CN102129003A - 电路板的检查装置 - Google Patents

电路板的检查装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102129003A
CN102129003A CN2010105920685A CN201010592068A CN102129003A CN 102129003 A CN102129003 A CN 102129003A CN 2010105920685 A CN2010105920685 A CN 2010105920685A CN 201010592068 A CN201010592068 A CN 201010592068A CN 102129003 A CN102129003 A CN 102129003A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
type non
contact
condenser type
contact sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010105920685A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102129003B (zh
Inventor
金圣振
李东俊
边宗桓
郑累利
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micro Inspection Inc
Original Assignee
Micro Inspection Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micro Inspection Inc filed Critical Micro Inspection Inc
Publication of CN102129003A publication Critical patent/CN102129003A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102129003B publication Critical patent/CN102129003B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2879—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/1659—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/005—Circuits for comparing several input signals and for indicating the result of this comparison, e.g. equal, different, greater, smaller (comparing phase or frequency of 2 mutually independent oscillations in demodulators)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
    • G01R25/04—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents involving adjustment of a phase shifter to produce a predetermined phase difference, e.g. zero difference
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302—Contactless testing
    • G01R31/303—Contactless testing of integrated circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

Abstract

本发明涉及电路板检查装置，通过接触式探头向印刷在电路板的节点电极、接通交流电源后，通过电容式非接触传感器检测电压值的同时感知差分电压值或相位差，节点电极发生短路或断线时，即使电流流过断线部位，也能通过一次扫描、准确地检测。

