CN101680923B - 电子装置、电子装置的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供电子装置、电子装置的测试方法，该电子装置具有：接收信号的接收器(3)；输出信号的驱动器(2)；以及具有与接收器(3)的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部(10)和具有与接收器(3)的输出端连接的相位检测器的抖动测定部(20)中的至少一方，通过将驱动器(2)的输出端(2a)和接收器(3)的输入端(3a)连接，进行驱动器输出的振幅和抖动中的至少一方的测定。

Description

电子装置、电子装置的测试方法

技术领域

本发明涉及能够进行用于测定装置的特性的测试的电子装置、电子装置的测试方法及制造方法等，该电子装置例如是进行高速动作的集成电路那样的电子装置。

背景技术

近年来，伴随宽带互联网的普及，不仅要求网络的高速化、大容量化，而且在通信装置、服务器、存储器内也要求更高速的电子电路或电子装置。关于这种电子电路中的例如输入输出电路(I/O)开发了各种高速I/O。其中，所说高速I/O指在被装配到集成电路(LSI)中的输入输出电路中具有数据速率为1Gbps以上的速度的输入输出电路，但在这种高速I/O中，由于该高速动作，进行出厂测试比较困难。即，在想要使用外部电路输入测试信号时，能够输入的频率(几100MHz)和信号(DC输入)有限，所以作为高速I/O的测试不是有效的。因此，以往将BIST(built-in self-test)电路嵌入集成电路中，只进行用于测试信号是否连通的信号连通性的测试。

如果只进行信号连通度的测试，即使是在信号连通度的测试中被判定为良好的元件，在被装配到装置中后，由于被装配元件的特性和基板的信号损失等，结果，有时不能实现信号的正常导通。另外，也想开发不仅进行信号连通度的测试，也能够测定输入输出信号的振幅或者确认抖动容限的外部测试装置，但因费用过高而变得不现实。

另外，关于抖动测定，公知有专利文献1、2记载的技术，关于环回测试，公知有专利文献3记载的技术。

专利文献1：日本专利第3724803号公报

专利文献2：日本实开平5-41232号公报

专利文献3：日本特开2004-328369号公报

发明内容

鉴于上述问题，本发明的其目的在于，提供一种电子装置、电子装置的检查方法等，该电子装置装配了能够进行本装置的测试的测定部。

为了达到上述目的，本发明的一个方式提供一种电子装置，其特征在于，所述电子装置具有：接收信号的接收器；输出信号的驱动器；以及具有与所述接收器的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部和具有与所述接收器的输出端连接的相位检测器的抖动测定部中的至少一方，通过将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接，进行驱动器输出的振幅和抖动中的至少一方的测定，所述抖动测定部的相位检测器具有用于输入所述接收器的输出的一个输入端和用于输入相位时钟的另一个输入端，从所述电子装置外部向所述一个输入端输入外部时钟，进行所述相位检测器的校准。

另外，也能够在本装置内具有将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接的环回电路，通过该环回电路来连接所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端。

另外，也可以具有控制所述驱动器的振幅的振幅控制器。并且，也可以具有控制所述驱动器的延迟的延迟控制器。

也可以构成为具有将所述驱动器的输出和来自外部的基准电压进行比较的第1电压比较器，进行所述驱动器的输出振幅的校准。

所述振幅测定部也可以构成为具有将与由所述振幅检测器检测到的驱动器输出振幅对应的电压和来自外部的基准电压进行比较的第2电压比较器，在进行所述驱动器的输出振幅的校准后，通过所述环回电路将驱动器的输出输入到所述振幅检测器，根据所述第2电压比较器的输出进行所述振幅检测器的校准。

也可以构成为在进行所述相位检测器的校准后，由所述延迟控制器对驱动器输出施加预定的抖动，并通过所述环回电路输入到所述接收器，将所述接收器的输出输入到所述相位检测器的所述一个输入端，由此进行所述延迟控制器的校准。

