CN101930041A - 具主副步骤高压多点测试设备及方法 - Google Patents

Abstract

一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，将多组待测物与测试设备相连接，并通过输入装置进行各项测试参数的设定；开始测试时，先进行主步骤的高压测试程序，先通过一高压产生装置同时对多组待测物输出高电压，并通过中央控制单元侦测多组待测物在主步骤测试程序是否正常，若正常，则判定多组待测物皆为良品，完成测试；若中央控制单元判定多组待测物的任意一个有异常时，即会进入副步骤测试程序，即个别对每一组待测物进行测试，并将测试结果显示于一显示器上，经由显示器的显示结果，即可得知哪一组测试物为不良品。本发明可减少测试时间，提高测试速度，易于操作人员剔除不良品。

Description

具主副步骤高压多点测试设备及方法

技术领域

本发明关于一种检测设备，特别是指一种将多颗待测物以群组模式并接测试的具主副步骤高压多点测试设备及方法。

背景技术

一般零件测试，如马达、风扇或变压器等，其品质检验必须使用耐压机，进行高压量测，以确认该待测物是否符合安全规格的耐电压条件。

因此，为确保每个零件皆为良品，在每个零组件出厂前，皆要进行高压测试程序，若以变压器为例，该变压器至少必须测试初级对铁心、铁心对次级及初级对次级等三次测试程序，若每次必须测试1秒，每个变压器在测试上必须花上3秒钟才能进行第2个变压器的测试，造成测试时间冗长，浪费人力与时间，不符合经济效益。

因此，为改善上述缺失，即有群组并联测试设备问市，可同时测试多组变压器，以达到节省测试时间及人力的目的；然而，同时测试多组待测物，虽然可缩短测试时间及人力，但测试群组中有不良品时，现阶段是将群组内全部的待测物暂时判定不良，再通过冗长的测试程序做第二次测试，而如此的测试方式，容易因人员操作失误，造成混料，且无法做数据统计分析。

另外，在实际进行高压测试时，如果与待测物的接触点接触不良时，往往会发生弧光，长期下来会影响接触点的寿命；又因为不良的接触，可能高电压并没有确实地传送到待测物，而发生耐电压不良品被误判为良品的情形。对高压产生设备而言，上述弧光的产生会对设备本身，甚至对其它附属的测试设备造成干扰，相对地影响设备的可靠度以及稳定性，进而影响的测试结果的可靠性。

由此可见，上述习用测试设备及测试方法具有极大的缺失有待改进。

发明内容

本发明的第一目的即在于提供一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，以主、副测试步骤分离模式测试待测物，以达到减少测试时间，提高测试速度的目的。

本发明的第二目的在于提供一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，当主步骤测试程序判定测试待测物群组发生不良时，即会自动进入副步骤测试程序，针对个别待测物进行测试，找出真正不良品。

本发明的第三目的在于提供一种具主副步骤高压多点测试设备及方法，将真正的不良待测物位置显示在面板上，让操作人员极易将不良品剔除。

本发明的第四目的在于提供一种具主高压多点测试设备及方法，将真正的不良待测物位置讯号输出于背板接点上，藉由自动设备将不良品剔除。

本发明的第五目的在于提供一种具主高压多点测试设备及方法，提供高压测试前先进行与待测物间的接触检查，以避免测试失误。

可达成上述发明目的的具主副步骤高压多点测试设备，包括：一高/低压切换装置，其包含数个高压开关及数个低压开关，该高/低压切换装置的电压输出模式为高压开关与低压开关启闭的切换；一测试通道组，其包含多个测试通道，每一个测试通道皆搭配高/低压切换装置的一个高压开关及一个低压开关，使单一测试通道用以变换电压输出模式；一高压产生装置，其具有一高压端及一低压端，该高压端与高/低压切换装置的全部高压开关连接；一电流侦测装置，其与连接于高压产生装置的该低压端与高低压切换装置间，用以侦测电流值；以及一中央控制单元，用以储存主步骤测试程序及副步骤测试程序，该主步骤测试程序及副步骤测试程序的测试参数包含测试电压、测试时间，该中央控制单元会驱使高压产生装置产生高压输出及控制高/低压切换装置的电压输出模式，使输出通道组用以输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多个待测物进行侦测，并会接收电流侦测装置传送的电流信号。

可达成上述发明目的的具主副步骤高压多点测试方法，包括：

(1)通过一用以储存主步骤测试程序及副步骤测试程序的中央控制单元，驱使一高压产生装置产生高压输出及控制一高/低压切换装置的电压输出模式；

(2)该输出通道组输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多个待测物进行侦测，并接收一电流侦测装置传送的电流信号；