Description

电路板的检查装置
技术领域
本发明涉及电路板检查装置，特别是向印刷在电路板的节点电极、通过接触式探头(probe)、接通交流电源后，通过电容式(Capacitance Type)非接触传感器、检测电压并感知差分电压值或相位差，可通过一次扫描、对节点电极的短路及断线、准确检查的电路板检查装置。
背景技术
目前使用的图像显示装置有阴极射线管显示器(CRT)、平面显示装置液晶显示器(LCD)、等离子显示面板(PDP)等。
上面的显示装置中阴极射线管显示器在画质以及亮度方面与其他显示装置相比，有很大的优势。但是其缺点在于体积大、重量大，不适合于大屏幕使用条件。
相反，平面式显示装置由于其体积和重量远小于阴极射线管显示器，其用途非常广泛，正作为新一代显示装置、得到广泛的研究。
通常，PDP(Plasma Display Panel)是指把Ne+Ar、Ne+Xe等气体填充到由上板玻璃和下板玻璃及其之间的隔板形成的封闭空间，向正极和负极接通电源，使之产生氖光、作为显示光利用的电子显示装置。
等离子显示器把相向的上板玻璃和下板玻璃的纵向节点(pattern)电极和横向节点电极之间构成的交叉点、作为放电单元(cell)，对其接通断开电源，显示各种文字和图案。
PDP作为发光型显示装置可以进行大型显示作业，因此很久前开始作为FA(工厂自动化)应用非常广泛。随着该显示器的小型轻型化、高性能化，目前正广泛适用于个人电脑等办公自动化(OA)等用途，不仅作为大型显示装置、显示品质高，而且应答速度快、可用于壁挂式TV，其需求量正急剧上升。
另外，液晶显示器不仅容易取放，而且具有按外部电源接通条件、结晶的排列发生变化的固有特征，广泛应用于利用液晶的显示装置，比如FLCD(Ferroelectric Liquid Crystal Device)、TN(Twisted Nematic)-LCD、STN(Super Twisted Nematic)-LCD、TFT(Thin Film Transistor)-LCD、塑料(Plastic)-LCD，EL(Electro Luminescence；电场发光装置)等。
用于驱动这些平面显示器的驱动IC(集成电路)，通常以COG(Chip on Glass；玻璃覆晶封装)形式直接安装，或者以事先在FPC(Flexible PCB；软性电路板)或TS(Tape Substrate；薄膜基板)组装的TCP(Tape Carrier Package；薄膜封装)形式，安装在显示面板上。
目前，42英寸PDP来说，一个电极节点的线宽和节距分别是50μm及300μm，TFT-LC面板的电极节点节距有70μm，随着大型化、搭载驱动IC的电路板电极节点也越来越精细，呈密集化趋势。
由于电路配线的高密度化，检查各电路板电机节点时，由于没有充分间距、无法在各节点电极的两端部安排接触式探头、同时接触节点电极的末端部，因此不采用接触式探头，而采用非接触检查方式，不直接接触在节点电极的两端部、接收与节点电极的电荷量变化相应的电信号、检查节点电极状态。
采用这种非接触式检查方法的“电路板检查装置”，本发明申请人曾在2006年8月3日申请了专利(10-2006-0073519号)，已得到注册(专利0752937号(2007.8.30公布))。
图1是一般的电路板检查装置检测的波形示意图。
如图所示，让接触式探头40接触在节点电极15的一侧末端，在节点电极15的另一侧末端、设置与多个节点电极15形成电容式结合状态的非接触式传感器50后，通过接触式探头40接通交流电源60，通过电容式非接触传感器50检测电压，根据检测的电压，由控制部70检查与接触式探头40接触的节点电极15的断线及短路。
即，如图(a)所示，在正常的情况下，通过接触式探头40、向节点电极15接通交流电源60后，如果电容式非接触传感器50检测的电压值为VPP_N。如图(b)所示，节点电极15断线的情况下，电容式非接触传感器50检测的值是小于正常值的VPP_O。
相反，如图(c)所示，节点电极15与相邻的节点电极15短路的情况下，电容式非接触传感器50检测的值是大于正常值的VPP_S。
从而，把电容式非接触传感器50固定在节点电极15的一侧，在另一侧用接触式探头40扫过节点电极15、接通交流电源60，通过电容式非接触传感器50检测输出电压，当检测的电压值小于正常节点电极15的输出电压时、判断为断线、进行显示，当检测的电压值高于正常输出电压时、判断为短路、进行显示。
上面的技术是本发明所属技术领域的背景技术，这不意味着其是现有技术。
最近，随着显示器像素的增加、电路板的各节点电极之间的间距变小，即使节点电极发生断线，由于交流电流可以流过断线部位，从结果来看，电容式非接触传感器检测的电压值与正常状态的电压值非常接近，错误地判断为正常节点。
即，如果电路板的像素高，则即使发生断线、电压值的减小量也非常小，很难判断节点电极的断线不良。
发明内容
本发明是为了解决上述问题而提出的发明，其目的在于：提供一种电路板的检查装置通过接触式探头向印刷在电路板的节点电极接通交流电源后，通过电容式非接触传感器检测电压值的同时，感知差分电压值或相位差，只通过一次扫描准确检查节点电极的短路及断线。
为了达到上述目的，本发明提供一种电路板检查装置，其特征在于：包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压的第2电容式非接触传感器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值以及用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
另外，本发明的电路板检查装置，其特征在于：包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压，与上述节点电极形成的电容容量不同于上述第1电容式非接触传感器的第2电容式非接触传感器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
本发明中，上述接触式探头是辊探头，球探头，柔软电线探头中的某一个。
本发明中，上述第1电容式非接触传感器靠近上述接触式探头的扫描领域。
本发明中，上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值是上述第2电容式非接触传感器检测的输出电压值。
