CN101839859B - 一种物料停留时间分布测试装置 - Google Patents
一种物料停留时间分布测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101839859B CN101839859B CN2010101776416A CN201010177641A CN101839859B CN 101839859 B CN101839859 B CN 101839859B CN 2010101776416 A CN2010101776416 A CN 2010101776416A CN 201010177641 A CN201010177641 A CN 201010177641A CN 101839859 B CN101839859 B CN 101839859B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- semi
- rtd
- residence time
- testing
- excitation source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Abstract
本发明公开了一种物料停留时间分布测试装置,包括通光管、光学窗口、荧光探测器、信号处理单元、激发光源、半透半反镜和光源供电单元等,激发光源发射的光束经半透半反镜入射到被测物料上,被测物料中的示踪剂受到激发后发射荧光,所述荧光经半透半反镜后传输到荧光探测器,通过信号处理单元分析,计算出物料停留时间分布。激发光束和荧光在出射过程中不需与光纤耦合,可以大幅度降低耦合损耗和成本,而且光路布置紧凑,测试装置体积较小。物料停留时间分布测试装置只与信号处理单元以及光源供电单元电连接,使用极为方便,且可以方便隔离被测物料的高温高压环境。
Description
【技术领域】
本发明涉及一种测试装置,特别是一种物料停留时间分布测试装置。
【背景技术】
停留时间分布(RTD)是表征物料在反应、混合或挤出过程的重要参数。停留时间是指物料通过一个连续操作的分离设备或反应设备,因流速分布不均或存在返混或在设备中存在不流动的“死区”等,物料在设备内停留的时间。把不同停留时间的物料表示为总物料量的份额数就是物料的停留时间分布。它是衡量设备性能的一个重要指标。
目前普遍采用的停留时间分布测定方法是刺激响应技术。刺激响应技术是在系统中注入示踪剂,然后测定出口处示踪剂浓度随时间的变化关系。加入的示踪剂应易于与原聚合物等物料混合,具有接近的流变学特性,质量要守恒,不沉淀,不反应,不吸附等。根据测试原理的不同,停留时间分布测试方法大致可分为超声波法、光强度法、比色法、光谱法和电导率法等。其中,荧光法是光谱法中较为常用的一种,其原理是某些物质经紫外线照射后,能立即放出能量较低的荧光,荧光强度与物质浓度成正比。荧光法灵敏度高,只需要很少量的示踪剂就能被检测到,可以减少对体系的干扰。现有技术中一般采用光纤探头实现荧光法的测量,光纤探头由一束分为两路的光纤组成,一路传导激发光源发出的紫外光照射聚合物等物料,另一路把聚合物等物料发出的荧光传导至光电倍增管(PMT)探测器。
对比文件《聚合物停留时间分布在线测量方法及系统》(专利号为200410025407.6)公开了一种采用光纤探头测量聚合物停留时间分布的方法及系统。该专利所述的激发光源光束通过耦合器耦合到光纤内,耦合效率较低,消耗的能量较大,另外,由于光纤探头是探头通过某种物质和光纤粘合在一起的,当机筒温度较高时,很容易造成粘合物溶化,使探头和光纤脱离。而且光纤是易折损器件,使用十分不便。
【发明内容】
针对上述不足,本发明旨在提出一种能量消耗小、体积小、耐高温且成本相对较低的物料停留时间分布测试装置。
如上所述的一种物料停留时间分布测试装置,包括通光管、光学窗口、荧光探测器、信号处理单元,其特征在于,所述装置还包括激发光源、半透半反镜和光源供电单元,激发光源发射的光束经过半透半反镜入射到位于光学窗口的被测物料上,被测物料中的示踪剂受到激发后发射荧光,所述荧光经半透半反镜反射后传输到荧光探测器,根据荧光的强度与物质浓度的关系,通过信号处理单元分析,可以计算出物料停留时间分布。
本发明所述的物料停留时间分布测试装置内置激发光源,激发光束通过通光筒,依次经过半透半反镜和光学窗口到达被测物料,同时,被激发光束激发的荧光经过光学窗口到达半透半反镜,反射后到达荧光探测器。激发光束和荧光在出射过程中不需与光纤耦合,可以大幅度降低耦合损耗和成本,而且光路布置紧凑,测试装置体积较小。整个装置只与信号处理单元以及光源供电单元电连接,使用极为方便,且可以方便隔离被测物料的高温高压环境。
作为优选,如上所述的激发光源为性能稳定的发光二极管。发光二级管发出稳定的某个波段的光束,该波段的光束可以透过半透半反镜入射到被测物料。
被激发的荧光经半透半反镜反射后到达荧光探测器,荧光探测器和信号处理单元电连接,设置在激发荧光经半透半反镜反射后的光路上。荧光探测器把反射荧光的发光强度传输给信号处理单元,信号处理单元通过分析处理,计算出物料停留时间分布。
作为优选,所述的半透半反镜是同时具有透射和反射功能的光学镜片,它与通光管的主轴线成一定角度相交。