根据本发明的第2方式，提供一种装置，其特征在于，安装了以上说明的电子装置中的至少一个电子装置。

根据本发明的第3方式，提供一种电子装置的测试方法，该电子装置具有：接收信号的接收器；输出信号的驱动器；以及具有与所述接收器的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部和具有与所述接收器的输出端连接的相位检测器的抖动测定部中的至少一方，所述测试方法的特征在于，将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接，从所述驱动器输出信号，在具有所述振幅测定部的情况下，所述振幅测定部测定从所述驱动器输出的信号的振幅，在具有所述抖动测定部的情况下，所述抖动测定部测定从所述驱动器输出的信号的抖动，还在所述测试之前，向所述相位检测器的用于输入所述接收器的输出的输入端输入外部时钟，对在所述相位检测器中使用的相位时钟和所述外部时钟进行比较，由此进行所述相位检测器的校准。

能够通过本装置内所具有的、将驱动器的输出端和所述接收器的输出端连接的环回电路来连接所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端。

另外，也可以将所述驱动器的振幅设定为所述接收器的最小接收振幅值，并确认从所述驱动器输出的信号的连通度。

另外，也可以将所述驱动器的延迟控制为所述接收器的最大抖动容限量，并确认从所述驱动器输出的信号的连通度。

另外，也可以在所述测试之前，将所述驱动器的输出和来自外部的基准电压进行比较，进行所述驱动器的输出振幅的校准。

也可以在进行所述驱动器的输出振幅的校准后，通过所述环回电路将驱动器的输出输入到所述振幅检测器，并将与由所述振幅检测器检测到的驱动器输出振幅对应的电压和来自外部的基准电压进行比较，由此进行所述振幅检测器的校准。

也可以在进行所述相位检测器的校准后，由所述延迟控制器对驱动器输出施加预定的抖动，并通过所述环回电路输入到所述接收器，将所述接收器的输出输入到所述相位检测器的所述一个输入端，由此进行所述延迟控制器的校准。

根据本发明的第3方式，提供一种电子装置的制造方法，其特征在于，所述制造方法包括制造步骤和使用上述说明的测试方法中的任意一种方法的测试步骤，所述制造步骤用于制造接收信号的接收器；输出信号的驱动器；以及与所述接收器的输入端连接的振幅测定部和与所述接收器的输出端连接的抖动测定部中的至少一方。

根据本发明的第4方式，提供一种程序，该程序使电子装置在将接收器的输入端和驱动器的输出端连接后进行测试，该电子装置具有：接收信号的所述接收器；输出信号的所述驱动器；以及具有与所述接收器的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部和具有与所述接收器的输出端连接的相位检测器的抖动测定部中的至少一方，所述程序的特征在于，所述程序使所述驱动器输出信号，通过与所述接收器的输入端连接的振幅测定部和与所述接收器的输出端连接的抖动测定部中的至少一方，测定从所述驱动器输出的信号的振幅和相位中的至少一方。

另外，执行下述处理中的至少一种处理来确认信号的连通性，所述处理包括：将所述驱动器的振幅设定为所述接收器的最小接收振幅值，使所述驱动器输出信号；以及将所述驱动器的延迟控制为所述接收器的最大抖动容限量，使所述驱动器输出信号。

以往对所制造的电子电路只能进行信号的连通度测试，但根据本发明，能够测定电子电路的振幅或抖动，所以能够在出厂前判别是否满足规格。另外，如果配置驱动器的振幅设定器，则还能确认最小输入振幅值。并且，如果配置驱动器的延迟控制器，则还能确认输入抖动容限。另外，还能从外部输入基准信号，容易进行各个部分的校准。