另外，本发明的电路板检查装置，其特征在于：包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压的第2电容式非接触传感器；对上述第2电容式非接触传感器检测的感知信号与基准信号的相位差，进行检测的相位检测器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值、用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值以及由上述相位检测器检测的相位差、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
另外，本发明的电路板检查装置，其特征在于：包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压，与上述节点电极形成的电容容量不同于上述第1电容式非接触传感器的第2电容式非接触传感器；对上述第2电容式非接触传感器检测的感知信号与基准信号的相位差，进行检测的相位检测器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值以及由上述相位检测器检测的相位差、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
本发明中，上述接触式探头是辊探头，球探头，柔软电线探头中的某一个。
本发明中，上述第1电容式非接触传感器靠近于上述接触式探头的扫描领域。
本发明中，上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值是上述第2电容式非接触传感器检测的输出电压值。
本发明中，上述基准信号是由上述接触式探头接通的上述交流电源。
本发明中，上述基准信号是由上述第1电容式非接触传感器检测的感知信号。
具有上述结构的本发明通过接触式探头向印刷在电路板的节点电极、接通交流电源后，通过电容式非接触传感器检测电压值的同时感知差分电压值或相位差，即使节点电极发生短路或断线，也能通过一次扫描、准确地检测。
附图说明
图1是现有技术的电路板检查装置示意图；
图2是本发明第1实施例的电路板检查装置结构示意图；
图3是本发明第1实施例中，节点电极断线时，由第1电容式非接触传感器检测的电压波形和由第2电容式非接触传感器检测的电压波形示意图；
图4到图8是本发明第2实施例到第6实施例电路板检查装置结构示意图。
附图标记说明
15：节点电极
40：接触式探头
50：电容式非接触传感器
51：第1电容式非接触传感器
52：第2电容式非接触传感器
60：交流电源
70：控制部
80：相位检测器
具体实施方式
下面，参照附图对本发明的电路板检查装置一实施例，进行说明。附图中的线厚或其他结构的大小，出于说明上的需要，扩大或缩小表示。另外，下面的单词是考虑本发明的功能定义的单词，这些单词有可能与使用者使用的单词有所不同。因此，需要根据本说明的全部内容对这些单词做出定义。
图2是本发明第1实施例的电路板检查装置结构示意图。图3是本发明第1实施例的节点电极断线时，第1电容式非接触传感器检测的电压波形和第2电容式非接触传感器检测的电压波形示意图。
如图所示，电路板检查装置包括扫过电路板节点电极15一侧末端部的同时、向节点电极15接通交流电源60的接触式探头40，位于节点电极15一侧末端部、以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器51，位于节点电极15另一侧末端部、以非接触方式检测电压的第2电容式非接触传感器52，从第1到第2电容式非接触传感器51、52、接收一个以上所测输出电压值、并接收第1与第2电容式非接触传感器51、52之间的输出差分电压值、根据输出电压值和差分电压值判断接触式探头40接触的节点电极15是否断线及短路的控制部70。
这里，作为接触式探头40，使用由本发明申请人曾注册的专利0458930号(2004.12.03公告)“LCD面板检查用辊探头模块与利用此的LCD面板检查装置及方法”中展示的辊探头，或者使用由本发明申请人曾注册的专利0752938号(2007.08.30公告)“球式接触式探头”中展示的球探头，扫过节点电极40的同时接通交流电源。
另外，也可以使用由本申请人在2009年1月23日申请的申请号10-2009-0006075号“利用柔软电线的接触式探头”展示的扫描方向上的惯性力矩小于扫描垂直方向惯性力矩的柔软电线探头，对节点电极40进行扫过的同时接通交流电源。
另外，第1电容式非接触传感器51靠近于接触式探头40扫过的扫描领域，在接通交流电源60的领域、检测电压值。
这里，如图2所示，第1电容式非接触传感器51虽然与接触式探针40扫过的扫描领域内侧相邻。但也可以采用与接触式探头40扫过的扫描领域外侧相邻的结构。
另外，第1到第2电容式非接触传感器51、52检测的一个以上输出电压值是由位于节点电极15另一侧末端部的第2电容式非接触传感器52检测的输出电压值。
使用具有上述结构的电路板检查装置、对节点电极15进行检查时，如果发生断线、通过接触式探头40接通的交流电源60、一部分不通过相应节点电极15而是通过断线部位产生电流，则该回路的电阻增加、会检测到小于正常值的电压值。
另外，电流流过节点电极15的断线处时，由于该部位具有电容性质，电源的相位会发生变化，如图3所示，第1电容式非接触传感器51检测的第1电压值V1和第2电容式非接触传感器52检测的第2电压值V2不仅电压值有差异，还出现相位差。
即，从节点电极15的另一侧末端部检测的第2电压值V2的峰值与正常节点电极的电压值——第1电压值V1峰值出现差异(Δ1)。而检测一侧末端部的第1电压值V1与第2电压值V2的差分电压值时，由于相位差，所测时间点的差分电压值(Δ2)比较大，可以更有效地判断相应节点电极15的断线状况。
相反，节点电极15与相邻的其他节点电极15短路时，由于第1电容式非接触传感器51和第2电容式非接触传感器52检测的电压值相同，不产生差分电压值。
从而，第2电容式非接触传感器52检测的电压值大于正常电压值时，判断为短路。这里，第1电容式非接触传感器51和第2电容式非接触传感器52检测的电压值都大于正常电压值时，可以判断为短路。
图4是本发明第2实施例的电路板检查装置结构示意图。
如图4所示，电路板检查装置包括接触式探头40，第1电容式非接触传感器51，与节点电极15形成的电容容量不同于第1电容式非接触传感器51的第2电容式非接触传感器52，控制接触式探头40扫描工作的同时、用差分输入第1和第2电容式非接触传感器51、52所测的输出电压值、根据差分电压值判断与接触式探头40接触的节点电极15是否断线及短路的控制部70。
本实施例中，如图4所示，以不同的大小图示了第1电容式非接触传感器51和第2电容式非接触传感器52、以此表示了两者的电容容量有所不同。但是，如果第1电容式非接触传感器51及第2电容式非接触传感器52相对于节点电极15的位置有所不同、两者与节点电极15的距离有所不同，则即使第1和第2电容式非接触传感器51、52的大小相同、两者与节点电极15形成的电容容量也会出现差异。因此，本发明包括这种情况。
