CN102065641B - 电路板制作方法 - Google Patents

Abstract

一种电路板制作方法，包括步骤：提供电路基板，所述电路基板包括产品区域和非产品区域，产品区域包括边接头区，在所述非产品区域形成有测试线路，测试线路包括测试标记及两个电测试点；提供冲型模具，冲型模具包括第一冲模和第二冲模，第一冲模用于对电路基板的产品区域进行冲型，所述第二冲模用于在测试标记对应位置形成测试通孔；利用冲型模具对电路基板进行冲型，第一冲模在非产品区域邻近边接头的区域形成开口，第二冲模在测试标记形成测试通孔；对完成冲型的电路基板进行电测，通过测试两个电测试点之间的导通情况，从而判定电路基板垂直于边接头区延伸方向上的冲型偏差是否满足偏位公差的要求，从而得到冲型偏差满足偏位公差要求的电路板。

Description

电路板制作方法

技术领域

本发明涉及印刷电路板领域，尤其涉及一种检测电路板边接头冲型偏差的电路板制作方法。

背景技术

印刷电路板因具有装配密度高等优点而得到了广泛的应用。关于高密度互连电路板的应用请参见文献Takahashi,A.Ooki,N.Nagai,A.Akahoshi,H.Mukoh,A.Wajima,M.Res.Lab.,High densitymultilayer printed circuit board for HITAC M-880，IEEE Trans.onComponents,Packaging,and Manufacturing Technology,1992,15(4)：418-425。

电路板通常具有边接头（俗称金手指），用于与其它元件相互连接。随着电子产品和电路板尺寸的不断减小，对边接头的偏位公差要求也越来越高。在电路板的制作过程中在进行冲型过程中由于对位和冲型机台的偏差，容易造成冲型后得到的边接头的偏位尺寸大于偏位公差。现有技术中，对电路板边接头的偏位尺寸的检测通常采用光学检测（AOI），上述的光学检测需要采用精密度很高的影像感测装置，如CCD等价格昂贵，另外，由于偏位公差通常很小，影像检测装置检测的结果准确性不高。

发明内容

因此，有必要提供一种电路板制作方法方法，能够准确的检测出电路板边接头偏位情况。

以下将以实施例说明一种电路板的制作方法。

一种电路板的制作方法，包括步骤：提供电路基板，所述电路基板包括产品区域和非产品区域，所述产品区域包括边接头区和线路区，在边接头区形成有边接头，所述边接头包括多个沿第一方向延伸的导电垫，在线路区形成导电线路，在所述非产品区域形成测试线路，所述测试线路包括沿第一方向延伸的测试标记以及连接于测试标记相对两侧的两个电测试点，所述沿第一方向测试标记具有靠近边接头区的第一端和远离边接头区的第二端，所述两个电测试点基本沿垂直于第一方向的第二方向设置，所述导电线路、测试线路及边接头同时形成；提供冲型模具，所述冲型模具包括第一冲模和第二冲模，所述第一冲模用于对所述的边接头区进行冲型，所述第二冲模用于在测试标记对应位置形成测试通孔，所述第一冲模包括用于分离边接头区与非产品区的第一冲裁刀具，所述第二冲模沿第一方向具有靠近第一冲裁刀具的第三端和远离第一冲裁刀具第四端，第二冲模在第二方向上的长度等于测试标记在第二方向上的长度与两倍偏位公差的绝对值之和，第二冲模的第三端与第一冲裁刀具的距离小于测试标记的第二端与边接头区的最小距离与偏位公差之差，第二冲模的第四端与第一冲裁刀具的距离大于第一端与边接头区的最小距离与偏位公差之和；利用冲型模具对电路基板进行冲型，以使第一冲模在非产品区域与边接头区之间形成开口，并使第二冲模在测试标记上形成测试通孔；对完成冲型的电路基板进行电测，通过测试两个电测试点之间的导通情况，从而判定电路基板沿第一方向上的冲型偏差是否满足偏位公差的要求。

与现有技术相比，本技术方案提供的电路板边接头区制作方法，只需在进行产品区域的线路制作时同时制作测试线路，在对边接头区进行冲型的同时对测试线路进行冲型，在对电路板基板进行电测时同时对冲型后的测试线路进行电测，通过电测测试线路的导通情况即可判断边接头区的偏位是否满足偏位公差的要求。因此，本技术方案提供的电路板制作方法无需使用价格昂贵的影像检测装置，且在电路板的制作过程中，对边接头区冲型偏差是否满足偏位公差进行检测无需增加额外的制程，从而降低的电路板的省成本，提高了电路板生产效率。