附图说明

图1是说明本发明的第1实施方式的振幅测定的图。

图2是说明在本发明的实施方式中使用的环回电路的一例的图。

图3是说明本发明的第2实施方式的抖动测定的图。

图4是说明本发明的第3实施方式的最小输入振幅值的确认、和第4实施方式的输入抖动容限的确认的图。

图5表示本发明的一个实施方式的驱动器输出的校准用的电路。

图6表示本发明的一个实施方式的振幅检测器的校准用的电路。

图7表示本发明的一个实施方式的相位检测器的校准用的电路。

图8表示本发明的一个实施方式的延迟控制器的校准用的电路。

图9是表示本发明的一个实施方式的概况的框图。

图10是说明本发明的一个实施方式的集成电路的制造方法的图。

图11是说明由安装了本发明的集成电路的布线板构成的装置的图。

标号说明

10输出振幅测定部；2a输出端子；3a输入端子；8、8a环回电路；20抖动测定部；50布线板；51、52集成电路。

具体实施方式

以下，参照附图说明本发明的实施方式。在各个附图中，相同的标号表示相同的构成要素。

图1是表示具有本发明的第1实施方式的输出振幅测定部的高速I/O的概况的图。输出振幅部与高速I/O一起作为集成电路的一部分，利用半导体工艺被装配在集成电路内。

在高速I/O的输出部，通过串行器1从并行数据转换为串行数据后，从输出驱动器2输出串行数据。

并且，在高速I/O的输入部，通过接收器3接收串行数据，从接收器3输出的串行数据被输入到提取时钟的CDR(Clock Data Recovery)4。从CDR4提取到的时钟通过伽玛检测器6输入到字对准器或字节对准器7。

另一方面，从CDR4输出的串行数据被输入到解串器5。解串器5由字节对准器7控制，使解串器5中的并行数据的定时一致，并把串行数据转换为并行数据。

以上所述的高速I/O的输入部和输出部的结构是公知的。在本发明的第1实施方式中，使高速I/O的输入部和输出部自行相对。即，通过环回电路8将驱动器2的输出端2a和接收器3的输入端3a连接，将驱动器2的输出输入到接收器3。另外，设置与接收器3的输入端3a连接的输出振幅测定部10。

输出振幅测定部10具有：振幅检测器11，其与接收器3的输入端3a连接；AC/DC转换器12，其将与由该振幅检测器11输出的振幅对应的AC输出转换为DC；电压检测器13，其将AC/DC转换器12的输出转换为电压；和存储器14，其存储电压检测器13的输出。

如图1所示，环回电路8能够利用设于集成电路的外部的布线构成。但是，环回电路8也可以利用形成于集成电路的印刷布线那样的电路与集成电路构成为一体。

图2是用于说明设于集成电路内的环回电路的图。在图2中，为了容易进行说明，把与图1中利用两条线示出的环回电路8对应的集成电路内的环回电路8a用一条线示出。

如图2所示，在集成电路内设置布线8a，通过例如半导体开关那样的开关8b和8c，将驱动器2的输出端2a和接收器3的输入端3a与布线8a连接。并且，通过使开关8b和8c导通，形成环回电路并进行测试。另外，在其他实施方式中，也可以根据需要选择采用外部的环回电路8还是采用内部的环回电路8a。

在第1实施方式中，在形成环回电路，并使驱动器2的输出与接收器3的输入自行相对后，输出驱动器2输出01交替的串行数据。所输出的01交替的串行数据被输入接收器3和振幅检测器11。由振幅检测器11检测到的振幅被输入AC/DC转换部12，并被转换为DC信号。被转换后的DC信号输入电压检测器13，并检测电压。所检测到的电压被作为振幅信息存储在存储器中，同时判定是否在额定值的范围内。

这样也能够进行信号振幅的定量测试，但以往只能进行连通性测试。并且，当在基板上安装了多个集成电路后的测试中出现了问题时，也能够容易确定是哪个集成电路不良。

本发明的第2实施方式用于测定在数据的比特串中产生的边缘的偏移即抖动。图3表示具有第2实施方式的测定输出抖动的抖动测定部的高速I/O的概况。抖动测定部与高速I/O一起被装配成为集成电路的一部分。

第2实施方式的高速I/O具有与第1实施方式相同的输入部和输出部。在第2实施方式中，抖动测定部20与输入部的接收器3的输出连接。

抖动测定部20具有：n个相位检测器21，其一个输入端与接收器3的输出连接；相位时钟发生器26，其与n个相位检测器21的另一个输入端连接；寄存器22，其被输入n个相位检测器21的输出；存储器23，其存储寄存器22的输出；和抖动分析器24，其与存储器23连接。并且，用于产生作为相位时钟的基准的基准时钟的基准时钟发生器27，与相位时钟发生器26连接。

