CN101833998A - 内存条测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于：其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。本发明的内存条测试装置由于在测试主板的内存条插槽周围设置了一个限位底板和限位块，该定位结构防止内存条在测试过程中反复插入内存条插槽而对内存条插槽造成破坏，另外，还具有成本低廉，结构简单稳定，使用寿命长的特点。

Description

内存条测试装置
技术领域
本发明涉及一种内存条测试装置。
背景技术
在现今信息化爆炸的时代，个人计算机的使用已经与日俱增。内存条作为计算机的重要组成部分，其生产和测试显得尤为重要。一般而言，内存条在测试的过程中，通常会将待测内存条插入测试装置主板的内存条插槽中模拟内存条在实际中的使用情况来进行测试，由于主板上内存条插槽是相对于主板载板是凸起来的，且两个内存条插槽间有一间隙，使得内存条在插入测试装置的内存条插槽的过程中，很容易将其误插入两个内存条插槽的间隙里，从而使得内存条上金手指与内存条插槽外壳发生摩擦，破坏了金手指表面的镀层，影响内存条的质量；另一方面，在进行多次的插拔内存条的测试后，内存条插槽经常受力不均发生倾斜，久而久之使得内存条插槽与主板间极可能产生接触不良的现象，会影响测试的精确度或结果，严重时内存条插槽会从主板上脱落，进而损坏测试主板。
发明内容
本发明的目的是提供一种成本低廉，结构简单稳定，使用寿命长的内存条测试装置。
本发明的技术方案是：一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于：其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。
优选的，所述限位块包括与所述测试主板连接的连接端，以及多个从所述连接端向内延伸的限位柱，所述限位柱包括插入内存条插槽内的第一限位柱，和插入相邻内存条插槽之间的第二限位柱，所述第一限位柱和第二限位柱间隔分布。
优选的，所述限位块为“山”字形，其一端固定在所述限位底板上，另一端包括三个由固定端向内延伸的限位柱，两侧限位柱插入到内存条插槽内，中间限位柱伸到两个内存条插槽之间。
优选的，所述限位底板有数个便于固定连接在测试主板上的螺丝孔。
本发明的内存条测试装置由于在测试主板的内存条插槽周围设置了一个限位底板和限位块，该定位结构防止内存条在测试过程中反复插入内存条插槽而对内存条插槽造成破坏，另外，还具有成本低廉，结构简单稳定，使用寿命长的特点。
附图说明
图1是本发明较佳实施例内存条测试装置的结构示意图；
图2是本发明较佳实施例内存条测试装置的限位底板结构示意图。
图3是本发明较佳实施例内存条测试装置的左右限位块的结构示意图。
图4是本发明较佳实施例内存条测试装置所配置的主板内存条插槽的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明具体实施方式作进一步详细的描述。
如图1、图2、图3和图4所示，本发明较佳实施例中的内存测试装置100包括一限位底板110和分别垂直安装在限位底板110左右两端的限位块120。限位底板110上有两个用于安装测试主板的第一内存条插槽410和第二内存条插槽430的第一通孔140和第二通孔150；必须了解，主板420是计算机系统或测试系统的主板。主板420上的第一内存条插槽410和第二内存条插槽430穿过第一通孔140和第二通孔150后，内存测试装置100用螺丝(未图示)分别通过四个螺丝固定孔160固定配置在主板420上。限位块120整体呈“山”字形状，其一端有向内延伸的限位柱210、220和230，限位块120另一端通过螺丝(未图示)与限位底板110固定后，限位柱210伸到第一内存条插槽410插槽内，限位柱230伸到第二内存条插槽430插槽内，限位柱220伸到第一内存条插槽410和第二内存条插槽430之间。
根据本发明的发明构思，本领域普通技术人员很容易想到在限位块上设置多个相互间隔设置的插入内存条插槽的限位柱，和插入相邻两内存条间隙的限位柱。
以上实施例仅为本发明实施方式的一种，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (4)

1.一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于：其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。
2.根据权利要求1所述的内存条测试装置，其特征在于：所述限位块包括与所述测试主板连接的连接端，以及多个从所述连接端向内延伸的限位柱，所述限位柱包括插入内存条插槽内的第一限位柱，和插入相邻内存条插槽之间的第二限位柱，所述第一限位柱和第二限位柱间隔分布。
3.根据权利要求1或2所述的内存条测试装置，其特征在于：所述限位块为“山”字形，其一端固定在所述限位底板上，另一端包括三个由固定端向内延伸的限位柱，两侧限位柱插入到内存条插槽内，中间限位柱伸到两个内存条插槽之间。
4.根据权利要求1所述的内存条测试装置，其特征在于：所述限位底板有数个便于固定连接在测试主板上的螺丝孔。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103331589A (zh) * 2013-06-24 2013-10-02 深圳市君奕豪科技有限公司 基于主板测试的内存条全自动插拔设备
CN110244213A (zh) * 2018-03-09 2019-09-17 宇瞻科技股份有限公司 自动化测试装置
CN111104268A (zh) * 2018-10-28 2020-05-05 海太半导体（无锡）有限公司 一种多枚内存条并行应用性能测试装置
CN116643936A (zh) * 2023-07-26 2023-08-25 青岛光迅电子科技有限公司 一种计算机配件的测试装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2423584Y (zh) * 2000-05-12 2001-03-14 王俞钧 具改进构造的介面卡测试治具
CN1627088A (zh) * 2003-12-11 2005-06-15 华硕电脑股份有限公司 电路板测试机构
CN1780056A (zh) * 2004-12-23 2006-05-31 金士顿科技公司 内存模块测试槽及测试仪
CN200962120Y (zh) * 2006-10-16 2007-10-17 宏连国际科技股份有限公司 测试器具
CN201138704Y (zh) * 2007-12-24 2008-10-22 华龙国际科技股份有限公司 卡缘连接器定位装置
CN101320857A (zh) * 2007-06-07 2008-12-10 张光荣 一种转接测试座
CN201654073U (zh) * 2010-03-02 2010-11-24 正文电子(苏州)有限公司 内存条测试装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2423584Y (zh) * 2000-05-12 2001-03-14 王俞钧 具改进构造的介面卡测试治具
CN1627088A (zh) * 2003-12-11 2005-06-15 华硕电脑股份有限公司 电路板测试机构
CN1780056A (zh) * 2004-12-23 2006-05-31 金士顿科技公司 内存模块测试槽及测试仪
CN200962120Y (zh) * 2006-10-16 2007-10-17 宏连国际科技股份有限公司 测试器具
CN101320857A (zh) * 2007-06-07 2008-12-10 张光荣 一种转接测试座
CN201138704Y (zh) * 2007-12-24 2008-10-22 华龙国际科技股份有限公司 卡缘连接器定位装置
CN201654073U (zh) * 2010-03-02 2010-11-24 正文电子(苏州)有限公司 内存条测试装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103331589A (zh) * 2013-06-24 2013-10-02 深圳市君奕豪科技有限公司 基于主板测试的内存条全自动插拔设备
CN103331589B (zh) * 2013-06-24 2016-04-27 深圳市君奕豪科技有限公司 基于主板测试的内存条全自动插拔设备
CN110244213A (zh) * 2018-03-09 2019-09-17 宇瞻科技股份有限公司 自动化测试装置
CN111104268A (zh) * 2018-10-28 2020-05-05 海太半导体（无锡）有限公司 一种多枚内存条并行应用性能测试装置
CN116643936A (zh) * 2023-07-26 2023-08-25 青岛光迅电子科技有限公司 一种计算机配件的测试装置

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