(3)进行主步骤测试程序，通过中央控制单元驱使高压产生装置经由高压端输出高电压，经输出通道组传送至待测物，经由电流侦测装置侦测电流信号，并将电流信号传送至中央控制单元中判读，以判断全部待测物状态，若该测试群组中的待物测有任一不良品时，则进入副步骤测试程序；以及

(4)进入副步骤测试程序，进行个别待测物的高压测试，经由中央控制单元驱使高压产生装置经高压端输出高电压顺序至各待测物，并由各待测物输出低电压回高压产生装置，该中央控制单元经由电流侦测装置撷取的电流值，分别判断各待测物状态，并将测试结果传送至显示装置显示。重复步骤(4)，进行次一待测物的高压测试，直至全部待测物皆个别测试完成，以找出不良品的待测物。

其中，更包含(2-1)一接触点检查步骤，对每一个群组个别进行接触测试，经由中央控制单元驱使高压产生装置经高压端输出一电压值至待测物，通过电流侦测装置侦测的电流值，中央控制单元即可判断该测试群组是否有接触不良的情况。

其中，该步骤(4)的测试结果可传送至高压多点测试设备的背板输出。

其中，更包含一步骤，将全部待测物的测试点脚位与测试通道组的各个测试通道相连接，每个测试通道藉由高低压切换装置的高压开关及低压开关的切换，皆可任意输出设定的高压或低压或不输出电压。

本发明与其他习用产品相互比较时，更具有以下的优点：

1.本发明以主、副测试步骤分离模式测试待测物，以达到减少测试时间，提高测试速度的目的。

2.本发明当主步骤测试程序判定测试待测物群组发生不良时，即会自动进入副步骤测试程序，针对个别待测物进行测试，找出真正不良品。

3.本发明将真正的不良待测物位置显示在面板上，让操作人员极易将不良品剔除。

4.本发明将真正的不良待测物位置讯号输出在背板接点上，藉由自动设备将不良品剔除。

5.本发明在高压测试前先进行与待测物间的接触检查，以避免测试失误。

附图说明

图1为本发明具主副步骤高压多点测试设备及方法的方框图；

图2为本发明具主副步骤高压多点测试设备及方法的设备示意图；以及

图3为本发明具主副步骤高压多点测试设备及方法的操作流程图。

具体实施方式

请参阅图1所示，是本发明所提供的具主高压多点测试设备及方法的方框图，主要包括：

一高/低压切换装置1，该高/低压切换装置1包含数组高压开关SH及数个低压开关SL，使该高/低压切换装置1的电压输出模式为各组高压开关SH与低压开关SL的启闭切换；

一测试通道组2，该测试通道组2包含多组测试通道21a～21n，每一组测试通道21a～21n皆与高/低压切换装置1的一组高压开关SH及一个低压开关SL相连接，当高压开关SH呈导通状态(ON)时，低压开关SL即为不导通状态(OFF)，使单一测试通道21a～21n只能选择性的做高压或低压输出或无电压输出；

一高压产生装置3，该高压产生装置3具有高压端31及低压端32，该高压端31与高/低压切换装置1的全部高压开关SH电性连接，以将高压信号传送至高压开关SH，而低压端32则与后述的电流侦测装置4相电性连接；

一电流侦测装置4，该电流侦测装置4与高压产生装置3的低压端32及一中央控制单元5及高/低压切换装置1的低压开关SL电性连接；通过电流侦测装置4侦测低压回流的电流值大小，并将侦测结果传送至中央控制单元5中判读；

一中央控制单元5，该中央控制单元5用以执行主步骤测试程序及副步骤测试程序，接收来自电流侦测装置4侦测信号及输入装置6的设定信号，并对信号进行判读及处理后，驱使高压产生装置3产生高压输出及控制高/低压切换装置1的高压开关SH与低压开关SL启闭的切换，并将测试结果经由下述显示装置7显示；

一输入装置6，提供测试参数及待测物的测试点设定，并将设定值传送至中央控制单元5中储存，该测试参数包含测试电压、测试时间等参数；

一显示装置7，用以显示测试结果以及测试时的相关讯息。

在一较佳实施例中，当人员经由输入装置6完成测试前设定，也将多组待测物的输入及输出待测点同时连接于测试通道组2的测试通道21a～21n。

开始测试时，中央控制单元5会先进行主步骤测试程序，先驱动高压产生装置3经由高压端31输出一高压信号，经高压开关SH传送至待每个待测物上的输入测试点，并经由待测物的输出测试点将信号经低压开关SL及电流侦测装置4及高压产生装置3的低压端32回流，以形成一检测回路，使电流侦测装置4可侦测到回流的电流值，并将侦测结果传回中央控制单元5判读，当中央控制单元5判读多组待测物皆为良品时，即完成本次测试；若中央控制单元5判断多组待测物的任一组或一组以上为不良品时，即会自动进入副步骤测试程序，而所有设定的参数会自动被复制至副步骤测试程序。

