CN102006062A - 零相位误差锁相环 - Google Patents

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Abstract

本发明属于半导体集成电路设计领域,具体涉及一种零相位误差锁相环,包含鉴频鉴相器PFD,电荷泵CP,环路滤波器LPF,压控振荡器VCO和一分频器,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD包含四个输入端口,四个端口输入的信号分别为外部参考源fref、压控振荡器VCO输出的振荡信号fvco、fref经过另一分频器分频M倍得到的参考信号fref_1和fvco经过一分频器分频N倍得到的反馈信号f1。本发明的零相位误差锁相环实现对fref_1和f1鉴频,对fref和fvco鉴相的功能,解决了压控振荡器VCO的输出与输入信号之间存在的不可预测的时延问题,避免了在应用中出现时序问题,有效保证了芯片的工作速度和可靠性。

Description

零相位误差锁相环
技术领域
本发明属于半导体集成电路设计领域,具体涉及一种锁相环,锁相环中含有具有锁定指定信号频率、指定信号相位功能的鉴频鉴相器。
背景技术
随着集成电路技术的飞速发展,单片硅晶体上集成的晶体管数越来越多,且芯片的工作速度也越来越高。与过去的低速低集成度芯片相比,这对时钟的要求更为严格。无论是在片外还是片内,都要求时钟信号的频率稳定度高抖动小,各模块间时钟信号的相位偏移足够小。但是,由于寄生效应的存在,这样的高频高速时钟信号不可能直接从外部输入到芯片内。只能通过增加额外的电路模块如锁相环实现。锁相环将低频高稳定度信号倍频,得到高速时钟信号后,驱动芯片内部电路。但是,在锁相环反馈回路上的分频器会引入额外的延时,这个延时不仅仅与分频数有关,还与制造工艺、电源电压、温度有关。所以压控振荡器VCO的输出与输入的时钟信号之间有一个不可预测的时延。对于高速时钟信号,这个“很小的”不确定的时延会造成很大的相位差,各模块间(或片内外电路)将不能工作在同一相位下,这将制约芯片的工作速度和可靠性。
   传统的电荷泵锁相环电路如图6所示,主要的电路模块包括:鉴频鉴相器PFD,电荷泵CP,环路滤波器LPF,压控振荡器VCO和分频器。PFD检测fref和f1的相位差,然后CP将相位差信号转化为电压信号,并经过LPF后控制VCO的输出信号频率。当环路锁定后,fref= f1,,fvco= N╳fref ,并且fref与 f1相位锁定。
   图6的电路的一个问题在于PFD只检测了f1与fref的相位差。当环路锁定后,f1与fref能够实现同频同相。但是分频器的存在导致f1与fvco存在一个延时差Δt。图7给出了环路锁定后的波形示意图。由于受到工艺参数、电源电压和环境温度的影响,Δt的大小是不可预测的,因此导致fvco和fref的相位无法锁定。这在某些应用中会引起严重的时序问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服现有技术中的缺陷,解决锁相环在锁定频率后不能锁定压控振荡器VCO输出与输入参考信号间的相位的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种零相位误差锁相环,包含鉴频鉴相器PFD,电荷泵CP,环路滤波器LPF,压控振荡器VCO和一分频器,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD包含四个输入端口,四个端口输入的信号分别为外部参考源fref、压控振荡器VCO输出的振荡信号fvco、外部参考源fref经过另一分频器分频M倍得到的参考信号fref_1和压控振荡器VCO输出的振荡信号fvco经过一分频器分频N倍得到的反馈信号f1
所述鉴频鉴相器PFD包含两个输出端口,所述输出端口与所述电荷泵CP输入端连接。
所述鉴频鉴相器PFD对外部参考源fref和输出振荡信号fvco的相位锁定,对fref_1和 f1的频率进行锁定。
所述鉴频鉴相器PFD包含逻辑门。
所述鉴频鉴相器PFD包含MOS管。
所述MOS管为PMOS管和/或NMOS管。
所述鉴频鉴相器PFD包含延时模块Delay。
本发明所达到的有益效果:本发明的零相位误差锁相环实现对fref_1和 f1鉴频,对fref和 fvco 鉴相的功能,解决了压控振荡器VCO的输出与输入信号之间存在的不可预测的时延问题,避免了在应用中出现时序问题,使各模块间(或片内外电路)工作在同一相位下,有效保证了芯片的工作速度和可靠性。
附图说明
图1是本发明的零相位误差锁相环电路结构;
图2鉴频鉴相器零相位误差锁相环锁定后的波形图(M=1、N=4);
图3是图1中鉴频鉴相器的电路图;
图4是图3的鉴频鉴相器的波形图;
图5是鉴频鉴相器的状态转移图;
图6是传统的电荷锁相环电路结构;
图7是图6传统锁相环锁定后的波形图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
   图1是应用了本发明的鉴频鉴相器的电荷泵零相位误差锁相环电路。电路模块包括:鉴频鉴相器PFD,电荷泵CP,环路滤波器LPF,压控振荡器VCO和分频器。PFD将信号输入CP,然后CP将信号转化为电压信号,并经过LPF后控制VCO的输出信号。该鉴频鉴相器设有四个输入端口,较传统的鉴频鉴相器增加了两个输入端口,增加了外部参考源fref和输出振荡信号fvco的相位锁定功能。fref_1为fref经过分频器分频M倍得到的参考信号,f1为fvco经过分频器分频N倍得到的反馈信号。M=1、N=4为例,当fref_1为低电位时,fref的上升沿被检测;当f1为低电位时, fvco的上升沿被检测。由于fref_1是fref的分频输出且f1是fvco的分频输出,所以fref_1的低电位脉宽只能是fref的一个时钟周期,而f1的低电位脉宽只能是fvco的一个时钟周期。
