CN101930764A - 再现及记录与再现装置、计算温度特性补偿运算系数的方法 - Google Patents

Abstract

在此提供了记录与再现装置、计算温度特性补偿运算系数的方法及再现装置。所述记录与再现装置包括：转动驱动单元；光学拾取单元；调节单元，其补偿温度变化所引起的激光特性变化；温度检测单元，其检测光学拾取单元的温度；估算值生成单元，其基于反射光信息而生成估算值；以及控制单元。所述控制单元执行温度获取处理；最佳点调节处理；用于获取停转期间的所检测温度的温度获取处理；以及用于针对调节值执行温度补偿的温度特性补偿运算系数计算处理。

Description

再现及记录与再现装置、计算温度特性补偿运算系数的方法

技术领域

本发明涉及通过激光照射对光盘记录介质执行记录和再现的记录与再现装置，更具体而言，涉及具有补偿温度变化所引起的激光特性(如，球面像差、聚焦偏置和倾斜度)变化的调节单元的记录与再现装置。此外，本发明涉及针对调节单元的调节值计算温度特性补偿运算系数的方法。进一步，本发明涉及具有调节单元以及执行光盘记录介质的再现的再现装置。

背景技术

作为用于记录和再现数字数据的技术，存在使用诸如CD(CompactDisc，致密盘)、MD(Mini-Disc，迷你盘)和DVD(Digital Versatile Disc，数字多功能盘)之类的光盘记录介质(下文简称为“光盘”)的数据记录技术。光盘是在由塑料(plastic)保护的金属薄膜构成的盘上照射激光并根据来自盘的反射光的变化读取信号的记录介质的通用名称。

光盘分为再现专用型(例如通常所说的CD-ROM和DVD-ROM)以及用户数据可记录型(通常所说的MD、CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+RW和DVD-RAM)。在可记录型光盘上，可以使用磁光记录方法、相变记录方法或色素膜变(pigment-film-change)记录方法来记录数据。色素膜变记录型光盘是所谓的一次写入记录型光盘。由于仅可以将数据记录在色素膜变记录型光盘上一次并且数据不能重写，因此色素膜变记录型光盘适用于数据保留。另一方面，根据磁光记录型光盘或相变记录型光盘，可以在其上重写数据，由此它们可用于包括各种内容数据(如，音乐、视频、游戏和应用程序)的记录在内的各种用途。

进一步，称作蓝光盘(注册商标，下文也称为“BD”)的高密度光盘近来已得到发展，并且已经获得了相当高的光盘容量。

诸如BD之类的高密度盘具有如下的盘结构：在盘厚度方向上提供了大约0.1mm的覆盖层，并且通过具有大约405nm波长的所谓的蓝紫激光与NA(Numerical Aperture，数值孔径)大约为0.85的物镜的组合而从盘播放数据(或者将数据记录在盘上)。

然而，众所周知，在执行光盘的记录和再现的记录与再现装置中，执行用于将激光的聚焦位置控制到盘的记录表面的聚焦伺服操作以及用于控制激光以跟踪盘上的轨道(其由坑串(pit string)或凹槽形成)的跟踪伺服操作。

关于聚焦伺服，已知的是：对于适当的伺服操作而言，需要将适当的聚焦偏置应用于聚焦回路。

具体而言，在高密度盘的情况下，需要执行球面像差的校正以应对覆盖层和具有多层结构的记录层中的厚度误差，由此已经开发了如下的记录与再现装置：其具有使用扩展器(expander)或液晶器件(其提供在光学拾取器的内部)的球面像差校正工具(例如，参见日本待审查专利申请公开2002-352449号和10-269611号)。

在配备有具有高NA的透镜的记录与再现装置(如，BD)中，聚焦偏置或球面像差的裕量(margin)很窄，由此其调节是必要的。

聚焦偏置调节方法已经是公知的，例如，如日本待审专利申请公开2000-285484号中那样。

此外，球面像差调节方法已经是公知的，例如，如日本待审专利申请公开9-251645号中那样。

此外，在执行倾斜度校正以抑制彗形像差(coma aberration)的光盘记录与再现装置也已经是公知的。作为倾斜度校正方法的示例，调节光盘的斜率的方法、通过插在光程上的液晶器件执行像差校正的方法已经是公知的。

这里，根据调节上述光学值(如，聚焦偏置、球面像差和倾斜度的值)的方法，通过在指定范围内改变调节值的同时读取信号获得在设置了各个调节值的情形下所记录的各个信号的估算值，并且基于获得估算值的结果而确定了最佳调节值。

如上所述，通过基于实际测量的估算值来获得最佳调节值，可以消减光学拾取器或光盘的对象的差异，还可以消减所述特性的连续变化。

例如，如图18所示那样，根据装载光盘的时刻(timing)执行基于上述实测估算值的各种调节值的调节操作。

在对应启动操作把调节值(如，聚焦偏置、球面像差和倾斜度的值)调节到最佳值之后，执行记录与再现操作。

此外，在启动操作开始之前，执行用于进行对应启动操作的初始调节值的设置(即，启动初始调节值的设置)，这将在稍后描述。

然而，已知调节值(如聚焦偏置、球面像差和倾斜度的值)的最佳点依据温度变化而变化。即，温度变化的发生导致诸如物镜之类的光学组件的特性变化，而特性变化的发生导致最佳点的变化。此外，最佳点的变化还由于激光根据温度变化的波长变化而发生。

最佳点依据温度变化的调节值称作“特性变化温度相关调节值”。

图19是针对特性变化温度相关调节值的温度变化图示最佳点的变化特性的示图。

在这种情况下，在图19中，作为特性变化温度相关调节值的示例，例举了球面像差校正值(下文也称为“SA”)。

在图19中，黑实线所示的“出货期间对象A的特性”表示针对作为出货(shipment)期间对象A的光学拾取器温度变化的最佳SA的变化特性，而黑色点划线所示的“出货期间对象B的特性”表示作为出货期间对象B的光学拾取器的温度最佳SA特性。

此外，黑色点划线所示的“出货期间的平均特性”表示多个光学拾取器的平均温度最佳SA特性。

此外，灰色实线所示的“出货期间连续改变的对象A的特性”表示在自出货起经过预定时间后对象A的温度最佳SA特性，而灰色点划线所示的“连续改变的对象B的特性”以相同的方式表示在自出货起经过预定时间后对象B的温度最佳SA特性。

如图19中所示，针对温度变化的最佳SA的变化特性(即，温度最佳SA特性)可近似为直线。

此外，如图中所示，温度最佳SA特性对于光学拾取器的每一对象而言通常是不同的，并且即使在相同对象的情况下，也发生连续变化。

此外，通常在出货期间，各个对象(在图中，对象A和对象B)的特性不同于连续变化后的平均特性(即，直线的斜率和偏移两者)。即，各对象之间的差异变得较大。

此外，虽然在图19中未示出，但是由光盘的对象改变温度最佳SA特性。

发明内容

如上所述，可以如图18所示那样，通过启动操作期间的调节操作来补偿针对温度的最佳点的变化，但是问题是启动操作开始之前的初始调节值的设置。

根据启动操作开始之前的初始调节值的详细设置方法，例如，如图19所示那样预先执行针对每一对象的温度最佳值特性(直线)的测量，并且基于对应直线的信息和启动操作开始时实测温度的信息来设置初始调节值。

具体而言，在这种情况下，例如，在产品出货前的阶段中，针对每一对象在至少两个点的温度上执行对于最佳值的搜索，并且根据两个温度与通过最佳值搜索获得的最佳值(即，图19中直线上的两个点)的集合而获得针对每一对象的温度最佳值特性的直线的信息。其直线的信息存储在记录与再现装置中，并且与此对应，记录与再现装置基于直线的信息和启动操作开始时实测的温度来执行最佳调节值的计算和设置。

通过执行上述方法，可以获得根据光拾取器的对象的最佳补偿状态，作为启动操作开始时的温度补偿状态。

然而，在采用该方法的情况下，迫使在产品出货的阶段中当针对每一对象改变温度时的测量的执行(这是非常费力的任务)，因此实际上非常难以执行该方法。此外，即使可以执行该方法，迫使人工费用增加所引起的产品价格的急剧增大。

另一方面，作为与使用对于每一对象的实测直线信息来设置初始调节值的方法相反的方法，存在针对每一对象设置启动操作开始时的初始调节值作为公共固定值的方法。

然而，设置初始调节值作为固定值的方法不能执行温度补偿。

此外，由于初始调节值是固定值，因此，迫使很大裕量的设计以使得初始调节值能够对应于温度、对象和光盘的所有组合，。即，为了在这种情况下导出初始调节值，可能需要以非常高的精度来估计各种差异要素。

此外，由于需要采用很大的裕量，因此特定对象可能处于过补偿状态，而另一对象可能处于不足的补偿状态，这导致不能根据各个记录与再现装置的视点获得最佳补偿状态。

此外，作为上述两种方法的中间方法，可以采用使得记录与再现装置具有作为平均温度最佳值特性的直线信息的这一方法。

具体而言，根据光盘拾取器的数据单等计算出多个对象的平均特性(直线)，并且将作为平均特性的直线信息存储在各个记录与再现装置中。在这种情况下，记录与再现装置在启动操作开始时执行温度测量，基于直线信息和启动操作开始时所测的温度信息来计算和设置启动初始调节值。

图20是使用平均特性的方法的概念示意图。在图中，调节值是SA。

在图中，“出货期间的平均特性”(用黑色点划线表示)对应于设计中基于如上所述的数据单获得的平均特性。此外，在图20中，如图19所示的“连续变化的对象A的特性”(用灰色实线表示)也相比于对应的平均特性而示出。

在图中，白色环形印记表示基于作为平均特性的直线信息和启动操作开始时的所测温度来计算和设置的启动初始SA值。

此外，图21是图示启动操作期间对于最佳调节值(同样在这种情况下，SA)的调节操作的概念的示图。

在图21中，除了如图20中所示的平均特性(用黑色点化线表示)之外，进一步图示了：基于平均特性和连续变化的对象A的特性(用灰色实线表示)设置的启动操作开始时的初始SA(用白色环形印记表示)、甚至包括对于每一盘的差异的连续变化的对象A的特性(用粗黑实线表示)、以及启动操作期间最佳SA调节操作所提供的最佳SA(用黑色环形印记表示)。

根据使用如上所述的“平均特性”(设计中获得的直线信息)的方法中，可以省略在产品出货阶段中针对每一对象的测量工作。

此外，根据该方法，由于可以考虑到温度来执行初始调节值的设置，因此，相比于使用公共固定值的方法，可以设置更加适当的初始调节值。

然而，以与使用固定值的方法相同的方式，需要该方法采用覆盖了对于每一对象和每一光盘的各种差异的裕量，由此即使通过该方法，在各个记录与再现装置中可能也不能获得最佳补偿状态。具体而言，如果假设温度特性由于连续变化而恶化并且设置了相当大斜率的直线信息(例如，将斜率设置为与图21中对象A的特性的斜率一致)，那么特定对象(例如，图19中的对象B)在出货期间可能处于过补偿状态，或者可能处于与其相反的状态。从而，难以在各个记录与再现装置中使得对象处于最佳补偿状态。

鉴于上述情形，最好使得可以提供具有下列配置的记录与再现装置。

根据本发明的一实施方式，提供了如下的记录与再现装置，其包括：转动驱动单元，其驱动光盘记录介质转动；以及光学拾取单元，其配置为针对用于数据记录/读取的光盘记录介质执行激光照射和反射光检测。

此外，该记录与再现装置包括调节单元，其补偿温度变化所引起的激光特性变化。

此外，该记录与再现装置包括温度检测单元，其被安装用于执行光学拾取单元的温度检测。

此外，该记录与再现装置包括估算值生成单元，其基于从光学拾取单元获得的反射光信息，生成变成再现信号质量的指标的估算值.

