CN101646935A - 容器口部缺陷检查方法及装置 - Google Patents

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Abstract

在提高检查精度的同时，能以1台检查装置检测顶面细纹、顶面气泡、顶面起伏、顶面凹陷等全部缺陷。超过边信号阈值(EL)的区域为1个时，以最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，超过边信号阈值(EL)的区域为2个时，以第2区域的最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，因此，能够正确地作成进行检查的范围、即检查门，可不受各种噪声影响、精确地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查。

Description

容器口部缺陷检查方法及装置
技术领域
本发明涉及一种检查玻璃瓶等容器的口部顶面有无缺陷的容器口部检查方法及装置。
背景技术
作为进行此种检查的方法和装置，本申请人已经提出过下述专利文献1、2公开的方案。
专利文献1的方案为：向瓶口部顶面投光后由一个光电元件接收反射光，利用可对其输出信号进行放大度调节的放大器，并基于最新的预定数的瓶的数据的平均值，调节上述放大器的放大度而使该值成为预定值。对于检查中的瓶，沿口部顶面的整周对上述放大器的输出信号进行比较运算，在其异常成分超过了预定值时，输出缺陷信号。
具有不受各个瓶的顶面的反射率差异和投光器老化的影响、能进行稳定检查的特征。
专利文献2的方案为：向瓶口部顶面投光后通过线传感器(图像传感器)接收反射光，假定顶面凹陷的顶角在规定值以下、该凹部宽度D(顶面凹陷部分的沟宽度)在规定值以上时，判定存在顶面凹陷缺陷，输出不合格信号。
据此，能够高精度地自动检查此前难以自动检查的预面凹陷。
专利文献1：JP特开平3-7260号公报
专利文献2：JP特开平5-40846号公报
发明内容
上述专利文献1不仅不能检测出顶面凹陷，并且由于使用一个光电元件检查，所以检查精度存在限制。即，难以检查小的顶面细纹、顶面气泡等，如果降低阈值以应对此种情况，则由于各种噪音，存在把合格品判定为不合格品的误判增加的问题。
上述专利文献2只能检查出顶面凹陷缺陷，为了检查顶面细纹、顶面气泡、顶面起伏、顶面凹陷等全部的缺陷，还必需与专利文献1的检查装置并用。
本发明的目的在于，通过正确作成应该进行检查的检查门，不仅能高精度地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查，还能以一台检查装置对顶面细纹、顶面气泡、顶面起伏、顶面凹陷等全部的缺陷进行检查。
〔方案1〕
本发明是一种容器口部缺陷检查方法，向旋转的容器口部的检查位置投光，在该检查位置由朝向口部的宽度方向的线传感器接收反射光以检查容器口部的缺陷，其特征在于，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边(edge)信号阈值(EL)的区域，
该区域的宽度比边宽度阈值(EW)大时，以最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
所述区域的宽度比所述边宽度阈值(EW)小，在所述区域之外，还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，以该第2区域的最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
将从所述检查门开始位置地址(GES)到用任意的方式求得的检查门结束位置地址(GEE)，作为进行检查的范围、即检查门，
在该检查门中，进行顶面细纹或顶面气泡的检查。
顶面细纹是指，表面的细小凹沟状的损伤，相比于正常部分反射光变暗。顶面气泡是指，在浅表面的内部存在气泡的缺陷，由于气泡的透镜效应，相比于正常部分反射光变亮。
本申请的方案1的发明由于把达到了边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的位置作为检查门开始位置地址(GES)，所以例如，当容器中心与旋转轴偏离、容器由于旋转而晃动时，由于对应进行顶面(以及口部侧面)的顶面细纹、顶面气泡检查的范围(检查门)的开始位置能正确地设定，因而可不受各种噪音影响地、高精度地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查。此外，最先达到了边信号阈值(EL)的区域的宽度比边宽度阈值(EW)小、在所述区域以外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，由于把该第2区域的最先达到了边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的位置作为检查门开始位置地址(GES)，所以口部内侧即便有顶面凹陷等时，应进行顶面的顶面细纹、顶面气泡检查的范围(检查门)的开始位置也能准确地设定，能高精度地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查。
可考虑口部的断面形状及大小、线传感器的规格等来适当地决定边信号阈值(EL)、偏移值(OFS)。
〔方案2〕
本发明是方案1所述的容器口部缺陷检查方法，其特征在于，
所述检查门的结束位置地址(GEE)的求得方式是：对所述检查门开始位置地址(GES)加上预定的检查门宽度值(WID)。
由于将检查门开始位置地址(GES)加上预定的检查门宽度值(WID)作为检查门的结束位置地址(GEE)，应进行顶面(以及顶部侧面)的顶面细纹、顶面气泡检查的范围(检查门)的结束位置能正确地设定。可考虑应进行顶面细纹、顶面气泡检查的口部顶面、顶部侧面的宽度来适当地决定门宽度(WID)。
作为求得检查门的结束位置地址(GEE)的其他方法，还有，例如，设定电压的阈值，以比该阈值低的位置作为检查门的结束位置地址的方法等。不过，加上预定的门宽度(WID)的方法，能够正确地设定应进行顶面细纹、顶面气泡检查的范围作为检查门，而且在全部的线中检查门的宽度相同，因而非常适合。
〔方案3〕
本发明是一种容器口部缺陷检查方法，向旋转的容器口部的检查位置投光，在该检查位置由朝向口部的宽度方向的线传感器接收反射光以进行容器口部的顶面细纹或顶面气泡检查，其特征在于，
将所述线传感器的各线的线数据A、和相比于该线前进了预定的差分间隔(FP)的线的线数据B在检查门内进行差分处理，求出该差分数据比预定的差分阈值(TH)大的数据的单元(element)数，
