CN102003947A - 一种钼粉形貌定量化表征的方法 - Google Patents

一种钼粉形貌定量化表征的方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种钼粉形貌定量化表征的方法,包括以下步骤:一、取样;二、样品分散:对装在分散腔顶部的钼粉样品,经压缩空气瞬间分散、自由沉降至底部平板载玻片上进行分散;三、样品静置;四、划定测量区;五、图像采集及同步上传;六、钼粉形貌参数分析及同步显示,其参数分析过程如下:图像预处理、钼粉颗粒边界线提取和根据所提取钼粉颗粒边界线对钼粉颗粒的等效圆直径及圆度参数进行计算及存储,并相应制作出钼粉颗粒的体积分布图和圆度分布图。本发明设计合理、实现方便、投入成本低且误差小、实用价值高,能有效解决现有钼粉检测方法不能对钼粉微观结构对整体钼粉品质的影响进行分析的实际问题,有效提高后续钼制品的成品率。

Description

一种钼粉形貌定量化表征的方法
技术领域
本发明属于钼粉颗粒形貌参数量化统计技术领域,尤其是涉及一种钼粉形貌定量化表征的方法。
背景技术
目前,全球难熔金属粉末冶金行业没有对钼粉的微观形貌进行二维定量化分析,只能用电子显微镜定性的说明钼粉形状与团聚情况,因而不能准确的表征颗粒等效圆直径、圆度及凸度参数,也就不能深入分析钼粉颗粒这一基本单元对产品品质的影响。
当前,对钼粉进行检测时,检测参数主要包括化学指标检测和物理指标检测,其中,化学指标检测如:Al、As、C、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、N、Na、Ni、O、P、Pb、S、Si、Sn、Ti及W;物理指标检测如:平均费氏粒度、斯柯特(Scott)松装密度、振实密度、比表面等参数(详见黄培云主编的《粉末冶金原理》,北京:冶金工业出版社,1997年版)。但是,上述检测参数都是宏观描述,而对于影响产品内因的钼粉微观结构,即钼粉颗粒的各个不同形状,及其不同比例,加之组合以后,每立方微米的结构都是不同的,这些不同结构造成钼产品晶体的缺陷,如:点缺陷(空位、间隙原子)、线缺陷(位错)和面缺陷(相界面、晶界、堆垛层错)。因为烧结时的粘性流动,显微组织的孔隙形态、分布和大小对性能影响最大,再加工后缺陷被扩大延伸,因此,保持目前理化检测合格参数的基础上,须再深入到钼粉粉末最根本的单颗粒与游离颗粒团来分析,其对钼粉的压制、烧结和深加工影响甚为重要。钼粉不同的形貌具有不同的性能,如:粘结在一起的颗粒团或者是紧密连接的烧结颈,这些不同形貌的钼粉对后续的压型以及烧结都造成不利的影响。最终需要深入对钼粉的微观形貌进行必要的研究,了解钼粉中各种颗粒形貌所占比例的具体参数,通过不同参数值的比较分析,掌握何种比例构成最有利于后续的加工生产,增强钼粉质量的预测性,以提高后续钼制品的成品率。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一种钼粉形貌定量化表征的方法,其设计合理、实现方便、投入成本低且误差小、实用价值高,能有效解决现有钼粉检测方法不能对钼粉微观结构对整体钼粉品质的影响进行分析的实际问题,有效提高后续钼制品的成品率。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:
步骤一、取样:称量0.1~0.6g被检测钼粉,所述被检测钼粉的费氏粒度为2.0μm~6.0μm且其松装比重为0.8g/cm3~1.6g/cm3;将所称量的钼粉样品放入一个密闭分散腔内侧顶部所布设在锡纸上,所述密闭样品腔上部布设有一个与高压气源相接的气压管道且所述气压管道与所述密闭样品腔的内部相通,所述气压管道的出气口位于所述锡纸上方;
步骤二、样品分散:通过所述气压管道向所述密闭样品腔内通入高压气流,且高压气流对位于所述密闭分散腔顶部的钼粉进行分散,所述高压气流的压力为4~7bar,且待所述密闭分散腔顶部的钼粉均被所述高压气流分散且自由落体至布设于所述密闭分散腔底部的平板载玻片上后,样品分散过程结束;
步骤三、样品静置:样品分散结束后,关闭所述气源的控制阀门,并将所述密闭样品腔整体静置2~5分钟;
步骤四、划定测量区:将所述平板载玻片自所述密闭样品腔内取出,且取出过程中应始终保持所述平板载玻片处于水平状态以防止所述平板载玻片上的钼粉位置发生变动;再在所述平板载玻片上划定多个测量区,多个所述测量区内所包括钼粉颗粒的总数量n为5万~8万个;