从而，电路板检查装置在如图2所示的节点电极15与相邻节点电极15发生短路的情况下，不会出现第1电容式非接触传感器51与第2电容式非接触传感器52检测的电压值相同、差分电压值为零的问题点。
即，第1电容式非接触传感器51与第2电容式非接触传感器52的电容容量大小有所不同，检测到比正常值大的电压值时，差分电压值也会检测到比正常电压值大的电压值，可以判断是否短路。
图5，图6是本发明第3实施例和第4实施例的电路板检查装置示意图。
如图5所示，本实施例中电路板检查装置包括扫过电路板节点电极15一侧末端部的同时、向节点电极15接通交流电源60的接触式探头40，位于节点电极15一侧末端部、以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器51，位于节点电极15另一侧末端部、以非接触方式检测电压的第2电容式非接触传感器52，对第2电容式非接触传感器52检测的感知信号与基准信号之间的相位差、进行检查的相位检测器80，对接触式探头40的扫描进行控制的同时、根据接收的第1和第2电容式非接触传感器51、52检测的输出电压值差值以及由相位检测器80检测的相位差、对与接触式探头40接触的节点电极15的断线及短路与否进行判断的控制部70。
这里，作为接触式探头40，可以使用辊探头、球探头或柔软电线探头，一边扫过节点电极15的同时、一边接通交流电源60。
第1电容式非接触传感器51与接触式探头40扫过的扫描领域相邻，对接通交流电源60一侧的电压值进行检测。
另外，第1到第2电容式非接触传感器51、52检测的至少一个输出电压值是由第2电容式非接触传感器52检测的输出电压值。
另外，虽然如图5、图6所示，第1电容式非接触传感器51与接触式探头40扫过的扫描领域内侧相邻，但也可以与接触式探头40扫过的扫描领域外侧相邻。
相位检测器80比较所用的基准信号可以是通过接触式探头40接通的交流电源60。可以对接通的交流电源60相位和第2电容式非接触传感器52感知的信号相位、进行比较，检测相位差。
另外，如图6所示，相位检测器80也可以采用对第1电容式非接触传感器51检测的信号相位和第2电容式非接触传感器52检测的信号相位、进行比较，检测相位差的结构。
通过这种电路板检查装置对节点电极15进行检查时，如果节点电极15出现断线、通过接触式探头40接通的交流电源60、有一部分流过断线部位、则由于断线增加了电阻、会检测到小于正常电压的电压值。
另外，断线时由于节点电极15上出现电容结构、使前后的电压出现相位差，如图3所示，第1电容式非接触传感器51检测的第1电压值V1与第2电容式非接触传感器52检测的第2电压值V2不仅有电压值的差异，还存在相位差。
即，从节点电极15的另一侧末端部检测的第2电压值V2的峰值与正常节点电极的电压值——第1电压值V1峰值出现差异(Δ1)，而且检测一侧末端部的第1电压值V1与第2电压值V2的差分电压值时，由于相位差，所测时间点的差分电压值(Δ2)比较大，可以更有效地判断相应节点电极15的断线状况。
同时利用相位检测器80对由接触式探头40接通的交流电源60的相位与由第2电容式非接触传感器52检测的信号相位、进行比较得到的相位差，以及由第1电容式非接触传感器51和第2电容式非接触传感器52检测的差分电压值(Δ2)，可以更加有效地判断相应节点电极15的断线与否。
另外，如图6所示，同时利用相位检测器80对由第1电容式非接触传感器51检测的信号相位与由第2电容式非接触传感器52检测的信号相位、进行比较得到的相位差，以及由第1电容式非接触传感器51和第2电容式非接触传感器52检测的差分电压值(Δ2)，可以更加有效地判断相应节点电极15的断线与否。
相反，节点电极15与相邻的其他节点电极15发生短路时，由于第1电容式非接触传感器与第2电容式非接触传感器检测的电压值相同，其差分电压值为零。
因此，第2电容式非接触传感器52检测的电压值大于正常电压值时，判断为短路。这里，也可以在第1电容式非接触传感器51与第2电容式非接触传感器52检测的电压值都大于正常电压值时，判断为短路。
图7到图8是本发明第5实施例和第6实施例检查装置示意图。
如图7所示，本发明第5实施例的电路板检查装置包括接触式探头40，第1电容式非接触传感器51，与节点电极15形成的电容容量不同于第1电容式非接触传感器51的第2电容式非接触传感器52，对由接触式探头40接通的交流电源60的相位与由第2电容式非接触传感器52感知的信号相位进行比较、检测相位差的相位检测器80，对接触式探头40的扫描工作进行控制的同时、根据来自电容容量相互不同的第1及第2电容式非接触传感器51、52检测的输出差分电压值以及由相位检测器80检测的相位差、判断与接触式探头40接触的节点电极15是否断线及短路的控制部70。
如图8所示，本发明第6实施例的电路板检查装置包括接触式探头40，第1电容式非接触传感器51，与节点电极15形成的电容容量不同于第1电容式非接触传感器51的第2电容式非接触传感器52，对由第1电容式非接触传感器51检测的信号相位与由第2电容式非接触传感器52检测的信号相位进行比较、检测相位差的相位检测器80，对接触式探头40的扫描工作进行控制的同时、根据来自电容容量相互不同的第1及第2电容式非接触传感器51、52检测的输出差分电压值以及由相位检测器80检测的相位差、判断与接触式探头40接触的节点电极15是否断线及短路的控制部70。
本实施例中，如图7、8所示，以不同的大小图示了第1电容式非接触传感器51和第2电容式非接触传感器52、以此表示了两者的电容容量有所不同。但是，如果第1电容式非接触传感器51及第2电容式非接触传感器52相对于节点电极15的位置有所不同、两者与节点电极15的距离有所不同，则即使第1和第2电容式非接触传感器51、52的大小相同、两者与节点电极15形成的电容容量也会出现差异。因此，本发明包括这种情况。
从而，电路板检查装置在如图5、6所示的节点电极15与相邻节点电极15发生短路的情况下，不会出现第1电容式非接触传感器51与第2电容式非接触传感器52检测的电压值相同、差分电压值为零的问题点。
即，第1电容式非接触传感器51与第2电容式非接触传感器52的电容容量大小有所不同，检测到比正常值大的电压值时，差分电压值也会检测到比正常电压值大的电压值，可以判断是否短路。
上面，根据图示是实施例说明了本发明，但这只是用于说明的举例，对于具有本行业基本知识的人员来说，可以根据本发明进行多种变形，提出多种效果相同的实施例。从而，本发明的技术保护范围应由所附的权利要求决定。