从所述线数据A开始，顺序地将该操作重复预定的差分实施次数(VS)，
差分实施次数(VS)中的所述单元数的合计、即差分总单元数比预定的差分单元数阈值(PXL)大时，判定有顶面细纹或顶面气泡的缺陷。
在本发明中，由于不是简单地利用每条线的异常成分来进行判定，而是综合所设定的差分实施次数(VS)的多个线数据来进行判定，因此使得过去难以检测的缺陷，例如，在大范围内存在的轻度的缺陷、在与线成直角方向(口部圆周方向)上存在的细小损伤等情况，也能得到高精度地检测。
〔方案4〕
本发明是方案3所述的容器口部缺陷检查方法，其特征在于，
进行所述差分处理的两个线数据两者都没有比预定的顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时，判定为顶面细纹；所述两个线数据中的至少一个有比所述顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时(判定为顶面细纹缺陷以外的情况)，判定为顶面气泡。
仅依据差分数据的判定，不能判定缺陷是顶面细纹还是顶面气泡，但按以上方法，则可以判定缺陷是顶面细纹还是顶面气泡。
〔方案5〕
本发明是方案2所述的容器口部缺陷检查方法，其特征在于，
所述顶面细纹或顶面气泡的检查通过所述方案3或4中记载的检查方法进行。
通过按照方案2记载的方法设定检查门，且按照方案3或4记载的检查方法进行顶面细纹或顶面气泡的检查，能高精度地检测顶面细纹或顶面气泡的缺陷。
〔方案6〕
本发明是方案1～5中任意一项所述的容器口部缺陷检查方法，其特征在于，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，进行顶面起伏的检查。
顶面起伏是指口部顶面的内端或外端、或顶面宽度的整体呈现波状的缺陷。
〔方案7〕
本发明是方案6所述的容器口部缺陷检查方法，其特征在于，
所述顶面起伏的检查，
当线数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的数目的合计比预定的顶面起伏阈值(TWL)多时，判定为顶面起伏。
顶面起伏在口部顶面的整个宽度波动时，整个宽度的反射光变暗；在口部顶面的内侧或外侧波动时，内侧或外侧的反射光变暗。利用该性质，通过上述的方法能高精度地检测出顶面起伏。
〔方案8〕
本发明是方案1～7中任意一项所述的容器口部缺陷检查方法，其特征在于，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边信号阈值(EL)的第1区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，
此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，进行顶面凹陷的检查。
顶面凹陷是指，在容器口部内端形成夹着沟槽而向上方突出的突起部的缺陷。
〔方案9〕
本发明是方案8所述的容器口部缺陷检查方法，其特征还在于，
所述顶面凹陷的检查，
当所述第1区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址1与所述第2区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址2的差(D)比预定的顶面凹陷位置(TP)大时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的合计比预定的顶面凹陷阈值(TKL)多时，判定为顶面凹陷不合格。
所述第1区域和第2区域的间隔越宽，顶面凹陷就成为越大的缺陷。因此，通过在第1区域最先超过所述边信号阈值(EL)的地址1与第2区域最先超过所述边信号阈值(EL)的地址2的差(D)中设置顶面凹陷阈值(TKL)，能高精度地检测出顶面凹陷的缺陷。
〔方案10〕
本发明还提供一种容器口部缺陷检查装置，
包括：
向容器口部投光的投光器；
接收来自容器口部的反射光、朝向口部的宽度方向的线传感器；
驱动容器旋转、以使容器口部沿整周依次被投光的驱动装置；
接收来自所述线传感器的信号、检测出检查门的检查门检测机构；以及
在由所述检查门检测机构检测出的检查门中，检测出顶面细纹、顶面气泡的缺陷的顶面细纹检测机构和顶面气泡检测机构，
其中，所述检查门
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)大时，以最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
所述区域的宽度比所述边宽度阈值(EW)小，在所述区域以外，还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，以该第2区域的最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
将从所述检查门开始位置地址(GES)到用任意的方式求得的检查门结束位置地址(GEE)，作为检查顶面细纹、顶面气泡的缺陷的范围、即检查门。
本发明的装置由于采用方案1的检查方法进行检查，能正确设定应该进行顶面细纹、顶面气泡检查的范围(检查门)的开始位置，能高精度地进行顶面细纹、顶面气泡的检查。
〔方案11〕
本发明是方案10所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
所述检查门的结束位置地址(GEE)的求得方式是：对所述检查门开始位置地址(GES)加上预定的检查门宽度值(WID)。
本发明装置由于采用方案2的检查方法进行检查，能正确设定应该进行顶面细纹、顶面气泡检查的范围(检查门)的开始位置以及结束位置，能精确地进行顶面细纹、顶面气泡的检查。
〔方案12〕
本发明是方案10或11所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
所述顶面细纹检测机构或顶面气泡检测机构，
将所述线传感器的各线的线数据A、和相比于该线前进了预定的差分间隔(FP)的线的线数据B在检查门内进行差分处理，求出该差分数据比预定的差分阈值(TH)大的数据的单元数，
从所述线数据A开始，顺序地将该操作重复预定的差分实施次数(VS)，
差分实施次数(VS)中的所述单元数的合计、即差分总单元数比预定的差分单元数阈值(PXL)大时，判定有顶面细纹或顶面气泡的缺陷。
本发明装置由于采用方案3中记载的方法对顶面细纹或顶面气泡进行检测，使得过去难以检测出的缺陷，例如，在大范围存在的轻度的缺陷、与线成直角方向(口部圆周方向)上存在的细小损伤等情况，也能检测出。
〔方案13〕