此外，该记录与再现装置包括执行下列处理的控制单元。

即，该控制单元执行启动操作期间的温度获取处理，用于获取由温度检测单元检测到的所检测温度作为启动操作期间的温度信息，作为与作为用于在装载光盘记录介质后使得能够数据再现的预备操作所执行的启动操作对应的启动操作期间的温度信息。

此外，该控制单元执行启动操作期间的最佳点调节处理，用于将调节单元中设置的各调节值依次改变成不同值，基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点，并且控制调节单元以便设置作为最佳点的调节值。

此外，该控制单元执行停转期间的温度获取处理，用于在启动操作完成后满足为停止转动驱动单元转动的光盘记录介质的转动而预先确定的指定条件时，获取由温度检测单元检测到的所检测温度作为停转期间的温度信息。

此外，该控制单元执行停转期间的最佳点搜索处理，用于在满足指定条件时将调节值依次改变成不同值，并且基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点。

此外，该控制单元执行温度特性补偿运算系数计算处理，用于基于由启动操作期间的温度信息和启动操作期间的最佳点调节处理获得的关于启动操作期间的最佳点的信息、以及由停转期间的温度信息和停转期间的最佳点搜索处理获得的关于停转期间的最佳点的信息，来计算用于针对调节值执行温度补偿的温度特性补偿运算系数。

根据本发明的另一实施方式，提供了具有下列配置的再现装置。

即，根据本发明另一实施方式的再现装置包括：转动驱动单元，其驱动光盘记录介质转动；以及光学拾取单元，其配置为针对用于数据记录/读取的光盘记录介质执行激光照射和反射光检测。

此外，该再现装置包括调节单元，其补偿温度变化所引起的激光特性变化。

此外，该再现装置包括温度检测单元，其被安装用于执行光学拾取单元的温度检测。

此外，该再现装置包括估算值生成单元，其基于从光学拾取单元获得的反射光信息，生成变成再现信号质量的指标的估算值。

此外，该再现装置包括执行下列处理的控制单元。

即，控制单元执行启动操作期间的温度获取处理，用于获取由温度检测单元检测到的所检测温度，作为与作为用于在装载光盘记录介质后使得能够数据再现的预备操作所执行的启动操作对应的启动操作期间的温度信息。

此外，控制单元执行启动操作期间的最佳点调节处理，用于将调节单元中设置的各调节值依次改变成不同值，基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点，并且控制调节单元以便设置作为最佳点的调节值。

此外，控制单元执行停转期间的温度获取处理，用于在启动操作完成后满足为停止转动驱动单元转动的光盘记录介质的转动而预先确定的指定条件时，获取由温度检测单元检测到的所检测温度作为停转期间的温度信息。

此外，控制单元执行停转期间的最佳点搜索处理，用于在满足指定条件时将调节值依次改变成不同值，并且基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点。

此外，控制单元执行温度特性补偿运算系数计算处理，用于基于由启动操作期间的温度信息和启动操作期间的最佳点调节处理获得的关于启动操作期间的最佳点的信息、以及由停转期间的温度信息和停转期间的最佳点调节处理获得的关于停转期间的最佳点的信息，来计算用于针对调节值执行温度补偿的温度特性补偿运算系数。

如上所述，根据本发明的各实施方式，对于诸如球面像差、聚焦偏置和倾斜度之类的特性变化温度相关调节值，执行基于实测估算值的启动操作期间的最佳点的调节操作(即，最佳点的搜索和设置)，并且即使在停转期间也执行基于实测估算值对于最佳点的搜索。另外，在启动操作期间或停转期间，测量了此时的温度。此外，基于关于启动操作期间最佳点和温度的信息以及关于停转期间最佳点和温度的信息而计算出温度特性补偿运算系数。即，获取温度最佳值特性的近似直线上的两个点，并且根据这两个点计算出温度特性补偿运算系数(即，直线的斜率)。

如上所述，根据本发明，对于根据光学拾取器的对象以及随着时间的经过而改变的温度最佳值特性，可以获得指示反映(对象及那时的)实际温度最佳值特性的斜率的温度特性补偿运算系数。于是，通过将如上计算出的温度特性补偿运算系数用于计算启动开始时的初始调节值，可以执行与针对光学拾取器的各个对象的特性差异或连续特性变化相对应的初始条件值的更精确设置。

如上所述，根据本发明，在针对特性变化温度相关调节值(其最佳点依据温度而改变)的启动开始时的温度补偿中，可以设置温度特性补偿运算系数作为反映实际温度最佳值特性的系数，由此对光学拾取器的每一对象执行最佳温度补偿。

同时，可以消除根据连续变化等的补偿量的变化，从而，可以保持通常稳定的记录或再现性能。

此外，根据本发明，即使是具有较坏温度最佳值特性(即，具有相对于温度变化的最佳值的较大变化)的光学拾取器或者具温度最佳值特性的较大连续变化的光学拾取器，也可以根据对象执行最佳温度补偿，由此可以在产量改进的情况下寻求产品的成本降低。

附图说明

图1是图示根据本发明实施方式的记录与再现装置的内部配置的框图；

图2是图示根据本发明实施方式的记录与再现装置中所提供的光学拾取器的内部配置(主要是光学系统的配置)的示图；

图3是图示根据本发明实施方式的记录与再现装置中所提供的伺服电路的内部配置的框图；

图4A和4B是示意性图示根据本发明第一实施方式的温度补偿方法的示图；

图5是图示启动期间和停转期间所获取的两个点与实际温度最佳SA特性之间的关系的示图；

图6是在根据本发明实施方式的方法执行启动初始SA的计算和设置的情况下图示下一次启动期间的情形的示图；

图7是图示用于实现根据本发明第一实施方式的温度补偿方法的处理的顺序的流程图；

图8是图示用于实现根据本发明第二实施方式的温度补偿方法的处理的顺序的流程图；

图9是图示用于实现根据本发明第三实施方式的方法的处理的顺序的流程图；

图10是图示用于以相同方式实现根据本发明第三实施方式的方法的处理的顺序的流程图；

图11是实时调节操作的概念示意图；

图12是图示用于实现根据本发明第四实施方式的温度补偿方法的处理(即，用于计算新的实时调节运算系数的处理)的顺序的流程图；

图13是图示用于以相同方式实现根据本发明第四实施方式的温度补偿方法的处理(即，用于计算新的实时调节运算系数的处理)的顺序的流程图；

图14是图示用于实现根据本发明第四实施方式的温度补偿方法的处理(即，应当与实时调节操作的进行对应执行的处理)的顺序的流程图；

图15是图示作为针对N次停转执行温度特性补偿运算系数的计算的修改示例的、用于实现温度补偿方法的处理的顺序的流程图；

图16是图示针对每一介质类型和记录层存储了温度特性补偿运算系数的信息的示例的示图；

图17是图示针对光盘的每一对象存储了温度特性补偿运算系数的信息的示例的示图；

图18是图示启动操作的示图；

图19是图示针对特性变化温度相关调节值的温度变化的最佳点变化特性的示图；

图20是图示根据现有技术中将设计中确定的平均特性用于计算启动初始调节值的方法的概念(image)的示意图；以及

图21是图示启动操作期间对于最佳调节值的调节操作的概念的示意图。

具体实施方式

下文描述用于执行本发明的最佳模式(下文称作实施方式)。另外，将以下列顺序进行说明。

1.第一实施方式

1-1.记录与再现装置的配置

1-2.根据第一实施方式的温度补偿方法

1-3.处理顺序

2.第二实施方式

2-1.根据第二实施方式的温度补偿方法

2-2.处理顺序

3.第三实施方式

3-1.根据第三实施方式的温度补偿方法

3-2.处理顺序

4.第四实施方式

4-1.根据第四实施方式的温度补偿方法

4-2.处理顺序

5.修改示例

<1.第一实施方式>

[1-1.记录与再现装置的配置]

-装置的整体配置-

图1是图示根据本发明实施方式的记录与再现装置1的内部配置的框图。

参考图1，盘D是所谓的光盘记录介质(下文称为“光盘”)。所述光盘是将激光照射在由塑料(plastic)保护的金属薄膜所构成的盘上并且根据来自盘的反射光的变化而读取信号的记录介质的通用名称。

根据本发明实施方式的记录与再现装置1可对应于作为盘D的、以相位方法记录数据的光盘(即，可写盘)。在这种情况下，在盘D上形成倾斜(或者，斜)凹槽，并且该凹槽变成记录轨道。根据凹槽的倾斜，可能填充地址信息等作为所谓的ADIP信息。

除了可写盘之外，根据本发明实施方式的记录与再现装置1，也可对应于已经通过坑/台(pit/land)组合执行了信息记录的所谓ROM型(再现专用型)盘D。

盘D装载在转盘(未示出)上，并且在记录与再现操作期间，例如由主轴马达(SPM)2以恒定线性速率(CLV)转动。

此外，由光学拾取器(光学头)OP执行被填充为盘D上的凹槽轨道的倾斜的ADIP信息的读取、由相变标记所记录的信息的读取、或记录为坑/台组合的信息的读取。

此外，在记录期间，通过光学拾取器OP将用户数据记录在轨道上作为相变标记。

在光学拾取器OP中，形成：激光二极管，其为激光源；光学检测器，其用于检测反射光；物镜，其对应于激光的输出；以及光学系统(稍后描述)，其通过物镜将激光照射到盘的记录表面，并且将反射光引至光学检测器。

在光学拾取器OP中，将物镜通过两轴工具(two-axis tool)保持为可在跟踪方向上和聚焦方向上运动。

此外，整个拾取器OP通过滑动工具(sled tool)3可在盘径向方向上运动。

此外，在拾取器OP中，由来自激光驱动器13的驱动信号(即，驱动电流)驱动激光二极管发射激光。

在这种情况下，稍后描述，在拾取器OP中提供用于校正激光的球面像差的工具，并且在系统控制器10和伺服电路11的控制下校正球面像差。

此外，在本发明的实施方式中，将用于检测对应的拾取器OP的温度的温度传感器14安装在拾取器OP中。将温度传感器14检测到的温度信息提供给系统控制器10。

由光学拾取器OP获得的来自盘D的反射光信息通过光学检测器来检测，并且将根据接收光的量的电信号提供给矩阵电路4。

矩阵电路4配备有电流电压转换电路以及矩阵运算和放大电路，其与来自构成光学检测器的多个光感测元件的输出电流相对应，并生成矩阵运算处理所需信号。

例如，矩阵电路生成对应于再现数据的高频信号(其也就是所谓的再现数据信号或RF信号)、用于伺服控制的聚焦误差信号以及跟踪误差信号。

进一步，矩阵电路生成关于凹槽的倾斜的信号(即，推挽信号，push-pullsignal)，作为用于检测倾斜(即，摆动幅值)的信号。

将输出自矩阵电路4的再现数据信号提供至读取器/写入器(RW)电路5，将聚焦误差信号和跟踪误差信号提供给伺服电路11，并且将推挽信号提供给摆动电路8。

读取器/写入器电路5执行再现数据信号(即，RF信号)的二进制处理和PLL(Phase Locked Loop，锁相环)处理，并且生成再现时钟。将来自读取器/写入器电路5的二进制数据提供给调节/解调电路6。

