CN101887103A - 芯片测试仪及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种芯片测试仪及其测试方法，该测试仪包括壳体，壳体上设有检测针及检测结果显示装置，壳体内设有电路板，电路板上设有第一检测单元，其具有微控制器及存储器，存储器存储有预设数据，其中，电路板上还设有第二检测单元，其包括频率比较器，其一个输入端与检测针连接。该方法包括微控制器通过检测针输出第一检测信号及第二检测信号，待接收到第一反馈信号及第二反馈信号后，判断第一反馈信号所表示的数据是否与预设数据一致，同时将第二反馈信号输入至频率比较器，频率比较器判断所输入的频率是否在频率发生器所输出频率的一定误差范围内，并输出检测结果。本发明能检测墨盒的压电传感器是否正常工作，确保墨盒能正常使用。

Description

芯片测试仪及其测试方法

技术领域

本发明涉及一种测试仪，尤其是一种用于对墨盒芯片进行检测的芯片测试仪以及这种芯片测试仪的测试方法。

背景技术

喷墨打印机是常见的打印设备，为现代化办公提供极大的方便。现有的喷墨打印机主要使用可拆卸地安装到打印字车内的墨盒向纸张喷墨，在纸张上形成所需要的文字与图案。

现有的一种墨盒如图1所示，墨盒1具有一个壳体11，壳体11围成容纳墨水的腔体，腔体的下方设有出墨口12，腔体内的墨水通过出墨口12流出。

为了便于喷墨打印机显示当前使用墨盒1的情况，墨盒1大多设置存储有墨盒1相关数据的芯片。如图1所示，墨盒1壳体11的一个侧壁13上设有一块芯片14，芯片14包括一块基板，基板朝外一侧设有九个电触点15，用于与喷墨打印机连接，以实现与喷墨打印机的数据交换。在基板的另一侧设有电子模块(图1中不可见)，该电子模块包括有存储器，记录墨盒1的相关数据，如墨盒1的生产日期、墨盒1内墨水余量、墨盒1容纳墨水的颜色等，上述数据是由墨盒生产厂家生产墨盒1时写入电子模块内。

由于墨盒生产厂家无法确保墨盒相关数据一次写入的正确性，因此需要在写入上述数据后，需要对墨盒芯片14进行测试，以确保上述数据被正确写入。

公告号为CN2903999Y的中国实用新型专利公开了一种名为“芯片检测装置”的发明创造，该芯片检测装置具有壳体，壳体上设有显示装置，且壳体的外壁上设有多根检测针，用于与墨盒芯片的电触点连接。壳体内安装有电路板，并设有测试单元，包括存储预设数据的存储器，该预设数据是应当写入芯片的数据。

测试墨盒芯片时，芯片检测装置向墨盒芯片输出测试信号，待接收到测试信号后，判断接收到信号所表示的数据是否与预设数据一致，若一致表示墨盒芯片写入的数据正确。若不一致，表示墨盒芯片内所存储的数据不正确，需要重新写入数据。

为了便于检测墨盒1内所容纳的墨水余量，现有的墨盒1大多在腔体或出墨口12处设置用于检测墨水余量的压电传感器或类似元件，墨盒安装到喷墨打印机后，喷墨打印机将向墨盒输出检测信号，压电传感器则向喷墨打印机反馈一个一定频率的信号，喷墨打印机通过接收到该信号的频率来判断墨盒内是否容纳有足够的墨水。

因此，现有的芯片14具有两组电触点，分别是第一组电触点16以及第二组电触点17，第一组电触点16包括位于上排的四个电触点以及下排中部的三个电触点，用于与电子模块连接，便于喷墨打印机读取电子模块内存储的数据。第二组电触点17包括下排两端的两个电触点，用于与压电传感器或类似元件连接，便于喷墨打印机检测墨盒内是否容纳有足够的墨水。

但是，现有的芯片测试仪仅设置用于判断电子模块是否正确写入数据的检测单元，无法检测压电传感器或类似元件是否正常工作，一旦将压电传感器有缺损的墨盒安装到喷墨打印机上，喷墨打印机将认为墨盒内墨水余量不足而无法工作，给用户的使用带来极大的不便。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种能检测墨盒的压电传感器是否正常的芯片测试仪。

本发明的另一目的是提供一种上述芯片测试仪的测试方法。

为实现上述的主要目的，本发明提供的墨盒芯片包括壳体，壳体的一个侧壁上设有自侧壁向外延伸的检测针，壳体上还设有检测结果显示装置，壳体内设有一电路板，电路板上设有第一检测单元，第一检测单元具有向检测针输出检测信号的微控制器以及与微控制器连接的存储器，存储器存储有预设数据，其中，电路板上还设有第二检测单元，第二检测单元包括一频率比较器，该频率比较器的一个输入端与检测针连接，另一输入端连接有频率发生器。