为了测定输出抖动，首先将驱动器2的输出端2a和接收器3的输入端3a进行环回连接，使驱动器2的输出输入到接收器3。驱动器2输出预定的01交替的数据。接收到来自驱动器2的数据的接收器3的输出被输入CDR4，同时输入到n个相位检测器21的一个输入端。从相位时钟发生器26向n个相位检测器21的另一个输入端分别输入具有与0.01UI(Unit Interval)相当的相位差的相位时钟。相位时钟发生器26根据从基准时钟发生器27输入的基准时钟，生成提供给相位检测器的相位时钟。基准时钟发生器27可以配置在LSI的外部，但在本实施方式中，采用LSI内部的基准时钟发生器27。

被输入了具有与0.01UI相当的相位差的相位时钟的n个相位检测器21，检测接收器3的与每个0.01UI相当的数据，先存储在寄存器11中，再存储在存储器23中。在进行了几百次的相位检测器21的相位检测、在寄存器11中的临时存储、向存储器存储的步骤之后，读出存储在存储器23中的信息，并由抖动分析器计算抖动量。将所算出的抖动量与预定的基准抖动量进行比较，从而能够判定良好与不良。另外，所算出的抖动量例如可以存储在输出端口(未图示)内的存储器中，也可以返回存储在存储器23中。

在第2实施方式中，能够进行以往不能实现的抖动的测定，并且，在基板上安装了多个集成电路后的测试中，能够容易确定是哪个集成电路不良。

图4是表示第3实施方式的确认最小输入振幅值的方法、和第4实施方式的确认输入抖动容限的方法的图。

在第3实施方式中，确认接收器3的最小输入振幅值。为此，配置用于设定驱动器2的输出振幅的振幅设定器31。振幅设定器31还能设定接收器3的额定值的范围之外的驱动器的输出振幅。并且，将驱动器2的输出端2a和接收器3的输入端3a进行环回连接，使驱动器2的输出输入到接收器3。

然后，驱动驱动器2，使驱动器2输出预定的数据。然后，由振幅设定器31设定驱动器2的输出振幅，以使对接收器3的输入信号成为接收器3的最小输入振幅值。在该状态下，确认来自驱动器2的输出是否通过接收器3实现信号的连通。

第4实施方式是确认抖动容限的方法，该抖动容限表示接收侧不降低比特错误率即能跟踪抖动的能力。

在第4实施方式中，配置能够控制驱动器2的延迟量的延迟控制器32。该延迟控制器32也能够设定接收器3的额定值的范围之外的驱动器输出的延迟量。并且，将驱动器2的输出端2a和接收器3的输入端3a进行环回连接，使驱动器2的输出输入到接收器3。

然后，驱动驱动器2，使驱动器2输出预定的数据。然后，由延迟控制单元32对驱动器2的输出信号施加抖动，以使对接收器3的输入信号具有接收器3允许的最大输入抖动容限量。在该状态下，确认来自驱动器2的输出是否通过接收器3实现信号的连通。

在第3和第4实施方式中，能够确认在以往的连通度测试中不能实现的、最小输入振幅值和最大输入抖动容限量。

以上说明了能够实现出厂测试的本发明的实施方式，下面说明本发明的实施方式的校准。根据本发明的实施方式，从外部输入基准信号，由此能够进行校准。

图5是说明作为输出振幅测定部的输出振幅检测器的校准的前提的、驱动器输出的校准的图，图6是说明输出振幅测定部的输出振幅检测器的校准的图。在进行输出振幅检测器11的校准之前，需要进行输出驱动器2的校准，所以首先参照图5说明驱动器输出的校准。

如图5所示，具有用于校准输出驱动器2的输出的电压比较器43。从驱动器2输出的输出电压和从外部的基准电压产生器41输出的外部基准电压，输入到电压比较器43。电压比较器43的输出被存储在存储器44中。另外，电压比较器43和存储器44也可以使用图6所示的电压比较器42和存储器14。