本发明是方案12所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
进行所述差分处理的两个线数据两者都没有比预定的顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时，判定为顶面细纹的缺陷；所述两个线数据中的至少一个有比所述顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时，判定为顶面气泡的缺陷。
本发明装置由于采用方案4的方法对顶面细纹或顶面气泡进行检测，使得该缺陷是顶面细纹还是顶面气泡能够容易地得到区分、判定。
〔方案14〕
本发明是方案10～13中任意一项所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
包括顶面起伏检测机构，该顶面起伏检测机构接收来自所述检查门检测机构的信号，检测顶面起伏。
通过设置顶面起伏检测机构，也可检测出顶面起伏的缺陷。
〔方案15〕
本发明是方案14所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
所述检查门检测机构，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，向顶面起伏检测机构发送信号，进行顶面起伏的检查。
〔方案16〕
本发明是方案15所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
所述顶面起伏检测机构，
当线数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的数目比预定的顶面起伏阈值(TWL)多时，判定为顶面起伏。
本发明装置由于采用方案7中记载的方法对顶面起伏进行检查，因而能高精度地检测出顶面起伏的缺陷。
〔方案17〕
本发明是方案10～16中任意一项所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
包括顶面凹陷检测机构，该顶面凹陷检测机构接收来自所述检查门检测机构的信号，检测顶面凹陷。
通过设置顶面凹陷检测机构，也可检测出顶面凹陷的缺陷。
〔方案18〕
本发明是方案17所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
所述检查门检测机构，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边信号阈值(EL)的第1区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，
此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，向顶面凹陷检测机构发送信号，进行顶面凹陷的检查。
〔方案19〕
本发明是方案18所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
所述顶面凹陷检测机构，
当所述第1区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址1与所述第2区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址2的差(D)比预定的顶面凹陷位置(TP)大时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的数目比预定的顶面凹陷阈值(TKL)多时，判定为顶面凹陷不合格。
本发明装置由于采用方案9中记载的方法对顶面凹陷进行检查，因而能高精度地检测顶面凹陷的缺陷。
〔方案20〕
本发明是方案10～19中任意一项所述的容器口部缺陷检查装置，其特征在于，
所述投光器包括向容器口部的顶面投光的投光系统和向从容器口部顶面延续的外侧面投光的投光系统这两个系统；
所述线传感器被设置成从容器口部正上方的外侧方向接收来自容器口部顶面及口部外侧面的反射光。
通过这样构成，不仅是容器口部顶面，也可同时检查口部外侧面的缺陷。
本发明的检查方法及检查装置即使在例如容器中心与旋转轴偏离，容器由于旋转而晃动的情况或口部内侧存在顶面凹陷等的情况下，也能准确地作成应进行顶面的顶面细纹、顶面气泡检查的范围(检查门)，能高精度地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查。
进而，对顶面细纹、顶面气泡的检测，不是简单地利用每条线的异常成分进行判定，而是综合差分实施次数(VS)的多个线数据来进行判定，所以使得过去难以检测的缺陷，例如在大范围存在的轻度缺陷、与线成直角方向(口部圆周方向)上的细小损伤等情况，也能高精度地得到检测。
进而，本发明的装置可用一台检查装置对顶面细纹、顶面气泡、顶面起伏、顶面凹陷等全部的缺陷进行高精度的检测。而且使投光器成为向容器口部顶面投光的投光系统、和向容器口部的外侧面投光的投光系统这两个系统，不仅容器口部顶面，口部外侧面的缺陷也可同时得到检查。
附图说明
图1为实施例的容器口部检查装置1的框图。
图2为容器口部检查装置1的流程图。
图3为投光器2的正视图。
图4为投光器2的侧视图。
图5为投光器2的照射范围的说明图。
图6为检查门作成的流程图。
图7为检查门作成示例的说明图。
图8为检查门作成示例的说明图。
图9为顶面细纹检测的流程图。
图10为差分间隔FP及差分实施次数VS1的说明图。
图11为差分处理的说明图。
图12为顶面气泡检测的流程图。
图13为差分处理的说明图。
图14为顶面起伏检测的流程图。
图15为顶面起伏检测的说明图。
图16为顶面凹陷检测的流程图。
图17为顶面凹陷检测的说明图。
图18为检查站的平面图。
符号说明
1容积口部检查装置
2投光器
21白色LED
22高透射率扩散板
23菲涅耳透镜
24照射范围
25白色LED
26高透射率扩散板
27菲涅耳透镜
28照射范围
3线传感器
31单元排列
4存储器
5检查门检测机构
6顶面细纹检测机构
7顶面气泡检测机构
8顶面起伏检测机构
9顶面凹陷检测机构
10检查台
11容器
12检查站
13传送机
14搬入旁路
15进给蜗杆
16星形轮
17搬出旁路
具体实施方式
图1为实施例的容器口部检查装置1的框图，图2为容器口部检查装置1的流程图，图3为投光器2的正视图，图4为投光器2的侧视图，图5为投光器2的照射范围的说明图。如图1所示，容器口部检查装置1具有投光器2、线传感器3、存储器4、检查门检测机构5、顶面细纹检测机构6、顶面气泡检测机构7、顶面起伏检测机构8、顶面凹陷检测机构9及驱动容器旋转的驱动装置(图中未示出)等。检查门检测机构5进一步具有顶面检测机构5a及检查门宽度判定机构5b。存储器4、检查门检测机构5、顶面细纹检测机构6、顶面气泡检测机构7、顶面起伏检测机构8及顶面凹陷检测机构9可以在计算机内设定。驱动装置可使用现有技术中周知的、与此种检查装置相同的装置。
