CN102033660A - 触控系统及其触碰检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种触控系统及其触碰检测方法。此触控系统包括触控面板、至少一个影像检测装置及处理电路。触控面板具有触控表面并采用一个触控检测结构，此触控检测结构至少包括有多条平行设置的导线。影像检测装置用以检测触控表面的影像。当有两个指示物触碰触控表面时，处理电路便通过上述导线及影像检测装置获取指示物在触控表面中的位置的相关信息，以利用上述两种检测方式的检测结果取得指示物的实际触碰位置。

Description

触控系统及其触碰检测方法

技术领域

本发明涉及一种触控系统及其触碰检测方法，且特别涉及一种不会受鬼点的影响而能正确地判断出指示物的实际位置的触控系统及其触碰检测方法。

背景技术

图1为现有的一种触控系统(touch-control system)的立体图。请参照图1，此触控系统100用以检测指示物(pointer)102的位置。触控系统100除了包括有面板104、影像检测装置106、影像检测装置108及处理电路110之外，还包括有反光组件112、反光组件114及反光组件116。此外，标号118所指的矩形区域即是作为触控系统100的检测区域。处理电路110电耦接影像检测装置106与108，以依据这两个影像检测装置所检测到的指示物影像来计算出指示物102的位置。

图2为触控系统100进行单点触控的说明图。在图2中，标号与图1中的标号相同者表示为相同对象。如图2所示，影像检测装置106能沿着检测路线202检测到指示物102，而影像检测装置108则能沿着检测路线204检测到指示物102。因此，处理电路110只要能计算出检测路线202与204的交点，就能获得指示物102的位置。然而，触控系统100在进行多点触控的时候，就会出现问题，以图3来说明。

图3为触控系统100进行多点触控的说明图，其以二点触控为例。在图3中，标号与图1中的标号相同者表示为相同对象，而标号302与304所指皆表示为指示物。如图3所示，影像检测装置106能分别沿着检测路线202与312而检测到指示物302与304，而影像检测装置108则能分别沿着检测路线204与314而检测到指示物302与304。然而，由于处理电路110通过计算上述各检测路线的交点来获得指示物302与304的位置，因此在这样的情况下，处理电路110会认为标号306与308所指之处也有可能是指示物302与304所处的位置，也就是产生所谓的鬼点(ghost point)。因此，处理电路110会无法正确地判断出指示物302与304的实际位置。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的就是提供一种触控系统，此触控系统不会受鬼点的影响而能正确地判断出指示物的实际位置。

本发明的再一目的是提供一种触碰检测方法，适用于前述的触控系统。

本发明提出一种触控系统，其包括有触控面板、第一影像检测装置、第二影像检测装置及处理电路。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，而此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线。第二影像检测装置及第一影像检测装置皆用以检测触控表面的影像。而处理电路电耦接上述第一导线、第一影像检测装置及第二影像检测装置。当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，处理电路便通过上述第一导线取得这些指示物的一维坐标，以便作为第一检测结果，且处理电路还依据第一影像检测装置及第二影像检测装置所检测到的指示物影像来计算这些指示物的可能触碰位置，以便作为第二检测结果，并进一步取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置。

在本发明的一实施例中，前述触控系统所采用的触控检测结构更包括有多条平行设置的第二导线，而这些第二导线垂直于前述第一导线，且当前述指示物触碰触控表面时，对应于这些指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接，使得前述处理电路可通过上述第一导线及第二导线取得这些指示物的可能触碰位置，以便作为第三检测结果，并进一步取得第三检测结果及前述第二检测结果的交集，以将第三检测结果及第二检测结果的交集视为指示物的实际触碰位置。

本发明另提出一种触控系统，此触控系统包括有触控面板、影像检测装置及处理电路。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，而此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线及多条平行设置的第二导线。上述第二导线垂直于上述第一导线，且当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，对应于这些指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接。影像检测装置用以检测触控表面的影像。而处理电路电耦接上述第一导线、上述第二导线及影像检测装置。当上述指示物触碰触控表面时，处理电路便通过上述第一导线及第二导线取得这些指示物的可能触碰位置，以便作为第一检测结果，且处理电路还计算影像检测装置所检测到的指示物影像在影像检测装置的影像检测窗中的位置，以便作为第二检测结果，并进一步取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置。