进入副步骤测试程序，群组中每组待测物进行高压测试，藉以找出不良品，完成高压测试，进而减少操作人力，以及提高测试速度以及测试可靠度的要求。

另外，该中央控制单元5在高压测试前可通过电流侦测装置4对多组待测物侦测的电流值，判断待测物与通道组2间是否有紧密接触连接，避免接触不良，产生误测试的情形。

其中，上述的高压产生装置3为变压器。

请同时参阅图1至图3所示，是本发明的应用实施例，于本实施例中以同时测试三组变压器为例，开始进行高压测试时，其步骤如下：

步骤S10：

(1)该测试通道组2具有九个测试通道21a～21i，每个测试通道21a～21i藉由高低压切换装置1的高压开关SH及低压开关SL的切换，皆可任意输出设定的高压或低压或不输出电压；

(2)将通道一21a、通道四21d及通道七21g分别与三组变压器8的初级测试点81相连接；该通道二21b、通道五21e及通道八21h分别与三组变压器8的铁心测试点82相连接；该通道三21c、通道六21f及通道九2“分别与三组变压器8的次级测试点83相连接；在进行高压测试时可将变压器8分成三个测试群组，第一测试群组为初级81对铁心82的高压测试，第二测试群组为次级83对铁心82的高压测试，第三测试群组为初级81对次级83的高压测试；

步骤S20：

1.经由输入装置6设定第一测试群组的主步骤及副步骤测试程序设定：

(a)第一测试群组的主步骤程序各项测试参数设定，该测试参数包含测试时间、高压产生装置输出的电压等设定；

(b)设定第一测试群组主步骤的测试点脚位，将通道一21a、通道四21d及通道七21g对应的高压开关SH切换为导通状态(ON)，低压开关SL为不导通状态(OFF)，使通道一21a、通道四21d及通道七21g输出高压信号；将通道二21b、通道五21e及通道八21h对应的低压开关SL切换为导通状态(ON)，高压开关SH为不导通状态(OFF)，使通道二21b、通道五21e及通道八21h输出低压信号；

(c)设定副步骤对第一测试群组的第一组变压器8的测试点脚位，将通道一21a设定为高压输出，将通道二21b设定为低压输出；

(d)设定副步骤对第一测试群组的第二组变压器8的测试点脚位，将通道四21d设定为高压输出，将通道五21e设定为低压输出；

(e)设定副步骤对第一测试群组的第三组变压器8的测试点脚位，将通道七21g设定为高压输出，将通道八21h设定为低压输出；

2.经由输入装置6设定第二测试群组的主步骤及副步骤测试程序设定：

(a)第二测试群组的主步骤各项测试参数设定，该测试参数包含测试时间、高压产生装置3输出的电压等设定；

(b)设定第二测试群组主步骤的测试点脚位，将通道三21c、通道六21f及通道九21i对应的高压开关SH切换为导通状态(ON)，低压开关SL为不导通状态(OFF)，使通道三21c、通道六21f及通道九21i输出高压信号；将通道二21b、通道五21e及通道八21h对应的低压开关SL切换为导通状态(ON)，高压开关SH为不导通状态(OFF)，使通道二21b、通道五21e及通道八21h输出低压信号；

(c)设定副步骤对第二测试群组的第一组变压器8的测试点脚位，将通道三21c设定为高压输出，将通道二21b设定为低压输出；

(d)设定副步骤对第二测试群组的第二组变压器8的测试点脚位，将通道六21f设定为高压输出，将通道五21e设定为低压输出；

(e)设定副步骤对第二测试群组的第三组变压器8的测试点脚位，将通道九21i设定为高压输出，将通道八21h设定为低压输出；

3.经由输入装置6设定第三测试群组的主步骤及副步骤测试程序设定：

(a)第三测试群组的主步骤各项测试参数设定，该测试参数包含测试时间、高压产生装置输出的电压等设定；

(b)设定第三测试群组主步骤的测试点脚位，将通道一21a、通道四21d及通道七21g对应的高压开关SH切换为导通状态(ON)，低压开关SL为不导通状态(OFF)，使通道一21a、通道四21d及通道七21g输出高压信号；将通道三21c、通道六21f及通道九21i对应的低压开关SL切换为导通状态(ON)，高压开关SH为不导通状态(OFF)，使通道三21c、通道六21f及通道九21i输出低压信号；