来自投光器2的光由容器(玻璃瓶等)11的口部顶面及口部外侧面反射，由线传感器3接收该反射光。由线传感器3接收的各线数据被存储在存储器4中。从存储器4读取的线数据，通过检查门检测机构5作成检查门，并且区分出应当由顶面细纹检测机构6及顶面气泡检测机构7、顶面起伏检测机构8、顶面凹陷检测机构9中的哪个检测机构进行检查。基于该区分结果，由顶面细纹检测机构6、顶面气泡检测机构7、顶面起伏检测机构8或顶面凹陷检测机构9检查线数据。当由各检测机构判定出不合格时，输出不合格信号。不合格信号除了记录在存储器中以外，还能用于警告装置的启动或不合格容器排除装置的启动等。
根据图2，对容器口部检查装置1的处理概要进行说明。
先进行这样的判定：
步骤101......数据处理指令是否为ON(接通)？
若为“是”，则进入
步骤102......数据处理(检测不合格)，
由检查门检测机构5作成检查门，并且由顶面细纹检测机构6、顶面气泡检测机构7、顶面起伏检测机构8或顶面凹陷检测机构9进行检查。然后，进行这样的判定：
步骤103......是否为不合格？
若为“是”，则进入
步骤104......记录不合格，
在计算机的存储器内记录不合格的信息，进入步骤105。
若为“否”，则直接进入步骤105。从
步骤105......下一个数据处理指令
开始返回步骤101，对于下一个线数据重复上述处理(步骤101～105)。
容器11如图4所示，被放置在由驱动装置(图中未示出)旋转的检查台10上进行检查。投光器2如图3、图4所示，具有双系统的投光系统。第1投光系统由白色LED21、高透射率扩散板22、菲涅耳透镜23组成。第1投光系统主要向容器口部顶面11a照射θ1约为40°的汇聚光。第2投光系统由白色LED25、高透射率扩散板26、菲涅耳透镜27组成。第2投光系统主要向容器口部外侧面11b照射θ2约为30°的汇聚光。第1投光系统在口部顶面的平面上的照射范围24以及第2投光系统在口部顶面的平面上的照射范围28大致如图5所示。照射范围24、28的直径约12mm，照射范围28的中心相比于照射范围24的中心向外侧偏离约6mm。
(检查门的作成)
接下来，基于图6～图8，对线传感器的各线的检查门的检测进行说明。图6为检查门作成的流程图，图7、图8为检查门作成示例的说明图。
在图6中，通过
步骤201......设定边信号阈值EL、边宽度阈值EW
来设定边信号阈值EL、边宽度阈值EW。这些值根据所检查的容器种类预先设定。
通过
步骤202......设定偏移值OFS
来设定偏移值OFS。偏移值OFS是用于加在最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)上来决定检查门开始位置地址GES的单元(element)数，根据所检查的容器的种类预先设定。
通过
步骤203......设定检查门宽度值WID
来设定检查门宽度值WID。门宽度值WID根据所检查的容器种类预先设定。
通过
步骤204......设定顶面起伏宽度TW
来设定顶面起伏宽度TW。顶面起伏宽度TW是用于决定是否进行顶面起伏检查的单元数，根据所检查的容器种类预先设定。
通过
步骤205......设定数据地址
来设定保存数据的存储器的地址。
进行
步骤206......清除存储器的地址保存区
的处理。然后，对从存储器读出的各地址的线数据进行以下的处理。
通过
步骤207......从线数据的左端地址开始搜索
而从口部内侧方向向外侧方向对线数据进行搜索，
进行这样的判定：
步骤208......是否有超过边信号阈值EL的数据？
为“否”时，通过顶面起伏检测机构对于该线数据进行顶面起伏检查，
为“是”时，进行这样的判定：
步骤209......数据是否比边宽度阈值EW大？
为“否”时，进行判定：
步骤210......搜索下一个地址，是否有大于边信号阈值EL的数据？
为“否”时，通过顶面起伏检测机构进行顶面起伏的检查，为“是”时，进行判定：
步骤211......比EL(边信号阈值)大的数据的宽度是否比TW(顶面起伏宽度)大？
为“否”时，通过顶面起伏检测机构进行顶面起伏的检查，为“是”时，通过顶面凹陷检测机构进行顶面凹陷检查，并且进入下面的步骤212。上述步骤201～211的处理由图1中的顶面检测机构5a进行，后述的步骤212～216由检查门宽度判定机构5b进行。
进行
步骤212......计算出检查门边地址GE
的处理。比边信号阈值EL大的区域为一个时，以最先达到EL的地址作为检查门边地址GE；有两个时，以第2区域中最先达到EL的地址作为GE。
在
步骤213......根据偏移值计算出检查门开始位置地址GES
的处理中，把检查门边地址GE加上偏移值OFS后得到的地址设定为检查门开始位置地址GES，通过
步骤214......利用检查门宽度值计算出检查门结束位置地址GEE，作成检查门，
从而把检查门开始位置地址GES加上检查门宽度值WID后得到的地址设定为结束位置地址GEE，作成从检查门开始位置地址GES到检查门结束位置地址GEE的检查门。
在
步骤215......针对每个取入的线数据作成检查门(取入次数为N)
的处理中，直到第N个线数据为止，从存储器取入线数据，针对每个线数据都进行步骤207～214的处理。预先设定取入次数N，但采用比容器口部整周的线数n还多若干的数值，优选为从n+10到n的1.3倍左右。
通过
步骤216......按取入的线数据的顺序对数据进行保存
而使作成检查门后的线数据按顺序保存在存储器内，对于各线数据，通过顶面细纹检测机构及顶面气泡检测机构来进行顶面细纹、顶面气泡的检查。
图7是超过边信号阈值EL的区域有两个时的检查门作成的说明图。由于第1区域T1的宽度比边宽度阈值EW小(步骤209)，第2区域T2的宽度比顶面起伏宽度TW大(步骤211)，因此第2区域最先达到边信号阈值EL的检查门边地址GE加上偏移值OFS后得到的地址成为检查门开始位置地址GES，进一步加上检查门宽度值WID后得到的地址成为检查门结束位置地址GEE。在图7中，符号α表示顶面细纹，β表示顶面气泡，γ表示顶面起伏，δ表示顶面凹陷。
图8是超过边信号阈值EL的区域为一个时的检查门作成的说明图，由于超过边信号阈值EL的区域的宽度大于边宽度阈值EW(步骤209)，该区域最先达到边信号阈值EL的检查门边地址GE加上偏移值OFS后得到的地址成为检查门开始位置地址GES，进一步加上检查门宽度值WID后得到的地址成为检查门结束位置地址GEE。
(顶面细纹检测)