步骤五、图像采集及同步上传:采用粒形分析仪分别对多个所述测量区的钼粉分布图像进行摄取,并将所摄取的多个钼粉分布图像同步上传至数据处理器;
步骤六、钼粉形貌参数分析及同步显示,其参数分析过程如下:
601、图像预处理:将多个所述钼粉分布图像经去噪和滤波处理后,转化为对应的多个二灰度图像;
602、钼粉颗粒边界线提取:分别提取多个所述二灰度图像中黑色图像区域和白色图像区域的封闭交界线并进行标示,所标示出的所述封闭边界线为钼粉颗粒边界线,且多个所述二灰度图像中所提取出的钼粉颗粒边界线的总数量为n;
603、钼粉颗粒的等效圆直径及圆度参数计算及存储,其参数计算及存储过程如下:
6031、结合步骤五中所述粒形分析仪摄取所述钼粉分布图像的比例尺,调用数据测量模块对n个钼粉颗粒边界线的实际周长ci和内部实际面积Si进行测量计算,且任一个钼粉颗粒边界线对应一个由ci和Si组成的实测参数组;测量计算的同时,将与n个钼粉颗粒边界线对应的n个实测参数组均同步存入与所述数据处理器相接的存储单元内;其中,i=1、2、3…n;
6032、调用参数计算模块且按照公式
Figure BSA00000269301000031
计算得出n个钼粉颗粒边界线的等效圆直径di,并将计算得出的n个参数di同步存入所述存储单元内;
6033、体积分布图制作及同步显示:调用数值比较模块对存入所述存储单元内的n个参数di由小至大进行排列,并将n个钼粉颗粒按照等效直径划分为多个等效直径分布区间,且调用参数计算模块计算得出各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比;再调用统计模块以等效直径分布区间为横坐标且以各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比为纵坐标,制作钼粉颗粒的体积分布图;同时,通过与所述数据处理器相接显示器对所制作出的钼粉颗粒的体积分布图进行同步显示;
步骤6033中对所述显示器所显示钼粉颗粒的体积分布图进行分析,并相应对所检测钼粉所处批次钼粉的粒度分布进行判断,当体积百分比Tj在等效直径为30μm~80μm的区间范围内出现最大值时,则需对被检测钼粉的圆度参数进行分析,否则不需进行圆度参数分析。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤6033中对所检测钼粉进行圆度参数分析时,调用参数计算模块且按照公式
Figure BSA00000269301000041
计算得出n个钼粉颗粒边界线的圆度Ai,并将计算得出的n个参数Ai同步存入所述存储单元内;之后,调用数值比较模块对存入所述存储单元内的n个参数Ai由小至大进行排列,并按照参数Ai将n个钼粉颗粒边界线划分入[0,0.75]、[0,0.80]、[0,0.85]、[0,0.90]和[0,0.95]五个圆度分布区间内,再调用参数计算模块计算得出各圆度分布区间内所包括钼粉颗粒的总数量与n之间的数量百分比Tj,其中j=1、2、3、4或5;再调用统计模块以圆度分布区间为横坐标且以各圆度分布区间所对应的Tj为纵坐标,制作钼粉颗粒的圆度分布图;同时,通过与所述数据处理器相接显示器对所制作出的钼粉颗粒的圆度分布图进行同步显示,根据所显示的钼粉颗粒的圆度分布图进行分析,并相应对所检测钼粉在所处批次的圆度分布进行判断。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤一中所述密闭样品腔的侧壁上设置有一个观察窗。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤一中所述密闭样品腔由透明玻璃加工制作而成。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤602中在所述钼粉颗粒边界线提取过程中,还需对所提取出的所有钼粉颗粒边界线进行编号。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤6033中所述等效直径分布区间为在[0,100]μm范围内所划分的区间[0,2]μm、[2,5]μm、[5,10]μm、[10,20]μm、[20,30]μm、[30,50]μm、[50,70]μm、[70,80]μm、[80,90]μm和[90,100]μm。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤四中所述测量区的形状为矩形且数量为3~5个。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤一中所述的平板载玻片布设在所述密闭样品腔底部。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤二中所述的通过所述高压气流对位于所述密闭分散腔顶部的钼粉进行分散时,采用所述气压管道所喷射的所述高压气流对钼粉进行吹散,吹散时间为0.1s~0.5s;且采用所述高压气流对钼粉进行吹散时,所述高压气流先将所述锡纸吹破;步骤三中进行样品静置时,步骤二中被高压气流吹散的钼粉再自由沉降至所述平板载玻片上。