本发明再提出一种触控系统，此触控系统包括有触控面板、影像检测装置及处理电路。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，而此触控检测结构包括有多条平行设置的导线。影像检测装置用以检测触控表面的影像。而处理电路系电耦接上述导线及影像检测装置。当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，处理电路便通过上述导线取得这些指示物的一维坐标，并计算影像检测装置所检测到的指示物影像在影像检测装置的影像检测窗中的位置，以进一步依据上述位置及上述一维坐标的历史数据来估测这些指示物的实际触碰位置。

本发明还提出一种触控系统的触碰检测方法。所述触控系统包括有触控面板、第一形态检测装置及第二形态检测装置。所述触控面板具有触控表面，而第一形态检测装置及第二形态检测装置皆用以获取物体在触控表面中的位置的相关信息。此触碰检测方法包括：当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，通过第一形态检测装置检测这些指示物，以便获得第一检测结果，并通过第二形态检测装置检测这些指示物，以便获得第二检测结果；以及取得第一检测结果与第二检测结果的交集，以将上述交集视为这些指示物的实际触碰位置。

在本发明的一实施例中，上述触控面板采用一种触控检测结构，而此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线，这些第一导线即属于第一形态检测装置。而第二形态检测装置包括有第一影像检测装置及第二影像检测装置。第二影像检测装置及第一影像检测装置皆用以检测触控表面的影像。所述触碰检测方法的步骤包括有：当上述第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，通过上述第一导线取得这些指示物的一维坐标，以便作为第一检测结果，并依据第一影像检测装置及第二影像检测装置所检测到的指示物影像来计算这些指示物的可能触碰位置，以便作为第二检测结果；以及取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置。

在本发明的一实施例中，前述触碰检测方法中的触控系统所采用的触控检测结构更包括有多条平行设置的第二导线，这些第二导线也属于第一形态检测装置。这些第二导线垂直于前述第一导线，且当前述指示物触碰触控表面时，对应于这些指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接。而前述的触碰检测方法的步骤更包括有：通过前述第一导线及第二导线取得这些指示物的可能触碰位置，以便作为第三检测结果；以及取得第三检测结果及前述第二检测结果的交集，以将第三检测结果及第二检测结果的交集视为指示物的实际触碰位置。

在本发明的一实施例中，所述触控面板采用一种触控检测结构，而此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线及多条平行设置的第二导线，这些第一导线及这些第二导线即属于第一形态检测装置。上述第二导线垂直于上述第一导线，且当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，对应于这些指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接。而第二形态检测装置为一影像检测装置，此影像检测装置用以检测触控表面的影像。此触碰检测方法的步骤包括有：当上述指示物触碰触控表面时，通过上述第一导线及第二导线取得这些指示物的可能触碰位置，以便作为第一检测结果，并计算影像检测装置所检测到的指示物影像在影像检测装置的影像检测窗中的位置，以便作为第二检测结果；以及取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置。

本发明另外又提出一种触控系统的触碰检测方法，所述触控系统包括触控面板及影像检测装置。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，而此触控检测结构包括有多条平行设置的导线。而影像检测装置用以检测触控表面的影像。此触碰检测方法的步骤包括有：当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，通过上述导线取得这些指示物的一维坐标，并计算影像检测装置所检测到的指示物影像在影像检测装置的影像检测窗中的位置；以及依据上述位置及上述一维坐标的历史数据来估测指示物的实际触碰位置。

本发明的有益效果在于：本发明结合触控面板及影像检测装置来进行指示物的触碰位置检测，也就是说，本发明是结合传统触控检测技术中的电阻式检测方式及光学式检测方式来进行指示物的触碰位置的检测。在本发明中，具有两个影像检测装置及多条第一导线的架构、具有两个影像检测装置及多条第一导线与多条第二导线的架构、具有一个影像检测装置及多条第一导线与多条第二导线的架构都是去取得两种检测方式的检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置，进而解决鬼点问题。而在本发明中，具有一个影像检测装置及多条平行配置导线的架构则是依据两种检测方式的检测结果的历史数据来估测指示物的实际触碰位置，且此架构不会出现鬼点问题。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1是现有的一种触控系统的立体图。