作为一种技术方案,所述的半透半反镜选择性透射特定波段内的光辐射,选择性反射其他一定波段内的光辐射。具体而言,是将可激发示踪剂的波段内的光辐射透射;而在反射时滤除激发波段内的光辐射,使示踪剂所发射荧光波段内的光辐射被反射。
作为另一种技术方案,或者对上一个技术方案的补充,在激发光源和半透半反镜之间设置激发光源滤光片,该激发光源滤光片仅使激发波段的光辐射通过。在荧光探测器前设置荧光滤光片,荧光滤光片会滤除激发波段的光辐射,仅使物料受激发后发射的荧光入射到荧光探测器上。
作为优选,在激发光源旁设置激发光源探测器用来监测激发光源的稳定性,根据激发光源的波动对测量结果进行补偿。
作为一种技术方案,在通光管中设置光源透镜,将激发光源会聚到光学窗口上。在荧光探测器前设置荧光透镜,将反射的荧光会聚到荧光探测器上,增加探测灵敏度。
本发明还可通过下列技术方案加以完善和限定。
本发明所述的物料停留时间分布测试装置内置激发光源,激发光源在半透半反镜的反射下,到达被测物料,被测物料中的示踪剂被激发后出射荧光,所述荧光穿过半透半反镜后到达荧光探测器,根据荧光的强度与物质浓度的关系,通过信号处理单元分析,可以计算出物料停留时间分布。这里所述的半透半反镜是将可激发示踪剂的波段内的光辐射反射;而在透射时滤除激发光源波段内的光辐射,只能使示踪剂所发射荧光波段内的光辐射被透射。
作为优选,在物料停留时间分布测试时,可以选择2个测试装置,2个测试装置将各自反射的荧光传输到荧光探测器,荧光探测器将接受到的2个荧光信号传输给信号处理单元,从而得到物料局部停留时间分布曲线。
【附图说明】
图1为实施例1物料停留时间分布测试装置结构示意图。
图2为实施例2物料停留时间分布测试装置结构示意图。
图3为实施例3物料停留时间分布测试装置结构示意图。
【具体实施例】
实施例1
如图1所示,物料停留时间分布测试装置包括激发光源1、通光筒2、半透半反镜3、隔热层4、光学窗口5、荧光探测器6、信号处理单元7、电源供电单元8、激发光源滤光片9、光源透镜11、荧光滤光片12和荧光透镜13。本实施例中所述的激发光源1为发光二极管,所述的通光筒2为不透光且耐高温的不锈钢圆筒。电源供电单元8为一恒流电源,给发光二极管提供驱动,使发光二极管出射稳定的激发光束。在激发光源1处设有光源探测器10,用来监测激发光源1的稳定性,根据激发光源1的波动对测量结果进行补偿。激发光束通过通光筒2,依次穿过激发光源滤光片9、光源透镜11、半透半反镜3和光学窗口5到达被测物料。被测物料中的示踪剂被激发光束激发后出射某一波段的荧光。出射荧光通过光学窗口5到达半透半反镜3,荧光光束与半透半反镜3有一定的倾斜角度,荧光光束被半透半反镜3反射,经过荧光透镜13会聚和荧光滤色片12后到达荧光探测器6。荧光探测器6接收反射荧光后,把荧光的强度传输给信号处理单元7,信号处理单元7通过分析,可以计算出物料停留时间分布。
在本实施例中,半透半反镜3为具有透射和反射功能的光学镜片,可以透过能激发被测物料该波段的光辐射,同时能反射被激发的荧光。激发光源滤光片9对激发光源1所出射的光束进行选择,能激发被测物料该波段的光可以穿过激发光源滤光片9和半透半反镜3,到达被测物料,而其余波段的光则被过滤;同理,荧光滤色片12只能透过被激发的荧光,其余波段的光不能透过荧光滤色片12到达荧光探测器6。
实施例2:
如图2所示,物料停留时间分布测试装置包括激发光源1、通光筒2、半透半反镜3、隔热层4、光学窗口5、荧光探测器6、信号处理单元7、电源供电单元8、光源透镜11和荧光透镜13。本实施例中所述的激发光源1为发光二极管,所述的通光筒2为不透光且耐高温的不锈钢圆筒。电源供电单元8为一恒流电源,给发光二极管提供驱动,使发光二极管出射稳定的激发光束。激发光束通过通光筒2,依次穿过光源透镜11、半透半反镜3和光学窗口5到达被测物料。被测物料中的示踪剂被激发光束激发后出射某一波段的荧光。出射荧光通过光学窗口5到达半透半反镜3。荧光光束与半透半反镜3有一定的倾斜角度,荧光光束被半透半反镜3反射,经过荧光透镜13会聚后到达荧光探测器6。荧光探测器6接收反射荧光后,把荧光的强度传输给信号处理单元7,信号处理单元7通过分析,可以计算出物料停留时间分布。
在本实施例中,半透半反镜3除具有透射和反射功能外,还具有滤光作用,只能透过激发光源波段的光辐射,荧光光束不能透过半透半反镜3;同样的,在反射时,激发光源波段的光辐射不能被反射,因此自然地滤除了激发光而仅使荧光通过反射到达荧光探测器6。
实施例3
如图3所示,物料停留时间分布测试装置包括激发光源1、通光筒2、半透半反镜3、隔热层4、光学窗口5、荧光探测器6、信号处理单元7、电源供电单元8、激发光源滤光片9、光源透镜11、荧光滤光片12和荧光透镜13。本实施例中所述的激发光源1为发光二极管,所述的通光筒2为不透光且耐高温的不锈钢圆筒。电源供电单元8为一恒流电源,给发光二极管提供驱动,使发光二极管出射稳定的激发光束。在激发光源1处设有光源探测器10,用来监测激发光源1的稳定性,根据激发光源1的波动对测量结果进行补偿。激发光束穿过激发光源滤光片9和光源透镜11,因为激发光束与半透半反镜3有一定的倾斜角度,激发光束被半透半反镜3反射后到达被测物料。被测物料中的示踪剂被激发光束激发后出射某一波段的荧光。出射荧光通过光学窗口5,穿过半透半反镜3,经过荧光透镜13会聚和荧光滤色片12后到达荧光探测器6。荧光探测器6接收反射荧光后,把荧光的强度传输给信号处理单元7,信号处理单元7通过分析,可以计算出物料停留时间分布。