在本发明的实施方式中，读取器/写入器电路5配备有用于测量RF信号的抖动值的估算器5a。估算器5a所测量到的抖动值被提供给系统控制器10。

调制/解调电路6配备有在再现操作期间用作解码器的功能部分、以及在记录操作期间用作编码器的功能部分。

在再现操作期间，调制/解调电路6基于再现时钟执行游程长受限码(runlength limited code)的解调作为解码处理。

此外，ECC编码器/解码器7在记录操作期间执行用于添加误差校正码的ECC编码处理，并在再现操作期间执行用于进行误差校正的ECC解码处理。

在再现操作期间，ECC编码器/解码器将调制/解调电路6解调的数据输入至内部存储器，并且执行误差检测/校正处理、去交错(deinterleaving)处理等以获得再现数据。

基于来自系统控制器10的指令来读取由ECC编码器/解码器7解码到再现数据的数据，然后将其传送给AV(Audio-Visual，视听)系统15。

摆动电路8处理从矩阵电路4输出的、作为与凹槽的倾斜有关的信号的推挽信号。摆动电路8将作为ADIP信息的推挽信号解调到ADIP地址所构成的数据流，然后将其提供给地址解码器9。

地址解码器9通过对所提供的数据执行解码而获得地址值，并且将该地址值提供给系统控制器10。

此外，地址解码器9使用从摆动电路8提供的摆动信号，通过PLL处理生成时钟，并且将该时钟例如作为记录期间的编码时钟而提供给各个单元。

在记录期间，从AV系统15传送记录数据，并且将其发送到ECC编码器/解码器7中的存储器(未示出)以便进行缓冲。

在这种情况下，ECC编码器/解码器7执行误差校正码、交错(interleave)或子码的添加，作为所缓冲记录数据编码处理。

此外，调制/解调电路6关于ECC编码数据执行RLL(1-7)PP方法等的指定游程长编码处理(即，调制处理)，并且将经处理的数据提供给读取器/写入器电路5。

在记录期间，使用如上所述那样从摆动信号中生成的时钟，作为编码时钟(其为编码处理的基准时钟)。

在执行了最佳记录功率关于记录层特性、激光斑点形状、记录线性速率等的细调或者激光驱动脉冲波的调节(其作为读取器/写入器电路5中的记录补偿处理)之后，将编码处理生成的记录数据作为激光驱动脉冲发送给激光驱动器13。

激光驱动器13将所提供的激光驱动脉冲提供给拾取器OP中的激光二极管以便执行激光发射。于是，在盘D上，形成根据记录数据的标记(即，相变标记)。

伺服电路11通过从矩阵电路4提供的聚焦误差信号和跟踪误差信号中生成用于聚焦、跟踪和滑动(sled)的各种伺服驱动信号，执行伺服操作。

即，伺服电路根据聚焦误差信号和跟踪误差信号生成聚焦驱动信号和跟踪驱动信号，并且驱动拾取器OP中的两轴工具的聚焦线圈和跟踪线圈。于是，由拾取器(光学检测器)OP、矩阵电路4、伺服电路11和两轴工具形成跟踪伺服回路和聚焦伺服回路。

此外，伺服电路11根据来自系统控制器10的跟踪(track)跳跃指令而关断跟踪伺服回路，并且输出跳跃驱动信号以执行跟踪跳跃操作。

此外，伺服电路11基于作为跟踪误差信号的低频分量获得的滑动误差信号或来自系统控制器10的存取执行控制而生成滑动信号，并驱动滑动工具3。虽然未在附图中示出，但是滑动工具3包括保持拾取器OP、滑动马达和传动齿轮的主轴，并且根据滑动驱动信号驱动滑动马达以执行拾取器OP的滑行运动。

主轴伺服电路12控制主轴马达2的CLV转动。

在盘D是可写盘的情况下，主轴伺服电路12获得在摆动信号的PLL处理中所生成的时钟作为主轴马达2的当前转动速度信息，并将当前转动速度信息与指定的CLV基准速度信息进行比较以生成主轴误差信号。

此外，在数据再现操作期间，读取器/写入器电路5中由PLL处理所生成的再现时钟(即，作为解码处理的基础的时钟)变成主轴马达2的当前转动速度信息，并且通过将当前转动速度信息与指定的CLV基准速度信息进行比较而生成主轴误差信息。

主轴伺服电路12通过输出根据主轴误差信号所生成的主轴驱动信号，来执行主轴马达2的CLV转动。

此外，主轴伺服电路12根据来自系统控制器10的主轴起动/制动(kick/brake)控制信号而生成主轴驱动信号，以便开始、停止、加速和减速等。

如上所述的伺服系统和记录与再现系统的各种操作都是通过微型计算机所组成的系统控制器10来控制的。

系统控制器10根据来自AV系统15的命令执行各种处理。例如，如果从AV系统15给出记录命令(即，写命令)，则系统控制器10将拾取器OP移至要记录数据的地址。然后，系统控制器10控制ECC编码器/解码器7和调制/解调电路6关于传送自AV系统15的数据(如，诸如MPEG2之类的各类型型的视频数据或音频数据)执行如上所述的编码处理。于是，将来自读取器/写入器电路5的激光驱动脉冲提供给激光驱动器13，并且执行盘D上的记录。

此外，例如，如果从AV系统15提供用于要求记录在盘D上的特定数据(如，MPEG2视频数据)的传输的读取命令，则系统控制器关于指令的地址执行寻求操作控制。即，系统控制器将指令发送到伺服电路11以执行拾取器OP对于寻求命令所指定的目标地址的存取操作。

然后，系统控制器执行用于将所指令数据区域中的数据传送至AV系统15的必要操作控制。即，系统控制器从盘D执行数据读取，并且使得读取器/写入器电路5、调制/解调电路6和ECC编码器/解码器7执行解码、缓冲等以传送必要的数据。

这里，在图1的示例中，例举了与AV系统15连接的记录与再现装置。然而，根据本发明实施方式的记录与再现装置可以连接至个人计算机等。

进一步，根据本发明的记录与再现装置可以不连接到其他设备。在这种情况下，可确定操作单元或显示单元，或者数据输入/输出接口部分的配置可与图1中所图示的不同。即，根据用户操作来执行记录或再现，并且可以形成用于各种数据的输入/输出的终端单元。

-光学拾取器的配置-

图2是图示如图1所示的光学拾取器OP的内部配置的示图。

在图2中，还图示了盘D的记录面(用点划线表示)。

在图2中，自半导体激光器(即，激光二极管)20输出的激光通过准直器透镜(collimator lens)21而变成平行光，通过光束分离器22传输，通过作为球面像差校正透镜组的可移动透镜23和固定透镜24传播，并且通过物镜26而被照射到盘D上。在这种情况下，球面像差校正透镜23和24称作扩展器。由于通过驱动可移动透镜23来执行球面像差校正，因此下文将可移动透镜23具体地表示为扩展器23。

来自盘D的反射光通过物镜26、固定透镜24和可移动透镜23从光束分离器22反射，并且被照射以便通过聚光透镜28而会聚到光学检测器29的光感测表面。

在如上所述的光学系统中，通过两轴工具27将物镜26可移动地支持在聚焦和跟踪方向中，由此执行聚焦伺服和跟踪伺服。

此外，球面像差校正透镜23和24用于调节激光的波面。即，可移动透镜23通过致动器(actuator)25而可在作为与光学轴平行的方向的J方向上移动，并且通过该移动，调节物镜26的对象点。

即，通过控制致动器25前向和后向移动，可以执行球面像差校正。

在图2中，虽然示例了通过所谓的扩展器执行球面像差校正的结构，然而，也可以采用使用液晶面板执行球面像差校正的结构。

即，将液晶面板插入到从半导体激光20到物镜26的光学路径，并且通过可变地调节透射激光的区域与遮蔽激光的区域之间的边界，来改变激光的直径以执行球面像差校正。

在这种情况下，关于驱动液晶面板的液晶驱动器执行控制以改变透射区域。

-伺服电路的内部配置-

图3示出如图1所示的伺服电路11的内部配置。

在图3中，还图示了如图1所示的系统控制器10。

如所示的那样，伺服电路11配备有A/D转换器30F、A/D转换器30T、DSP(数字信号处理器)31、D/A转换器32S、D/A转换器32F、D/A转换器32T、球面像差校正驱动器33S、聚焦驱动器33F和跟踪驱动器33T。

在图3中，来自如图1所示的矩阵电路4的聚焦误差信号FE通过伺服电路11中的A/D转换器30F输入到DSP 31。此外，以相同的方式，输出自矩阵电路4的跟踪误差信号TE通过A/D转换器30T输入至DSP 31。

已通过A/D转换器30F转换为数字信号的聚焦误差信号通过DSP 31中所提供的加法器31A输入至聚焦伺服操作单元31F。

聚焦伺服操作单元31F通过关于已经转换为数字信号的输入聚焦误差信号执行指定的操作(如，用于相位补偿的过滤等)或环路增益处理而生成并输出聚焦伺服信号。聚焦伺服信号经D/A转换器32F(其包括PWM、PDM)转换为模拟信号，并输入至聚焦驱动器33F以驱动聚焦致动器。即，将驱动电流提供至两轴工具27(其保持拾取器OP中的物镜26)的聚焦线圈，由此执行聚焦伺服操作。

此外，DSP 31中的跟踪伺服操作单元31T通过关于已经经由A/D转换器30T转换为数字数据的输入聚焦误差信号执行指定的操作(如，用于相位补偿的过滤等)或环路增益处理而生成并输出聚焦伺服信号。聚焦伺服信号经D/A转换器32T(其包括PWM、PDM)转换为模拟信号，并输入至跟踪驱动器33T以驱动跟踪致动器。即，将驱动电流提供给两轴工具27的跟踪线圈，由此执行跟踪伺服操作。

此外，DSP 31配备有用于聚焦偏置添加的功能、球面像差校正值的设置的功能和聚焦偏置和球面像差校正值的调节的功能。

加法器31A将聚焦偏置加至聚焦误差信号。相加误差偏移值在DSP 31中的聚焦偏置设置单元31B中设置。当聚焦偏置设置单元31B输出系统控制器10设置的聚焦偏置值时，将适当的聚焦偏置添加至聚焦伺服回路。

此外，在DSP 31的球面像差校正值设置单元31S中，由系统控制器10设置球面像差校正值。设置的球面像差校正值从DSP 31输入至D/A转换器32S以便被转换为模拟信号，然后将其提供至球面像差校正驱动器33S。

球面像差校正驱动器33S例如在如图2所示的球面像差校正工具的情况下用作如下的电路：该电路将驱动信号Sd提供至用于移动扩展器23的致动器25。在使用液晶面板的球面像差校正工具的情况下，球面像差校正驱动器用作如下的电路：该电路向液晶驱动器指令向液晶面板的必要单元供给电压的信号Sd。

于是，球面像差校正驱动器33S基于从球面像差校正值设置单元31S提供的球面相差校正值，来驱动拾取器OP中的球面相差校正工具。

[1-2.根据第一实施方式的温度补偿方法]

这里，在补偿温度变化所引起的激光特性变化的情况下，应当执行球面像差、聚焦偏置或光倾斜度的补偿。

下文参考图4A～图6，描述根据本发明实施方式的记录与再现装置1所执行的、针对特性变化温度相关调节值的详细温度补偿方法。

下文为了避免说明的复杂，仅将球面像差例举为温度变化所改变的特性，并且执行关于球面像差校正值的温度补偿。

此外，下文将“球面相差校正值”简单地表示为“SA”。

图4A和4B是示意性图示根据本发明第一实施方式的温度补偿方法的示图。

图4A示出第一次启动时的操作，而图4B示出下一次启动时的操作。

这里，启动(即，启动操作)是用于使得能够从盘D进行数据再现的预备操作，其例如依据盘D的装载而开始。

在说明根据本发明实施方式的详细温度补偿方法之前，描述用于本发明实施方式的温度补偿的“温度特性补偿运算系数”的示例以及使用温度补偿运算系数执行的、启动开始时计算“启动初始SA”的方法