图9为顶面细纹检测的流程图。该图中，通过
步骤301......设定差分滤波器F
来设定差分滤波器F。差分滤波器F在检查门内对两个线数据进行差分。
通过
步骤302......设定差分间隔FP
来设定差分间隔FP。据此，各线数据与其FP个前的线数据进行差分处理。FP例如可以为3～10。
通过
步骤303......设定顶面细纹差分阈值TH1
来设定顶面细纹差分阈值TH1。根据所检查的容器种类预先设定顶面细纹差分阈值TH1。
通过
步骤304......设定差分单元数阈值PXL1
来设定差分单元数阈值PXL1。根据所检查的容器种类预先设定差分单元数阈值PXL1。
通过
步骤305......设定差分实施次数VS1
来设定差分实施次数VS1。据此，将VS1个差分数据作为一组进行处理。VS1例如可以为2～10。
通过
步骤306......设定顶面细纹、顶面气泡判定值TAL
来设定顶面细纹、顶面气泡判定值TAL。根据所检查的容器种类预先设定顶面细纹、顶面气泡判定值TAL。
步骤307......载入第1个线数据，作为取入数据A，
步骤308......载入从取入数据A的线数据前进了FP的线数据，作为取入数据B，
步骤309......比较取入数据A与取入数据B，
然后，进行这样的判定：
步骤310......比较数据是否比TAL小？
这里，检查取入数据A及取入数据B中有没有比顶面细纹、顶面气泡判定值TAL大的部分，取入数据A、B都没有比TAL大的部分(图11)时，判定为“是”；至少一个有比TAL大的部分(图13)时，判定为“否”。为“是”时，进入步骤311，为“否”时，进入步骤314。
通过
步骤311......使用F对取入数据A及前进了FP的取入数据B进行差分
来作成检查门内的取入数据A、B的电压的差分数据。
进行这样的判定：
步骤312......差分数据是否比TH1大？
为“是”时进入步骤313，为“否”时进入步骤314。为“是”时，进行
步骤313......计算出比TH1大的数据的单元数，并进行保存，
的处理，然后，进行以下处理：
步骤314......载入下一个线数据，作为取入数据A，载入从该线数据前进了FP的线数据，作为取入数据B。
这里所说的“下一个线数据”是指步骤311中的“取入数据A”的下一个线数据。
步骤315......比较取入数据A与取入数据B
的处理后，进行判定：
步骤316......是否比较了VS1次？
这是为了根据VS1次的差分数据来进行顶面细纹缺陷的判定。为“否”时重复步骤310～316，为“是”时，
进行以下处理：
步骤317......载入VS1次的比TH1大的数据的单元数，全部相加，作为差分总单元数保存。
这是在VS1次的各差分数据中，对电压大于顶面细纹差分阈值TH1的单元数进行计数、对VS1次进行合计、在存储器内保存的处理。然后，进行以下处理
步骤318......载入下一个线数据，作为取入数据A。
这里的“下一个线数据”是指步骤315中的“取入数据A”的下一个线数据。然后，进行判定：
步骤319......是否已载入预定的线数据作为取入数据A？
这里，可任意地决定预定的线数据，以使对容器口部整周的全部线数据都进行步骤317的处理，例如可取第{N-(VS1+FP)+2}个线数据。步骤319中为“否”时，重复步骤308～步骤319的处理，为“是”时，通过
步骤320......载入全部的差分总单元数
而载入在步骤317中保存的全部的差分总单元数，
进行判定：
步骤321......全部的差分总单元数中是否有比PXL1大的？
全部的差分总单元数中只要有一个比差分单元数阈值PXL1大，则判定为有顶面细纹缺陷，如果一个也没有，则判定为合格品(无顶面细纹)。
图10为差分间隔FP及差分实施次数VS1的说明图。该图中，对差分间隔FP＝3，差分实施次数VS1＝5的情况进行示例。对第1次取入的线数据和前进了差分间隔FP＝3的第4次取入的线数据进行差分处理(I)(步骤311)。同样地，对第2次取入的线数据和第5次取入的线数据进行差分处理(II)，对第3次取入的线数据和第6次取入的线数据进行差分处理(III)，对第4次取入的线数据和第7次取入的线数据进行差分处理(IV)，对第5次取入的线数据和第8次取入的线数据进行差分处理(V)。由于差分实施次数VS1＝5，所以把差分处理(I)～(V)的差分结果作为一组进行处理。即，将各差分数据与顶面细纹差分阈值TH1进行比较(步骤312)，求得比其大的单元数(步骤313)，针对差分处理(I)～(V)全体合计比顶面细纹差分阈值TH1大的单元数而求得差分总单元数(步骤317)，与差分单元数阈值PXL1比较后进行顶面细纹的判定(步骤321)。这样，把从第1次取入的线数据到第5次取入的线数据的差分处理结果作为一组而进行顶面细纹的判定。然后，把接下来的、从第6次取入的线数据到第10次取入的线数据的差分处理结果作为一组而进行顶面细纹的判定。
图11为差分处理的说明图。A线的线数据在左上方表示。从A线前进了FP的B线的线数据在右上方表示。由于B线上有顶面细纹α，所以检查门(WID间)的电压变低。此外，A线和B线两者的线数据都是比顶面细纹、顶面气泡判定值TAL小的电压。对A线和B线的线数据进行差分处理后的结果在右下方表示。差分处理通过在检查门内(WID间)对电压相减而进行。这时，由于在检查门内(WID间)的全部的单元中，比顶面细纹差分阈值TH1大，所以WID间的全部的单元数被计算出(步骤313)。
(顶面气泡检测)
图12为顶面气泡检测的流程图。顶面气泡检测通过与顶面细纹检测几乎相同的处理而进行。该图中，步骤401～421与顶面细纹检测步骤301～321对应。并且，步骤403～405的顶面气泡差分阈值TH2、差分单元数阈值PXL2、差分实施次数VS2与顶面细纹检测步骤303～305的顶面细纹差分阈值TH1、差分单元数阈值PXL1、差分实施次数VS1对应，具有这种对应关系的数值可以设定为相同的值，也可以设定为不同的值。
顶面气泡检测与顶面细纹检测实质性的区别仅在于如下判定：
步骤410......比较数据是否比TAL大？
与顶面细纹检测时的“比较数据是否比TAL小？”相反。
图13为差分处理的说明图。A线的线数据在左上方表示。从A线开始前进了FP个的B线的线数据在右上方表示。由于B线中有顶面气泡β，检查门(WID间)的电压变高。这样，当A或B的线数据中的至少一个有比顶面细纹、顶面气泡判定值TAL大的电压的部分时，进行顶面气泡检测，否则进行顶面细纹检测。对A线和B线的线数据进行差分处理后的结果在右下方表示。差分处理通过在检查门内(WID间)对电压相减而进行。这时，由于在检查门内(WID间)的一部分单元中，比顶面气泡差分阈值TH2大，所以计算出该大的单元数(步骤413)。
(顶面起伏检测)