在本实施例中,半透半反镜3为具有透射和反射功能的光学镜片,可以反射能激发被测物料该波段的光辐射,同时能透射被激发的荧光。激发光源滤光片9对激发光源1所出射的光束进行选择,能激发被测物料该波段的光可以穿过激发光源滤光片9,同时在半透半反镜3的反射下到达被测物料,而其余波段的光则被过滤;同理,半透半反镜3和荧光滤色片12只能透过被激发的荧光,其余波段的光不能透过半透半反镜3荧光滤色片12到达荧光探测器6。
在物料停留时间分布测试时,可以选择2个测试装置,分别放置在物料流经的不同位置。2个测试装置分别通过测量荧光信号,得到各自位置上的物料停留时间,将二者结合得到更为详尽的物料局部停留时间分布曲线。
Claims (9)
1.一种物料停留时间分布测试装置,包括通光筒(2)、光学窗口(5)、荧光探测器(6)、信号处理单元(7),其特征在于,所述装置还包括激发光源(1)、半透半反镜(3)和光源供电单元(8),激发光源(1)发射的光束经过半透半反镜(3)入射到位于光学窗口(5)的被测物料上,被测物料中的示踪剂受到激发后发射荧光,所述荧光经过半透半反镜(3)后传输到荧光探测器(6);激发光源(1)和光源供电单元(8)电连接,荧光探测器(6)和信号处理单元(7)电连接。
2.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,所述的激发光源(1)为发光二极管。
3.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,所述的半透半反镜(3)选择性透射特定波段内的光辐射,选择性反射其他一定波段内的光辐射。
4.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,所述装置还包括激发光源滤光片(9),激发光源滤光片位于激发光源(1)到半透半反镜(3)之间的光路上。
5.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,在荧光探测器(6)前设置荧光滤光片(12)。
6.如权利要求1或3所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,所述的半透半反镜(3)与通光筒(2)的主轴线成一定的倾斜角度相交。
7.如权利要求1或2所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,光源供电单元(8)为一恒流电源。
8.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,所述装置设有用来监测激发光源(1)稳定性的激发光源探测器(10)。
9.如权利要求1或3所述的一种物料停留时间分布测试装置,其特征在于,所述的激发光源(1)所发出的激发光透过半透半反镜(3)入射到被测物料上,所述的荧光探测器(6)设置在物料所发出的荧光经半透半反镜(3)反射后的光路上。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2010101776416A CN101839859B (zh) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 一种物料停留时间分布测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2010101776416A CN101839859B (zh) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 一种物料停留时间分布测试装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101839859A CN101839859A (zh) | 2010-09-22 |
CN101839859B true CN101839859B (zh) | 2012-02-22 |
Family
ID=42743365
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2010101776416A Expired - Fee Related CN101839859B (zh) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 一种物料停留时间分布测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN101839859B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103364377B (zh) * | 2012-04-01 | 2016-04-06 | 中国科学院过程工程研究所 | 一种强电解质溶液中宏观混合时间的测量方法及应用 |
CN105334134A (zh) * | 2015-10-26 | 2016-02-17 | 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 | 高温流态化反应器中钛精矿停留时间的测定方法 |