图2是现有的触控系统进行单点触控的示意图。

图3是现有的触控系统进行多点触控的示意图。

图4是本发明第一较佳实施例的触控系统进行多点触控的示意图。

图5是本发明第一较佳实施例的触碰检测方法的主要流程。

图6是本发明第二较佳实施例的触控系统进行多点触控的示意图。

图7是本发明第二较佳实施例的触碰检测方法的主要流程。

图8是本发明第三较佳实施例的触控系统进行多点触控的示意图。

图8A是图8中所示影像检测装置所检测到的影像的示意图。

图9是本发明第三较佳实施例的触碰检测方法的主要流程。

图10是本发明第四较佳实施例的触控系统进行多点触控的示意图。

图11是本发明第四较佳实施例的触碰检测方法的主要流程。

图12是本发明又一较佳实施例的触碰检测方法的主要流程。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及实施例，对依据本发明提出的电子装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

第一实施例：

此实施例所提出的触控系统可以再利用图1所示的立体图来做说明。请再参照图1，在此实施例中，是以触控面板来取代面板104，并修改了处理电路110的操作方式。所述触控面板具有一触控表面(详后述)，且触控面板采用一种触控检测结构，而此触控检测结构主要是由多条平行设置的横向导线及多条平行设置的纵向导线所构成，且每一横向导线垂直于每一纵向导线。这些横向导线皆未电耦接任何的纵向导线，只有在指示物(或其它物体)触碰触控表面时，对应于指示物的触碰位置的横向导线及纵向导线才会电耦接。此外，这些横向导线与这些纵向导线皆电耦接处理电路110(未绘示出耦接关系)。

因此，以单点触控的情况来说，处理电路110便可以利用触控面板的结构特性来判断有哪两条导线发生了电耦接的情形，进而计算出这两条导线的交点来获取指示物的触碰位置。这种触控检测结构也就是传统触控检测技术中的电阻式检测方式所采用的检测结构。有关这种触控检测结构详细的检测原理，由于已普遍为此领域具有通常知识者所熟知，在此便不再赘述。而关于此实施例的处理电路110的操作方式，将以图4来加以解释。

图4为此实施例的触控系统进行多点触控的示意图，其以二点触控为例。在图4中，标号与图1中的标号相同者表示为相同对象，标号402所指即为横向导线，标号404所指即为纵向导线，标号406与408所指皆表示为指示物。此外，配置有这些横向导线402与这些纵向导线404的四边形区域即表示为触控表面。在此例中，触控表面的形状为矩形。

如图4所示，处理电路110会通过这些横向导线402与这些纵向导线404来检测上述两个指示物，以取得这两个指示物的触碰位置。而由于在此情况下，处理电路110会判断出有两条横向导线402及两条纵向导线404发生了电耦接的情形，因此处理电路110会认为标号414与416所指之处也有可能是指示物406与408所处的位置，并将上述四条导线的交点(即指示物406与408的可能触碰位置)视为第一检测结果。

此外，由于影像检测装置106能分别沿着检测路线418与420而检测到指示物406与408，而影像检测装置108则能分别沿着检测路线422与424而检测到指示物406与408，因此处理电路110还会通过计算上述各检测路线的交点来获得指示物406与408这二者可能的触碰位置。因此，处理电路110会认为标号410与412所指之处也有可能是指示物406与408所处的位置，并将上述各检测路线的交点(也为指示物406与408的可能触碰位置)视为第二检测结果。

由于在第一检测结果中，只会有两个交点是指示物406与408的实际触碰位置，其它则为鬼点，而在第二检测结果中，也只会有两个交点是指示406与408的实际触碰位置，其它也为鬼点，因此处理电路110会进一步取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物406与408的实际触碰位置。如此一来，此触控系统就不会受到鬼点的影响而误判指示物406与408的位置。

