳定，并且从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题，节省后续因SSD客诉问题产生的人力成本及物料成本。本方法中采用多次测试来判断波动，SSD的稳定性不是只看一次的结果有没有明显跌落来判定，而是在稳定的服务器上通过多次测试数据的结果对比来判断，即使每次都有跌落，但是每次跌落的位置一致，也是可以判断SSD是稳定的，所以本发明能够有效提高SSD稳定测试的准确率。
需要说明：本发明技术方案还提供了一种电子设备，包括：通信接口，能够与其它设备比如网络设备等进行信息交互；处理器，与通信接口连接，以实现与其它设备进行信息交互，用于运行计算机程序时，执行上述一个或多个技术方案提供的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，而所述计算机程序存储在存储器上。当然，实际应用时，电子设备中的各个组件通过总线系统耦合在一起。可理解，总线系统用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。本申请实施例中的存储器用于存储各种类型的数据以支持电子设备的操作。这些数据的示例包括：用于在电子设备上操作的任何计算机程序。可以理解，存储器可以是易失性存储器或非易失性存储器，也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(ROM，Read Only Memory)、可编程只读存储器(PROM，Programmable Read-Only Memory)、可擦除可编程只读存储器(EPROM，Erasable Programmable Read-Only Memory)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM，Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)、磁性随机存取存储器(FRAM，ferromagnetic random access memory)、快闪存储器(FlashMemory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(CD-ROM，Compact Disc Read-Only Memory)；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(SRAM，Static Random Access Memory)、同步静态随机存取存储器(SSRAM，Synchronous Static Random Access Memory)、动态随机存取存储器(DRAM，Dynamic Random Access Memory)、同步动态随机存取存储器(SDRAM，SynchronousDynamic Random Access Memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DDRSDRAM，Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)、增强型同步动态随机存取存储器(ESDRAM，Enhanced Synchronous Dynamic Random AccessMemory)、同步连接动态随机存取存储器(SLDRAM，SyncLink Dynamic Random AccessMemory)、直接内存总线随机存取存储器(DRRAM，Direct Rambus Random Access Memory)。本申请实施例描述的存储器旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。上述本申请实施例揭示的方法可以应用于处理器中，或者由处理器实现。处理器可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器可以是通用处理器、DSP(Digital Signal Processing，即指能够实现数字信号处理技术的芯片)，或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。处理器可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤，可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于存储介质中，该存储介质位于存储器，处理器读取存储器中的程序，结合其硬件完成前述方法的步骤。处理器执行所述程序时实现本申请实施例的各个方法中的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。
实施例4
本发明还提出了一种可读存储介质，可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现方法步骤如下：
在步骤S100中，采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；
选取一块出货量产的SSD分别搭配多台配置相同的服务器；
每台机器测试N次，选取其中一次的测试数据作为标准数据，其余N-1的测试数据分别与标准数据进行差异化对比，每台机器选出差异化最大值；
从差异化最大值中选取出最小的测试数据对应的服务器为基准服务器。
该步骤中，选取多台配置相同的服务器，分别搭配相同的成熟出货的SSD进行稳定性测试，每台机器测试11次，第1次作为基准，后10次的结果每次与基准对比差异，每台机器将产生10组差异值，每台取差异最大的那个值，从中找出最小的，此台机器为最稳定的。
本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
在步骤S200中，将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试；首先，待引入测试的SSD插入至基准服务器的插槽与所述已经出货量产的SSD插入至基准服务器的插槽相同
在每天固定时间内进行1次测试，连续测试M次。
在每天固定时间内进行1次测试之后，将之前的测试数据格式化，然后再进行下一次测试。
在机器不变的情况下，做10次SSD的稳定性测试，每次测试前格式化，将每次的测试数据整理。
在步骤S300中，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
将10次的测试数据与基准数据对比波动差异，取波动最大的数据，按照波动标准给出SSD稳定性的结论，例如最大波动超过10％判fail,10％以内判pass。
如果波动超过10％，则判定稳定性测试不通过；如果波动小于10％，则判断稳定性测试通过。本发明中保护的范围不局限于实施例1中列出的数量，本发明人员可以根据实际情况进行设置。
本发明可以有效的测试运行中的SSD是否稳定，并且从研发阶段就拦截到SSD的稳定性问题并解决，免上线出货后SSD的突发稳定性跌落问题，节省后续因SSD客诉问题产生的人力成本及物料成本。本方法中采用多次测试来判断波动，SSD的稳定性不是只看一次的结果有没有明显跌落来判定，而是在稳定的服务器上通过多次测试数据的结果对比来判断，即使每次都有跌落，但是每次跌落的位置一致，也是可以判断SSD是稳定的，所以本发明能够有效提高SSD稳定测试的准确率。
本申请实施例提供的一种在研发阶段测试SSD稳定性的设备和存储介质中相关部分的说明可以参见本申请实施例1提供的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。另外，本申请实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制。对于所属领域的技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的修改或变形。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