图14为顶面起伏检测的流程图。该图中，
步骤501......设定顶面起伏阈值TWL
的处理后，通过
步骤502......从线数据的左端地址开始搜索，
从口部的内侧方向向外侧方向搜索线数据，
进行这样的判定：
步骤503......是否有超过了边信号阈值EL的数据？
为“是”时进入步骤504，为“否”时进入步骤507。
进行这样的判定：
步骤504......数据是否比边宽度阈值EW大？
为“否”时，由于超过该EW的区域为噪声或顶面凹陷，所以进入步骤505，为“是”时进入步骤506。
进行判定：
步骤505......搜索下一个地址，是否有大于边信号阈值EL的数据？
为“是”时进入步骤506，为“否”时进入步骤507。
在
步骤506......超过了数据的单元数是否比TW小？
中，判定比边信号阈值EL大的部分的单元数是否比顶面起伏宽度TW(参照步骤204)大，若为“是”，则进入步骤507，若为“否”，则进入步骤508。
进行处理：
步骤507......对检测线数进行计数、保存。
检测线数的计数在以下情况下进行：
(1)步骤503中判定为“否”时，
(2)步骤505中判定为“否”时，
(3)步骤506中判定为“是”时。
也即：
(1)线数据没有超过边信号阈值EL的区域时，
(2)线数据有超过边信号阈值EL的区域，该区域的宽度比边宽度阈值EW小，其次没有超过所述边信号阈值EL的第2区域时，
(3)线数据有超过边信号阈值EL的区域，该区域的宽度比边宽度阈值EW小，其次有超过所述边信号阈值EL的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时。
通过判定：
步骤508......是否处理了第N个线数据？
为“否”时，通过
步骤509......处理下一个线数据
重复进行步骤502～508的处理直到处理了第N个线数据，步骤508若为“是”，
通过
步骤510......载入到第N次为止的检测线数的计数，
载入从第一个线数据开始到第N个线数据为止在步骤507中被作为检测线的线数的合计，
通过判定：
步骤511......到第N次为止计数得到的检测线数目是否比TWL
多？
步骤510的检测线的合计比顶面起伏阈值TWL多时，判定为顶面起伏；比其少时判定为合格品(无顶面起伏)。
图15为顶面起伏检测的说明图。
该图中，左侧表示的“顶面起伏1线数据”是在步骤503“是否有超过边信号阈值EL的数据？”中为“是”、步骤504“数据是否比边宽度阈值EW大？”中为“否”、步骤505“搜索下一个地址，是否有大于边信号阈值EL的数据？”中为“否”、通过步骤507作为检测线进行计数的情况。
该图中，右侧表示的“顶面起伏2线数据”是在步骤503“是否有超过边信号阈值EL的数据？”中为“是”、步骤504“数据是否比边宽度阈值EW大？”中为“否”、步骤505“搜索下一个地址，是否有大于边信号阈值EL的数据？”中为“是”、步骤506“超过了数据的单元数是否比顶面起伏检测宽度TW小？”中为“是”、通过步骤507作为检测线进行计数的情况。
此外，步骤503“是否有超过边信号阈值EL的数据？”为“否”时，也通过步骤507作为检测线进行计数。
(顶面凹陷检测)
图16为顶面凹陷检测的流程图。该图中，
步骤601......设定顶面凹陷位置TP
步骤602......设定顶面凹陷阈值TKL
的处理后，通过
步骤603......从线数据的左端地址开始搜索
而从口部内侧方向向外侧方向搜索线数据，
步骤604......搜索比边信号阈值EL大的部分
然后，通过判定：
步骤605......该宽度是否比边宽度阈值EW小？
来判定比边信号阈值EL大的部分的宽度是否比边宽度阈值EW小，为“是”时，进入步骤606，为“否”时，进入步骤612。
通过
步骤606......保存比边宽度阈值EW小的数据的地址1
来保存超过边信号阈值EL的区域最先达到所述边信号阈值EL的地址1。
通过
步骤607......搜索下一个地址，是否有大于边信号阈值EL的数据？
而判定超过边信号阈值EL的第2区域是否存在，为“是”时，进入步骤608，为“否”时，进入步骤612。
通过
步骤608......保存比EL大的数据的地址2
保存超过边信号阈值EL的第2区域最先达到所述边信号阈值EL的地址2。
步骤609......载入地址1和地址2
然后，通过判定：
步骤610......地址1和地址2间的单元数是否比TP大？
而判定地址1和地址2的差D是否比顶面凹陷位置TP大，为“是”时，
步骤611......对检测线数进行计数、保存
的处理后，进入步骤612，为“否”时，直接进入步骤612。
通过判定：
步骤612......是否处理了第N个线数据？
若为“否”，通过
步骤613......处理下一个线数据
重复进行步骤603～612的处理直到处理了第N个线数据为止，步骤612若为“是”，则通过
步骤614......载入到第N次为止的检测线数的计数
而载入从第一个线数据开始到第N个线数据为止在步骤611中被作为检测线的线数的合计，通过判定：
步骤615......到第N次为止计数得到的检测线数是否比TKL多？
当步骤614的检测线的合计比顶面凹陷阈值TKL多时判定为顶面凹陷不合格，比其少时则判定为合格品(无顶面凹陷)。
图17为顶面凹陷检测的说明图。
该图中，线数据有超过边信号阈值EL的第1区域T1(步骤604)和第2区域T2(步骤607)。第1区域T1的宽度比边宽度阈值EW小(步骤605)。由于第1区域T1最先达到边信号阈值EL的地址1和第2区域T2最先达到边信号阈值EL的地址2的差D，比顶面凹陷阈值TKL大，所以该线数据通过步骤611而作为检测线被计数。
产业上的可利用性
本发明的检查装置例如安装在图18所示的检查站12中并使用。该图中，通过传送机13传送的容器11被导入搬入旁路14，在这里通过进给蜗杆15按一定的间隔排列后，送入检查站12。被送入的容器11被间歇旋转的星形轮16嵌合捕捉，由此按检查位置A、检查位置B、检查位置C的顺序间歇地回传，进行型号识别和预定的检查。接受了这样的检查后的结果，被认为是合格品的容器被导入搬出旁路17，进一步被传送机13导入到别处后搬走。另一方面，被认为是不合格品的容器被回传到排除位置D后排除。这种检查站对于玻璃瓶等的玻璃制品的检查具有通用性。本发明的检查装置可安装在这种检查站的任意的检查位置以取代现有技术中的检查装置而进行使用。
本发明还可用于玻璃瓶以外的容器例如PET瓶等的口部顶面的检查，排除顶面有缺陷的容器，保全口部的密封性。

Claims (20)

1.一种容器口部缺陷检查方法，向旋转的容器口部的检查位置投光，在该检查位置由朝向口部的宽度方向的线传感器接收反射光以检查容器口部的缺陷，其特征在于，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，