值得一提的是，在本发明较佳的硬件实现方式中，上述每一影像检测装置皆具有红外线(infra-red，IR)照明装置，例如是具有红外线发光二极管(IR LED)。此外，上述每一影像检测装置更可进一步具有只能让红外线通过的红外线滤光装置，例如是具有红外线滤光片(IR-pass filter)，使得每一影像检测装置都能通过其红外线滤光装置来取得触控表面的影像。另外，反光组件112、114及116采用回复反射材质(retro-reflectivematerial)来达成反光效果，然此并非用以限定本发明，只要反光组件112、114及116皆能将光线反射至触控表面，但都不会形成触控表面的镜像即可。当然，反光组件112、114及116也可直接以三个发光组件来取代，只要使这三个发光组件皆朝着触控表面而发光即可。

借助此实施例的教示，可以归纳出此例的触控系统的一些基本操作步骤，以图5来说明。图5为依照本发明一实施例的触碰检测方法的主要流程，适用于一触控系统。所述触控系统包括有触控面板、第一影像检测装置及第二影像检测装置。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线及多条平行设置的第二导线。上述第二导线垂直于上述第一导线，且当指示物触碰触控表面时，对应于指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接。而第二影像检测装置及第一影像检测装置皆用以检测触控表面的影像。所述触碰检测方法的步骤包括有：当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，通过上述第一导线及第二导线取得这些指示物的可能触碰位置，以便作为第一检测结果，并依据第一影像检测装置及第二影像检测装置所检测到的指示物影像来计算这些指示物的可能触碰位置，以便作为第二检测结果(如步骤S502所示)；以及取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置(如步骤S504所示)。

第二实施例：

此实施例提出另一种触控系统，此触控系统与第一实施例的触控系统的不同之处，在于此触控系统的触控面板采用另一种触控检测结构，而此种触控检测结构主要是由多条平行设置的纵向导线所构成。此触控系统的检测方式以图6来说明。

图6为此实施例的触控系统进行多点触控的说明图，其以二点触控为例。在图6中，标号与图1中的标号相同者表示为相同对象，标号404所指即为纵向导线，标号406与408所指皆表示为指示物。此外，配置有这些纵向导线404的四边形区域即表示为触控表面。在此例中，触控表面的形状为矩形。

如图6所示，处理电路110会通过这些纵向导线404来取得上述二个指示物的一维坐标，以便作为第一检测结果。此外，处理电路110还会计算出检测路线418、420、422及424的交点，以便作为第二检测结果。由于取得的一维坐标都是指示物406与408的实际触碰位置的X坐标，而在第二检测结果中，只会有两个交点是指示物406与408的实际触碰位置，其它则为鬼点，因此处理电路110可进一步取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物406与408的实际触碰位置。如此一来，此触控系统就不会受到鬼点的影响而误判指示物406与408的位置。

值得一提的是，即使此例的触控面板所采用的触控检测结构主要是由多条平行设置的横向导线所构成，本发明也可实施。

借助此实施例的教示，可以归纳出此例的触控系统的一些基本操作步骤，以图7来说明。图7为依照本发明一实施例的触碰检测方法的主要流程，适用于一触控系统。所述触控系统包括有触控面板、第一影像检测装置及第二影像检测装置。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线。而第二影像检测装置及第一影像检测装置皆用以检测触控表面的影像。所述触碰检测方法的步骤包括有：当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，通过上述第一导线取得这些指示物的一维坐标，以便作为第一检测结果，并依据第一影像检测装置及第二影像检测装置所检测到的指示物影像来计算这些指示物的可能触碰位置，以便作为第二检测结果(如步骤S702所示)；以及取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置(如步骤S704所示)。

第三实施例：

此实施例提出另一种触控系统，此触控系统与第一实施例的触控系统的不同之处，在于此触控系统仅具有一个影像检测装置。此触控系统的检测方式以图8来说明。

图8为此实施例的触控系统进行多点触控的说明图，其以二点触控为例。在图8中，标号与图1中的标号相同者表示为相同对象，标号402所指即为横向导线，标号404所指即为纵向导线，标号406与408所指皆表示为指示物。此外，配置有这些横向导线402与这些纵向导线404的四边形区域即表示为触控表面。在此例中，触控表面的形状为矩形。