Claims (18)

1.一种电路板检查装置，其特征在于：
包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压的第2电容式非接触传感器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值以及用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
2.根据权利要求1所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述接触式探头是辊探头，球探头，柔软电线探头中的某一个。
3.根据权利要求1所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述第1电容式非接触传感器靠近上述接触式探头的扫描领域。
4.根据权利要求1所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值是上述第2电容式非接触传感器检测的输出电压值。
5.一种电路板检查装置，其特征在于：
包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压，与上述节点电极形成的电容容量不同于上述第1电容式非接触传感器的第2电容式非接触传感器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
6.根据权利要求5所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述接触式探头是辊探头，球探头，柔软电线探头中的某一个。
7.根据权利要求5所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述第1电容式非接触传感器靠近上述接触式探头的扫描领域。
8.一种电路板检查装置，其特征在于：
包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压的第2电容式非接触传感器；对上述第2电容式非接触传感器检测的感知信号与基准信号的相位差，进行检测的相位检测器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值、用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值以及由上述相位检测器检测的相位差、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
9.根据权利要求8所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述接触式探头是辊探头，球探头，柔软电线探头中的某一个。
10.根据权利要求8所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述第1电容式非接触传感器靠近于上述接触式探头的扫描领域。
11.根据权利要求8所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述第1及第2电容式非接触传感器检测的一个以上输出电压值是上述第2电容式非接触传感器检测的输出电压值。
12.根据权利要求8所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述基准信号是由上述接触式探头接通的上述交流电源。
13.根据权利要求8所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述基准信号是由上述第1电容式非接触传感器检测的感知信号。
14.一种电路板检查装置，其特征在于：
包括扫过电路板节点电极一侧末端部的同时，向上述节点电极接通交流电源的接触式探头；位于上述节点电极的一侧末端部，以非接触方式检测电压的第1电容式非接触传感器；位于上述节点电极的另一侧末端部，以非接触方式检测电压，与上述节点电极形成的电容容量不同于上述第1电容式非接触传感器的第2电容式非接触传感器；对上述第2电容式非接触传感器检测的感知信号与基准信号的相位差，进行检测的相位检测器；对上述接触式探头扫描工作进行控制的同时，根据用差分输入的上述第1及第2电容式非接触传感器所测输出差分电压值以及由上述相位检测器检测的相位差、对与上述接触式探头接触的上述节点电极是否断线及短路进行判断的控制部。
15.根据权利要求14所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述接触式探头是辊探头，球探头，柔软电线探头中的某一个。
16.根据权利要求14所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述第1电容式非接触传感器靠近于上述接触式探头的扫描领域。
17.根据权利要求14所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述基准信号是由上述接触式探头接通的上述交流电源。
18.根据权利要求14所述的电路板检查装置，其特征在于：
上述基准信号是由上述第1电容式非接触传感器检测的感知信号。
CN201010592068.5A 2009-12-11 2010-12-13 电路板的检查装置 Active CN102129003B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2009-0122884 2009-12-11
KR1020090122884A KR101214955B1 (ko) 2009-12-11 2009-12-11 회로기판의 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102129003A true CN102129003A (zh) 2011-07-20
CN102129003B CN102129003B (zh) 2014-01-22

Family

ID=44267161

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010592068.5A Active CN102129003B (zh) 2009-12-11 2010-12-13 电路板的检查装置

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101214955B1 (zh)
CN (1) CN102129003B (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103033719A (zh) * 2011-09-30 2013-04-10 微探测株式会社 非接触型探测器
CN103308817A (zh) * 2013-06-20 2013-09-18 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板线路检测装置及检测方法
CN103487955A (zh) * 2013-09-02 2014-01-01 京东方科技集团股份有限公司 一种短路测量方法
CN108226695A (zh) * 2018-01-02 2018-06-29 京东方科技集团股份有限公司 邻近金属线短路的检测及定位装置和方法
CN112505524A (zh) * 2020-11-24 2021-03-16 上海趣立信息科技有限公司 一种多路fpc测试装置
CN112578264A (zh) * 2020-11-25 2021-03-30 海鹰企业集团有限责任公司 一种用于电路板卡各类短路点定位装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114063324B (zh) * 2020-08-06 2024-01-16 成都天马微电子有限公司 液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6535011B1 (en) * 1999-07-23 2003-03-18 Sharp Kabushiki Kaisha Testing device and testing method for a semiconductor integrated circuit and storage medium having the testing program stored therein
CN1514939A (zh) * 2001-06-11 2004-07-21 Oht��ʽ���� 电路布图检查装置和电路布图检查方法及记录媒体
CN1700026A (zh) * 2004-05-18 2005-11-23 Lg电子有限公司 检测导线故障的装置和方法
US20050264306A1 (en) * 2004-06-01 2005-12-01 Boo-Yang Jung Apparatus for detecting defect in circuit pattern and defect detecting system having the same
KR100752937B1 (ko) * 2006-08-03 2007-08-30 마이크로 인스펙션 주식회사 회로기판의 검사장치
CN101107537A (zh) * 2005-01-19 2008-01-16 Oht株式会社 检查装置和检查方法及检查装置用传感器
CN100565217C (zh) * 2006-07-20 2009-12-02 微探测株式会社 接触型单面探针装置及测试导线开路或短路的设备和方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009276105A (ja) 2008-05-13 2009-11-26 Dap Technology Kk 標準基板および検査方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6535011B1 (en) * 1999-07-23 2003-03-18 Sharp Kabushiki Kaisha Testing device and testing method for a semiconductor integrated circuit and storage medium having the testing program stored therein
CN1514939A (zh) * 2001-06-11 2004-07-21 Oht��ʽ���� 电路布图检查装置和电路布图检查方法及记录媒体
CN1700026A (zh) * 2004-05-18 2005-11-23 Lg电子有限公司 检测导线故障的装置和方法
US20050264306A1 (en) * 2004-06-01 2005-12-01 Boo-Yang Jung Apparatus for detecting defect in circuit pattern and defect detecting system having the same
CN101107537A (zh) * 2005-01-19 2008-01-16 Oht株式会社 检查装置和检查方法及检查装置用传感器
CN100565217C (zh) * 2006-07-20 2009-12-02 微探测株式会社 接触型单面探针装置及测试导线开路或短路的设备和方法
KR100752937B1 (ko) * 2006-08-03 2007-08-30 마이크로 인스펙션 주식회사 회로기판의 검사장치