由上述方案可见，芯片测试仪不但设有用于检测写入数据是否正确的第一检测单元，还设有用于检测频率的第二检测单元，频率比较器可判断芯片反馈的频率是否在预定的频率范围内，并输出判断结果，这样可检测墨盒的压电传感器或类似元件是否正常。

一个优选的方案是，频率发生器为微控制器或LC振荡电路或石英晶体。这样，频率发生器的频率可由微控制器设定或由LC振荡电路的参数设定，确保频率发生器输出频率的稳定性。

进一步的方案是，壳体具有自侧壁向外延伸的底板，底板上方设有墨盒安装座，安装座正对所述检测针设置。

由此可见，芯片测试仪设置用于固定墨盒的安装座，测试人员将墨盒放置在该安装座上，即可方便地对墨盒芯片进行测试，大大方便测试人员的测试工作。

为实现上述的另一目的，本发明提供上述芯片测试仪的测试方法，包括微控制器通过检测针输出第一检测信号，待接收到第一反馈信号后，判断第一反馈信号所表示的数据是否与预设数据一致，并向检测结果显示装置输出检测结果，其中，微控制器通过检测针输出第二检测信号，待接收到第二反馈信号后，将第二反馈信号输入至频率比较器，频率比较器判断所输入的频率是否在频率发生器所输出频率的一定误差范围内，并输出检测结果。

由上述方案可见，芯片测试仪通过判断芯片反馈的第二信号的频率是否在一定范围内来判断墨盒的压电传感器或类似元件是否正常，便于墨盒生产厂家及时发现压电传感器缺损的墨盒，减少缺陷产品的产生。

附图说明

图1是一种现有墨盒的结构图。

图2是本发明芯片测试仪实施例的结构图。

图3是本发明芯片测试仪实施例另一视角的局部放大图。

图4是墨盒安装到本发明芯片测试仪实施例后缩小了的结构图。

图5是本发明芯片测试仪实施例的电原理框图。

图6是本发明芯片测试方法实施例的流程图。

以下结合附图及实施例对本发明作进一步说明。

具体实施方式

参见图2，本发明提供的芯片测试仪2具有壳体21，壳体21上设有作为检测结果显示装置的显示屏22。当然，实际应用时，也可以使用多个LED灯作为检测结果显示装置。

壳体21的一个侧壁23上设有一个自侧壁23向外延伸的凸块24，凸块24上设有九根在凸块24的外壁向外延伸的检测针25，如图3所示，九根检测针25分成两组，一组为检测针26，包括位于上排的四根检测针以及位于下排中部的三根检测针，第一组检测针26与墨盒芯片的第一组电触点连接，用于检测墨盒芯片内所存储数据的正确性。

第二组检测针27包括位于下排两端的两根检测针，与墨盒芯片的第二组电触点连接，用于检测墨盒的压电传感器或类似元件是否正常工作。当然，九根检测针25的排列应当根据墨盒芯片上电触点的排列确定，当墨盒芯片上的电触点排列发生改变是，检测针25的排列应相应地改变。

壳体21的侧壁23向外延伸有底板28，底板28上设有一个墨盒安装座29，墨盒安装座29的中部设有一条安装槽30，墨盒可安装到安装槽30内。墨盒安装座29正对九根检测针25设置，如图4所示，墨盒1安装到墨盒安装座29上时，墨盒芯片正对检测针25设置，并且墨盒芯片上的电触点与检测针25接触，并确保每一电触点与每一检测针对应连接。

壳体21内设有电路板(图中不可见)，电路板上电路的电路图如图5所示。芯片测试仪具有第一检测单元，第一检测单元由一个微控制器41以及与微控制器41连接的存储器43组成，存储器43内存储有预设数据44，包括应该写入墨盒芯片内的数据，包括墨盒的生产日期、墨盒内墨水颜色、墨盒内墨水余量初始值等。由图5可见，微控制器41的P7端子与存储器43电连接。

同时，微控制器41的P8端子与显示驱动电路42电连接，向显示驱动电路42输出驱动信号，显示驱动电路42与显示屏连接，用于驱动显示屏。微控制器41的P1至P4端子与第一组检测针连接，用于向第一组检测针输出测试信号，并接收第一组检测针返回的反馈信号。

芯片测试仪还设有第二检测单元，第二检测单元包括一个频率比较器45，频率比较器45具有两个输入端，一个输入端45用于接收基准频率，其与微控制器41的P5端子连接，微控制器41向频率比较器45输出一个固定的频率信号，作为频率比较器45的基准频率。另一个输入端46与第二组检测针连接，用于接收第二组检测针的反馈信号。频率比较器45的输出端与微控制器41的P6端子连接，接收频率比较器45的输出结果。