如图8所示，处理电路110会通过这些横向导线402及这些纵向导线404来检测上述两个指示物，以便取得这两个指示物的可能触碰位置而作为第一检测结果。此外，处理电路110还会通过影像检测装置106来检测上述两个指示物，以便计算影像检测装置106所检测到的指示物影像在影像检测装置106的影像检测窗(详后述)中的位置，进而作为第二检测结果。

图8A即为影像检测装置所检测到的影像的示意图。在此图中，标示8A00表示为影像检测装置106的影像检测窗(image sensing window)。而标示8A02即是借助反光组件114及116反射光线而在影像上形成亮度较高的亮区(bright zone)，此亮区8A02就是主要的检测区。至于标示8A04与8A06则分别是指示物406与408所造成的暗纹，也就是指示物影像。

请再参照图8。由于在第一检测结果中，只会有两个交点是指示物406与408的实际触碰位置，其它则为鬼点，而在第二检测结果中，两个暗纹的分布位置就是指示物406与408所处的位置，因此处理电路110可进一步取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物406与408的实际触碰位置。如此一来，此触控系统就不会受到鬼点的影响而误判指示物406与408的位置。

值得一提的是，即使此例的影像检测装置106的配置位置是从触控表面的左上角改为触控表面的右上角，本发明也可实施。

借助此实施例的教示，可以归纳出此例的触控系统的一些基本操作步骤，以图9来说明。图9为依照本发明一实施例的触碰检测方法的主要流程，适用于一触控系统。所述触控系统包括有触控面板及影像检测装置。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线及多条平行设置的第二导线。上述第二导线垂直于上述第一导线，且当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，对应于这些指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接。而所述影像检测装置用以检测触控表面的影像。所述触碰检测方法的步骤包括有：当上述两个指示物触碰触控表面时，通过上述第一导线及上述第二导线取得这些指示物的可能触碰位置，以便作为第一检测结果，并计算影像检测装置所检测到的指示物影像在影像检测装置的影像检测窗中的位置，以便作为第二检测结果(如步骤S902所示)；以及取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置(如步骤S904所示)。

第四实施例：

此实施例提出另一种触控系统，此触控系统与第一实施例的触控系统的不同之处，在于此触控系统仅具有一个影像检测装置，且此触控系统的触控面板系采用另一种触控检测结构，而此种触控检测结构主要是由多条平行设置的纵向导线所构成。此触控系统的检测方式以图10来说明。

图10为此实施例的触控系统进行多点触控的说明图，其以二点触控为例。在图10中，标号与图1中的标号相同者表示为相同对象，标号404所指即为纵向导线，标号406与408所指皆表示为指示物。此外，配置有这些纵向导线404的四边形区域即表示为触控表面。在此例中，触控表面的形状为矩形。

如图10所示，处理电路110会通过这些纵向导线404来取得上述两个指示物的一维坐标。此外，处理电路110还会通过影像检测装置106来检测上述两个指示物，以计算影像检测装置106所检测到的指示物影像在影像检测装置106的影像检测窗中的位置。由于在此例中，处理电路110无法通过取得这两种检测方式的检测结果的交集来获得指示物406与408的实际触碰位置，因此处理电路110改为依据上述位置及上述一维坐标的历史数据为基础来估测这两个指示物的实际触碰位置。另外，由此图10也可得知，此种架构的触控系统并不会产生鬼点，故不会有鬼点问题。

值得一提的是，即使此例的影像检测装置106的配置位置是从触控表面的左上角改为触控表面的右上角，本发明也可实施。此外，即使此例的触控面板所采用的触控检测结构主要是由多条平行设置的横向导线所构成，本发明也可实施。

借助此实施例的教示，可以归纳出此例的触控系统的一些基本操作步骤，以图11来说明。图11为依照本发明一实施例的触碰检测方法的主要流程，适用于一触控系统。所述触控系统包括有触控面板及影像检测装置。所述触控面板具有触控表面，且此触控面板采用一种触控检测结构，此触控检测结构包括有多条平行设置的导线。而影像检测装置用以检测触控表面影像。所述触碰检测方法的步骤包括有：当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，通过上述导线取得这些指示物的一维坐标，并计算影像检测装置所检测到的指示物影像在影像检测装置的影像检测窗中的位置(如步骤S1102所示)；以及依据上述位置及上述一维坐标的历史数据来估测这些指示物的实际触碰位置(如步骤S1104所示)。