(c)设定副步骤对第三测试群组的第一组变压器8的测试点脚位，将通道一21a设定为高压输出，将通道三21c设定为低压输出；

(d)设定副步骤对第三测试群组的第二组变压器8的测试点脚位，将通道四21d设定为高压输出，将通道六21f设定为低压输出；

Ce)设定副步骤对第三测试群组的第三组变压器8的测试点脚位，将通道七21g设定为高压输出，将通道九21i设定为低压输出；

上述的设定结果皆会储存于中央控制单元5中。

步骤S30：

1.第一测试群组接触测试，中央控制单元5会驱使高压产生装置3经高压端31输出电压至通道一21a、通道四21d、通道七21g，该电压会经由通道二21b、通道五21e及通道八21h经电流侦测装置4回流高压产生装置3，通过电流侦测装置4侦测的电流值，中央控制单元5即可判断第一测试群组是否有接触不良的情况；

2.第二测试群组接触测试，中央控制单元5会驱使高压产生装置3经高压端31输出电压至通道三21c、通道六21f、通道九21i，该电压会经由通道二21b、通道五21e及通道八21h经电流侦测装置4回流高压产生装置3，通过电流侦测装置4侦测的电流值，中央控制单元5即可判断第二测试群组是否有接触不良的情况；

3.第三测试群组接触测试，中央控制单元5会驱使高压产生装置3经高压端31输出电压至通道一21a、通道四21d、通道七21g，该电压会经由通道三21c、通道六21f及通道九21i经电流侦测装置4回流高压产生装置3，通过电流侦测装置4侦测的电流值，中央控制单元5即可判断第三测试群组是否有接触不良的情况；

接着进行第一测试群组的主步骤测试S40：

中央控制单元5会驱使高压产生装置3经由高压端31输出高电压至通道一21a、通道四21d、通道七21g，而通道二21b、通道五21e、通道八21h会输出低电压回流至高压产生装置3，使电流侦测装置4可撷取通道二21b、通道五21e、通道八21h回流的电流信号，并将信号传送至中央控制单元5中判读，若判定全部变压器8的初级81对铁心82为良品，则三组变压器8皆为良品，并将测试结果传送至显示装置7显示或传送至背板输出点；若判定为不良品，则自动进入副步骤测试程序；

再进入副步骤测试程序S41：

(a)先进行第一组变压器8的的测试，该中央控制单元5会驱使高压产生装置3经高压端31输出高电压至通道一21a，而通道二21b会输出低电压回高压产生装置3，该中央控制单元5会经由电流侦测装置4撷取的电流值，判断第一组变压器8的初级81对铁心82为良品或不良品，并将测试结果传送至显示装置6显示或传送至背板输出点；

(b)接着进行第二组变压器的的测试，该中央控制单元5会驱使高压产生装置3经高压端31输出高电压至通道四21d，而通道五21e会输出低电压回高压产生装置3，该中央控制单元5会经由电流侦测装置4撷取的电流值，判断第二组变压器8的初级81对铁心82为良品或不良品，并将测试结果传送至显示装置7显示或传送至背板输出点；

(c)接着进行第三组变压器8的的测试，该中央控制单元5会驱使高压产生装置3经高压端31输出高电压至通道七21g，而通道八21h会输出低电压回高压产生装置3，该中央控制单元5会经由电流侦测装置4撷取的电流值，判断第三组变压器8的初级81对铁心82为良品或不良品，并将测试结果传送至显示装置7显示或传送至背板输出点。

然后，进行第二测试群组的高压测试S50，该第二测试群组的主步骤测试流程皆与第一测试群组相同，差异处在于由通道三21c、通道六21f及通道九21i输出高电压，而通道二21b、通道五21e及通道八21h输出低电压，藉以判断三组变压器的次级83对铁心82为良品或不良品；若为不良品，同样会自动进入副步骤测试程序S51，该副步骤测试程序的测试流程皆与第一测试群组相同，差异处在于通道三21c输出高压，而通道二21b输出低压，藉以判断第一组变压器8的次级83对铁心82为良品或不良品；接着通道六21f输出高压，通道五21e输出低压，藉以断定第二组变压器8的次级83对铁心82为良品或不良品；接着通道九21i输出高压，通道八21h输出低压，藉以断定第三组变压器8的次级83对铁心82为良品或不良品；其他流程皆与第一测试群组测试流程相同，于此不在赘述。