首先，如先前参考图19所述的那样，用于特性变化温度相关调节值(如，球面相差校正值)的温度最佳值特性可以近似为直线。在基于此的示例中，通过下列等式(1)计算启动操作开始时设置的启动初始SA SA_start。

SA_start＝α_sa×(T_start-T_default)+SA_default…(1)

其中，在等式(1)中，

T_start：启动开始时的温度，

SA_default：温度T_default处的最佳SA的指定值，

T_default：计算SA-default时的温度，以及

α_sa：设计中所确定的温度特性补偿运算系数(直线的斜率)

在此情况下，温度特性补偿运算系数α_sa是考虑到(例如)多个光学拾取器OP的平均斜率(其是从光学拾取器OP的数据单(data sheet)等得到)或温度最佳SA特性的连续变化而确定的。即，可以认为等式(1)对应于用于基于作为图19中所示“出货期间的平均特性”的直线信息(最佳SA＝α_sa×温度+偏移)来计算启动初始SA值的等式。

为了使得可以通过等式(1)计算启动初始SA，已经将“α_sa”、“SA_default”和“T_default”信息存储在例如根据本发明实施方式的记录与再现装置1的系统控制器10中所提供的存储器中。

基于上述前提，描述图4A的第一次启动时的温度补偿。

在第一次启动时，如图4A中所示，使用默认温度特性补偿运算系数α_sa计算和设置启动初始SA。即，根据等式(1)，计算和设置启动初始SA SA_start。

具体而言，在第一次启动开始时，系统控制器10获取温度传感器14所检测到的温度信息，将所获取的温度信息保持为启动T_start开始时的温度。此后，基于关于启动T_start开始时的温度的信息以及等式(1)，系统控制器计算启动初始SA SA_start，关于伺服电路11(球面像差校正值设置单元31S)设置计算出的启动初始SA值。于是，将如图2所示的扩展器23驱动至基于启动初始SA值的位置，结果，针对启动调节SA调节了球面像差校正值。换言之，执行了启动初始SA的设置。

在启动操作期间，在启动初始SA的设置之后，执行对最佳SA的调节操作。即，执行基于实测估算值的最佳SA搜索操作以及由此得到的最佳SA设置操作。

为了实现最佳SA调节操作，系统控制器10依次关于伺服电路11设置不同的SA，并且获取在其不同SA的设置下由各个估算器5a计算出的估算值(在此情况下为抖动值)。此外，系统控制器根据估算值确定最佳值SA(例如，抖动值变成最小时的SA)，并且关于伺服电路11设置最佳SA。

这里，将对应启动操作期间通过最佳SA调节操作(即，搜索操作)获得的最佳SA表示为“SA_st_opt”。

这里，为了确认，在可如本发明实施方式中那样执行盘D上的记录的装置的情况下，可以在上述最佳SA调节操作期间将测试记录数据自发地记录在盘D上。于是，如果用于关于装载的盘D执行最佳SA搜索操作的数据处于未记录状态，则在执行搜索操作之前自发地记录测试记录数据。

此外，为了对应于启动操作，连同最佳SA调节操作一起在启动期间执行温度测量。即，为了对应于启动操作，系统控制器10通过温度传感器14获取所检测到的温度信息，并保持所获取的温度信息作为启动期间的温度。

假设启动期间的温度是“T_st_opt”。

在完成了如上所述的启动操作之后，执行盘D上的记录与再现操作。

在记录与再现操作完成之后，当满足预定的停转条件时，执行用于停止主轴马达2的转动的停转处理。

这里，在本发明的实施方式中，即使在停转期间，也执行如附图中所示的“停转期间的最佳SA搜索操作”。即，当满足停转条件(应当停止主轴马达2对于盘D的转动的预定条件)时，不立即执行停转处理，而是执行与启动操作期间相同的最佳SA搜索操作。

在这种情况下，当从AV系统(主机侧)15提供停转命令时，或者当完成记录与再现操作后经过预定时间(其为所谓的待机定时器的停转)时，可能满足停转条件。

基于实测估算值执行停转期间的最佳SA搜索操作。

具体而言，即使在这种情况下，系统控制器10关于伺服电路11依次设置不同SA，并且获取在其不同SA的设置下由各个估算器5a计算出的估算值。然后，系统控制器根据其估算值确定最佳SA。

假设通过停转期间的最佳SA搜索操作获得的最佳SA是“SA_sd_opt”。

此外，在停转期间，还执行停转期间的温度测量。具体而言，系统控制器10在停转期间获取由温度传感器14检测到的温度信息，并且将该温度信息保持为停转期间的温度。

假设停转期间的温度是“T_sd_opt”。

在如上所述那样执行停转期间的最佳SA搜索操作和温度测量之后，根据在启动期间保持的启动期间的最佳SA SA_st_opt和启动期间的温度T_st_opt的集合以及停转期间的最佳SA SA_sd_opt和停转期间的温度T_sd_opt的集合来计算新的温度特性补偿运算系数。

这里，光学拾取器OP的温度通常随着记录与再现装置1的启动(即，启动操作)之后时间的经过而逐渐增大。基于此，启动期间的温度T_st_opt和最佳SA_st_opt的集合以及停转期间的温度T_st_opt和最佳SA SA_sd_opt的获取对应于作为温度最佳SA特性的直线上的两个点的采样。

图5是图示启动期间和停转期间所获取的两个点与实际温度最佳SA特性之间的关系的示图。

在图示温度最佳SA特性的图5中，水平轴表示温度，而垂直轴表示最佳SA。作为温度最佳SA特性，如上述图21所示的那样，图示了“出货期间的平均特性”(用黑色点划线示出)、“连续改变的对象A的特性”(用灰色实线示出)以及包括对于各个盘的差异的“连续改变的对象A的特性”(用粗黑实线示出)。

在图中，包括对于各个盘的差异的“连续改变的对象A的特性”对应于实际的温度最佳SA特性。

如参考图5清楚示出的那样，可以理解：通过获取启动期间和停转期间的两个点并且使用该两个点求解同步等式而获得实际的温度最佳SA的关系等式。

具体而言，用下列等式(2)表示此时的温度最佳SA的关系等式。

SA＝(SA_sd_opt-SA_st_opt)/(T_sd_opt-T_st_opt)×T

+(SA_st_opt×T_sd_opt-SA_sd_opt×T_st_opt)/(T_sd_opt-T_st_opt)…(2)

这里，与作为直线的等式(2)的偏移(offset)对应的第二项“(SA_st_opt×T_sd_opt-SA_sd_opt×T_st_opt)/(T_sd_opt-T_st_opt)”包括所装载盘D的固有像差，因此难以将此项应用于另一盘D。相比之下，与等式(2)的直线的斜率对应的第一项(SA_sd_opt-SA_st_opt)/(T_sd_opt-T_st_opt)的系数表示光学拾取器OP的时间点处的最佳SA的温度相关性。

于是，在本发明的实施方式中，假设使用等式(2)的第一项的系数作为计算下一次启动初始SA时的新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev。即，

α_sa_rev＝(SA_sd_opt-SA_st_opt)/(T_sd_opt-T_st_opt)…(3)

系统控制器10将等式(3)计算出的温度特性补偿运算系数α_sa_rev存储在例如上述存储器中，以便将其用于计算下一次启动初始SA。

如图4B中所示，在下一次启动操作开始时，系统控制器使用等式(3)计算出的温度特性补偿运算系数α_sa_rev来计算和设置启动初始SA。

具体而言，系统控制器使用通过将如上所述等式(1)中的温度特性补偿运算系数α_sa更新为温度特性补偿运算系数α_sa_rev而获得的下列等式(4)，来计算启动初始SA。

SA_start＝α_sa_rev×(T_start-T_default)+SA_default……(4)

因此，系统控制器10在下一次启动操作(即，停转后的启动操作)开始时，测量(获取)启动开始时的温度T_start，基于启动开始时的温度T_start和等式(4)来计算启动初始SA，并且将计算出的启动初始SA设置在伺服电路11中。

在下一次启动操作时，系统控制器以与如上所述第一次启动操作相同的方式，获取最佳SA调节操作期间或启动期间的温度。此外，在停转期间，系统控制器获取在停转期间的最佳SA搜索操作期间或停转期间的温度，并且计算和存储新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev。

在第一实施方式中，系统控制器重复：针对每一停转计算和存储新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev的操作，以及计算和设置使用所存储的温度特性补偿运算系数α_sa_rev的启动初始SA的操作。

图6是图示在通过根据本发明实施方式的方法如上所述那样执行启动初始SA的计算和设置的情况下在下一次启动期间的情形的示图。

以与图5相同的方式，水平轴表示温度，而垂直轴表示最佳SA。此外，图6中图示了“出货期间的平均特性”(用黑色点划线示出)、“连续改变的对象A的特性”(用灰色实线示出)以及包括对于各个盘的差异的“连续改变的对象A的特性”(用粗黑实线示出)。此外，附图中“通过根据本发明实施方式的方法所获取的直线”(用深黑色点划线表示)表示根据如上所述的等式(4)获得的直线。

如参考等式(4)可知的那样，将“通过根据本发明实施方式的方法获取的直线”的偏移设置为与设计中获得的“出货期间的平均特性”的偏移相同的值。然而，可以将斜率设置为与实际温度最佳SA特性一致(在附图中，包括对于各个盘的差异的“连续改变的对象A的特性”)。因此，与执行使用了“出货期间的平均特性”的补偿的情况相比，可以将启动开始时的SA设置为与实际最佳值更接近的值。即，启动开始时的补偿状态可以更好。

此外，如可在附图中清楚地看到的那样，对启动操作期间的最佳SA的调节宽度可以比使用“出货期间的平均特性”情况下的更小。结果，可以更容易地执行(即，可以稳定地执行)启动操作期间的最佳SA调节操作，并且可以缩短调节所需要的时间。

如上所述，根据基于本发明实施方式的温度补偿方法，关于所述温度最佳SA特性(其包括对于光学拾取器OP的各个对象的差异，并且在其之中出现连续变化)，在启动期间和停转期间实际获取直线上的两个点，并且根据该两个点计算出与直线的斜率对应的温度特性补偿运算系数。进一步，将对应温度特性补偿运算系数用于在启动开始时设置初始SA。

如上所述，作为温度最佳SA特性的直线的斜率表示光学拾取器OP固有的最佳SA(其包括连续改变的量)的温度相关性，并且通过基于如上所述那样获得的温度特性补偿运算系数来执行温度补偿，启动开始时的补偿状态对于光学拾取器OP(即，对于各个装置)相互相符(square)。即，在现有技术中使用“出货期间的平均特性”的情况下，光学拾取器OP的所有各个对象都处于最佳补偿状态是不可能的，而根据本发明的实施方式，可以有效地防止这种情形的发生。

此外，根据本发明的实施方式，由于可以针对光学拾取器OP的各个对象呈现最佳补偿状态，因此即使具有较坏温度最佳SA特性(即，具有相对于温度变化的最佳SA的较大变化)的光学拾取器OP或具有温度最佳SA特性的较大连续变化的光学拾取器OP，也可以根据其对象来执行最佳温度补偿。结果，可以通过产量的改进来寻求产品的成本降低。