尽管在上述各实施例中，皆以触控面板来进行举例说明，然此领域具有通常知识者应当知道，以上各实施例中的触控面板也可以是一触控显示面板。

此外，若将上述第一至第三实施例的触碰检测方法再加以汇整，还可以再得到一个更上位化的触碰检测方法，如图12所示。图12为依照本发明一实施例的触碰检测方法的主要流程，适用于一触控系统。所述触控系统包括有触控面板、第一形态检测装置及第二形态检测装置。此触控面板具有触控表面，而第一形态检测装置及第二形态检测装置皆用以获取物体在触控表面中的位置的相关信息。所述触碰检测方法包括：当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时，通过第一形态检测装置检测这些指示物，以便获得第一检测结果，并通过第二形态检测装置检测这些指示物，以便获得第二检测结果；以及取得第一检测结果及第二检测结果的交集，以将上述交集视为这些指示物的实际触碰位置。

在此例中，第一形态检测装置可以是如前述实施例中的第一导线、第二导线或是第一导线与第二导线，而第二形态检测装置可以是前述实施例中的影像检测装置106、影像检测装置108或是影像检测装置106与108，只是本例中，第一形态检测装置与第二形态检测装置的实现方式，采用两组检测结果的交集来判断，故本例排除如同第四实施例的组合。

综上所述，本发明乃是结合触控面板及影像检测装置来进行指示物的触碰位置的检测，也就是说，本发明结合了传统触控检测技术中的电阻式检测方式及光学式检测方式来进行指示物的触碰位置的检测。在本发明中，具有两个影像检测装置及多条第一导线的架构、具有二个影像检测装置及多条第一导线与多条第二导线的架构、具有一个影像检测装置及多条第一导线与多条第二导线的架构都是去取得两种检测方式的检测结果的交集，以将上述交集视为指示物的实际触碰位置，进而解决鬼点问题。而在本发明中，具有一个影像检测装置及多条平行配置导线的架构则是依据两种检测方式的检测结果的历史数据来估测指示物的实际触碰位置，且此架构不会出现鬼点问题。

以上所述，仅是本发明的实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (18)

1.一种触控系统，其特征在于包括：

一个触控面板，具有一个触控表面，且该触控面板采用一个触控检测结构，该触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线；

一个用以检测该触控表面的影像的第一影像检测装置；

一个用以检测该触控表面的影像第二影像检测装置；以及

一个处理电路，电耦接这些第一导线、该第一影像检测装置及该第二影像检测装置，当有一个第一指示物与一个第二指示物触碰该触控表面时，该处理电路便通过这些第一导线取得该第一指示物及第二指示物的一维坐标，作为第一检测结果，且该处理电路还依据该第一影像检测装置及该第二影像检测装置所检测到的指示物影像来计算该第一指示物及第二指示物的可能触碰位置，作为第二检测结果，并进一步取得该第一检测结果及该第二检测结果的交集，以将上述交集视为该该第一指示物及第二指示物的实际触碰位置。

2.根据权利要求1所述的触控系统，其特征在于，该触控检测结构更包括有多条平行设置的第二导线，这些第二导线垂直于这些第一导线，且当这些指示物触碰该触控表面时，对应于该第一指示物及第二指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接，使得该处理电路可通过这些第一导线及这些第二导线取得该第一指示物及第二指示物的可能触碰位置，作为第三检测结果，并进一步取得该第三检测结果及该第二检测结果的交集，以将该第三检测结果及该第二检测结果的交集视为该该第一指示物及第二指示物的实际触碰位置。

3.根据权利要求1所述的触控系统，其特征在于，该触控系统更包括有一个第一发光组件、一个第二发光组件与一个第三发光组件，或是更包括有一个第一反光组件、一个第二反光组件与一个第三反光组件，且该触控表面的形状为四边形，该四边形具有依序连接的第一边、第二边、第三边及第四边，该第一影像检测装置即设置在该第一边与该第四边相交的角落，该第二影像检测装置即设置在该第一边与该第二边相交的角落，该第一发光组件、该第二发光组件及该第三发光组件则适于依序配置在该第二边、该第三边及该第四边，皆用以朝着该触控表面而发光，而该第一反光组件、该第二反光组件及该第三反光组件还适于依序配置在该第二边、该第三边及该第四边，皆用以将光线反射至该触控表面，但都不会形成该触控表面的镜像。