该区域的宽度比边宽度阈值(EW)大时，以最先达到边信号阈值(EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
所述区域的宽度比所述边宽度阈值(EW)小，在所述区域之外，还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，以该第2区域的最先达到边信号阈值(EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
将从所述检查门开始位置地址(GES)到用任意的方式求得的检查门结束位置地址(GEE)，作为进行检查的范围、即检查门，
在该检查门中，进行顶面细纹或顶面气泡的检查。
2.如权利要求1所述的检查方法，其特征在于，
所述检查门的结束位置地址(GEE)的求得方式是：对所述检查门开始位置地址(GES)加上预定的检查门宽度值(WID)。
3.一种容器口部缺陷检查方法，向旋转的容器口部的检查位置投光，在该检查位置由朝向口部的宽度方向的线传感器接收反射光以进行容器口部的顶面细纹或顶面气泡检查，其特征在于，
将所述线传感器的各线的线数据A、和相比于该线前进了预定的差分间隔(FP)的线的线数据B在检查门内进行差分处理，求出该差分数据比预定的差分阈值(TH)大的数据的单元数，
从所述线数据A开始，顺序地将该操作重复预定的差分实施次数(VS)，
差分实施次数(VS)中的所述单元数的合计、即差分总单元数比预定的差分单元数阈值(PXL)大时，判定有顶面细纹或顶面气泡的缺陷。
4.如权利要求3所述的检查方法，其特征在于，
进行所述差分处理的两个线数据两者都没有比预定的顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时，判定为顶面细纹；所述两个线数据中的至少一个有比所述顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时，判定为顶面气泡。
5.如权利要求2所述的检查方法，其特征在于，
所述顶面细纹或顶面气泡的检查通过所述权利要求3或4中记载的检查方法进行。
6.如权利要求1～5中任一项所述的检查方法，其特征在于，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，进行顶面起伏的检查。
7.如权利要求6所述的检查方法，其特征在于，
所述顶面起伏的检查，
当线数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的数目的合计比预定的顶面起伏阈值(TWL)多时，判定为顶面起伏。
8.如权利要求1～7中任一项所述的检查方法，其特征在于，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边信号阈值(EL)的第1区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，
此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，进行顶面凹陷的检查。
9.如权利要求8所述的检查方法，其特征在于，
所述顶面凹陷的检查，
当所述第1区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址1与所述第2区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址2的差(D)比预定的顶面凹陷位置(TP)大时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的合计比预定的顶面凹陷阈值(TKL)多时，判定为顶面凹陷不合格。
10.一种容器口部缺陷检查装置，该检查装置包括：
向容器口部投光的投光器；
接收来自容器口部的反射光、朝向口部的宽度方向的线传感器；
驱动容器旋转、以使容器口部沿整周依次被投光的驱动装置；
接收来自所述线传感器的信号、检测检查门的检查门检测机构；以及
在由所述检查门检测机构检测出的检查门中，检测顶面细纹、顶面气泡的缺陷的顶面细纹检测机构和顶面气泡检测机构，
其中，所述检查门
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)大时，以最先达到边信号阈值(EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
所述区域的宽度比所述边宽度阈值(EW)小，在所述区域以外，还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，以该第2区域的最先达到边信号阈值(EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES)，
将从所述检查门开始位置地址(GES)到用任意的方式求得的检查门结束位置地址(GEE)，作为检查顶面细纹、顶面气泡的缺陷的范围、即检查门。
11.如权利要求10所述的检查装置，其特征在于，
所述检查门的结束位置地址(GEE)的求得方式是：对所述检查门开始位置地址(GES)加上预定的检查门宽度值(WID)。
12.如权利要求10或11所述的检查装置，其特征在于，
所述顶面细纹检测机构或顶面气泡检测机构，
将所述线传感器的各线的线数据A、和相比于该线前进了预定的差分间隔(FP)的线的线数据B在检查门内进行差分处理，求出该差分数据比预定的差分阈值(TH)大的数据的单元数，
从所述线数据A开始，顺序地将该操作重复预定的差分实施次数(VS)，
差分实施次数(VS)中的所述单元数的合计、即差分总单元数比预定的差分单元数阈值(PXL)大时，判定有顶面细纹或顶面气泡的缺陷。
13.如权利要求12所述的检查装置，其特征在于，
进行所述差分处理的两个线数据两者没有比预定的顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时，判定为顶面细纹的缺陷；所述两个线数据中的至少一个有比所述顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据时，判定为顶面气泡的缺陷。
14.如权利要求10～13中任一项所述的检查装置，其特征在于，
包括顶面起伏检测机构，该顶面起伏检测机构接收来自所述检查门检测机构的信号，检测顶面起伏。
15.如权利要求14所述的检查装置，其特征在于，