这里，相对于特性变化温度相关调节值的温度最佳值特性(其包括温度最佳SA特性)可以根据盘D上的位置改变。例如，考虑到球面像差，由于盘D的表面上的最佳SA值的差异(其由盘D的覆盖层的厚度的不均匀性所引起)，因此温度最佳SA特性也依据盘D上的位置改变。

如上所述，在本发明的实施方式中，基于启动期间和停转期间直线上的各个点(即，温度和最佳SA的集合)的获取结果，来计算温度特性补偿运算系数。如根据上面描述可理解的那样，温度特性补偿运算系数最好表示仅针对每一光学拾取器OP的最佳SA的温度相关性。于是，理想的是，温度特性补偿运算系数不包括取决于如上所述盘D的位置的变化量。

考虑到这点，在本发明的实施方式中，使用盘D上的同一区域来执行用于获得直线上的两个点的启动操作期间的最佳SA搜索操作以及停转期间的最佳SA搜索操作。即，在启动操作期间的最佳SA搜索操作以及停转期间的最佳SA搜索操作之中，使用来自于盘D上的同一区域的读取数据生成估算值。

更具体而言，虽然最佳SA搜索操作通过依次改变SA，使用在各个SA的设置下计算出的估算值，确定最佳SA，但是在启动期间的搜索操作以及停转期间的搜索操作中使得在各个SA的设置下所读取的数据(地址)相互一致。

如上所述，通过使用盘D上的同一区域执行启动操作期间的最佳SA搜索操作以及停转期间的最佳SA搜索操作，取决于盘D的位置的变化量不包括在所搜索的最佳SA中，由此可以获得表示仅针对每一光学拾取器OP的最佳SA的温度相关性的系数，作为基于搜索的最佳SA计算出的温度特性补偿运算系数α_sa_rev。

于是，启动开始时使用温度特性补偿运算系数α_sa_rev的温度补偿可以得到更精确地执行。

[1-3.处理顺序]

图7是图示用于实现根据本发明第一实施方式的温度补偿方法的处理的顺序的流程图。

在图7中，将用于实现根据本发明第一实施方式的温度补偿方法的详细处理的顺序图示为如图1所示的系统控制器10基于例如内部存储器中所存储的程序而执行的处理的顺序。

参考图7，首先，在步骤S101中，处理处于待机状态，直到满足启动操作的开始条件为止。

启动操作的开始条件例如可以是新盘D的装载、停转后来自AV系统15的写命令/读命令的供给。

步骤S101中的处理例如作为开始条件是预先开始启动操作，并且该处理处于待机状态，直到满足预定条件为止。

在满足启动操作开始条件的情况下，在步骤S102中，执行用于获取温度的处理。即，获取温度传感器14的所检测温度信息，并且将所获取的温度信息保持为启动开始时的温度T_start。

在随后步骤S103中，确定系数计算是否已经完成。即，确定温度特性补偿运算系数α_sa_rev是否处于计算出的状态。

如果在步骤S103中确定尚未计算温度特性补偿运算系数α_sa_rev并且由此尚未完成系数的计算(如果获得了否定的结果)，那么处理前进到步骤S104，并且使用系数α_sa和温度T_start，通过等式(1)来计算和设置启动初始SA。即，如果系数α_sa_rev的计算未完成并且第一次启动操作开始，那么设置基于预定默认温度特性补偿运算系数α_sa的启动初始SA。

如图示的那样，在执行了对应步骤S104中的处理后，处理前进到步骤S106。

另一方面，如果在步骤S103中确定已经计算了温度特性补偿运算系数α_sa_rev并由此已经完成了系数的计算(如果得到肯定的结果)，则处理前进到步骤S105，并且使用最近的系数α_sa_rev和温度T_start，通过等式(4)计算和设置启动初始SA。

在执行了对应步骤S105中的处理后，处理前进到步骤S106。

在步骤S106中，执行用于进行启动期间的调节操作的处理。即，执行伺服电路11的控制和必要的操作，以使得执行如上所述的启动期间的最佳SA调节操作(最佳SA搜索和设置操作)。

根据启动操作期间的调节操作，通过最佳SA搜索操作获得启动期间的最佳SA SA_st_opt。在步骤S106中，保持如上所述获得的启动期间的最佳SA SA_st_opt。

这里，在如上所述的本发明的实施方式中，使用盘D上的同一区域执行启动期间的最佳SA搜索操作和停转期间的最佳SA搜索操作。于是，在步骤S106中，执行伺服电路11的控制，以使得关于预定盘D上的特定区域执行用于在最佳SA搜索操作期间生成估算值的数据读取。

在随后步骤S107中，执行温度获取。即，获取温度传感器14的所检测温度信息，并且将获取的温度信息保持为启动期间的温度T_st_opt。

在随后步骤S108中，处理处于待机状态，直到满足停转条件为止。

即，例如，处理处于待机状态，直到满足停转条件为止，诸如，来自(主机侧上)的AV系统15的停转命令的供给(如上所述)、从记录与再现操作结束起经过了预定时间、以及通过主轴马达2盘D的转动的停止。

如果满足停转条件，则在步骤S109中，执行用于进行停转期间的搜索操作的处理。即，执行伺服电路11的控制和必要的操作，以使得执行如上所述停转期间的最佳SA搜索操作。

由于通过停转期间的最佳SA搜索操作而获得了停转期间的最佳SASA_sd_opt，因此在步骤S109中，保持停转期间的对应最佳SA SA_sd_opt。

此外，在本发明的实施方式中，由于使用与用于启动期间的搜索操作的区域相同的区域执行停转期间的最佳SA搜索操作，因此在步骤S109中执行伺服电路11的控制，以使得关于上述指定区域执行用于在最佳SA搜索操作期间生成估算值的数据读取。

在随后步骤S110中，执行温度获取。即，获取温度传感器14的所检测温度信息，并且将获取的温度信息保持为停转期间的温度T_sd_opt。

在随后步骤S111中，基于SA_st_opt、T_st_opt、SA_sd_opt和T_sd_opt以及等式(2)，来计算新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev。

然后，在随后步骤S112中，将系数α_sa_rev例如存储在系统控制器10的内部存储器中。

在执行了对应步骤S112后，处理返回到上述步骤S101(图中的“返回”)。

这里，在上面的描述中，例举了在最佳SA搜索操作后执行启动期间的温度获取处理以及停转期间的温度获取处理。然而，可以在搜索操作的执行期间并行地执行温度获取处理，或者可以正好在执行搜索操作之前执行温度获取处理。

即，可以在与启动操作和停转操作对应的时刻(在包括其邻近之范围中)执行温度获取处理。

<2.第二实施方式>

[2-1.根据第二实施方式的温度补偿方法]

接下来描述本发明的第二实施方式。

在第二实施方式中，仅在启动操作和停转之间的温度差等于或大于预定值(将其表示为T_th)的情况下，才执行停转期间的最佳SA搜索操作和新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev的计算。

即，如果启动操作和停转之间的温度差小于T_th，则省略停转期间的最佳SA搜索操作，由此可以寻求处理的减少。

根据本发明第二实施方式的记录与再现装置的配置与根据本发明第一实施方式的相同，由此省略了其重复的描述。

[2-2.处理顺序]

图8是图示用于实现根据本发明第二实施方式的温度补偿方法的处理的顺序的流程图。

在图中，图示了如图1所示的系统控制器10基于例如内部存储器中存储的程序而执行的处理的顺序。

此外，在图中，对于与根据第一实施方式如上所述的处理相同的处理，给出了相同的步骤编号，并且将省略其说明。

在图8中，步骤S101～S108中的处理与根据第一实施方式的处理相同。

在第二实施方式中，当在步骤S108中满足停转条件时，在步骤S201中首先执行温度获取。即，获取(且保持)停转期间的温度T_sd_opt。

然后，在随后步骤S202中，确定是否满足条件“T_sd_opt-T_st_opt≥T_th”。即，基于在步骤S106中通过启动操作期间的最佳SA调节操作获得的启动期间的温度T_st_opt、在步骤S201中获取的停转期间的温度T_sd_opt、以及预先存储在例如内部存储器中的预定值T_th，来确定是否满足条件“T_sd_opt-T_st_opt≥T_th”。

在步骤S202中，如果确定不满足条件“T_sd_opt-T_st_opt≥T_th”并且获得了否定的结果，则处理返回到步骤S101。

另一方面，在步骤S202，如果确定满足条件“T_sd_opt-T_st_opt≥T_th”并且获得了肯定的结果，则处理前进到步骤S109。于是，执行停转期间的最佳SA搜索操作。

在执行了步骤S109中的处理之后，在步骤S111中执行新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev的计算，并且在步骤S112中存储系数α_sa_rev。

<3.第三实施方式>

[3-1.根据第三实施方式的温度补偿方法]

在第三实施方式中，使用过去计算出的温度特性补偿运算系数的平均值来设置启动操作开始时的初始调节值。

根据本发明第三实施方式的记录与再现装置的配置与本发明的第一实施方式相同，由此将省略其重复描述。

这里，在根据第三实施方式的记录与再现装置中，预先设置用于确定要计算平均值的过去的温度特性补偿运算系数的计算值的数目的值(将其视为m)。

在这种情况下，系统控制器10计算“温度最佳SA”集合和最近m个温度特性补偿运算系数α_sa_hist的平均值(在基于停转期间所获取的“温度最佳SA”的温度特性补偿运算系数的计算被执行m次时(即，温度特性补偿运算系数的有效历史记载数目变得等于或大于m时)，它们被保持为其历史记载)。然后，系统控制器使用该平均值作为用于计算启动开始时的启动初始SA的温度特性补偿运算系数α_sa_rev。

如上所述，通过计算过去计算出的m个温度特性补偿运算系数α_sa_hist的平均值作为用于计算启动初始SA的温度特性补偿运算系数α_sa_rev，可以获得更精确的温度特性补偿运算系数α_sa_rev，结果，启动开始时的温度补偿变得更加适当。

[3-2.处理顺序]

图9和图10的流程图图示了用于实现根据第三实施方式的方法的处理的顺序。

在图中，图示了如图1所示的系统控制器10基于例如内部存储器中存储的程序而执行的处理的顺序。

此外，在图中，关于与根据第一实施方式如上所述的处理相同的处理，给出了相同的步骤编号，并且将省略其说明。

如通过将图9和10与图8进行比较可知的那样，以将步骤S301～S304插入在根据本发明第二实施方式的处理顺序的步骤S109和S112之间的方式而确定第三实施方式中的处理顺序。

具体而言，在这种情况下，在如图9所示的步骤S109中执行了停转期间的搜索操作之后，在步骤S301中基于SA_st_opt，T_st_opt，SA_sd_opt，T_sd_opt以及等式(2)来计算温度特性补偿运算系数α_sa_rev。

然后，在随后步骤S302中，将计算出的温度特性补偿运算系数α_sa_hist添加至历史记载。

这里，在第三实施方式中，如上所述，使用最近m温度特性补偿运算系数α_sa_hist来计算温度特性补偿运算系数α_sa_rev。因此，温度特性补偿运算系数α_sa_hist的历史记载信息必须是据此可以至少掌握哪个温度特性补偿运算系数α_sa_hist对应于最近m个温度特性补偿运算系数α_sa_hist的信息。

于是，执行步骤S302中的处理以便掌握哪个温度特性补偿运算系数α_sa_hist对应于最近m个温度特性补偿运算系数α_sa_hist，并且将计算出的温度特性补偿运算系数α_sa_hist添加至历史记载。