最后，进行第三测试群组的高压测试S60，该第三测试群组的主步骤测试流程皆与第一测试群组相同，差异处在于由通道一21a、通道四21d及通道七21g输出高电压，而通道三21c、通道六21f及通道九21i输出低电压，藉以判断三组变压器8的初级81对次级83为良品或不良品；若为不良品，同样会自动进入副步骤测试程序S61，该副步骤测试程序的测试流程皆与第一测试群组相同，差异处在于通道一21a输出高压，而通道三21c输出低压，藉以判断第一组变压器8的初级81对次级83为良品或不良品；接着通道四21d输出高压，通道六21f输出低压，藉以断定第二组变压器8的初级81对次级83为良品或不良品；接着通道七8g输出高压，通道九21i输出低压，藉以断定第三组变压器8的初级81对次级83为良品或不良品；其他流程皆与第一测试群组测试流程相同，于此不在赘述。

上述变压器8的高压测试仅为本案的较佳实施方式，并非用以局限本案的申请专利范围，若日后无论何种产品仅要是通过主、副步骤的高压测试模式，应该皆纳入本案的权利要求中。

Claims (9)

1.一种主副步骤高压多点测试设备，包括有：

一高/低压切换装置，其包含数个高压开关及数个低压开关；

一测试通道组，其包含多个测试通道，每一组测试通道皆搭配该高/低压切换装置的一个高压开关及一个低压开关，使单一测试通道用以变换电压输出模式；

一高压产生装置，其具有一高压端及一低压端，该高压端与高/低压切换装置的全部高压开关电性连接；

一电流侦测装置，其连接于高压产生装置的该低压端与高/低压切换装置间，用以侦测电流值；以及

一中央控制单元，用以执行主步骤测试程序及副步骤测试程序，该中央控制单元驱使高压产生装置产生高压输出及控制高/低压切换装置的电压输出模式，使输出通道组用以输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多组待测物进行侦测，并会接收电流侦测装置传送的电流信号。

2.如权利要求1所述的主副步骤高压多点测试设备，其特征在于，该高/低压切换装置的电压输出模式为高压开关与低压开关启闭的切换。

3.如权利要求1所述的主副步骤高压多点测试设备，其特征在于，该主步骤测试程序及副步骤测试程序的测试参数包含测试电压、测试时间。

4.如权利要求1所述的主副步骤高压多点测试设备，其特征在于，该高压产生装置为变压器。

5.一种具有主副步骤的高压多点测试方法，用以测试连接于一高压多点测试设备的输出通道组上的多个待测物，该测试方法包括：

(1)通过一用以储存主步骤测试程序及副步骤测试程序的中央控制单元，驱使一高压产生装置产生高压输出及控制一高/低压切换装置的电压输出模式；

(2)该输出通道组输出多组高电压及多组低电压信号，以同时对多组待测物进行侦测，并接收一电流侦测装置传送的电流信号；

(3)进行主步骤测试程序，通过中央控制单元驱使高压产生装置经由高压端输出高电压，经输出通道组传送至待测物，经由电流侦测装置侦测电流信号，并将电流信号传送至中央控制单元中判读，以判断全部待测物状态，若该测试群组中的待物测有任一不良品时，则进入副步骤测试程序；以及

(4)进入副步骤测试程序，进行个别待测物的高压测试，经由中央控制单元驱使高压产生装置经高压端输出高电压顺序至各待测物，并由各待测物输出低电压回高压产生装置，该中央控制单元经由电流侦测装置撷取的电流值，分别判断各待测物状态，并将测试结果传送至显示装置。

6.如权利要求5所述的具有主副步骤的高压多点测试方法，其特征在于，还包括重复上步骤(4)，进行次一待测物的高压测试，直至全部待测物皆个别测试完成，以找出不良品的待测物。

7.如权利要求5所述的具有主副步骤的高压多点测试方法，其特征在于，更包含一接触点检查步骤(2-1)，对每一个群组个别进行接触测试，经由中央控制单元驱使高压产生装置经高压端输出一电压值至待测物，通过电流侦测装置侦测的电流值，中央控制单元判断该测试群组是否有接触不良的情况。

8.如权利要求5所述的具有主副步骤的高压多点测试方法，其特征在于，该步骤(4)的测试结果传送至高压多点测试设备的背板输出。

9.如权利要求5所述的具有主副步骤的高压多点测试方法，其特征在于，更包含一步骤，将全部待测物的测试点脚位与测试通道组的各个测试通道相连接，每个测试通道藉由高低压切换装置的高压开关及低压开关的切换，以任意输出设定的高压或低压或不输出电压。

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