CN204102120U - 一种cpu测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种CPU测试装置，其包括显示装置和设置于PCB板上的CPU夹具、内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片，CPU夹具分别与内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片和显示装置相连接，CPU夹具通过插针焊接到PCB板上，其用于把待测试CPU的所有引脚引出。本实用新型的CPU测试装置可提高CPU测试的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子芯片测试领域，尤其涉及一种CPU测试装置。
背景技术
在目前的工业自动控制应用中，CPU是控制系统的核心器件。在控制系统批量生产时，CPU通常是直接焊接到控制系统的控制板上，而不是每个CPU测试确认为良品后在焊接到控制板上。如果在焊接前CPU 是坏的，整个控制板就需要焊接制作。
而现有技术中，通常是控制板焊接好后才对其进行测试，并没有专门对CPU进行测试的测试装置。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种适用于 CPU检测的测试装置。
为解决本实用新型的技术问题，本实用新型提供一种CPU测试装置，其包括显示装置和设置于PCB板上的CPU夹具、内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片，CPU夹具分别与内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片和显示装置相连接，CPU夹具通过插针焊接到PCB板上，其用于把待测试的CPU所有引脚引出。
其中，所述显示装置为测试计算机或显示器。
其中，所述CPU夹具为采用BGA封装类型的夹具。
其中，所述CPU测试装置进一步包括设置于内存芯片与CPU夹具之间的阻抗匹配电阻。
与现有技术相比较，本实用新型的CPU测试装置通过采用CPU夹具来连接CPU，不需要焊接，省了时间，还避免了焊接过程中损坏芯片和虚焊的问题，便于CPU的测试，大大提高了CPU测试的准确性和效率。
附图说明
图1是本实用新型实施例1的CPU测试装置的示意图。
图2是本实用新型实施例2的CPU测试装置的示意图。
具体实施方式
实施例1
如图1所示，本实用新型实施例1的CPU测试装置包括测试计算机和设置于PCB板上的CPU夹具、内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片。CPU夹具分别与内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片和测试计算机相连接。CPU夹具用于把CPU所有引脚引出，其通过插针焊接到PCB板上。对于采用BGA封装的CPU来说，对应的也应该采用BGA封装类型的夹具，通过夹具的插针将CPU所有引脚引出，夹具通过插针焊接到PCB板上。内存芯片为CPU运行时提供内存。闪存芯片用于存储CPU测试程序。可编程逻辑器件为与CPU一起工作的逻辑器件，其用于测试与CPU的信号交互性能。测试计算机通过串口与CPU相连接，其用于接收CPU测试后的反馈结果。
测试时，夹具里放上要测试的CPU，PCB板通上电，系统运行的检测CPU的软件，可以对CPU的每个管脚进行测试，测试结果通过串口发送到测试计算机上。用户从串口发送给测试计算机的信息判断CPU是否有问题。
实施例2
如图2所示，本实用新型实施例2的CPU测试装置包括显示器和设置于PCB板上的CPU夹具、内存芯片、阻抗匹配电阻、可编程逻辑器件、闪存芯片。CPU夹具分别与内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片和显示器相连接。CPU夹具用于把CPU所有引脚引出，其通过插针焊接到PCB板上。内存芯片为CPU运行时提供内存。闪存芯片用于存储CPU测试程序。可编程逻辑器件为与CPU一起工作的逻辑器件，其用于测试与CPU的信号交互性能。显示器与CPU相连接，其用于接收CPU测试后的反馈结果。阻抗匹配电阻设置于内存芯片与CPU夹具之间，对CPU和内存之间的信号阻抗进行调整，以保证内存芯片和CPU之间的信号完整性。
测试时，夹具里放上要测试的CPU，PCB板通上电，系统运行的检测CPU的软件，可以对CPU的每个管脚进行测试，测试结果通过串口发送到显示器上。用户从CPU发送显示器的信息判断CPU是否有问题。
与现有技术相比较，本实用新型的CPU测试装置通过采用CPU夹具来连接CPU，不需要焊接，省了时间，还避免了焊接过程中损坏芯片和虚焊的问题，便于CPU的测试，大大提高了CPU测试的准确性和效率。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种CPU测试装置，其特征在于，包括显示装置和设置于PCB板上的CPU夹具、内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片，CPU夹具分别与内存芯片、可编程逻辑器件、闪存芯片和显示装置相连接，CPU夹具通过插针焊接到PCB板上，其用于把待测试CPU的所有引脚引出。
2.根据权利要求1所述的CPU测试装置，其特征在于，所述显示装置为测试计算机。
3.根据权利要求1所述的CPU测试装置，其特征在于，所述显示装置为显示器。
4.根据权利要求1所述的CPU测试装置，其特征在于，所述CPU夹具为采用BGA封装类型的夹具。
5.根据权利要求1所述的CPU测试装置，其特征在于，进一步包括设置于所述内存芯片与所述CPU夹具之间的阻抗匹配电阻。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201420650151.7U CN204102120U (zh) | 2014-11-03 | 2014-11-03 | 一种cpu测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201420650151.7U CN204102120U (zh) | 2014-11-03 | 2014-11-03 | 一种cpu测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN204102120U true CN204102120U (zh) | 2015-01-14 |
Family
ID=52270530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201420650151.7U Active CN204102120U (zh) | 2014-11-03 | 2014-11-03 | 一种cpu测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN204102120U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108564975A (zh) * | 2018-04-27 | 2018-09-21 | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 | 一种内存盘及内存盘的制作方法 |
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2014
- 2014-11-03 CN CN201420650151.7U patent/CN204102120U/zh active Active
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|---|---|---|---|---|
| CN108564975A (zh) * | 2018-04-27 | 2018-09-21 | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 | 一种内存盘及内存盘的制作方法 |
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