上述一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征是:步骤6033中当与圆度分布区间[0,0.90]相对应的数量百分比Tj>30%时,则所检测钼粉为不合格产品。
本发明与现有技术相比具有以下优点:
1、设计合理、操作简单且实现方便,所使用的设备简单且投入成本低。可测量5~8万个钼粉单个颗粒形貌参数,具有可重复性。
2、计算速度快,能简单快速制作出钼粉颗粒的体积分布图和圆度分布图,所制作的钼粉颗粒的体积分布图和圆度分布图的精算精度高,误差小,能有效解决采用人工方式对钼粉颗粒的形貌参数进行人工测量分析时所存在的劳动强度高、计算速度慢、易出现错误、所计算数据不准确等多种缺陷和不足。
3、显示效果直观,通过显示器对所制作出钼粉颗粒的体积分布图和圆度分布图进行同步直观显示。
4、使用效果好且实用价值高,提供了一种基于粉末微观结构差异鉴定钼粉品质等级的检测方法,能有效解决现有钼粉检测方法不能对钼粉微观结构对整体钼粉品质的影响进行分析的实际问题,有效提高后续钼制品的成品率,具体通过钼粉颗粒的体积分布图和圆度分布图对某批次钼粉的合格率进行判断并相应评判钼粉的质量优劣,指导后续生产,因而能大幅度减小后续钼制品的不合格率,具有很高的经济价值和社会价值,同时能简便分析被检测钼粉的等效直径和圆度分布情况。
5、能对多个批次钼粉进行圆度归类对比分析,例如可将所测试的10个批次钼粉归类为2大类,t1~t5五个钼粉样品的圆度值均小于0.915,t6~t10五个钼粉样品的圆度值均大于0.915,由于圆度值越接近1越有利于后续加工,所制成钼制品的合格率越高,经过后续质量跟踪,t1~t5批次钼粉后续加工钼制品的合格率明显偏低,小于30%;而t6~t10样品合格率为100%。
综上所述,本发明设计合理、实现方便、投入成本低且误差小、实用价值高,能有效解决现有钼粉检测方法不能满足对钼粉产品品质的影响及进行分析的实际问题,有效提高后续钼制品的成品率。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1为本发明对钼粉形貌进行定量化表征的方法流程图。
图2为本发明所表征的钼粉颗粒的体积分布图。
图3为本发明所表征的钼粉颗粒的圆度分布图。
具体实施方式
如图1所示的一种钼粉形貌定量化表征方法,包括以下步骤
步骤一、取样:称量0.1~0.6g被检测钼粉,所述被检测钼粉的费氏粒度为2.0μm~6.0μm且其松装比重为0.8g/cm3~1.6g/cm3;将所称量的钼粉样品放入一个密闭分散腔内侧顶部所布设在锡纸上,所述密闭样品腔上部布设有一个与高压气源相接的气压管道且所述气压管道与所述密闭样品腔的内部相通,所述气压管道的出气口位于所述锡纸上方。
实际使用过程中,所述密闭样品腔的侧壁上设置有一个观察窗。本实施例中,所述密闭样品腔由透明玻璃加工制作而成,且其形状为立方体。实际加工制作密闭样品腔时,可以根据实际具体需要确定所加工密闭样品腔的尺寸,并且所述密闭样品腔可由库存的硬质材料制成,且制作过程中在所述密闭样品腔的侧壁或顶板上安装一个观察窗并装上玻璃窗扇进行密封。实际操作时,将所称量的钼粉还需用平板刮平后倒入密闭分散腔顶部。本实施例中,所述平板载玻片布设在所述密闭样品腔底部。
步骤二、样品分散:通过所述气压管道向所述密闭样品腔内通入高压气流,且通过所述高压气流对位于密闭分散腔顶部的钼粉进行分散,所述高压气流的压力为4~7bar,且待所述的钼粉均被所述高压气流分散后,样品分散过程结束。
经样品分散后,在平板载玻片上的钼粉颗粒分布均匀。
步骤三、样品静置:样品分散结束后,关闭所述气源的控制阀门,并将所述密闭样品腔整体静置2~5分钟。