图2为零相位误差锁相环环路锁定后各点的信号波形。由于f1与 fref_1频率锁定,fvco与 fref 相位锁定,所以图3中的“÷M”、“÷N”分频器引入的延时的影响可以忽略。
   图3是本发明中一种实施例的鉴频鉴相器的电路图,以M=1、N=4为例,电路包含组合逻辑门,由于无需使用时序触发器,因此本发明中的PFD的工作速度高于传统的PFD。PMOS管mp1和mp2的源极均接到电源电压上,mp1的栅极与mp2的栅极连接,同时与NMOS管mn5和mn6的栅级连接,mp1的漏极与mn5的漏极连接,mp2的漏极与mn6的漏极连接,mn5的源极与NMOS管mn2的漏极连接,mn6的源极与NMOS管mn4的漏极连接,mn2的栅极连接到参考信号fref端,mn4的栅极连接到输出振荡信号fvco端,mn2的源极与NMOS管mn1的漏极连接,mn4的源极与NMOS管mn3的漏极连接,mn1、mn3的源极均接地。mn1的栅极连接一或非门的输出端refq,此或非门的两个输入端分别为参考信号fref端、fref经过分频器分频1倍得到的参考信号fref_1端, mn3的栅极连接另一或非门的输出端vcoq,此或非门的两个输入端分别为输出振荡信号fvco端、fvco经过分频器分频4倍得到的反馈信号f1端。mp1、mp2的栅极连接后与Delay延时模块一端相连,Delay延时模块另一端连接一与门输出端,与门输入端分别为mp1、mp2的漏极。mp1的漏极与输出信号UP间接由两个反相器组成的锁存器,mp2的漏极与输出信号DN间接由两个反相器组成的锁存器。
UP、DN为电路的输出状态信号, UP为上升状态信号,DN为下降状态信号。
电路的状态转移过程如图5所示,其中,fref↑、fvco↑表示被检测的上升沿。假设电路的初始状态为00。当vcoq、fvco同时为1时,产生vco下拉信号将DNb拉为0,则电路状态跳为01。当参考信号fref的被检测沿到来时使UP=1,电路的状态由01转化为11。此时UPb=DNb=0,所以mp1、mp2将同时开启。经过短暂延时后,UPb、DNb被同时拉到1,则电路恢复到00状态。电路状态由00à01à11à00的一次转变过程,就是鉴频鉴相器完成一次检测的过程。UP、DN信号为1的时间差即为fvco、fref被检测沿的时间差,同时表征了输入信号的相位差。通过调节Delay模块的延时,还可以实现去除“死区”的功能。
图4中,ref为基准信号, vco为压控振荡器信号,ref下拉信号、vco下拉信号的出现频率分别与fref_1、f1相同,而fref的上升沿、fvco的上升沿分别决定了ref下拉信号、vco下拉信号的出现时间。所以,图3所示鉴频鉴相电路具有对fref_1和 f1鉴频,对fref和 fvco 鉴相的功能。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种零相位误差锁相环,包含鉴频鉴相器PFD,电荷泵CP,环路滤波器LPF,压控振荡器VCO和一分频器,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD包含四个输入端口,四个端口输入的信号分别为外部参考源fref、所述压控振荡器VCO输出的振荡信号fvco、外部参考源fref经过另一分频器分频M倍得到的参考信号fref_1和压控振荡器VCO输出的振荡信号fvco经过一分频器分频N倍得到的反馈信号f1
2.根据权利要求1所述的零相位误差锁相环,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD包含两个输出端口,所述输出端口与所述电荷泵CP输入端连接。
3.根据权利要求1所述的零相位误差锁相环,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD对外部参考源fref和输出振荡信号fvco的相位锁定,对fref_1和 f1的频率进行锁定。
4.根据权利要求1所述的零相位误差锁相环,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD包含逻辑门。
5.根据权利要求1所述的零相位误差锁相环,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD包含MOS管。
6.根据权利要求5所述的零相位误差锁相环,其特征是,所述MOS管为PMOS管和/或NMOS管。
7.根据权利要求1所述的零相位误差锁相环,其特征是,所述鉴频鉴相器PFD包含延时模块Delay。
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Application publication date: 20110406

Assignee: Nanjing wonder Microelectronics Technology Co., Ltd.

Assignor: Suzhou Yunchip Microelectronic Technology Co., Ltd.

Contract record no.: 2014320010164

Denomination of invention: Phase locked loop with zero phase error

Granted publication date: 20120704

License type: Exclusive License

Record date: 20141016

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