驱动器2的输出的校准按照下面所述进行。另一方面，从外部的基准电压发生器41输出的基准电压输入到电压比较器42的一个输入端子。另一方面，输出驱动器2按照与外部基准电压相同的电压设定输出H电平的直流信号，并输入到电压比较器42的另一个输入端子。在电压比较器42中比较外部基准电压和输出驱动器2的输出电压。结果，如果有误差，则变更驱动器42的设定，并寻找没有误差的设定。所寻找到的没有误差的设定被存储在存储器14中。

并且，在设定输出驱动器2的输出振幅时，通过使用存储在存储器14中的没有误差的设定，输出驱动器2能够输出与从基准电压发生器41输出的基准电压相同的电压。

下面，参照图5说明振幅检测器11的校准。在输入振幅测定部10设置电压比较器42，以便进行校准。电压比较器42具有两个输入端子，从电压检测器13向一个输入端子输入与由振幅检测器11检测到的驱动器2的输出振幅对应的电压，同时向另一个输入端子输入从外部的基准电压发生器41输出的外部基准电压。

振幅检测器11的校准是通过下述处理进行的，即，在通过环回连接使驱动器2的输出与接收器3的输入自行相对后，使驱动器2输出与从基准电压发生器41输出的外部基准电压相同的电压，并通过电压比较器42进行比较。

输出驱动器2考虑图5所示的校准的结果来调整输出驱动器，并输出01交替的交流数据，以便获得与外部的基准电压相同的输出。驱动器2的输出端2a和接收器3的输入端3a进行环回连接，所以驱动器2的输出在输入接收器3的同时，输入到振幅检测器11。

由振幅检测器11检测到的振幅，通过AC/DC转换器12被转换为直流输出，通过电压检测器13检测其电压。由电压检测器13检测到的电压输入到电压比较器42的一个输入端，从外部的基准电压发生器41输出的外部基准电压输入到电压比较器42的另一个输入端。这样，通过电压比较器42比较由电压检测器13检测到的电压和外部基准电压。比较的结果即差分被存储在存储器14中。然后，根据所存储的差分修改由电压检测器13检测到的电压值。

图7是说明抖动测定部20的相位检测器21的校准的图。

为了进行相位检测器21的校准，在来自抖动测定部20的接收器3的信号输入到n个相位检测器21的电路中，设置例如由半导体开关构成的切换开关28。切换开关28切换来自接收器3的信号和来自外部时钟发生器45的外部时钟，将其中任一方输入到n个相位检测器21。外部时钟发生器45输出相对于从基准时钟发生器27输出的基准时钟具有预定的相位差的时钟。

相位检测器21的校准按照下面所述进行。从外部时钟发生器45向n个相位检测器的一端，输入相对于从基准时钟发生器27输出的基准时钟具有预定的相位差的时钟。从相位时钟发生器26向各个相位检测器21的另一端输入具有与0.01UI相当的相位差的时钟，所以各个相位检测器21检测各自的相位的差分。由各个相位检测器21检测到的相位的差分通过寄存器22存储在存储器23中。通过抖动分析器24计算存储在存储器23中的相位的差分与来自外部时钟发生器45的时钟之间的误差。所算出的误差被用于校正抖动测定部20的输出。

在相位检测器21的校准结束后，能够进行施加输出抖动的延迟控制器32的校准。

图8是说明施加输出抖动的延迟控制器的校准的图。在相位检测器即接收侧的抖动检测器的校准结束后，接着能够进行输出抖动控制器即延迟控制器的校准。另外，图8与图3相比，不同之处只是追加了延迟控制器32。

驱动器2的输出端2a和接收器3的输入端3a进行环回连接，驱动器2的输出被输入到接收器3。此处，由控制输出驱动器2的延迟的延迟控制器32，对输出信号施加预先确定的值的抖动，并从输出驱动器2输出输出信号。