附图说明

图1是本技术方案实施例提供的电路板基板的示意图。

图2是本技术方案实施例提供的测试线路的示意图。

图3是本技术方案实施例提供的冲型模具的示意图。

图4是本技术方案实施例提供的利用冲型模具对电路基板冲型后的示意图。

图5是本技术方案实施例提供的冲型偏差满足偏位公差要求的测试通孔与测试标记相对位置关系的示意图。

图6是本技术方案实施例提供的冲型偏差不满足偏位公差要求的测试通孔与测试标记相对位置关系的示意图。

图7是本技术方案实施例提供的冲型偏差满足偏位公差要求的测试通孔与测试标记另一相对位置关系的示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本技术方案提供的电路板制作方法作进一步说明。

本技术方案实施例提供的一种电路板制作方法，包括如下步骤：

请参阅图1，第一步，提供一电路板基板100，电路板基板100包括产品区域110和非产品区域120。

产品区域110是指电路板基板100形成有导电线路和边接头等结构的区域，电路板基板100除产品区域110的其他区域定义为非产品区域。产品区域110位于电路板基板100的中心位置，非产品区域120环绕产品区域110。产品区域110包括边接头区130和线路区140。

第二步，在边接头区130形成多个导电垫131，在非产品区域120形成测试线路150。

所述边接头区130与非产品区域120相邻，在边接头区130形成多个基本相互平行的导电垫131。本实施例中，在电路基板100所在的平面内，将与平行于导电垫131延伸的方向定义为第一方向，与第一方向垂直的方向定义为第二方向。

请参阅图2，在非产品区域120形成测试线路150，测试线路150可以与线路区140的导电线路同时形成，如测试线路150可以在蚀刻得到导电线路同时蚀刻得到，测试线路150可以与导电垫131相连，也可以不与导电垫131相连。150的数量不限，大于或等于一个均可。本实施例中，为了保证测试结果更加准确，在非产品区域120形成有两个相对的测试线路150。每个测试线路150均包括测试标记151、两个电测接点152和两个连接线路153。

本实施例中，测试标记151的形状为长圆形，其延伸方向平行于导电垫131的延伸方向。测试标记151具有依次连接的第一弧边1511、第一直边1512、第二弧边1513和第二直边1514，其中，第一弧边1511和第二弧边1513相对设置并均为半圆形弧，即第一弧边1511和第二弧边1513对应的圆心角为180度。本实施例中，在第二方向上的冲型管控的偏位公差为0.05毫米。第一弧边1511和第二弧边1513的对应的圆的直径为23.1毫米。测试标记151的宽度即第一直边1512和第二直边1514的间距为23.1毫米。第一弧边1511靠近导电垫131，第二弧边1513远离导电垫131。第一直边1512和第二直边1514平行于第一方向方向设置，并均连接于第一弧边1511和第二弧边1513之间。第一直边1512和第二直边1514的长度与电路板定位于冲型模具的偏位公差相对应，通常为该偏位公差的10倍。本实施例中，第一直边1512和第二直边1514的长度为5毫米。即第一弧边1511的圆心和第二弧边1512的圆心的间距为5毫米。第一弧边1511具有靠近导电垫131的第一端1515，第二弧边1513具有远离导电垫131的第二端1516。

测试标记151的形状不限于本实施例中的形状，其中，第一弧边和第二弧边也可以设置为其他曲边或直边，即测试标记151的形状也可以为长方形、椭圆形或其他形状。

两个电测接点152用于与电测装置接触，从而检测测试标记151的导通情况。本实施例中，两个电测接点152分布于测试标记151的相对两侧，关于测试标记151的中心对称设置。两个电测接点152均为圆形，其直径大小与测试装置的测试针头的直径相对应，其直径通常为测试针头直径的3倍。本实施例中，电测接点152的直径均为7毫米。当然，电测试点152的形状并不限于圆形，其也可以为其它容易蚀刻得到的形状，如椭圆形等。

每个连接线路153连接于一个电测试点152与测试标记151之间。本实施例中，两个连接线路153关于测试标记151的中心对称设置，一个连接线路153连接于测试标记151的第一直边1512和一个电测试点152之间，另一个连接线路153连接于第二直边1514和另一个电测试点152之间。为了便于蚀刻得到连接线路153，连接线路153与测试标记151和电测试点152均平滑连接。