具体而言，如果历史记载数目在将最新计算出的温度特性补偿运算系数α_sa_hist添加至历史记载时变成m+1，则从历史记载中排除最旧的温度特性补偿运算系数α_sa_hist，并且将最新计算出的温度特性补偿运算系数α_sa_hist添加至历史记载。于是，在历史记载数目变成m之后，仅最近的m个温度特性补偿运算系数α_sa_hist存在于历史记载中(即，仅存在平均值计算所需要的系数)，由此可以有效率地使用存储器。

另一方面，可以生成温度特性补偿运算系数α_sa_hist只对应于用于系数计算的时间信息的历史记载信息。在这种情况下，在计算系数α_sa_hist作为平均值时，可以基于时间信息识别出最近m个系数α_sa_hist。

在执行了步骤S303中的处理之后，处理前进到如图10中所示的步骤S303，并且确定历史记载数目是否等于或大于m。

在步骤S303中，如果确定历史记载不等于或大于m并且得到了否定的结果，则处理如图9中所示那样返回到步骤S101。

另一方面，如果在步骤S303中确定历史记载等于或大于m并且得到了肯定的结果，则处理前进到步骤S304，并且将最近m个系数α_sa_hist的平均值计算为系数α_sa_rev。

当在步骤S304中计算了系数α_sa_hist之后，在步骤S112中存储系数α_sa_rev，并且处理返回到步骤S101。

这里，在如图9和10所示的处理顺序中，提供了与根据本发明第二实施方式相同的步骤S201和S202，并且如果启动操作和停转之间的温度差小于预定值T_th，则不执行温度特性补偿运算系数α_sa_hist的计算。然而，步骤S201和S202中的处理可以省略，并且可以与温度差无关地执行温度特性补偿运算系数α_sa_hist的计算。

然而，根据考虑到如图9和10所示温度差的处理顺序，防止了将无效的温度特性补偿运算系数α_sa_hist添加至历史记载，由此防止将其包括在用于计算启动初始SA的温度特性补偿运算系数α_sa_rev的计算中，这导致启动开始时的补偿状态变得更加适当。

此外，根据图9和10的处理顺序，在历史记载数目变得大于m后，每当计算有效温度特性补偿运算系数α_sa_hist时，就执行使用最近m个温度特性补偿运算系数α_sa_hist计算新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev。然而，不需要每次均执行新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev的计算，而是可以在每当执行了温度特性补偿运算系数α_sa_hist的计算m次时执行。

<4.第四实施方式>

[4-1.根据第四实施方式的温度补偿方法]

在第四实施方式中，在执行所谓的实时调节操作的情况下，基于通过至此描述的方法获得的温度特性补偿运算系数来计算(即，更新)用于实时调节的实时调节运算系数。

这里，以在再现操作期间将诸如聚焦偏置和SA的调节值微小地增大/减小，并且获取相应获得的估算值(例如，抖动值)作为表示偏离最佳值的误差的方式，执行如日本待审专利申请公开2008-305477中所述的实时调节操作。然后，执行基于估算值的控制操作以实时计算最佳调节值。

如上所述，温度的最佳值依据盘D上的位置而改变。为了跟随最佳值依据盘D上位置的变化的这一目的而执行实时调节操作。

图11是本发明实施方式中所采用的实时调节操作的概念示意图。

即使在这种情况下，也将SA例举为由于温度的变化所改变的特性。

在图11中，水平轴表示温度(时间)，而垂直轴表示SA。图11还图示了最佳SA的变化轨迹(图中的粗实线)、根据实时调节操作设置的SA(实线)与控制操作计算出的SA(深点划线)之间的关系。

这里，由于图示的环境，最佳SA的变化轨迹看上去与温度变化成比例。然而，对应的最佳SA的变化轨迹实际通常包括取决于盘D上位置的变化量。如上所述，执行实时调节操作以便甚至跟随取决于盘D上位置的最佳值的变化量。

首先，在实时调节操作中，在再现操作期间，基于计算为此时间点上的最佳点的值以相同的幅度值(即，绝对值)增大/减小SA值。在图中，“控制操作计算出的SA”对应于“计算为此时间点上的最佳点的值”。

于是，如“根据实时调节操作设置的SA”所表示的那样，在实时调节操作执行期间所实际设置的SA基于特性值而以相同振荡宽度微小地改变。

在实时调节操作中，获取了微小地改变SA时的估算值(在本发明的实施方式中为抖动值)，并且基于估算值，通过控制操作计算出SA的最佳值。

在实时调节操作中，已经确定了用于如上述那样根据通过微小地改变SA获得的估算值来计算SA的最佳值的时段Ts(下文称为“搜索时段Ts”)。即，在实时调节操作中，针对每一搜索时段Ts依次计算新的最佳SA值。

这里，在根据本发明实施方式的实时调节操作中，作为用于计算最佳SA的控制运算等式，采用了与日本待审专利申请公开2008-305477中公开的相同的PI控制(比例/积分控制)类型的控制运算等式。

具体而言，

v(r)＝v(r-1)+Kp×(z(r)-z(r-1))+Ki×Ts×(z(r)+z(r-1))-2×z_t……(5)

其中，在等式(5)中，

v(r)：第r个搜索时段中的最佳SA，

v(r-1)：在第(r-1)个搜索时段中计算出的最佳SA，

Kp：比例增益系数，

Ki：积分增益系数，

z(r)：第r个搜索时段中各估算值之间的差异，

z(r-1)：第(r-1)个搜索时段中的各估算值之间的差异，以及

z_t：调节目标(估算值差异的目标值)。

这里，如图11所示，基于时间点的最佳SA而以相同振荡宽度增大/减小SA时获得的估算值(即，抖动值)是基于“0”而理想地以相同的振荡宽度增大/减小的值(抖动值在SA为最佳的情况下理想地变成最小值“0”)。

使用该点，在本发明的实施方式中，在计算出搜索时段Ts中获得的正侧估算值(即，在设置递增侧的SA时获得的估算值)的平均值以及负侧估算值的平均值(即，在设置递减侧的SA时获得的估算值)之后，将平均值之间的差值计算为表示偏离最佳SA的误差的估算指标。按照上述那样计算出的估算指标对应于等式(5)中的“估算值之间的差异”(Z(r)+z(r-1))。

如果作为该时间点上的最佳值计算出的SA(在图11中用点划线表示)与真实最佳SA(在图11中用粗实线表示)一致，则估算值之间的差值z变成最小值“0”。如果存在偏离真实最佳SA的误差，则差值变成具有根据误差方向的正/负极性并且具有根据误差量的绝对值的值。

此外，在等式(5)中，调节目标z_t是估算值之间的差异的目标值。在如本发明的实施方式中那样使用抖动量作为估算值的情况下，将对应调节目标值z_t设置为最小值“0”。

总之，在基于PI控制的实时调节操作中，基于指向当前搜索时段Ts(即，第r个搜索时段Ts)的时间上的最佳SA，以相同的幅度值(即，绝对值)来微小地增大/减小SA值，并且获取相应得到的平均值来计算估算值之间的差异z(r)。然后，使用估算值之间的对应差值z(r)、在已经获得的第(r-1)个搜索时段Ts中计算出的最佳SA值v(r-1)(如果r＝1，则使用通过启动操作期间的搜索获得的最佳SA)、第(r-1)个搜索时段Ts中的估算值之间的差值、比例增益系数Kp、积分增益系数Ki和调节目标值z_t，通过等式(5)来计算第r个搜索时段Ts中的最佳SA。

通过重复用于搜索时段Ts的上述操作，实现如图11所示的实时调节操作。

这里，在如上所述的实时调节操作中，等式(5)中的比例增益系数Kp和积分增益系数Ki变成用于将跟随性能(即，控制灵敏度)确定至最佳调节值的系数。下文将如上所述那样确定实时操作中的控制灵敏度的增益系数称作“实时调节运算系数”。

然而，在如日本待审专利申请公开2008-305477中所述的现有实时调节操作中，使用设计中确定的固定值作为实时调节运算系数。

此时，在确定作为固定值的实时调节运算系数时，例如如图5所示那样假设具有平均斜率的温度最佳值特性(诸如，“出货期间的平均特性”)，然后获得根据平均斜率的跟随性能(即，控制灵敏度)以将该值确定为实时调节运算系数。然而，例如在如上所述那样使用实时调节运算系数作为固定值的情况下，具有变得比平均斜率更大的斜率的对象拥有相对低的控制灵敏度，由此可能难以跟随最佳值的变化。

相反，在具有变得小于平均斜率的斜率的对象中，控制灵敏度可能变得很极端，在这种情况下，降低了调节操作的稳定性。

如关于这些点可以理解的那样，根据如上所述那样使用固定值的调节运算系数的现有实时调节操作，难以以与具有固定值的温度特性补偿运算系数相同的方式来对每一对象执行最佳调节操作。

为了解决该问题，在本发明的第四实施方式中，基于在如本发明先前实施方式中所述的启动操作和停转期间所获取的两个点，来计算根据实际温度最佳值特性的温度特性补偿运算系数α_sa_rev，然后基于对应温度特性补偿运算系数α_sa_rev而针对每一对象计算最佳实时调节运算系数值。

具体而言，用下列等式(6)和(7)计算新的实时调节系数(其为比例增益系数Kp_rev和积分增益系数Ki_rev)。

Kp_rev＝Kp×α_sa_rev/α_sa……(6)

Ki_rev＝Ki×α_sa_rev/α_sa……(7)

此时，为了确认，Kp(比例增益系数)和Ki(积分增益系数)是作为以与现有方法相同的方法确定的固定值的实时调节运算系数。在根据第四实施方式的记录与再现装置中，将作为固定值的实时调节运算系数预先确定为默认值。

这里，如上所述，基于温度最佳值特性的平均斜率(即，在本发明的实施方式中，温度特性补偿运算系数α_sa)，设置作为固定值的实时调节运算系数Kp和Ki的值。与此对应，在等式(6)和(7)中，将作为固定值的(默认)实时调节运算系数Kp和Ki乘以α_sa_rev/α_sa(对象的斜率/平均斜率)。于是，作为新的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev，可以计算出根据对象的实际斜率(其包括对象的连续改变的量)实现最佳控制灵敏度(即，跟随性能)的系数。

在计算出新的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev之后，执行使用这些实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev的实时调节操作。

即，在这种情况下的实时调节操作中，用下列等式(8)执行针对每一搜索时段Ts的最佳Sa的计算。

v(r)＝v(r-1)+Kp_rev×(z(r)-z(r-1))+Ki_rev×Ts×(z(r)+z(r-1))-2×z_t……(8)

根据如上所述的第四实施方式中，可以针对每一对象，用根据实际斜率(其包括连续改变的量)的最佳控制灵敏度实现实时调节操作。结果，可以实现相比于现有技术的高精度实时调节操作。

[4-2.处理顺序]

图12～图14是图示用于如上所述那样实现根据第四实施方式的温度补偿方法的处理的顺序的流程图。

在图中，图示了如图1所示的系统控制器10基于例如内部存储器中存储的程序而执行的处理的顺序。

此外，在图中，对于与根据第一实施方式如上所述的处理相同的处理，给出了相同的步骤编号，并且将省略其说明。

图12和图13的流程图图示用于计算新的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev的处理的顺序。

此外，图14图示要对应于实时调节操作的执行而要进行的处理的顺序。

首先，描述图12和13的流程图。

如可以通过将图12和13的流程图与如上所述的图9和10的流程图进行比较而得知的那样，以在如图9和10所示的根据本发明第三实施方式的处理顺序中的步骤S112之后添加步骤S401和S404的处理的方式，而确定图12和13中所示的处理顺序。

