CN102097554A - 一种GaN基单芯片白光发光二极管及其制备方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及半导体照明领域和金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术领域,涉及一种GaN基单芯片白光发光二极管,包括一GaN成核层、一n型GaN层缓冲层、一InGaN插入层、一有源层、一GaN隔离层、一p型欧姆接触层,依次层叠于C面蓝宝石衬底上。本发明同时提供了该种发光二极管的制备方法。本发明的单芯片白光LED,具有无需荧光粉,外延工艺和器件结构都很简单,成本较低,光电转化效率较高的优点。
Description
所属技术领域
本发明涉及半导体照明领域和金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术领域,尤其涉及GaN基单芯片白光发光二极管(LED)器件及其制备方法。
背景技术
随着GaN基材料外延技术的不断进步,高亮度的绿光、蓝光以及更短波长的发光二极管(LED)的性能取得了长足的进步,商品化的可见光波段LED已经覆盖了从红光到紫外波段的范围。目前实现白光发光二极管的解决方案主要有三种。一是在1997年由Nakamura等人实现的利用GaN基蓝色LED管芯加少量钇铝石榴石为主的荧光粉,使发射的蓝光一部分激发荧光粉发出黄光,与蓝光混合的方法产生白光。二是采用红、绿、蓝三基色LED芯片组或三基色LED管组合在一起,混合后发出白光。这种办法得到的白光具有色域宽,色调、色温调整灵活等优点,但由于红绿蓝三种LED的光衰特性不一致,随着使用时间的增加,三色的混合比例会变化,显色指数会相应变化,而且此方案的驱动电路比较复杂成本高。三是在2001年由Kafmann等人采用紫外LED激发三基色荧光粉或其它荧光粉,产生多色光混合成白光。这种方法得到的白光具有色温适合,色坐标接近标准值以及显色指数较高等优点,但其最大的难点在于获得高转换效率的三色荧光粉,特别是高效红色荧光粉,而且还有紫外光泄漏和荧光粉测试稳定性等问题。
以上传统的GaN基白光LED在效率、寿命和色度等方面都各有所欠缺,令其在大规模商业化方面受到限制。寻找一种效率高、寿命长、安全和性能稳定的照明电器,成为科研领域的又一新的课题。目前,国内外的许多研究机构都研制无需荧光粉的单芯片白光LED以提高器件的效率、延长寿命和使色度更均匀。如中国专利申请公开说明书CN1700484A报道的方法就可制备得到无荧光粉的白光LED,但这种方法的一个缺点就是工艺比较复杂,需要单独制备发光层;如中国专利申请公开说明书CN101556983A报道的方法只需单一芯片即可发出白光,但需要非掺GaN光致荧光层,这样就会增加成本并降低可靠性;如中国专利申请公开说明书CN101582418A报道的方法可制备电注入调控三基色单芯片白光LED,但这种方法用的外延材料的层数太多,还需要用到5个电极,外延和芯片加工艺都比较复杂。
发明内容
本发明的目的在于提供一种无需荧光粉,外延工艺和器件结构都很简单,成本较低,光电转化效率较高的单芯片白光LED。本发明所采用的技术方案是:
一种GaN基单芯片白光发光二极管,包括一GaN成核层、一n型GaN层缓冲层、一InGaN插入层、一有源层、一GaN隔离层、一p型欧姆接触层,依次层叠于C面蓝宝石衬底上。
作为优选实施方式,所述的有源层为InGaN/GaN多量子阱层,其周期数为3~10,在量子阱的每个周期中,InGaN的厚度为2~5nm之间,GaN的厚度可为15~25nm之间;所述的GaN成核层和n型GaN层缓冲层,分别为衬底温度维持在450~550℃,生长20~50nm厚的GaN成核层以及衬底温度升高到1000~1200℃生长2~4μm厚的n型GaN缓冲层;所述的GaN隔离层为8~20nm厚的GaN层;所述的p型欧姆接触层为掺Mg的GaN层,厚度在150~300nm。
本发明同时给出一种上述GaN基单芯片白光发光二极管的制备方法,包括下列步骤:
(1)在530℃温度下,以三甲基镓和氨气为源,在C面蓝宝石衬底上C生长20~50nm厚的GaN成核层;
(2)将温度升高到1040℃,以硅烷(SiH4)作为掺杂剂,生长掺Si GaN缓冲层,厚度为2~4μm;
(3)在840℃下,生长厚度为200~240nm的InGaN插入层;
(4)生长3~10个周期的InGaN/GaN多量子阱,InGaN的生长温度控制在720℃,生长厚度为2~5nm,GaN的生长温度则控制在820℃,生长厚度为15~25nm之间。
(5)保持温度在820℃以上,生长GaN隔离层,其厚度为8~20nm;
(6)在900℃生长掺Mg的GaN层,厚度在150~300nm。