4.根据权利要求1所述的触控系统，其特征在于，每一影像检测装置皆具有一个红外线照明装置及只能让红外线通过的一个红外线滤光装置，且每一影像检测装置通过其红外线滤光装置来取得该触控表面的影像，其中该红外线照明装置包括一个红外线发光二极管。

5.根据权利要求1所述的触控系统，其特征在于，该触控面板是一个触控显示面板。

6.一种触控系统，其特征在于包括：

一个触控面板，具有一个触控表面，且该触控面板采用一个触控检测结构，该触控检测结构包括有：

多条平行设置的第一导线；以及

多条平行设置的第二导线，这些第二导线垂直于这些第一导线，且当有一个第一指示物与一个第二指示物触碰该触控表面时，对应于该第一指示物及第二指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接；

一个用以检测该触控表面的影像的影像检测装置；以及

一个处理电路，电耦接这些第一导线、这些第二导线及该影像检测装置，当该第一指示物及第二指示物触碰该触控表面时，该处理电路通过这些第一导线及这些第二导线取得该第一指示物及第二指示物的可能触碰位置，作为第一检测结果，且该处理电路还计算该影像检测装置所检测到的指示物影像在该影像检测装置的影像检测窗中的位置，作为第二检测结果，并进一步取得该第一检测结果及该第二检测结果的交集，以将上述交集视为该第一指示物及第二指示物的实际触碰位置。

7.根据权利要求6所述的触控系统，其特征在于，该触控系统更包括有一个第一发光组件、一个第二发光组件与一个第三发光组件，或是更包括有一个第一反光组件、一个第二反光组件与一个第三反光组件，且该触控表面的形状为四边形，该四边形具有依序连接的第一边、第二边、第三边及第四边，该影像检测装置设置在该第一边与该第四边相交的角落，或是设置在该第一边与该第二边相交的角落，该第一发光组件、该第二发光组件及该第三发光组件则适于依序配置在该第二边、该第三边及该第四边，皆用以朝着该触控表面而发光，而该第一反光组件、该第二反光组件及该第三反光组件还适于依序配置在该第二边、该第三边及该第四边，皆用以将光线反射至该触控表面，但都不会形成该触控表面的镜像。

8.根据权利要求6所述的触控系统，其特征在于，该影像检测装置具有一个红外线照明装置及只能让红外线通过的一个红外线滤光装置，且该影像检测装置是通过该红外线滤光装置来取得该触控表面的影像，其中该红外线照明装置包括一个红外线发光二极管。

9.根据权利要求6所述的触控系统，其特征在于，该触控面板是一个触控显示面板。

10.一种触控系统，其特征在于包括：

一个触控面板，具有一个触控表面，且该触控面板采用一个触控检测结构，该触控检测结构包括有多条平行设置的导线；

一个用以检测该触控表面的影像的影像检测装置；以及

一个处理电路，电耦接这些导线及该影像检测装置，当有一个第一指示物与一个第二指示物触碰该触控表面时，该处理电路便通过这些导线取得该第一指示物及第二指示物的一维坐标，并计算该影像检测装置所检测到的指示物影像在该影像检测装置的影像检测窗中的位置，进一步依据上述位置及上述一维坐标的历史数据来估测该第一指示物及第二指示物的实际触碰位置。

11.根据权利要求10所述的触控系统，其特征在于，该触控系统更包括有一个第一发光组件、一个第二发光组件与一个第三发光组件，或是更包括有一个第一反光组件、一个第二反光组件与一个第三反光组件，且该触控表面的形状为四边形，该四边形具有依序连接的第一边、第二边、第三边及第四边，该影像检测装置设置在该第一边与该第四边相交的角落，或是设置在该第一边与该第二边相交的角落，该第一发光组件、该第二发光组件及该第三发光组件则适于依序配置在该第二边、该第三边及该第四边，皆用以朝着该触控表面而发光，而该第一反光组件、该第二反光组件及该第三反光组件还适于依序配置在该第二边、该第三边及该第四边，皆用以将光线反射至该触控表面，但都不会形成该触控表面的镜像。