具体而言，在这种情况下，在图13中的步骤S112执行了温度特性补偿运算系数α_sa_rev的存储处理之后，在步骤S401中使用系数α_sa_rev，通过等式(6)和(7)计算实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev。

即，使用温度特性补偿运算系数α_sa_rev和预先存储在(例如)系统控制器10的内部存储器中的默认实时调节运算系数Kp和Ki，通过等式(6)和(7)计算新的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev。

然后，在步骤中，存储按照上面那样计算S402出的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev。

在步骤S402中的处理之后，处理返回到步骤S101。

然后，描述如图14所示那样与实时调节操作的执行对应的处理顺序。

首先，在步骤S501中，处理处于待机状态，直到满足实时调节操作的开始条件为止。

如从上面描述中可以理解的那样，在再现操作期间执行实时调节。实时调节操作开始条件例如可以是再现操作的开始(即，来自AV系统15的读取命令的供给等)。

步骤S501中的处理例如是开始实时调节(如，读取命令的供给)，并且处理处于待机状态，直到满足预定条件为止。

然后，当满足实时调节操作开始条件时，在步骤S502中确定是否已经在过去完成了实时调节运算系数的计算。即，确定是否已经执行了图13中的步骤S401以及是否已经完成了新的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev的计算。

在步骤S502中，如果确定尚未完成实时调节运算系数的计算并且获得否定的结果，则处理前进到步骤S503，并且使用默认实时调节运算系数Kp和Ki来执行实时调节操作。即，执行用于根据等式(5)为每一搜索时段Ts计算最佳SA的实时调节操作。

另一方面，在步骤S502中，如果确定已经完成了实时调节运算系数的计算并且得到了肯定的结果，则处理前进到步骤S504，并且使用最近的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev来执行实施调节操作。即，使用最近的实时调节运算系数Kp_rev和Ki_rev来执行用于根据等式(8)为每一搜索时段Ts计算最佳SA的实时调节操作。

虽然省略了利用图示的说明，但是这种情况下的系统控制器10实际上如图14中所示那样与步骤S503或S504中的处理并行地等待实时调节操作的停止条件的满足，并且在满足停止条件时，其执行用于停止实时调节操作的处理。实时调节操作的停止条件可以是再现操作的完成等。

这里，即使在如图12和13中所示的处理顺序中，也提供了与根据本发明第二实施方式相同的步骤S201和S202，并且如果启动操作和停转操作之间的温度差小于预定值T_th，则不执行温度特性补偿运算系数α_sa_hist的计算。然而，即使在这种情况下，也可以省略步骤S201和S202中的处理，并且可以与温度差无关地针对每一次执行温度特性补偿运算系数α_sa_hist的计算。

此外，在如图12和13所示的处理顺序中，以与第三实施方式相同的方式，使用m个温度特性补偿运算系数α_sa_hist的平均值作为新的温度特性补偿运算系数α_sa_rev。然而，以与第一实施方式中相同的方式，可以采用省略了这种平均值的计算的方法。

此外，在第四实施方式中，例举了基于PI控制执行实时调节操作。然而，也可以通过根据另一类型的控制操作(如，PID控制)来计算最佳值。即使在这种情况下，也通过与如上所述方法相同的方法，根据温度特性补偿运算系数计算出用于控制操作的实时调节运算系数，由此可以寻求实时调节操作的精度的改善。

<5.修改的实施方式>

虽然已经例举了本发明的各个实施方式，但是本发明不限于如上所述的详细实施方式。

例如，虽然例举了针对作为特性变化温度相关调节值的示例的球面像差校正值而仅执行温度补偿方法，但是本发明也可以适当地应用于针对其他特性变化温度相关调节值(如，聚焦偏置和倾斜度的值)执行温度补偿的这一情况。即，可以通过针对特性变化温度相关调节值、以与如上所述用于球面像差校正值的方法相同的方法执行温度补偿，来获得相同的效果。

虽然在图1中省略了其图示，但是可以由用于调节光盘(径向/切向方向上)的斜率的致动器(例如用于调节主轴马达的斜率)或者插入在用于校正慧形像差的光程中的液晶器件来组成用于倾斜度校正的配置。

就此而言，为了成本降低等目的，近来将塑料透镜用作物镜26。然而，在这种情况下，各对象在温度最佳值特性之间的差异(尤其是对于特性变化温度相关调节值之间的球面像差校正值)变得显著。于是，在使用塑料透镜作为物镜26的情况下，尤其是关于球面像差校正值执行温度补偿是有效的。

此外，如上所述，在计算新的温度特性补偿运算系数时，例举了使用启动操作期间的温度和通过调节操作获得的最佳值以及停转期间的温度和通过搜索操作获得的最佳值。例如，如本发明的实施方式中所例举的那样，在可以于盘D上执行记录的装置开始记录操作之前执行作为所谓的OPC(optimum Power Control，最佳功率控制)的最佳激光功率调节操作的情况下，可以在对应的OPC期间执行针对最佳调节值的调节操作。即，使用通过在对应的OPC期间执行针对最佳调节值的调节操作获得的OPC期间的最佳值和此时的温度信息(即，OPC期间的温度信息)，而不是启动操作期间的温度和最佳值信息，根据OPC期间的温度和最佳值的集合以及停转期间的温度和最佳值的集合的两个点，来计算新的温度特性补偿运算系数。

此外，在本发明的第一实施方式中，例举了针对每一停转执行新的温度特性补偿运算系数的计算。然而，如在图15中图示的那样，可以针对N次停转操作执行新的温度特性补偿运算系数的计算。

具体而言，在这种情况下，随着步骤S108中的处理满足停转条件，在步骤S601中确定停转的数目n是否变成预定值N(即，n＝N)。

在步骤S601中，如果确定不满足条件n＝N并且得到否定的结果，则处理前进到步骤S602以将停转的数目n增大1(即，n←n+1)，并且返回到步骤S101。

另一方面，在步骤S601中，如果确定满足条件n＝N并且得到了肯定的结果，则如图中所示那样执行步骤S109～步骤112中的处理。

通过执行上述操作，可以有效地降低停转期间的搜索操作的数目或者执行新的温度特性补偿运算系数的计算的次数。

这里，如可以根据至此的描述所理解的那样，通过计算第一次时的温度特性补偿运算系数、根据光学拾取器OP的对象的温度最佳值特性的温度特性补偿运算系数，并且通过计算第一次之后的温度特性补偿运算系数，对于连续变化的温度最佳值特性的跟随变成可能。

此时，期望温度最佳值特性的连续变化通常长于执行停转时的时段。于是，通过使得关于N次停转执行停转期间的搜索操作和新的系数计算，可以寻求温度最佳值特性的连续变化的跟随，以及根据停转期间搜索操作数目和新的系数的计算的数目的降低的处理负荷的降低。

此外，可以针对每一介质类型或所装载光盘的记录层、或者针对多个光盘对象，来单独地执行根据本发明实施方式的温度补偿。

这里，“介质类型”可以简单地分类为CD(Compact Disc，致密盘)、DVD(Digital Versatile Disc，数字多功能盘)和BD(Blue-ray disc，蓝光盘)，并且可以通过ROM型(再现专用型)、一次写入型和可重写型对于简单分类的盘的添加而进一步分类为CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW、BD-ROM、BD-R、BD-RE等。

例如，将描述关于如上所述的记录层和介质类型单独执行温度补偿的情况。在这种情况下，首先添加用于确定所装载光盘的介质类型的处理。此外，还执行用于确定已经执行了启动操作期间的最佳值调节操作和停转期间的最佳值搜索操作的记录层的处理。

在这种情况下，针对作为确定处理的结果所指定的每一介质类型以及针对在其上执行搜索操作的每一记录层，单独存储新的温度特性补偿运算系数(其是基于启动操作期间的最佳值调节操作获得的最佳值与此时的温度信息、以及停转期间的最佳值检测操作获得的最佳值与此时的温度信息而计算出的)。

图16是图示针对每一介质类型和记录层而单独存储的关于温度特性补偿运算系数的信息的示例的示图。

使用针对每一介质类型和记录层所存储的关于温度特性补偿运算系数的信息，执行通过根据所装载光盘的介质类型和已执行了启动操作的记录层而使用最佳温度补偿运算系数计算和设置启动初始调节值。具体而言，在启动操作开始时，参考如图16中所示的信息，确定是否已经计算出与所装载光盘的介质类型以及与至此要执行启动操作的记录层相一致的“介质类型和记录层”所对应的温度特性补偿运算系数。如果确定已经计算出对应的温度特性补偿运算系数，则使用该温度特性补偿运算系数来执行启动初始调节值的计算和设置，而如果确定尚未计算出对应的温度特性补偿运算系数，则使用默认温度特性补偿运算系数来执行启动初始调节值的计算和设置。

如上所述，通过根据介质类型和记录层执行各个温度补偿，可以根据介质类型和记录层实现最佳温度补偿。

此外，通过根据介质类型和记录层来单独地计算和存储温度特性补偿运算系数，可以关于在其上已经计算出温度特性补偿运算系数的介质类型和记录层的组合，省略用于计算新的温度特性补偿运算系数的处理(其包括停转期间的最佳搜索操作)，由此可以寻求处理负荷的降低。

根据此方法，关于在其上已经计算出温度特性补偿运算系数的介质类型和记录层的组合，可以执行使用根据对象从第一次启动操作开始起所具有的温度最佳值特性的最佳温度特性补偿运算系数的温度补偿。

此外，可以对光盘的每一对象执行单独温度补偿。

在这种情况下，确定所装载光盘的各个对象。这里，在光盘是可写光盘的情况下，将对象识别号信息(即，盘ID)记录在盘的指定区域上，由此光盘的对象的确定在盘的随后装载期间变成可能。此外，在ROM型光盘的情况下，将盘ID预先记录在盘上的指定区域上，并且装置确定该ID以执行对象确定。

此时，上述对象确定方法仅仅是示例性的，并且例如也可以采用其他方法，诸如，将盘ID记录在BCA(Burst Cutting Area，突发切割区域)上并对此进行识别。

在这种情况下，根据上述例举的方法所获取的盘ID，单独地存储新的温度特性补偿运算系数(其是基于启动操作期间的最佳值调节操作获得的最佳值与此时的温度信息、以及停转期间的最佳值检测操作获得的最佳值与此时的温度信息而计算出的)。图17图示相应存储的信息的示例。

在这种情况下，在启动操作开始时，参考如图17所示的信息，确定是否已经计算出了与所装载光盘的盘ID对应的温度特性补偿运算系数。如果确定已经计算出了对应的温度特性补偿运算系数，则使用该温度特性补偿运算系数执行启动初始调节值的计算和设置。此外，如果确定尚未计算出对应的温度特性补偿运算系数，则使用默认温度特性补偿运算系数来执行启动初始调节值的计算和设置。

于是，可以针对光盘的每一对象实现最佳温度补偿。

此外，根据该方法，针对已经完成了系数的计算的光盘，可以省略用于系数计算的重复处理。

这里，如上所述，在根据启动期间和停转期间所获取的两个点计算出的等式(2)的直线上，第一项的斜率分量主要表示光学拾取器OP所固有的最佳值的温度相关性，而第二项的斜率分量主要表示光盘所固有的像差量(其包括针对每一记录层的像差量)。

考虑到这一点，在假设针对如上所述的每一介质类型和记录层，根据光盘的对象执行单独温度补偿的情况下，不使用如各实施方式中那样的“出货期间的平均特性”的偏移分量，但是将等式(2)计算出的偏移分量按照其原样用作用于温度补偿的温度最佳值特性的偏移分量，以使得可以针对各偏移分量之任一来执行更适当的温度补偿。