请参阅图3，第三步，提供冲型模具200，冲型模具200具有用于对电路基板100进行冲型的第一冲模210和对测试线路150进行冲型的第二冲模220。

本实施例中，第一冲模210用于对边接头130进行冲型，使得边接头区130与非产品区域120相互分离。

第一冲模210的形状与电路基板100的边接头区130的形状相对应，其包括相互连接用于分离边接头区130与非产品区域120的第一冲裁刀具213、第二冲裁刀具212及第三冲裁刀具211。第一冲裁刀具213的延伸方向平行于第二方向。第三冲裁刀具211与第二冲裁刀具212相互平行，第一冲裁刀具213连接于第三冲裁刀具211和第二冲裁刀具212之间，第一冲裁刀具213的延伸方向与第三冲裁刀具211的延伸方向相互垂直。第三冲裁刀具211和第二冲裁刀具212位于第一冲裁刀具213的同一侧。第三冲裁刀具211和第二冲裁刀具212之间的距离与导电垫131区域的宽度相等。

第二冲模220的形状与测试标记151的形状相对应。第二冲模220位于第一冲裁刀具213的一侧。本实施例中，第二冲模220包括与第一冲模210相对的第一圆弧边221、与第一圆弧边221相对的第二圆弧边222和平滑延伸于两圆弧边之间的平行的两直边223。两个直边223的延伸方向平行于第一方向。第一圆弧边221和第二圆弧边222均为半圆弧，两圆弧边的圆心的连线平行于两直边。本实施例中，第一圆弧边221和第二圆弧边222的圆心的间距即两直边的长度为6毫米，第一圆弧边221和第二圆弧边222对应的圆的直径即两直边的间距为23毫米。两直边的间距可以根据实际需要的偏位公差进行设置，只需保证两直边的间距与两倍偏位公差之和与第一直边1512与第二直边1514的间距相等。第一圆弧边221具有与最靠近第一冲模210的第三端224，第二圆弧边222具有与第一冲模210相距最远的第四端225。第二冲模220的第三端224与第一冲裁刀具213的距离小于测试标记151的第二端1516与边接头区130的最小距离与偏位公差之差，第二冲模220的第四端225与第一冲裁刀具213的距离大于第一端1515与边接头区130的最小距离与偏位公差之和。本实施例中，第一冲裁刀具213与第三端224的距离应小于测试标记151的第一端1515与边接头区130的距离与偏位公差之差并且第四端225与第一冲裁刀具213距离小于第二端1516与导电垫131的距离与偏位公差之差。

第四步，请一并参见图4至图6，利用冲型模具200对电路板基板100进行冲型，第一冲模210对产品区域120进行冲型使得边接头130与非产品区域120分离，第二冲模220在测试标记151内形成测试通孔155。

利用冲型模具200对电路板基板100进行冲型，使得第一冲模210在非产品区域120与边接头区130相邻处形成开口132。本实施例中，需要通过冲型将多个导电垫131所在的产品区域110与非产品区域120相互分离。利用第二冲模220在测试标记151内冲出测试通孔155。在导电垫131冲型后，对第二方向的偏位公差有严格的要求，通常偏位公差需要小于0.1毫米。一般要求的偏位公差为0.05毫米至0.07毫米之间。

由于对边接头区130的冲型与检测通孔155的冲型同时完成，因此，对边接头区130产生的冲型偏差与检测通孔155的偏差相同。在平行于导电垫131的延伸方向上偏位公差要求较低，通常冲型机台的精度可以满足偏位公差的要求。

请参见图5，本实施例中，在进行冲型时，在平行于导电垫131的延伸方向上，第一冲裁刀具213与第三端224的距离应小于测试标记151的第一端1515与导电垫131的距离与偏位公差之差并且第四端225与第一冲裁刀具213的距离小于第二端1516与导电垫131的距离与偏位公差之差。当形成的检测通孔155在垂直于导电垫131延伸方向上不产生偏差时，测试通孔155与测试标记151同轴，在测试标记151的第一直边1512和第二直边1514两侧均剩余偏位公差相等宽度，第二弧边1513一侧剩余一定宽度，从而两个电测试点152之间可以通过第二弧边1513一侧剩余一定宽度的测试标记151相互连通。

请参见图6，当形成的检测通孔155在垂直于导电垫131延伸方向上产生偏差时，测试通孔155与测试标记151轴线相互偏离，在测试标记151的第一直边1512和第二直边1514两侧仅一侧剩余，从而两个电测试点152之间不能相互连通。

请参见图7，当第二冲模220的第四端225与第一冲裁刀具213距离大于第二端1516与导电垫131的距离与偏位公差之和并且第三端224与第一冲裁刀具213的距离大于测试标记151的第一端1515与导电垫131的距离与偏位公差之和。在进行冲型之后，使得检测通孔155将测试标记151的第二弧边1513的一侧冲断，而靠近导电垫131的第一弧边1511的一侧的测试标记151剩余一定宽度。

第五步，请参见图4及图6，对冲型之后的电路板基板100进行电测，测试两个电测试点152之间的导通情况，从而判定导电垫区130的冲型偏位公差是否满足要求，从而得到冲型偏位公差满足要求的电路板。