本发明的单芯片白光LED是在普通GaN基LED基础上增加InGaN插入层,由于InGaN插入层弛豫度不同,在InGaN量子阱中发生In组分的相分离,形成了大量的富In量子点和低In组分局域态。InGaN/GaN多量子阱中富In量子点发出黄光,而量子阱中其他低In组分区域发出蓝光,从而发出混合后的白光。通过改变InGaN插入层的厚度,改变其弛豫度,不同的弛豫度在InGaN量子阱中会发生In组分的相分离的程度不同,可以改变白光LED的发光品质,从而实现了利用InGaN插入层对白光LED的光品质调制,使其色坐标从单一光变化到混合光白光。
附图说明
图1是本发明的单芯片白光LED器件的结构示意图。
图2是本发明的单芯片白光LED器件在20mA注入电流下的光谱图。
具体实施方式
下面结合附图,通过实施例进一步描述本发明,但不以任何方式限制本发明的范围。
本发明的单芯片白光LED器件结构如图1所示,C面(0001)蓝宝石衬底1之上依次为GaN成核层2、n型GaN缓冲层3、InGaN插入层4、有源层5、GaN隔离层6、p型GaN欧姆接触层7。其中InGaN插入层为在840℃下制得的生长厚度为200~240nm的InGaN层,其作用是提高LED的内量子效应,并产生In组分的相分离。
有源层为InGaN/GaN多量子阱层,其周期数为3~10,在量子阱的每个周期中,InGaN的厚度可为2~5nm之间,GaN的厚度可为15~25nm之间。
GaN成核层和缓冲层采用两步生长法,先低温成核再高温生长。首先,衬底温度维持在450~550℃,生长20~50nm厚的GaN成核层,接着衬底温度升高到1000~1200℃生长2~4μm厚的GaN缓冲层。
GaN隔离层为8~20nm厚的GaN层。
p型欧姆接触层可为掺Mg的GaN层,厚度在150~300nm。
本发明的一个实施例的制备过程如下:
1.用普通的金属有机物化学气相沉积(MOCVD)设备,衬底1采用蓝宝石(0001)C面衬底。首先,C面蓝宝石衬底在氢气中加热到1180℃,并保持10分钟以获得洁净的衬底表面,然后降温到530℃,并以三甲基镓(TMGa)和高纯度氨气(NH3)为源,生长30nm厚的GaN成核层2;
2.在步骤1的基础上,把温度升高到1040℃,以硅烷(SiH4)作为掺杂剂,生长掺Si GaN缓冲层3,此层为常规掺Si的GaN层,掺杂浓度为5×1018cm-3,厚度为3μm;
3.在步骤2的基础上,把温度下降到840℃,用三甲基铟(TMIn)作为In源,生长InGaN插入层4,其厚度为220nm;
4.在步骤3的基础上,在InGaN插入层4上生长四个周期的InGaN/GaN多量子阱5,InGaN的生长温度控制在720℃,生长厚度为3nm,而GaN的生长温度则控制在820℃,生长厚度为18nm;
5.在步骤4的基础上,继续保持温度820℃,生长GaN隔离层6,其厚度为10nm;
6.在步骤5的基础上,把温度升至900℃左右,以二茂基镁(Cp2Mg)作为掺杂剂,生长LED器件的p型欧姆接触层7,此层为掺Mg的GaN层,掺杂浓度为1×1019cm-3,厚度为200nm。
Claims (6)
1.一种GaN基单芯片白光发光二极管,包括一GaN成核层、一n型GaN层缓冲层、一InGaN插入层、一有源层、一GaN隔离层、一p型欧姆接触层,依次层叠于C面蓝宝石衬底上。
2.根据权利要求1所述的GaN基单芯片白光发光二极管,其特征在于,所述的有源层为InGaN/GaN多量子阱层,其周期数为3~10,在量子阱的每个周期中,InGaN的厚度为2~5nm之间,GaN的厚度可为15~25nm之间。
3.根据权利要求1或2所述的GaN基单芯片白光发光二极管,其特征在于,所述的GaN成核层和n型GaN层缓冲层,分别为衬底温度维持在450~550℃,生长20~50nm厚的GaN成核层以及衬底温度升高到1000~1200℃生长2~4μm厚的n型GaN缓冲层。
4.根据权利要求1或2或3所述的GaN基单芯片白光发光二极管,其特征在于,所述的GaN隔离层为8~20nm厚的GaN层。
5.根据权利要求1所述的GaN基单芯片白光发光二极管,其特征在于,所述的p型欧姆接触层为掺Mg的GaN层,厚度在150~300nm。
6.一种GaN基单芯片白光发光二极管制备方法,包括下列步骤:
(1)在530℃温度下,以三甲基镓和氨气为源,在C面蓝宝石衬底上C生长20~50nm厚的GaN成核层;
(2)将温度升高到1040℃,以硅烷(SiH4)作为掺杂剂,生长掺Si GaN缓冲层,厚度为2~4μm;
(3)在840℃下,生长厚度为200~240nm的InGaN插入层;
(4)生长3~10个周期的InGaN/GaN多量子阱,InGaN的生长温度控制在720℃,生长厚度为2~5nm,GaN的生长温度则控制在820℃,生长厚度为15~25nm之间;
(5)保持温度在820℃以上,生长GaN隔离层,其厚度为8~20nm;
(6)在900℃生长掺Mg的GaN层,厚度在150~300nm。
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