步骤二中所述的通过所述高压气流对位于所述密闭分散腔顶部的钼粉进行分散时,采用所述气压管道所喷射的所述高压气流对钼粉进行吹散,吹散时间为0.2s,实际对所述高压气流的喷射时间进行设定时,可以根据实际具体需要将喷射时间在0.1s~0.5s范围内进行相应调整;放入所述密闭分散腔内的钼粉数量越多,所述高压气流的喷射时间越长,反之亦然。吹散时间为0.1s~0.5s。且采用所述高压气流对钼粉进行吹散时,所述高压气流先将所述锡纸吹破。步骤三中进行样品静置时,步骤二中被高压气流吹散的钼粉再自由沉降至位于所述密闭分散腔内侧底部的平板载玻片上,且分散结束静置2~5分钟,以保证分散后的钼粉颗粒充分沉降至所述平板载玻片上。
步骤四、划定测量区:将所述平板载玻片自所述密闭样品腔内取出,且取出过程中应始终保持所述平板载玻片处于水平状态以防止所述平板载玻片上的钼粉发生变动;再在所述平板载玻片上划定多个测量区,多个所述测量区内所包括钼粉颗粒的总数量n为5万~8万个。
步骤五、图像采集及同步上传:采用粒形分析仪分别对多个所述测量区的钼粉分布图像进行摄取,并将所摄取的多个钼粉分布图像同步上传至数据处理器。
本实施例中,步骤一中所述平板载玻片为步骤五中所述粒形分析仪上配套使用的矩形载玻片,步骤四中所述测量区的形状为矩形且数量为5~8万个。实际测试过程中,可以根据实际需要对所述测量区的数量进行相应调整。
步骤六、钼粉形貌参数分析及同步显示,其参数分析过程如下:
601、图像预处理:将多个所述钼粉分布图像经去噪和滤波处理后,转化为对应的多个二灰度图像。
602、钼粉颗粒边界线提取:分别提取多个所述二灰度图像中黑色图像区域和白色图像区域的封闭交界线并进行标示,所标示出的所述封闭边界线为钼粉颗粒边界线,且多个所述二灰度图像中所提取出的钼粉颗粒边界线的总数量为n。
本实施例中,在所述钼粉颗粒边界线提取过程中,还需对所提取出的所有钼粉颗粒边界线进行编号。
603、钼粉颗粒的等效圆直径及圆度参数计算及存储,其参数计算及存储过程如下:
6031、结合步骤五中所述粒形分析仪摄取所述钼粉分布图像的比例尺,调用数据测量模块对n个钼粉颗粒边界线的实际周长ci和内部实际面积Si进行测量计算,且任一个钼粉颗粒边界线对应一个由ci和Si组成的实测参数组;测量计算的同时,将与n个钼粉颗粒边界线对应的n个实测参数组均同步存入与所述数据处理器相接的存储单元内;其中,i=1、2、3…n。
6032、调用参数计算模块且按照公式
Figure BSA00000269301000091
计算得出n个钼粉颗粒边界线的等效圆直径di,并将计算得出的n个参数di同步存入所述存储单元内。
6033、体积分布图制作及同步显示:调用数值比较模块对存入所述存储单元内的n个参数di由小至大进行排列,并将n个钼粉颗粒按照等效直径划分为多个等效直径分布区间,且调用参数计算模块计算得出各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比;再调用统计模块以等效直径分布区间为横坐标且以各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比为纵坐标,制作钼粉颗粒的体积分布图;同时,通过与所述数据处理器相接显示器对所制作出的钼粉颗粒的体积分布图进行同步显示。
本实施例中,步骤6033中所述等效直径分布区间为在[0,100]μm范围内所划分的区间[0,2]μm、[2,5]μm、[5,10]μm、[10,20]μm、[20,30]μm、[30,50]μm、[50,70]μm、[70,80]μm、[80,90]μm和[90,100]μm。实际操作过程中,也可以根据具体实际需要,对所述等效直径分布区间的长度进行相应调整。通常来说,被检测钼粉的平均粒度越小,则所述等效直径分布区间的长度越小,反之亦然。
步骤6033中对所述显示器所显示钼粉颗粒的体积分布图进行分析,并相应对所检测钼粉所处批次钼粉的粒度分布进行判断,当体积百分比Tj在等效直径为30μm~80μm的区间范围内出现最大值时,则需对被检测钼粉的圆度参数进行分析,否则不需进行圆度参数分析。具体来说,当体积百分比Tj在等效直径为30μm~80μm的区间范围内出现最大值时,则说明所检测钼粉中所含颗粒较大的钼粉颗粒较多,则需对被检测钼粉的圆度参数进行分析。
对所检测钼粉进行圆度参数分析时,调用参数计算模块且按照公式
Figure BSA00000269301000093