在这点上，在针对如上所述的每一介质类型和记录层而根据光盘的对象执行单独温度补偿的情况下，如上所述那样按照原样使用等式(2)(而不是使用等式(4))作为用于计算启动初始调节值的计算等式来实现更适当的温度补偿是有效的。

虽然已经仅仅描述了启动开始时的温度补偿，但是即使针对实时调节操作，也可以对每一介质类型和记录层执行根据光盘的对象的单独调节操作。在这种情况下，使用图16和17中所图示的信息，针对每一介质类型和记录层计算根据光盘的对象的单独实时调节运算系数，并且针对所装载光盘的每一介质类型和对象执行实时调节操作。

在上面描述中，例举了采用抖动值作为最佳值搜索操作期间所使用的估算值。然而，可以采用其他估算值，诸如，比特误差率值、摆动信号的幅度值、RF信号的幅度值、对于不同矩阵的估算值(在二进制处理中采用PRML的情况下，指示来自异常值的误差或差异的值)。

在本发明的实施方式中，基于来自光盘的反射光获得的估算值可以是再现信号的质量的估算指标。

在上面的描述中，例举了记录与再现装置可以执行光盘的记录和再现两者。然而，即使是对于仅可以执行光盘的再现的再现装置(即，专用再现装置)，也可以优选地应用本发明。

本申请包含与2009年6月22日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2009-147405公开的主题有关的主题，其全部内容通过引用合并在此。

本领域技术人员应当理解，依据设计要求和其他因素，可出现各种修改、组合、部分组合和变更，只要其在所附权利要求书及其等效物的范围内即可。

Claims (17)

1.一种记录与再现装置，包括

转动驱动单元，其驱动光盘记录介质转动；

光学拾取单元，其配置为针对用于数据记录/读取的光盘记录介质执行激光照射和反射光检测；

调节单元，其补偿温度变化所引起的激光特性变化；

温度检测单元，被提供来执行光学拾取单元的温度检测；

估算值生成单元，其基于从光学拾取单元获得的反射光信息，生成变成再现信号质量的指标的估算值；以及

控制单元，其执行

启动操作期间的温度获取处理，用于获取由温度检测单元检测到的所检测温度，作为与作为用于在装载光盘记录介质后使得能够数据再现的预备操作所执行的启动操作对应的启动操作期间的温度信息；

启动操作期间的最佳点调节处理，用于将调节单元中设置的各调节值依次改变成不同值，基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点，并且控制调节单元以便设置作为最佳点的调节值；

停转期间的温度获取处理，用于在启动操作完成后满足为停止转动驱动单元转动的光盘记录介质的转动而预先确定的指定条件时，获取由温度检测单元检测到的所检测温度作为停转期间的温度信息；

停转期间的最佳点搜索处理，用于在满足指定条件时将调节值依次改变成不同值，并且基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点；以及

温度特性补偿运算系数计算处理，用于基于由启动操作期间的温度信息和启动操作期间的最佳点调节处理获得的关于启动操作期间的最佳点的信息、以及由停转期间的温度信息和停转期间的最佳点搜索处理获得的关于停转期间的最佳点的信息，来计算用于针对调节值执行温度补偿的温度特性补偿运算系数。

2.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，所述控制单元在停转后的启动操作开始时执行：

启动操作开始时的温度获取处理，用于获取温度检测单元所检测到的、作为启动操作开始时的温度信息的所检测温度；

初始调节值计算处理，其基于启动操作开始时的温度信息以及温度特性补偿运算系数计算处理计算出的温度特性补偿运算系数，来计算启动初始调节值；以及

初始调节值设置控制处理，其控制要在调节单元中设置的启动初始调节值作为启动操作开始时的初始调节值。

3.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，所述控制单元在再现操作进行期间执行：

实时调节处理，用于控制基于要在调节单元中设置的计算获得的最佳点而增大/减小的调节值，获取估算值生成单元在调节值增大/减小的状态下所生成的估算值，以及通过基于所获取的估算值和指定的控制运算等式重复调节值的最佳点的计算而使得调节值跟随最佳点；以及

实时调节运算系数更新处理，用于基于温度特性补偿运算系数计算处理计算出的温度特性补偿运算系数，而重新计算控制运算等式中的增益系数。

4.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，所述控制单元执行控制以使得：使用光盘记录介质上的同一区域，来执行启动操作期间的最佳点调节处理所执行的最佳点搜索操作以及停转期间的最佳点搜索处理所执行的最佳点搜索操作。

5.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，

所述控制单元执行第一确定处理，用于确定启动操作期间的温度获取处理所获取的温度与停转期间的温度获取处理所获取的温度之间的差值是否等于或大于指定值；以及

如果第一确定处理确定所述温度的差值等于或大于指定值，则所述控制单元执行停转期间的最佳点搜索处理。

6.如权利要求2所述的记录与再现装置，其中，

所述控制单元执行系数平均值计算处理，用于计算由计算温度特性补偿运算系数计算处理计算出的过去温度特性补偿运算系数的平均值；以及

所述控制单元在初始调节值计算处理中，基于启动操作开始时的温度信息以及作为系数平均值计算处理计算出的平均值的温度特性补偿运算系数，来执行启动初始调节值的计算。

7.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，所述调节单元对球面像差、聚焦偏置和倾斜度中的任何一项执行调节。

8.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，在要执行光盘记录介质上的记录的情况下，执行最佳功率控制OPC；以及

其中，所述控制单元执行：

OPC期间的温度获取处理，用于在执行OPC时，获取温度检测单元搜索到的所检测温度作为OPC期间的温度信息；以及

OPC期间的最佳点调节处理，用于在执行OPC时将调节单元中设置的调节值依次改变成不同值，基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点，并且控制调节单元以便设置作为最佳点的调节值。

9.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，

所述控制单元执行第二确定处理，用于确定停转的数目是否达到预定次数；以及

如果第二确定处理确定停转的数目达到预定次数，则所述控制单元执行停转期间的最佳点搜索处理。

10.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，

所述控制单元执行介质类型确定处理，用于确定所装载光盘记录介质的介质类型；以及

所述控制单元针对介质类型确定处理确定的每一介质类型，执行温度特性补偿运算系数计算处理计算出的温度特性补偿运算系数的存储。

11.如权利要求10所述的记录与再现装置，其中，所述控制单元在介质类型确定处理中，相互确定紧致盘CD、数字多功能盘DVD和蓝光盘BD。

12.如权利要求10所述的记录与再现装置，其中，所述控制单元在介质类型确定处理中，进一步从相互之间确定CD、DVD和BD，并且从相互之间确定一次写入型和可重写型。

13.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，在所装载光盘记录介质是具有多个记录层的多层盘时，所述控制单元为每一记录层存储由温度特性补偿运算系数计算处理计算出的温度特性补偿运算系数。

14.如权利要求1所述的记录与再现装置，其中，

所述控制单元执行盘对象确定处理，用于确定所装载光盘记录介质的每一对象；以及

所述控制单元针对盘对象确定处理所确定的每一对象，执行温度特性补偿运算系数计算处理计算出的温度特性补偿运算系数的存储。

15.一种针对记录与再现装置中的调节单元的调节值计算温度特性补偿运算系数的方法，所述记录与再现装置包括：转动驱动单元，其驱动光盘记录介质转动；光学拾取单元，其配置为针对用于数据记录/读取的光盘记录介质执行激光照射和反射光检测；调节单元，其补偿温度变化所引起的激光特性变化；温度检测单元，被提供来执行光学拾取单元的温度检测；估算值生成单元，其基于从光学拾取单元获得的反射光信息，生成变成再现信号质量的指标的估算值，所述方法包括以下步骤：

获取由温度检测单元检测到的温度信息的温度，作为与作为用于在装载光盘记录介质后使得能够数据再现的预备操作所执行的启动操作对应的启动操作期间的温度信息；

在启动操作期间将调节单元中设置的各调节值依次改变成不同值，基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点，并且控制调节单元以便设置作为最佳点的调节值；

在启动操作完成后满足为停止转动驱动单元转动的光盘记录介质的转动而预先确定的指定条件时，获取由温度检测单元检测到的、作为停转期间的温度信息的温度；

在停转期间满足指定条件时将调节值依次改变成不同值，并且基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点；以及

基于由启动操作期间的温度信息和启动操作期间的最佳点调节处理获得的关于启动操作期间的最佳点的信息、以及由停转期间的温度信息和停转期间的最佳点调节处理获得的关于停转期间的最佳点的信息，来计算用于针对调节值执行温度补偿的温度特性补偿运算系数。

16.一种再现装置，包括：

转动驱动单元，其驱动光盘记录介质转动；

光学拾取单元，其配置为针对用于数据读取的光盘记录介质执行激光照射和反射光检测；

调节单元，其补偿温度变化所引起的激光特性变化；

温度检测单元，被提供来执行光学拾取单元的温度检测；

估算值生成单元，其基于从光学拾取单元获得的反射光信息，生成变成再现信号质量的指标的估算值；以及

控制单元，其执行

启动操作期间的温度获取处理，用于获取由温度检测单元检测到的所检测温度，作为与作为用于在装载光盘记录介质后使得能够数据再现的预备操作所执行的启动操作对应的启动操作期间的温度信息；

启动操作期间的最佳点调节处理，用于将调节单元中设置的各调节值依次改变成不同值，基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点，并且控制调节单元以便设置作为最佳点的调节值；

停转期间的温度获取处理，用于在启动操作完成后满足为停止转动驱动单元转动的光盘记录介质的转动而预先确定的指定条件时，获取由温度检测单元检测到的所检测温度作为停转期间的温度信息；

停转期间的最佳点搜索处理，用于在满足指定条件时将调节值依次改变成不同值，并且基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点；以及

温度特性补偿运算系数计算处理，用于基于由启动操作期间的温度信息和启动操作期间的最佳点调节处理获得的关于启动操作期间的最佳点的信息、以及由停转期间的温度信息和停转期间的最佳点调节处理获得的关于停转期间的最佳点的信息，来计算用于针对调节值执行温度补偿的温度特性补偿运算系数。

17.一种针对再现装置中的调节单元的调节值计算温度特性补偿运算系数的方法，所述再现装置包括：转动驱动单元，其驱动光盘记录介质转动；光学拾取单元，其配置为针对用于数据读取的光盘记录介质执行激光照射和反射光检测；调节单元，其补偿温度变化所引起的激光特性变化；温度检测单元，被提供来执行光学拾取单元的温度检测；估算值生成单元，其基于从光学拾取单元获得的反射光信息，生成变成再现信号质量的指标的估算值，所述方法包括以下步骤：

获取由温度检测单元检测到的温度信息的温度，作为与作为用于在装载光盘记录介质后使得能够数据再现的预备操作所执行的启动操作对应的启动操作期间的温度信息；

在启动操作期间将调节单元中设置的各调节值依次改变成不同值，基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点，并且控制调节单元以便设置作为最佳点的调节值；

在启动操作完成后满足为停止转动驱动单元转动的光盘记录介质的转动而预先确定的指定条件时，获取由温度检测单元检测到的、作为停转期间的温度信息的温度；

在停转期间满足指定条件时将调节值依次改变成不同值，并且基于获取在设置了各个调节值的条件下由估算值生成单元所生成的估算值的结果来搜索调节值的最佳点；以及

基于由启动操作期间的温度信息和启动操作期间的最佳点调节处理获得的关于启动操作期间的最佳点的信息、以及由停转期间的温度信息和停转期间的最佳点调节处理获得的关于停转期间的最佳点的信息，来计算用于针对调节值执行温度补偿的温度特性补偿运算系数。

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