如参照图3说明的那样，通过n个相位检测器21将来自接收器3的输出分别与具有与0.01UI(Unit Interval)相当的相位差的相位时钟进行比较。其结果通过寄存器22被存储在存储器23中。根据与存储在存储器23中的抖动相关的信息，由抖动分析器42计算抖动量。将这样算出的输出延迟控制器的抖动与结束了校准的相位检测器的抖动进行比较，所检测到的误差被存储在存储器23那样的存储器中，用于校正输出延迟控制器的控制值。

下面，参照图9和图10说明包括本实施方式的测试步骤的半导体电路制造步骤。图9是表示能够进行参照图1～图3说明的输出振幅值测定检查、输出抖动测定检查、最小输入振幅值的确认检查、输入抖动容限的确认检查的电子装置的概况的框图。

如图9所示，驱动器2的输出与接收器3的输入进行环回连接，测定驱动器2的输出振幅的输出振幅测定部10与接收器3的输入连接，测定驱动器2的输出抖动的输出抖动测定部20与接收器3的输入连接。并且，具有：振幅设定器31，其将驱动器2的振幅设定为接收器3的最小输入振幅量，进行连通度确认；和延迟控制器32，其进行施加接收器3的最大抖动容限量的控制，进行连通性确认。

下面，按照图10说明包括本实施方式的测试步骤的半导体电路制造步骤的流程。

首先，制造形成了图9所示的电路的半导体电路(S1)。然后，在检查步骤，首先将驱动器2的输出端和接收器3的输入端进行环回连接(S2)。环回连接可以是基于外部电路的连接，也可以是基于内部电路的连接。

在进行环回连接后，进行参照图5说明的驱动器2的输出的校准(S3)。在驱动器2的输出的校准结束后，使用驱动器2的输出，进行参照图6说明的振幅测定部10的振幅检测器11的校准(S4)。

然后，进行参照图7说明的抖动测定部20的n个相位检测器21的校准(S5)。在相位检测器21的校准结束后，使用相位检测器21，进行参照图8说明的延迟控制器32的校准(S6)。

在校准步骤结束后，如参照图1说明的那样，将驱动器2的输出信号通过环回电路输入到振幅测定部，并测定输出振幅。判定所测定到的输出振幅是否在允许范围内(S7)。然后，如参照图3说明的那样，将驱动器2的输出信号通过环回电路输入到接收器3，将从接收器3输出的信号输入到抖动测定部，测定信号的抖动。判定所测定到的抖动是否在允许范围内(S8)。

然后，如参照图4说明的那样，由振幅设定器31将驱动器2的振幅设定为接收器3的最小输入振幅量，并进行连通度确认(S9)。另外，由延迟控制器32进行控制来对驱动器2的抖动施加接收器3的最大抖动容限量，进行连通度确认(S10)。

这样，通过在半导体制造步骤中加入本发明的实施方式的检查步骤，能够进行以往不能进行的、基于半导体电路的特性测定的检查。以往只能对所制造的集成电路进行信号的连通度测试，所以在装配到装置中后有时会因噪声等的影响而产生错误动作，但根据本实施方式，能够在出厂前判别是否满足规格。因此，能够减少在装配到装置中后的集成电路的错误动作。另外，检查步骤能够利用计算机程序进行管理并执行。

图11是说明将使本实施方式的测定电路一体化形成的集成电路安装在印刷布线板上而构成的装置的图。如图11所示，将使本实施方式的测定电路一体化形成的集成电路51、52，和其他电子部件53一起安装在印刷布线板50上并构成装置，以便进行所期望的处理。另外，配置有作为其他装置结构所需要的电子部件，但省略了图示。当在组合了这种集成电路而构成的装置中发现了不良时，由于在各个集成电路51、52分别配置有一体的检查电路，所以能够容易确定发生了不良的部件。

Claims (16)

1.一种电子装置，其特征在于，

所述电子装置具有：

接收信号的接收器；

输出信号的驱动器；以及

具有与所述接收器的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部和具有与所述接收器的输出端连接的相位检测器的抖动测定部中的至少一方，

通过将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接，来进行驱动器输出的振幅和抖动中的至少一方的测定，