芯片测试仪通过第一检测单元检测墨盒芯片内所存储的数据是否正确，并通过第二检测单元检测墨盒的压电传感器是否能输出预定范围内频率的信号，芯片测试仪的测试流程如图6所示。

对墨盒芯片进行测试时，首先将墨盒安装到芯片测试仪的墨盒安装座上，墨盒安装后如图4所示，并确保芯片测试仪的九根检测针均与墨盒芯片的电触点连接。然后，芯片测试仪向墨盒芯片输出测试信号，即执行步骤S1。本实施例中，微控制器通过第一组检测针向墨盒芯片输出第一测试信号，该测试信号为读命令，即读取墨盒芯片内的所有数据。同时，微控制器还通过第二检测针向墨盒芯片的第二组电触点输出第二测试信号，即高电平信号。

微控制器输出第一测试信号与第二测试信号后，执行步骤S2，接收墨盒芯片返回的第一反馈信号与第二反馈信号，再执行步骤S3，将第一反馈信号所表示的数据与存储器内存储的预设数据进行对比，判断第一反馈信号所表示的数据是否与预设数据一致，若一致，表示墨盒芯片内写入的数据正确，则执行步骤S4，若不一致，则表示墨盒芯片写入的数据有误，则执行步骤S5，芯片测试仪通过显示屏显示检测结果信息。

步骤S4中，芯片测试仪接收到第二反馈信号后，将第二反馈信号输入至频率比较器，频率比较器比较所输入的频率与微控制器输入的频率误差，判断该误差是否在一定的误差范围内，若在一定的误差范围内，则向微控制器输出低电平信号，误差超过一定误差范围，则输出高电平信号。

微控制器接收到频率比较器输出的信号，若为低电平信号，表示墨盒的压电传感器输出频率正常，执行步骤S7，通过显示屏显示墨盒芯片通过测试的信息，若为高电平信号，表示墨盒的压电传感器输出频率不正常，执行步骤S6，通过显示屏输出墨盒的输出频率不正确的检测信息。

由上述方案可见，芯片测试仪增设第二检测单元，能检测墨盒的压电传感器或类似元件输出的频率，并通过频率比较器判断所接收的信号频率是否在一定的范围内，从而确定墨盒的芯片是否能正常工作，减少缺陷产品的产生。

当然，上述实施例仅是本发明较佳的实施方案，实际应用时还可以有更多的变化，例如，频率比较器的输入端与LC振荡电路或石英晶体连接，使用LC振荡电路或石英晶体作为频率发生器向频率比较器输出基准频率；或者，频率比较器的输出端直接连接至检测结果显示装置，如LED灯；又或者，微控制器先后输出第一测试信号与第二测试信号等，这些改变同样可以实现本发明的目的。

最后需要强调的是，本发明不限于上述实施方式，如检测针数量与设置位置的改变、芯片测试仪壳体形状的改变等变化也应该包括在本发明权利要求的保护范围内。

Claims (8)

1.芯片测试仪，包括

壳体，所述壳体的一个侧壁上设有自侧壁向外延伸的检测针，所述壳体上还设有检测结果显示装置；

所述壳体内设有一电路板，所述电路板上设有第一检测单元，所述第一检测单元具有向所述检测针输出检测信号的微控制器以及与所述微控制器连接的存储器，所述存储器存储有预设数据；

其特征在于：

所述电路板上还设有第二检测单元，所述第二检测单元包括一频率比较器，所述频率比较器的一个输入端与所述检测针连接，另一输入端连接有频率发生器。

2.根据权利要求1所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述频率发生器为所述微控制器或LC振荡电路或石英晶体。

3.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述频率发生器的输出端连接所述微控制器。

4.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述频率发生器的输出端连接所述检测结果显示装置。

5.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述检测针包括至少一根第一检测针以及与所述频率比较器的输入端连接的至少一根第二检测针。

6.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述壳体具有自侧壁向外延伸的底板，所述底板上方设有墨盒安装座，所述安装座正对所述检测针设置。

7.如权利要求1所述芯片测试仪的测试方法，包括

所述微控制器通过所述检测针输出第一检测信号，待接收到第一反馈信号后，判断所述第一反馈信号所表示的数据是否与所述预设数据一致，并向所述检测结果显示装置输出检测结果；

其特征在于：

所述微控制器通过所述检测针输出第二检测信号，待接收到第二反馈信号后，将第二反馈信号输入至所述频率比较器，所述频率比较器判断所输入的频率是否在所述频率发生器所输出频率的一定误差范围内，并输出检测结果。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于：

所述检测针包括至少一根第一检测针以及与所述频率比较器的输入端连接的至少一根第二检测针；

所述微控制器同时向所述第一检测针输出第一检测信号及向所述第二检测针输出第二检测信号。

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