计算得出n个钼粉颗粒边界线的圆度Ai,并将计算得出的n个参数Ai同步存入所述存储单元内;之后,调用数值比较模块对存入所述存储单元内的n个参数Ai由小至大进行排列,并按照参数Ai将n个钼粉颗粒边界线划分入[0,0.75]、[0,0.80]、[0,0.85]、[0,0.90]和[0,0.95]五个圆度分布区间内,再调用参数计算模块计算得出各圆度分布区间内所包括钼粉颗粒的总数量与n之间的数量百分比Tj,其中j=1、2、3、4或5;再调用统计模块以圆度分布区间为横坐标且以各圆度分布区间所对应的Tj为纵坐标,制作钼粉颗粒的圆度分布图;同时,通过与所述数据处理器相接显示器对所制作出的钼粉颗粒的圆度分布图进行同步显示,根据所显示的钼粉颗粒的圆度分布图进行分析并相应对所检测钼粉所处批次钼粉的圆度分布进行判断。当与圆度分布区间[0,0.90]相对应的数量百分比Tj>30%时,则所检测钼粉为不合格产品。
实践中,对制作出的钼粉颗粒的圆度分布图进行分析,当分析分析得出钼粉颗粒圆度Ai在[0,0.90]区间内的颗粒数占全集比例达到30%,即[0,0.90]区间对应的数量百分比T4大于30%时,说明被检测钼粉所处批次钼粉的产品不合格率大于80%。此时,将圆度值Ai在[0,0.90]区间的颗粒数比例大于30%的样品图像及数据单独保存在所述存储单元内,定义为不合格样品参考库,新测样品数据可直接利用所述数据处理器与该不合格数据库对比,给出合格与不合格的参考。
采用上述步骤一至步骤六分别对a、b、c和d四个批次钼粉进行形貌定量化表征,且相应得出的钼粉颗粒的体积分布图见图2、钼粉颗粒的圆度分布图见图3,图2中30μm~80μm的等效直径分布区间即大粒度范围内体积分布图出现峰值,则需进行圆度参数分析。经对钼粉颗粒的体积分布图及圆度分布图进行分析得出,a和b两个批次钼粉为合格产品,c和d两个批次钼粉为不合格产品。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例,并非对本发明作任何限制,凡是根据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化,均仍属于本发明技术方案的保护范围内。

Claims (10)

1.一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:
步骤一、取样:称量0.1~0.6g被检测钼粉,所述被检测钼粉的费氏粒度为2.0μm~6.0μm且其松装比重为0.8g/cm3~1.6g/cm3;将所称量的钼粉样品放入一个密闭分散腔内侧顶部所布设在锡纸上,所述密闭样品腔上部布设有一个与高压气源相接的气压管道且所述气压管道与所述密闭样品腔的内部相通,所述气压管道的出气口位于所述锡纸上方;
步骤二、样品分散:通过所述气压管道向所述密闭样品腔内通入高压气流,且高压气流对位于所述密闭分散腔顶部的钼粉进行分散,所述高压气流的压力为4~7bar,且待所述密闭分散腔顶部的钼粉均被所述高压气流分散且自由落体至布设于所述密闭分散腔底部的平板载玻片上后,样品分散过程结束;
步骤三、样品静置:样品分散结束后,关闭所述气源的控制阀门,并将所述密闭样品腔整体静置2~5分钟;
步骤四、划定测量区:将所述平板载玻片自所述密闭样品腔内取出,且取出过程中应始终保持所述平板载玻片处于水平状态以防止所述平板载玻片上的钼粉位置发生变动;再在所述平板载玻片上划定多个测量区,多个所述测量区内所包括钼粉颗粒的总数量n为5万~8万个;
步骤五、图像采集及同步上传:采用粒形分析仪分别对多个所述测量区的钼粉分布图像进行摄取,并将所摄取的多个钼粉分布图像同步上传至数据处理器;
步骤六、钼粉形貌参数分析及同步显示,其参数分析过程如下:
601、图像预处理:将多个所述钼粉分布图像经去噪和滤波处理后,转化为对应的多个二灰度图像;
602、钼粉颗粒边界线提取:分别提取多个所述二灰度图像中黑色图像区域和白色图像区域的封闭交界线并进行标示,所标示出的所述封闭边界线为钼粉颗粒边界线,且多个所述二灰度图像中所提取出的钼粉颗粒边界线的总数量为n;
603、钼粉颗粒的等效圆直径及圆度参数计算及存储,其参数计算及存储过程如下:
6031、结合步骤五中所述粒形分析仪摄取所述钼粉分布图像的比例尺,调用数据测量模块对n个钼粉颗粒边界线的实际周长ci和内部实际面积Si进行测量计算,且任一个钼粉颗粒边界线对应一个由ci和Si组成的实测参数组;测量计算的同时,将与n个钼粉颗粒边界线对应的n个实测参数组均同步存入与所述数据处理器相接的存储单元内;其中,i=1、2、3…n;
6032、调用参数计算模块且按照公式
Figure FSA00000269300900021
计算得出n个钼粉颗粒边界线的等效圆直径di,并将计算得出的n个参数di同步存入所述存储单元内;