所述抖动测定部的相位检测器具有用于输入所述接收器的输出的一个输入端和用于输入相位时钟的另一个输入端，从所述电子装置外部向所述一个输入端输入外部时钟，进行所述相位检测器的校准。

2.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，在本装置内还具有将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接的环回电路，通过该环回电路来连接所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端。

3.根据权利要求1或2所述的电子装置，其特征在于，所述电子装置还具有控制所述驱动器的振幅的振幅控制器。

4.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述电子装置还具有控制所述驱动器的延迟的延迟控制器。

5.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述电子装置具有对所述驱动器的输出和来自外部的基准电压进行比较的第1电压比较器，进行所述驱动器的输出振幅的校准。

6.根据权利要求5所述的电子装置，其特征在于，

该电子装置具有将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接的环回电路，

所述振幅测定部具有对与由所述振幅检测器检测到的驱动器输出振幅对应的电压和来自外部的基准电压进行比较的第2电压比较器，在进行所述驱动器的输出振幅的校准后，通过所述环回电路将驱动器的输出输入到所述振幅检测器，根据所述第2电压比较器的输出进行所述振幅检测器的校准。

7.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，

该电子装置具有：将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接的环回电路；以及控制所述驱动器的延迟进行控制的延迟控制器，

在进行所述相位检测器的校准后，由所述延迟控制器对驱动器输出施加预定的抖动，通过所述环回电路输入到所述接收器，将所述接收器的输出输入到所述相位检测器的所述一个输入端，由此进行所述延迟控制器的校准。

8.一种装置，其特征在于，安装了权利要求1～7中的任意一项所述的电子装置。

9.一种电子装置的测试方法，该电子装置具有：接收信号的接收器；输出信号的驱动器；以及具有与所述接收器的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部和具有与所述接收器的输出端连接的相位检测器的抖动测定部中的至少一方，

所述测试方法的特征在于，

将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接，

从所述驱动器输出信号，

在具有所述振幅测定部的情况下，所述振幅测定部测定从所述驱动器输出的信号的振幅，在具有所述抖动测定部的情况下，所述抖动测定部测定从所述驱动器输出的信号的抖动，

还在所述测试之前，向所述相位检测器的用于输入所述接收器的输出的输入端输入外部时钟，对在所述相位检测器中使用的相位时钟和所述外部时钟进行比较，由此进行所述相位检测器的校准。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，通过本装置内所具有的、将驱动器的输出端和所述接收器的输出端连接的环回电路来连接所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端。

11.根据权利要求9或10所述的测试方法，其特征在于，还将所述驱动器的振幅设定为所述接收器的最小接收振幅值，确认从所述驱动器输出的信号的连通度。

12.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，还将所述驱动器的延迟控制为所述接收器的最大抖动容限量，确认从所述驱动器输出的信号的连通度。

13.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，还在所述测试之前，对所述驱动器的输出和来自外部的基准电压进行比较，进行所述驱动器的输出振幅的校准。

14.根据权利要求13所述的测试方法，其特征在于，

所述电子装置具有将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接的环回电路，

在进行所述驱动器的输出振幅的校准后，通过所述环回电路将驱动器的输出输入到所述振幅检测器，并对与由所述振幅检测器检测到的驱动器输出振幅对应的电压和来自外部的基准电压进行比较，由此进行所述振幅检测器的校准。

15.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，

所述电子装置具有：将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接的环回电路；以及控制所述驱动器的延迟进行控制的延迟控制器，

在进行所述相位检测器的校准后，由所述延迟控制器对驱动器输出施加预定的抖动，并通过所述环回电路输入到所述接收器，将所述接收器的输出输入到所述相位检测器的所述一个输入端，由此进行所述延迟控制器的校准。

16.一种电子装置的制造方法，其特征在于，

所述制造方法包括制造步骤和使用权利要求9～15中的任意一项所述的测试方法的测试步骤，

其中，所述制造步骤用于制造接收信号的接收器；输出信号的驱动器；以及与所述接收器的输入端连接的振幅测定部和与所述接收器的输出端连接的抖动测定部中的至少一方。

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