对冲型之后的电路板基板100进行电测。对电路板基板100进行电测可以采用飞针电测或者采用与电路板相对应的治具进行扎针测试。在进行冲型过程中，形成的开口132将测试线路150与导电垫131相互分离，因此，测试线路150与电路板基板100的产品区域110的电路之间不相互连通。在进行电路的产品区域进行导通检测的过程中，可以一并对两个电测试点之间是否导通。

请参阅图5，当两个电测试点152之间相互导通时（即short），表明导电垫131冲型后偏位的尺寸满足偏位公差的要求；请参阅图6，当检测两个电测试点152之间相互不导通时（即open），表明两手指130冲型后的偏位的尺寸不满足偏位公差的要求。

另外，测试标记设置的形状可以根据实际制作进行设定，用于形成的检测通孔的形状与测试标记相对应即可。如测试标记与检测通孔的形状可以为长方形或者其他不规则的形状。

本技术方案提供的电路板制作方法，第一冲模210在非产品区域120与边接头区130之间形成开口132后，还可以包括对线路区140进行冲型以使得线路区与非产品区分离的步骤。

本技术方案提供的电路板制作方法，只需在进行产品区域的线路制作时同时制作测试线路，在对边接头区进行冲型的同时对测试线路进行冲型，在对电路板基板进行电测时同时对冲型后的测试线路进行电测，通过电测测试线路的导通情况即可判断边接头区的偏位是否满足偏位公差的要求，从而得到冲型偏差满足偏位公差要求的电路板。因此，本技术方案提供的电路板制作方法方法无需使用价格昂贵的影像检测装置，且在电路板的制作过程中，对边接头区冲型偏差是否满足偏位公差进行检测无需增加额外的制程，从而降低的电路板的省成本，提高了电路板生产效率。

可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (6)

1.一种电路板制作方法，包括步骤：

提供电路基板，所述电路基板包括产品区域和非产品区域，所述产品区域包括边接头区和线路区；

在边接头区形成边接头，所述边接头包括多个沿第一方向延伸的导电垫，在所述线路区形成导电线路，在所述非产品区域形成测试线路，所述测试线路包括沿第一方向延伸的测试标记以及连接于测试标记相对两侧的两个电测试点，所述测试标记具有靠近导电垫的第一端和远离导电垫的第二端，所述两个电测试点基本沿垂直于第一方向的第二方向设置，所述导电线路、测试线路及边接头同时形成；提供冲型模具，所述冲型模具包括第一冲模和第二冲模，所述第一冲模用于对所述的边接头区进行冲型，所述第二冲模用于在测试标记对应位置形成测试通孔，所述第一冲模包括用于分离边接头区与非产品区的沿第二方向延伸的第一冲裁刀具，所述第二冲模沿第一方向具有靠近第一冲裁刀具的第三端和远离第一冲裁刀具第四端，第二冲模在第二方向上的长度等于测试标记在第二方向上的长度与两倍偏位公差的绝对值之和，第二冲模的第三端与第一冲裁刀具的距离小于测试标记的第二端与边接头区的最小距离与偏位公差之差，第二冲模的第四端与第一冲裁刀具的距离大于第一端与边接头区的最小距离与偏位公差之和；

利用冲型模具对电路基板进行冲型，以使第一冲模在非产品区域与边接头区之间形成开口，并使第二冲模在测试标记上形成测试通孔；及

对完成冲型的电路基板进行电测，通过测试两个电测试点之间的导通情况，从而判定电路基板沿第一方向上的冲型偏差是否满足偏位公差的要求。

2.如权利要求1所述的电路板制作方法，其特征在于，所述测试标记为铜垫，其在第一方向上具有第一直边及与第一直边相对的第二直边，其中一个电测试点连接于第一直边，另一电测试点连接于第二直边。

3.如权利要求2所述的电路板制作方法，其特征在于，所述测试线路还包括两个连接线路，其中一个连接线路连接于测试标记的第一直边与一个电测试点，另一个连接线路连接于测试标记的第二直边与另一个电测试点之间。

4.如权利要求1所述的电路板制作方法，其特征在于，所述测试线路通过蚀刻方式形成。

5.如权利要求1所述的电路板制作方法，其特征在于，第一冲模在非产品区域与边接头区之间形成开口后，所述电路板制作方法还包括对线路区进行冲型以使得线路区与非产品区分离的步骤。

6.如权利要求1所述的电路板制作方法，其特征在于，在测试两个电测试点之间的导通情况时，当两个电测试点之间为通路时，电路基板冲型偏差满足偏位公差的要求，当两个点测试点之间为断路时，电路基板的冲型偏差不满足偏位公差的要求。

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