CN101645029A - 周边连接接口的测试系统及其测试方法 - Google Patents

Abstract

一种周边连接接口的测试系统及其方法，用于测试新世代周边连接接口的待测主机，包括有新世代周边连接接口的插槽、处理单元、储存单元与测试程序。储存单元储存对新世代周边连接接口的测试程序，处理单元连接于新世代周边连接接口与储存单元，处理单元执行测试程序。测试工具连接新世代周边连接接口的插槽，测试工具包括新世代周边连接接口控制器，测试程序通过新世代周边连接接口传输多笔测试信号至新世代周边连接接口控制器，测试程序根据新世代周边连接接口控制器所回传的回复信号，解析新世代周边连接接口的插槽的运作状态。

Description

周边连接接口的测试系统及其测试方法

技术领域

本发明涉及一种测试系统及方法，特别涉及一种对测试具有新世代周边连接接口的主机的测试系统及其测试方法。

背景技术

为了解决个人计算机中的各项设备对于频宽的需要，近来发布了一种新世代周边连接接口(Peripheral Component Interconnect Express)总线。这种技术起初是为实现高速传送数据所设计。其中，新世代周边连接接口提供给每一个设备它自己专用的总线。数据通过被称为信道(lane)的发送和接受信号对来以封包(packet)的形式串行传输，在第一代的新世代周边连接界面的每个通道具有单方向250 Gigabits/sec的速度。多个信道可以组合在一起形成X1、X2、X4、X8、X12、X16、和X32的通道频宽从而提高插槽的频宽。

为因应使用者的需求，因此许多主机板厂商也加入新世代周边连接接口总线。目前针对新世代周边连接接口的测试方法通常是在新世代周边连接接口插槽上插入一张新世代周边连接适配卡，如果能够正确操作此卡，则认为新世代周边连接接口插槽是正常的。这种测试方式是正确的，但是目前生产在线没有专门用来测试的新世代周边连接适配卡，而是采用通用设备卡，通用设备卡例如为PCI-Express网络卡。由于通用卡仅仅关注数据的传输速度，而不注重接口的电器特征和辅助信号测试。因此无法全面的测试新世代周边连接适配卡的各项特征，使得测试的过程需要反复的插拔不同的通用卡进行测试。

发明内容

鉴于以上的问题，本发明的主要目的在于提供一种对新世代周边连接接口的测试系统，用于测试具有新世代周边连接接口的待测主机。

为达到上述目的，本发明所揭露的一种对新世代周边连接接口的测试系统包括有：待测主机与测试工具。待测主机包括有新世代周边连接接口的插槽、处理单元、储存单元与测试程序。储存单元用以储存对新世代周边连接接口的测试程序，处理单元连接于新世代周边连接接口与储存单元，处理单元用以执行测试程序。测试工具连接于新世代周边连接接口的插槽，测试工具包括有新世代周边连接接口控制器，测试程序通过新世代周边连接接口传输多笔测试信号至新世代周边连接接口控制器，测试程序根据新世代周边连接接口控制器所回传的回复信号用以解析新世代周边连接接口的插槽的运作状态。

从本发明的另一目的，本发明提出一种对新世代周边连接接口的测试方法，用于测试具有新世代周边连接接口的待测主机。

为达到上述目的，本发明所揭露的对新世代周边连接接口的测试方法包括以下步骤：安装测试工具至待测主机的新世代周边连接接口的插槽，并将测试工具设定为第一运作模式；在待测主机上执行测试程序，用以发送多笔测试信号至测试工具；传送多笔回复信号至测试程序；由测试工具执行虚拟热插拔测试，使得测试工具被禁能；经过第一时间后，将测试工具致能并将测试工具切换至第二运作模式；重复执行测试程序。

本发明提供一种测试新世代周边连接接口的系统，利用待测主机上的测试程序用以对测试工具进行各种项目的测试。待测程序解析测试工具所传回来的回复信号，待测程序用以判断待测主机上的新世代周边连接接口插槽及其总线是否运作正常。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为本发明的系统架构示意图；

图2为本发明的运作流程示意图。

其中，附图标记

110    待测主机

111    新世代周边连接接口的插槽

112    处理单元

113    储存单元

114    虚拟热插拔程序

115    测试程序

120    测试工具

121    新世代周边连接接口控制器

122    服务信息阻挡控制器

具体实施方式

请参考图1所示，其为本发明的系统架构示意图。对新世代周边连接接口(Peripheral Component Interfface Express)的测试系统包括有：待测主机110与测试工具120。待测主机110包括有新世代周边连接接口的插槽111、处理单元112、储存单元113、虚拟热插拔程序114与测试程序115。

储存单元113用以储存对新世代周边连接接口的虚拟热插拔(hotplugging)程序114与测试程序115。处理单元112连接于新世代周边连接接口与储存单元113，处理单元112用以执行虚拟热插拔程序114与测试程序115。测试工具120连接于新世代周边连接接口的插槽111。测试工具120中还包括有新世代周边连接接口控制器121与服务信息阻挡控制器122。

测试程序115通过新世代周边连接接口传输多笔测试信号至测试工具120的新世代周边连接接口控制器121。测试程序115根据新世代周边连接接口控制器121所回传的回复信号用以解析新世代周边连接接口的插槽111的运作状态。其中，测试程序115中还包括多笔测试项目，该些测试项目为接口版本测试、电力测试、系统管理总线(System Management Bus)、JTAG(Joint TestAction Group)测试、唤醒测试、预先重设(PRREST)测试、差分频率及数据(Difference Clk and Data)测试与/或频宽(lane)测试。其中，新世代周边连结接口至少包括有”X1”、”X4”、”X8”、”X16”的通道频宽。