12.根据权利要求10所述的触控系统，其特征在于，该影像检测装置具有一个红外线照明装置及只能让红外线通过的一个红外线滤光装置，且该影像检测装置是通过该红外线滤光装置来取得该触控表面的影像，其中该红外线照明装置包括一个红外线发光二极管。

13.根据权利要求10所述的触控系统，其特征在于，该触控面板是一个触控显示面板。

14.一种触控系统的触碰检测方法，其特征在于，所述触控系统包括有一个触控面板、一个用以获取物体在该触控表面中的位置的相关信息的第一形态检测装置及第二形态检测装置，该触控面板具有一个触控表面，该触碰检测方法包括：

当有一个第一指示物与一个第二指示物触碰该触控表面时，通过该第一形态检测装置检测这些指示物，获得一个第一检测结果，并通过该第二形态检测装置检测这些指示物，获得一个第二检测结果；以及

取得该第一检测结果及该第二检测结果的交集，将上述交集视为这些指示物的实际触碰位置。

15.根据权利要求14所述的触碰检测方法，其特征在于，该触控面板采用一个触控检测结构，该触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线，这些第一导线即属于该第一形态检测装置，而该第二形态检测装置包括有一个用以检测该触控表面的影像的第一影像检测装置及第二影像检测装置，该触碰检测方法包括：

当该第一指示物与该第二指示物触碰该触控表面时，通过这些第一导线取得这些指示物的一维坐标，作为该第一检测结果，并依据该第一影像检测装置及该第二影像检测装置所检测到的指示物影像来计算这些指示物的可能触碰位置，作为该第二检测结果；以及

取得该第一检测结果及该第二检测结果的交集，以将上述交集视为该指示物的实际触碰位置。

16.根据权利要求15所述的触碰检测方法，其特征在于，该触控检测结构更包括有多条平行设置的第二导线，这些第二导线也属于该第一形态检测装置，这些第二导线垂直于这些第一导线，且当该第一指示物及第二指示物触碰该触控表面时，对应于该第一指示物及第二指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接，且该触碰检测方法更包括：

通过这些第一导线及这些第二导线取得该第一指示物及第二指示物的可能触碰位置，作为第三检测结果；以及

取得该第三检测结果及该第二检测结果的交集，将该第三检测结果及该第二检测结果的交集视为该第一指示物及第二指示物的实际触碰位置。

17.根据权利要求14所述的触碰检测方法，其特征在于，该触控面板采用一个触控检测结构，该触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线及多条平行设置的第二导线，这些第一导线及这些第二导线即属于该第一形态检测装置，这些第二导线垂直于这些第一导线，且当有一第一指示物与一第二指示物触碰该触控表面时，对应于该第一指示物及第二指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接，而该第二形态检测装置为一个影像检测装置，该影像检测装置用以检测该触控表面的影像，该触碰检测方法包括：

当这些指示物触碰该触控表面时，通过这些第一导线及这些第二导线取得该第一指示物及第二指示物的可能触碰位置，作为该第一检测结果，并计算该影像检测装置所检测到的指示物影像于该影像检测装置的影像检测窗中的位置，作为该第二检测结果；以及

取得该第一检测结果及该第二检测结果的交集，将上述交集视为该第一指示物及第二指示物的实际触碰位置。

18.一种触控系统的触碰检测方法，所述触控系统包括有一触控面板及一影像检测装置，该触控面板具有一触控表面，且该触控面板采用一个触控检测结构，该触控检测结构包括有多条平行设置的导线，该影像检测装置用以检测该触控表面的影像，该触碰检测方法包括：

当有一第一指示物与一第二指示物触碰该触控表面时，通过这些导线取得该第一指示物及第二指示物的一维坐标，并计算该影像检测装置所检测到的指示物影像于该影像检测装置的影像检测窗中的位置；以及

依据上述位置及上述一维坐标的历史数据来估测该第一指示物及第二指示物的实际触碰位置。

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