6033、体积分布图制作及同步显示:调用数值比较模块对存入所述存储单元内的n个参数di由小至大进行排列,并将n个钼粉颗粒按照等效直径划分为多个等效直径分布区间,且调用参数计算模块计算得出各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比;再调用统计模块以等效直径分布区间为横坐标且以各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比为纵坐标,制作钼粉颗粒的体积分布图;同时,通过与所述数据处理器相接显示器对所制作出的钼粉颗粒的体积分布图进行同步显示;
步骤6033中对所述显示器所显示钼粉颗粒的体积分布图进行分析,并相应对所检测钼粉所处批次钼粉的粒度分布进行判断,当体积百分比Tj在等效直径为30μm~80μm的区间范围内出现最大值时,则需对被检测钼粉的圆度参数进行分析,否则不需进行圆度参数分析。
2.按照权利要求1所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤6033中对所检测钼粉进行圆度参数分析时,调用参数计算模块且按照公式
Figure FSA00000269300900031
计算得出n个钼粉颗粒边界线的圆度Ai,并将计算得出的n个参数Ai同步存入所述存储单元内;之后,调用数值比较模块对存入所述存储单元内的n个参数Ai由小至大进行排列,并按照参数Ai将n个钼粉颗粒边界线划分入[0,0.75]、[0,0.80]、[0,0.85]、[0,0.90]和[0,0.95]五个圆度分布区间内,再调用参数计算模块计算得出各圆度分布区间内所包括钼粉颗粒的总数量与n之间的数量百分比Tj,其中j=1、2、3、4或5;再调用统计模块以圆度分布区间为横坐标且以各圆度分布区间所对应的Tj为纵坐标,制作钼粉颗粒的圆度分布图;同时,通过与所述数据处理器相接显示器对所制作出的钼粉颗粒的圆度分布图进行同步显示,根据所显示的钼粉颗粒的圆度分布图进行分析,并相应对所检测钼粉在所处批次的圆度分布进行判断。
3.按照权利要求1或2所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤一中所述密闭样品腔的侧壁上设置有一个观察窗。
4.按照权利要求1或2所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤一中所述密闭样品腔由透明玻璃加工制作而成。
5.按照权利要求1或2所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤602中在所述钼粉颗粒边界线提取过程中,还需对所提取出的所有钼粉颗粒边界线进行编号。
6.按照权利要求1或2所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤6033中所述等效直径分布区间为在[0,100]μm范围内所划分的区间[0,2]μm、[2,5]μm、[5,10]μm、[10,20]μm、[20,30]μm、[30,50]μm、[50,70]μm、[70,80]μm、[80,90]μm和[90,100]μm。
7.按照权利要求1或2所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤四中所述测量区的形状为矩形且数量为3~5个。
8.按照权利要求1或2所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤一中所述的平板载玻片布设在所述密闭样品腔底部。
9.按照权利要求8所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤二中所述的通过所述高压气流对位于所述密闭分散腔顶部的钼粉进行分散时,采用所述气压管道所喷射的所述高压气流对钼粉进行吹散,吹散时间为0.1s~0.5s;且采用所述高压气流对钼粉进行吹散时,所述高压气流先将所述锡纸吹破;步骤三中进行样品静置时,步骤二中被高压气流吹散的钼粉再自由沉降至所述平板载玻片上。
10.按照权利要求1或2所述的一种钼粉形貌定量化表征的方法,其特征在于:步骤6033中当与圆度分布区间[0,0.90]相对应的数量百分比Tj>30%时,则所检测钼粉为不合格产品。
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