Claims (9)

1.一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，其特征在于，包括以下步骤：
采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；所述采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器的过程为：选取一块出货量产的SSD分别搭配多台配置相同的服务器；每台机器测试N次，选取其中一次的测试数据作为标准数据，其余N-1的测试数据分别与标准数据进行差异化对比，每台机器选出差异化最大值；从所述差异化最大值中选取出最小的测试数据对应的服务器为基准服务器；
将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试；选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
2.根据权利要求1所述的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，其特征在于，所述待引入测试的SSD插入至基准服务器的插槽与所述已经出货量产的SSD插入至基准服务器的插槽相同。
3.根据权利要求2所述的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，其特征在于，所述将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试的过程还包括：在每天固定时间内进行1次测试，连续测试M次。
4.根据权利要求3所述的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，其特征在于，所述在每天固定时间内进行1次测试之后，将之前的测试数据格式化，然后再进行下一次测试。
5.根据权利要求4所述的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，其特征在于，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试的过程为：选取其中一次的测试数据作为基准数据，其余M-1的测试数据分别与基准数据进行差异化对比，选取出波动最大的数据。
6.根据权利要求5所述的一种在研发阶段测试SSD稳定性的方法，其特征在于，如果波动超过10%，则判定稳定性测试不通过；如果波动小于10%，则判断稳定性测试通过。
7.一种在研发阶段测试SSD稳定性的系统，其特征在于，包括搭建模块和测试模块；
所述搭建模块用于采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器；所述采用已经出货量产的SSD搭配多台配置相同的服务器进行测试，选出最稳定的服务器作为基准服务器的过程为：选取一块出货量产的SSD分别搭配多台配置相同的服务器；每台机器测试N次，选取其中一次的测试数据作为标准数据，其余N-1的测试数据分别与标准数据进行差异化对比，每台机器选出差异化最大值；从所述差异化最大值中选取出最小的测试数据对应的服务器为基准服务器；
所述测试模块用于将待引入测试的SSD在所述基准服务器上进行多次稳定性测试，选取一组测试数据作为基准数据，其余测试数据与基准数据进行对比，以完成SSD稳定性测试。
8.一种在研发阶段测试SSD稳定性的设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任意一项所述的方法步骤。
9.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任意一项所述的方法步骤。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104360919A (zh) * 2014-10-24 2015-02-18 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种自动进行ssd性能、功能及稳定性测试的方法
CN111274078A (zh) * 2020-02-21 2020-06-12 苏州浪潮智能科技有限公司 一种硬盘性能测试方法、系统及装置
CN111984483A (zh) * 2020-08-21 2020-11-24 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器主板电源网络稳定性判断方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104360919A (zh) * 2014-10-24 2015-02-18 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种自动进行ssd性能、功能及稳定性测试的方法
CN111274078A (zh) * 2020-02-21 2020-06-12 苏州浪潮智能科技有限公司 一种硬盘性能测试方法、系统及装置
CN111984483A (zh) * 2020-08-21 2020-11-24 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器主板电源网络稳定性判断方法

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