测试程序115中的服务信息阻挡测试用以写入及读取该服务信息阻挡控制器122的缓存器数据，使得测试程序115用以判断服务信息阻挡控制器122的运作是否正确。

请参考图2所示，其为本发明的运作示意图。本发明对新世代周边连接接口的测试方法包括以下步骤：安装测试工具至待测主机的新世代周边连接接口的插槽，并将测试工具设定为第一运作模式(步骤S210)。在本发明中所指的运作模式为新世代周边连接接口的版本与频宽。举例来说，在新世代周边连接接口第一版的”X1”频宽传输可以视为一种运作模式；在新世代周边连接接口第一版的”X2”频宽传输视为另一种运作模式；在新世代周边连接接口第二版的”X1”频宽传输视为相异于上述的另一种运作模式。

在待测主机上执行测试程序，用以发送多笔测试信号至测试工具(步骤S220)。在测试程序115中至少包括以下的测试项目：接口版本测试、电力测试、系统管理总线、JTAG测试、唤醒测试、预先重设测试、差分频率及数据的测试与/或频宽测试。举例来说，在测试服务信息阻挡的测试中，测试程序115会将数据写入/读取服务信息阻挡控制器122的缓存器数据，使得测试程序115用以判断服务信息阻挡控制器122的运作是否正确。

测试工具根据所接收到的测试信号进行相应处理后，传送多笔回复信号至测试程序(步骤S230)。接下来，由测试工具执行虚拟热插拔测试，使得测试工具被禁能(步骤S240)。首先，测试程序115会发送热插拔测试信号至测试工具120，用以将测试工具120禁能(disable)。这样一来传输连结会处于无效状态(Inactive)。

测试程序在经过第一时间后，会将测试工具致能并将测试工具切换至第二运作模式(步骤S250)。再将测试工具120致能步骤中还包括下列的步骤：致能(enable)测试工具120，使得参考频率(REFCLK)信号开起。接着，令传输连结(Link)处于动态或是经由主动式电源管理(Active State PowerManagement，ASPM)进入省电模式(可以是电源状态L0s或电源状态L1)。最后重复执行步骤S220(步骤S260)，直至所有的运作模式中的每一测试项目都被完成为止。特别需要注意的是，本发明利用虚拟热插拔测试时，将测试工具120再重新致能测试工具120时将其第一运作模式切换为另一种运作模式。一方面可以测试热插拔功能是否正常，减少插拔所浪费的时间。

本发明提供一种测试新世代周边连接接口的系统，利用待测主机110上的测试程序115用以对测试工具120进行测试。待测程序解析测试工具120所传回来的回复信号，待测程序用以判断待测主机110上的新世代周边连接接口的插槽111及其总线是否运作正常。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (8)

1、一种周边连接接口的测试系统，用于测试具有新世代周边连接接口的待测主机，其特征在于，该测试系统包括有：

一待测主机，该待测主机还包括有一处理单元、一新世代周边连接接口的插槽与一储存单元，该储存单元用以储存对新世代周边连接接口的一虚拟热插拔程序与一测试程序，该处理单元电性连接于该新世代周边连接接口与该储存单元，该处理单元分别执行该虚拟热插拔程序与该测试程序；以及

一测试工具，电性连接于该新世代周边连接接口的插槽，该测试工具包括有一新世代周边连接接口控制器，该测试程序通过新世代周边连接接口传输多笔测试信号至该新世代周边连接接口控制器，该测试程序根据该新世代周边连接接口控制器所回传的一回复信号用以解析该新世代周边连接接口的插槽的运作状态。

2、根据权利要求1所述的周边连接接口的测试系统，其特征在于，该测试程序中还包括多笔测试项目，该些测试项目为接口版本测试、电力测试、系统管理总线、JTAG测试、唤醒测试、预先重设测试、差分频率及数据的测试与/或频宽测试。

3、根据权利要求2所述的周边连接接口的测试系统，其特征在于，该测试工具中还包括一服务信息阻挡控制器，该测试程序中的服务信息阻挡测试用以写入及读取该服务信息阻挡控制器的缓存器数据，使得该测试程序用以判断该服务信息阻挡控制器的运作是否正确。

4、根据权利要求2所述的周边连接接口的测试系统，其特征在于，频宽测试包括以下步骤：

分别切换该新世代周边连接接口的X1、X4、X8、X16或X32的频宽。

5、根据权利要求所述的周边连接接口的测试系统，其特征在于，在该虚拟热插拔测试过程中，还包括以下步骤：

关闭该测试工具的电力；

经过一第一时间后重新致能该测试工具的电力；

由该测试工具发送一热插拔回复信号至该处理单元；以及

进行该测试程序。

6、一种周边连接接口的测试方法，用于测试具有新世代周边连接接口的待测主机，其特征在于，该测试方法包括以下步骤：

安装一测试工具至一待测主机的一新世代周边连接接口的插槽，并将该测试工具设定为第一运作模式；

在该待测主机上执行一测试程序，用以发送多笔测试信号至该测试工具；

传送多笔回复信号至该测试程序；

由该测试工具执行一虚拟热插拔测试，使得该测试工具被禁能；

经过一第一时间后，将该测试工具致能并将该测试工具切换至第二运作模式；以及

重复执行该测试程序。

7、根据权利要求6所述的周边连接接口的测试方法，其特征在于，该测试程序中包括以下步骤：

分别切换该新世代周边连接接口的X1、X4、X8、X16或X32的频宽。

8、根据权利要求6所述的周边连接接口的测试方法，其特征在于，在该虚拟热插拔测试过程中，还包括以下步骤：

关闭该测试工具的电力；

经过一第一时间后重新致能该测试工具的电力；

由该测试工具发送一热插拔回复信号至该处理单元；以及

进行该测试程序。

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