所述检查门检测机构，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及该数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，向顶面起伏检测机构发送信号，进行顶面起伏的检查。
16.如权利要求15所述的检查装置，其特征在于，
所述顶面起伏检测机构，
当线数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，
以及线数据有超过边信号阈值(EL)的区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域，该第2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的数目比预定的顶面起伏阈值(TWL)多时，判定为顶面起伏。
17.如权利要求10～16中任一项所述的检查装置，其特征在于，
包括顶面凹陷检测机构，该顶面凹陷检测机构接收来自所述检查门检测机构的信号，检测顶面凹陷。
18.如权利要求17所述的检查装置，其特征在于，
所述检查门检测机构，
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据，
该数据有超过边信号阈值(EL)的第1区域，该区域的宽度比边宽度阈值(EW)小，
此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时，向顶面凹陷检测机构发送信号，进行顶面凹陷的检查。
19.如权利要求18所述的检查装置，其特征在于，
所述顶面凹陷检测机构，
当所述第1区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址1与所述第2区域最先达到所述边信号阈值(EL)的地址2的差(D)比预定的顶面凹陷位置(TP)大时，
将该线作为检测线进行计数，
取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的数目比预定的顶面凹陷阈值(TKL)多时，判定为顶面凹陷不合格。
20.如权利要求10～19中任一项所述的检查装置，其特征在于，
所述投光器包括向容器口部的顶面投光的投光系统和向从容器口部顶面延续的外侧面投光的投光系统这两个系统，
所述线传感器被设置成从容器口部正上方的外侧方向接收来自容器口部顶面及口部外侧面的反射光。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4848448B2 (ja) * 2009-08-06 2011-12-28 東洋ガラス株式会社 ガラスびん口部検査方法及び装置
JP5108991B1 (ja) * 2012-02-27 2012-12-26 東洋ガラス株式会社 ガラス容器口リップ部傷の検査方法及び装置
FR3027391A1 (fr) 2014-10-17 2016-04-22 Msc & Sgcc Procedes, dispositif et ligne d'inspection pour visualiser la planeite d'une surface de bague de recipient
FR3053792B1 (fr) 2016-07-06 2023-07-14 Tiama Procede, dispositif et ligne d'inspection pour la determination d'une bavure a l'endroit d'un bord interne d'une surface de bague
FR3076619B1 (fr) 2018-01-05 2020-01-24 Tiama Procede, dispositif et ligne d'inspection pour determiner la geometrie tridimensionnelle d'une surface de bague de recipient
CN111322965B (zh) * 2020-03-09 2021-03-30 四川大学 一种基于复墨西哥帽小波的三维面形测量方法
CN113610740A (zh) * 2021-08-13 2021-11-05 江苏富恩日化科技有限公司 基于人工智能的气密性检测中气泡特征增强方法及系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61107144A (ja) 1984-10-31 1986-05-26 Kirin Brewery Co Ltd 容器の検査方法
JPS61193009A (ja) * 1985-02-22 1986-08-27 Toyo Glass Kk 容器の開口天面欠陥検査方法
JPH0785061B2 (ja) * 1993-04-12 1995-09-13 東洋ガラス株式会社 透明ガラス容器の裾底部の異物検査装置
JPH07286970A (ja) * 1994-04-19 1995-10-31 Kunio Hiuga 瓶口の開口天面欠陥検査方法
JP2987309B2 (ja) * 1995-04-06 1999-12-06 邦男 日向 瓶口の開口天面欠陥検査方法
JPH09101124A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Hitachi Metals Ltd 穴の面取り量検査方法
US6175107B1 (en) * 1998-05-27 2001-01-16 Owens-Brockway Glass Container Inc. Inspection of containers employing a single area array sensor and alternately strobed light sources
FR2846424B1 (fr) * 2002-10-25 2006-02-03 Bsn Glasspack Procede et dispositif d'eclairage pour detecter des defaut et/ou de manque de matiere sur la bague d'un recipient transparent ou translucide
US20040263838A1 (en) * 2003-06-30 2004-12-30 Diehr Richard D. Container inspection machine

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