CN105842217B (zh) * | 2016-05-19 | 2019-08-23 | 西安交通大学 | 一种基于移动终端的上转换荧光层析试纸检测结果读取装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08122241A (ja) * | 1994-10-26 | 1996-05-17 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 滞留時間分布測定方法および装置 |
CN1303419C (zh) * | 2004-06-17 | 2007-03-07 | 浙江大学 | 聚合物停留时间分布在线测量方法及系统 |
US8679383B2 (en) * | 2006-12-29 | 2014-03-25 | Montanuniversitaet Leoben | Device for and method of determining residence time distributions |
CN101183051A (zh) * | 2007-12-14 | 2008-05-21 | 北京化工大学 | 物料停留时间分布在线测量系统及方法 |
-
2010
- 2010-05-20 CN CN2010101776416A patent/CN101839859B/zh not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
JP特开平8-122241A 1996.05.17 |
熊辉等.挤出过程聚合物停留时间分布的在线测量新系统.《塑料》.2008,第37卷(第6期),106-108. * |
许忠斌等.聚合物挤出过程停留时间分布的在线检测新方法.《2004年全国高分子材料科学与工程研讨会论文集》.2004,397-398. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101839859A (zh) | 2010-09-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6139800A (en) | Interlaced lasers for multiple fluorescence measurement | |
CN101105449B (zh) | 双光源双敏感元件红外多气体检测传感器 | |
CA1225589A (en) | Fluorescent multiparameter particle analysis | |
CN106053428B (zh) | 一种基于f-p光学信号增强的石化载氢管道气体含量在线测量的传感装置 | |
US8536542B2 (en) | Flow cytometry analysis across optical fiber | |
CN106198471B (zh) | 一种基于导光毛细管的生化荧光分析仪及其检测方法 | |
CN103776815B (zh) | 一种便携式可调节的拉曼探头 | |
JPH01304346A (ja) | 蛍光または光散乱の検知装置および方法 | |
JP2003515124A5 (zh) | ||
CN206270228U (zh) | 具有双通道光路系统的荧光计 | |
CN101839859B (zh) | 一种物料停留时间分布测试装置 | |
CN106053404A (zh) | 一种便携式多波段荧光检测微量物质分析仪 | |
CN104280338A (zh) | 一种拉曼增强的测量装置和方法及使用的离轴积分腔结构 | |
CN101236160B (zh) | 面向小动物分子成像的时域荧光扩散层析系统 | |
US20210293710A1 (en) | Device for measuring a property of a measurement object by luminescence | |
CN102946918A (zh) | 检测装置和方法 | |
CN202149881U (zh) | 时间分辨的光诱导生物体超微弱光子检测系统 | |
CN105628658A (zh) | 一种生物气溶胶光学检测系统及检测方法 | |
CN101464409B (zh) | 快速定量检测细菌的装置及方法 | |
CN106010954A (zh) | 新型微滴式数字pcr光学检测系统、装置及方法 | |
CN201795862U (zh) | 一种紫外—可见及荧光联合光谱仪 | |
CN101995387B (zh) | 一种多功能紫外-可见光谱仪 | |
EP3701235B1 (en) | A fluorescent substance detection system | |
US20140234984A1 (en) | Optical measurement | |
CN102297841A (zh) | 一种基于光纤发射和接收信号的烟气自动监测仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20120222 Termination date: 20160520 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |