CN102116837A - 二次全检pcba的方法 - Google Patents

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杨晓峰
郭盖华
李一鹏
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Abstract

二次全检PCBA的方法，包括有以下步骤：A:在被测PCBA的CPU中空留一个测试标示位；B:对被测PCBA进行测试；C：如果被测PCBA测试成功，则测试机台在被测PCBA的所述测试标志位进行置位；D：被测PCBA在下次上电时，首先检测所述测试标示位是否有效；如果所述测试标示位有效，则开始运行被测PCBA，并点亮被测PCBA上的LED灯。这样我们在拿到PCB后只要检查PCBA上的LED是否发光就能判断此PCBA是否被测试过，功能是否正常。本发明检测方便，只要给PCBA通电就能检查PCBA是否被测试过，功能是否正常；测试点比较少，这样可以避免测试点损伤PCBA；测试速度快。

Description

二次全检PCBA的方法
技术领域
本发明涉及电子技术领域，特别是涉及二次全检PCBA的方法。
背景技术
为确保质量，PCBA（Printed Circuit Board +Assembly印刷电路板集成）出厂或进货前需要进行各种测试。对PCBA功能要求比较苛刻的厂商，为了避免供应商漏测或没有测试出货，需要自己全部测试一次。但这样测试比较浪费时间，而且用探针测试本身就会对PCB造成伤害，降低PCBA的可靠性。
发明内容
本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种二次全检PCBA的方法。
本发明的目的通过以下技术措施实现：
二次全检PCBA的方法，包括有以下步骤：
A:在被测PCBA的CPU中空留一个测试标示位；
B:对被测PCBA进行测试；
C：如果被测PCBA测试成功，则测试机台在被测PCBA的所述测试标志位进行置位；
D：被测PCBA在下次上电时，首先检测所述测试标示位是否有效；如果所述测试标示位有效，则开始运行被测PCBA，并点亮被测PCBA上的LED灯。
本发明检测方便，只要给PCBA通电就能检查PCBA是否被测试过，功能是否正常；测试点比较少，这样可以避免测试点损伤PCBA；测试速度快。
具体实施方式
结合以下实施例对本发明作进一步说明。
本发明的二次全检PCBA的方法，步骤包括：
A:在被测PCBA的CPU中空留一个测试标示位；
B:对被测PCBA进行测试；
C：如果被测PCBA测试成功，则测试机台在被测PCBA的所述测试标志位进行置位；
D：被测PCBA在下次上电时，首先检测所述测试标示位是否有效；如果所述测试标示位有效，则开始运行被测PCBA，并点亮被测PCBA上的LED灯。
这样我们在拿到PCB后只要检查PCBA上的LED是否发光就能判断此PCBA是否被测试过，功能是否正常。
最后应当说明的是，以上实施例仅用于说明本发明的技术方案而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。

Claims (1)

1.二次全检PCBA的方法，其特征在于：包括有以下步骤：
A:在被测PCBA的CPU中空留一个测试标示位；
B:对被测PCBA进行测试；
C：如果被测PCBA测试成功，则测试机台在被测PCBA的所述测试标志位进行置位；
D：被测PCBA在下次上电时，首先检测所述测试标示位是否有效；如果所述测试标示位有效，则开始运行被测PCBA，并点亮被测PCBA上的LED灯。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

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