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103033719A (zh) * 2011-09-30 2013-04-10 微探测株式会社 非接触型探测器
CN103308817A (zh) * 2013-06-20 2013-09-18 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板线路检测装置及检测方法
CN103308817B (zh) * 2013-06-20 2015-11-25 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板线路检测装置及检测方法
US9891264B2 (en) 2013-06-20 2018-02-13 Boe Technology Group Co., Ltd. Line detecting apparatus and method for array substrate
CN103487955A (zh) * 2013-09-02 2014-01-01 京东方科技集团股份有限公司 一种短路测量方法
CN108226695A (zh) * 2018-01-02 2018-06-29 京东方科技集团股份有限公司 邻近金属线短路的检测及定位装置和方法
CN112505524A (zh) * 2020-11-24 2021-03-16 上海趣立信息科技有限公司 一种多路fpc测试装置
CN112578264A (zh) * 2020-11-25 2021-03-30 海鹰企业集团有限责任公司 一种用于电路板卡各类短路点定位装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110066291A (ko) 2011-06-17
CN102129003B (zh) 2014-01-22
KR101214955B1 (ko) 2012-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102129003B (zh) 电路板的检查装置
US10672312B2 (en) Organic light emitting display device and method of inspecting the same
US9256309B2 (en) Display device including integrated touch panel
CN107657894B (zh) 一种柔性显示面板及显示装置
CN103714770B (zh) 移位寄存器以及具有该移位寄存器的平板显示装置
KR101913839B1 (ko) 표시 장치 및 그것의 테스트 방법
US9046976B2 (en) Method for transmitting and detecting touch sensing signals and touch device using the same
CN103852644B (zh) 显示面板的贴附阻抗检测装置、检测系统及检测方法
CN104516144B (zh) 一种触控传感器的电容检测装置及其检测方法
CN108242223A (zh) 面板驱动装置和显示装置
CN109857271A (zh) 显示装置
CN104730341A (zh) 阻抗检测电路、显示器检测装置及方法
US11783784B2 (en) Display device, driving circuit and driving method
KR20080098087A (ko) 회로기판의 검사장치
KR100752937B1 (ko) 회로기판의 검사장치
KR102594446B1 (ko) 폴더블 표시장치 및 그 구동방법
US20090109164A1 (en) Backlight apparatus and liquid crystal display apparatus having the same
US11900843B2 (en) Display device and display driving method
CN103034381B (zh) 传送及侦测触碰感应讯号的方法及应用该方法的显示器
KR101021427B1 (ko) 회로기판의 검사장치
KR20080092522A (ko) 회로기판의 검사장치
CN101387550B (zh) 检测外围光线的光传感器及使用该传感器的液晶显示设备
KR100692048B1 (ko) 유기 전계발광 표시소자의 불량 검출장치 및 검출방법
KR100707401B1 (ko) 평판 디스플레이 패널에 장착되는 드라이버 ｉｃ 또는ｔｃｐ의 장착결함 검사장치
CN208706213U (zh) 一种基板结构和显示设备

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant