CN101639636A

CN101639636A - 监控装置、可更换单元、成像设备和单元驱动方法

Info

Publication number: CN101639636A
Application number: CN200910128047A
Authority: CN
Inventors: 李在成; 金容根; 李允太
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Current assignee: Hewlett Packard Development Co LP
Priority date: 2008-07-31
Filing date: 2009-03-19
Publication date: 2010-02-03
Anticipated expiration: 2029-03-19
Also published as: US8233812B2; EP2304507A4; RU2498379C2; BRPI0916719B1; US20110318029A1; RU2011107312A; US8548342B2; KR101240530B1; KR20100013653A; US8036548B2; US20100028031A1; EP2304507B1; CN101639636B; BRPI0916719A2; WO2010013882A1; EP2304507A1; US20120275800A1

Abstract

本发明提供了一种客户可更换单元监控装置、参与成像设备的成像作业的可更换单元、成像设备及单元驱动方法。所述可更换单元包括：存储单元，用于存储与操作环境相应的驱动条件；检测单元，用于监控所述操作环境；控制单元，如果检测单元检测到操作环境，则控制单元从存储单元检测驱动条件；接口单元，将检测到的相应的驱动条件提供给成像设备的主体。因此，可更换单元可以在最佳驱动条件下被驱动。

Description

监控装置、可更换单元、成像设备和单元驱动方法

技术领域

本发明总体构思涉及一种客户可更换单元监控(CRUM)装置、包含CRUM装置的可更换单元和成像设备及其单元驱动方法。更具体地讲，本发明总体构思涉及一种CRUM装置和能够独立地计算驱动条件的可更换单元、基于所计算的条件驱动所述可更换单元的成像设备及其单元驱动方法。

背景技术

计算机的使用以及计算机部件(例如，打印机、扫描仪、复印机或多功能装置)已经在逐年增长。

成像设备使用墨或调色剂在打印纸上打印图像。墨或调色剂是耗材，会在预定的寿命结束时被耗尽，因此，需要更换。大部分情况下，不是更换墨或调色剂，而是更换容纳墨或调色剂的装置，这种类型的可以在成像设备的使用期间被更换的装置被称作耗材或者可更换单元。

除了上面提到的墨或调色剂单元之外，可更换单元包括其它单元，所述其它单元不会被耗尽但是会随着使用或者时间而性能恶化，从而在它们的寿命即将终结时不能渲染高质量的打印输出。例如，激光成像设备采用充电单元、转印单元和定影单元，在所述的每个单元中，棍子或带会随着时间而磨损或损坏。因此，不能制作高质量的图像。为了确保高质量的图像，需要以适当的时间间隔更换可更换单元。

同时，可更换单元受环境温度的影响。尤其是，一些组件(例如，显影单元内设置的有机感光导体(OPC)、或者与显影辊临近设置的刮墨刀(doctorblade))对温度因素敏感。在这种情况下，输出的图像的质量依赖于环境温度的改变。

因此，传统的成像设备采用热敏电阻以检查温度变化，从而，可以基于温度变化控制各个可更换单元的操作。然而，由于可更换单元的一些局限性，例如，有限的结构或者需要与成像设备中的主控制器交互，热敏电阻被安装在几个有限的位置上，而不能准确地检查温度。

此外，由于根据热敏电阻安装的位置检测到的温度可以具有不同的值，因此，还很难准确地确定可更换单元的最佳驱动条件。

此外，由于主控制器需要基于从热敏电阻接收到的温度检查来控制成像设备，因此，主控制器会具有增加的计算负荷，因此会在执行控制程序时被延迟。

发明内容

本发明总体构思提供了一种能够单独地计算驱动条件的客户可更换单元监控(customer replaceable unit monitor，CRUM)装置和可更换单元、使用所述装置的成像设备及其单元驱动方法。

将在下面的描述中部分阐述本发明总体构思的其它特点和用途，另外的部分，通过下面的描述将是清楚的，或者通过本发明总体构思的实践来了解。

本发明总体构思的前述和/或其它特点和用途可以通过提供一种参与成像设备的成像作业的可更换单元来实现，所述可更换单元包括：存储单元，存储与操作环境相应的驱动条件；检测单元，监控所述操作环境；控制单元，如果检测单元检测到驱动环境，则控制单元从存储单元检测相应的驱动条件；接口单元，将检测到的相应的驱动条件提供给成像设备的主体。

所述操作环境可包括可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种，驱动条件可包括可更换单元的驱动电压条件。

所述存储单元、检测单元、控制单元和接口单元可以被安装到客户可更换单元监控器(CRUM)装置中，所述CRUM装置设置在可更换单元内。

检测单元可包括至少一个二极管或至少一个晶体管，并检查所述至少一个二极管两端的电势差，或者所述至少一个晶体管的基极-发射极电压，以检测温度信息。

所述检测单元可包括篡改检测器，用于监控操作环境并阻止试图对可更换单元进行的物理篡改。

所述控制单元可包括中央处理单元(CPU)，用于操作其自己的操作系统，以控制所述存储单元、篡改监测器和接口单元的操作。

本发明的前述和/或其它特点和用途可以通过提供一种成像设备来实现，所述成像设备包括参与成像设备的成像作业的至少一个可更换单元，以及与所述至少一个可更换单元通信并控制成像作业的主控制器。所述至少一个可更换单元可监控操作环境，并将与操作环境相应的各自的驱动条件提供给主控制器，所述主控制器根据提供的驱动条件单独驱动所述至少一个可更换单元。

可更换单元可包括：存储单元，用于存储与操作环境相应的驱动条件；检测单元，用于监控所述操作环境；控制单元，如果检测单元检测到所述操作环境，则控制单元从存储单元检测相应的驱动条件；接口单元，将检测到的相应的驱动条件提供给主控制器。

所述操作环境可包括所述可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种，所述驱动条件可包括可更换单元的驱动电压条件。

存储单元、检测单元、控制单元和接口单元可被安装到位于可更换单元内的客户可更换单元监控器(CRUM)装置。

检测单元可包括至少一个二极管或至少一个晶体管，并检查所述至少一个二极管一端和另一端之间的电势差，或者所述至少一个晶体管的基极-发射极电压，以检查温度信息。

所述检测单元可包括篡改检测器，用于监控所述操作环境并阻止试图对所述可更换单元进行的物理篡改。

所述控制单元还可包括执行操作系统(O/S)的中央处理单元(CPU)，以控制篡改检测器和接口单元的操作。

本发明总体构思的上述和/或其它特点和用途还可通过提供一种客户可更换单元监控(CRUM)装置来实现，所述CRUM装置可安装到参与成像设备的成像作业的可更换单元上，其中，所述CRUM装置可包括：存储单元，用于存储为所述可更换单元设置的驱动条件，所述驱动条件与操作环境相应；检测单元，监控所述操作环境；控制单元，如果所述检测单元检测到操作环境，则控制单元从存储单元检测相应的驱动条件；接口单元，将检测到的相应的驱动条件提供给成像设备的主体。

所述操作环境可包括可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种，所述驱动条件可包括可更换单元的驱动电压条件。

所述控制单元可包括执行操作系统(O/S)的中央处理单元(CPU)，以控制存储单元、检测单元和接口单元的操作。

本发明总体构思的前述和/或其它特点和用途可通过提供一种成像设备的单元驱动方法来实现，所述成像设备包括至少一个可更换单元和用于与所述至少一个可更换单元通信并控制成像作业的主控制器，其中，所述单元驱动方法可包括：在所述至少一个可更换单元处监控操作环境；检测与所监控的操作环境相应的各自的驱动条件；将检测的驱各自的驱动条件提供给主控制器；根据所提供的驱动条件在所述主控制器单独地驱动所述至少一个可更换单元。

所述检测可包括：从存储器检测与所监控的操作环境相应的驱动电压条件，所述存储单元已经存储有与所述至少一个可更换单元中的每一个的操作环境相应的预设驱动电压条件。所述操作环境包括所述可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种。

监控所述至少一个可更换单元的操作可由篡改检测器执行，所述篡改监测器被设置在可更换单元内，以阻止试图对可更换单元进行的物理篡改。

所述可更换单元可包括执行操作系统(O/S)的中央处理单元(CPU)，以控制所述可更换单元的操作。

结果，所述至少一个可更换单元中的每一个可以在最佳驱动条件下被驱动，以将计算负荷最小化。

本发明总体构思的前述和/或其它方面的特点和用途还可通过提供一种位于具有主控制器的成像设备中的可更换单元来实现，所述可更换单元包括：检测单元，用于检测可更换单元的操作环境；控制器单元，用于确定与所检测的操作环境相应的驱动条件，并将所述驱动条件提供给主控制器以根据所述驱动条件驱动所述可更换单元，其中，所述检测单元包括篡改监测器，用于检测试图对可更换单元进行的篡改。

所述可更换单元还包括存储单元，用于存储确定的驱动条件以及与所述可更换单元相关的信息。

所述操作环境可以是电压、温度、压力、光频率和光量中的至少一种。

所述控制器单元可运行独立于所述主控制器的操作系统，并且可运行独立于所述主控制器的操作系统以控制所述检测单元。

附图说明

通过下面结合附图对实施例进行的描述，本发明总体构思的上述和/或其它特点和用途将会变得清楚并易于理解，其中：

图1示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的可更换单元的框图；

图2示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的客户可更换单元监控(CRUM)装置的框图；

图3示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的成像设备的框图；

图4示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的CRUM装置、可更换单元以及成像设备中使用的示例性软件结构；

图5是用来解释根据本发明总体构思的示例性实施例的成像设备的结构的示意图；

图6是示出根据本发明总体构思的示例性实施例的成像设备的单元驱动方法的流程图。

具体实施方式

现在，将对本发明总体构思的示例性实施例进行详细的描述，其例子列举在附图中，其中，相同的标号始终表示相同的部件。下面通过参照附图描述示例性实施例以解释本发明的总体构思。

图1示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的可更换单元100的框图。这里的可更换单元是指设置在成像设备内参与成像作业的单元，并且该单元可以由用户或制造商更换。例如，可更换单元100可包括显影单元、充电单元、转印单元、定影单元、有机感光导体(OPC)、激光扫描单元(LSU)、送纸辊或输入辊。

参照图1，可更换单元100包括存储单元110、控制单元120、检测单元130、接口单元140。

存储单元110可存储与预定操作环境相应的可更换单元100的驱动条件。所述操作环境可包括可更换单元100的内部或外部的温度，所述驱动条件可包括对所述温度最佳的驱动电压因数(例如，对于脉冲来说，电压的大小、频率或占空比)。

根据操作环境的驱动电压因数的例子列举在下面。

表1

温度	电压
温度	电压	小于0℃	a[v]
0～10℃	b[v]	小于0℃	a[v]
0～10℃	b[v]	10～20℃	c[v]

20～30℃	d[v]
20～30℃	d[v]	30～40℃	e[v]
40℃或40℃以上	f[v]	30～40℃	e[v]

如上所述，存储单元110可存储与每个温度范围对应的预定信息，例如最佳驱动电压大小。成像设备或可更换单元100的制造商可对操作环境和驱动条件的各种组合进行多次测试，从而获得适合于每个操作环境的驱动条件的平均值，并将获得的结果记录在存储单元110内。

此外，存储单元110可记录关于可更换单元100的各种类型的信息。所述信息可包括标识信息(例如，制造商、生产日期和时间、序列号或型号)以及状态信息(例如，程序、电子签名和使用状态(例如，打印的页数、剩余的可打印的页数或者剩余的调色剂的量))。

例如，存储单元110可存储下面作为例子的表。

表2

如在表2中所示，存储单元110不仅可记录操作环境和驱动条件之间的关系(表1)，而且可记录例如关于这些单元的细节的信息、耗材的寿命以及与这些耗材或单元相关的其它信息或设置菜单(表2)。

检测单元130监控可更换单元100的操作环境。例如，可以将检测单元130设置为篡改检测器，以阻止试图对可更换单元100进行的任何物理篡改。

篡改检测器可以保护系统免受企图进行的各种物理黑客攻击，即，免受篡改。篡改检测器可以监控操作环境(例如，电压、温度、压力和光(量或频率))，并且当检测到企图进行的篡改或黑客攻击(例如，Decap)时，可以擦除数据或物理屏蔽数据。如果采用篡改检测器作为检测单元130，则篡改检测器可为控制单元120提供例如从篡改检测操作获得的温度信息之类的信息。因此，可将操作环境通知给控制单元120。

检测单元130可检测位于检测单元130内部或附近的二极管或晶体管的操作特性，以检测温度信息。例如，半导体的PN结具有依赖于温度的正向电压和反向电压。因此，具有PN结的二极管或晶体管可以被用作温度元件。

如果使用二极管，则可从检测到正向电压或反向电压的大小来检查温度信息。如果使用晶体管(例如，npn晶体管)，则当预定的集电极电流(Ic)流过时可以检测到基极和发射极之间的电压以检查温度信息。

如果检测单元130根据二极管或晶体管的操作特性来检测温度信息，则由于检测到的值可对应于电压值，则检测到的值可以被直接用作操作环境。即，检测到的值不需要为了被用作操作环境而被转换。因此，当表1示出温度和电压条件被记录的例子时，可以不使用这种类型的数据库，而是可以在存储单元110中存储检测到的电压和电压条件之间的关系并使用该关系。

检测单元130可以使用单独的温度传感器，例如，热敏电阻。

如果检测单元130检测到操作环境，则控制单元120可以检查存储单元110中的关于与检测到的操作环境对应的驱动条件的数据库。例如，如果检测单元130使用晶体管并检测基极-发射极电压为V_BE＝0.725[v]，与该检测到的电压对应的温度是21℃，则控制单元120可基于表1所示的数据库确定d[v]为驱动条件。

同时，考虑到二极管或晶体管通常被集成在可更换单元100中设置的板上，通过该部件获得的温度会高于实际环境温度。因此，如果使用二极管或晶体管，则期望的是记录与距离所述板预定距离处测量的实际温度相应的转换后的驱动条件。

接口单元140运行以将控制单元120连接到成像设备的主控制器。通过所述接口单元140，控制单元120可将检测到的驱动条件提供给主体，更具体地说，提供给成像设备的主控制器(未示出)。因此，主控制器能够根据控制单元120提供的驱动条件驱动相应的可更换单元100。

接口单元140可以被实现为串行接口或无线接口。由于串行接口比并行接口使用更少的信号，因此串行接口提供了降低成本的优点，并且尤其适合于充斥噪声的操作环境，例如，打印机。

控制单元120可运行其自己的操作系统(O/S)以控制存储单元110、检测单元130和接口单元140。在这种情况下，控制单元120可以被实现为能够运行O/S的中央处理单元(CPU)或者可以包含这样的CPU。

因此，可更换单元100可根据其被单独提供的O/S执行总体操作，例如，检测操作环境、检测相应的驱动条件或者传递驱动条件。

可单独提供O/S以驱动可更换单元100，O/S可以是运行通用程序的软件。如果安装了这种O/S，控制单元120能够自己执行初始化处理、成像设备和主体之间的验证或者加密的数据通信。

控制单元120可执行特定事件(例如，当打开具有可更换单元100的成像设备的电源时，或者当重新安装可更换单元100时)的初始化。所述初始化处理包括各种子进程，例如，各种应用程序的初始驱动、在初始化之后与成像设备进行数据通信所需要的保密信息(例如，加密值)的计算、更换周期检查、可更换单元100的内部注册值的设置或者内部时钟信号和外部时钟信号的设置。

注册值的设置是指设置可更换单元100的内部注册值的操作，根据所述注册值，可更换单元100可以按照用户先前设置的那样在各种功能状态下进行操作。此外，时钟信号的设置是指将由成像设备的主控制器提供的外部时钟信号的频率调整为由可更换单元100的控制单元120使用的内部时钟信号的操作。

此外，更换周期检查可包括下面的操作：检查调色剂或墨的剩余量、估计寿命的终点、将结果通知给主控制器。如果可更换单元100包括自己的O/S，则根据可更换单元100的类型和特点，很多其它类型的初始化也是可能的。

由于上述初始化仅涉及可更换单元100，因此，可以独立于成像设备的主控制器的初始化而执行所述初始化。结果，所述系统可以加速所述初始化处理。同时，控制单元120可以直到初始化完成才响应主控制器的命令。在这种情况下，主控制器可以周期地发送命令并等待响应。

由于可更换单元100具有能够驱动其自己的O/S的控制单元120，因此，可以执行各种操作，例如，根据不同的操作环境检测合适的驱动条件，并将检测到的驱动条件提供给成像设备的主体，或执行初始化、验证或加密的数据通信。

图2示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的客户可更换单元监控(CRUM)装置200的框图。参照图2，可更换单元100可包括客户可更换单元监控(CRUM)装置200，用于控制可更换单元100的操作，并管理可更换单元100的操作状态。CRUM装置200可包括图1中所示的结构。

因此，CRUM装置200可包括存储单元210、控制单元220、检测单元230、接口单元240和加密模块250。CRUM装置200还可包括用于输出时钟信号的时钟单元(未示出)或用于产生用于验证的随机数的随机值产生单元(未示出)。有些组件可以省略或者包含在其它组件内。

加密模块250可支持加密算法，从而控制单元220可执行与主控制器的验证或加密通信。加密模块250可支持加密算法，例如，ARIA、TDES、SEED和AES对称密钥算法。为此，主控制器可以被配置为还支持一部分或所有加密算法。因此，主控制器可以分析CRUM装置200中使用的加密算法或算法，基于所述加密算法处理验证、执行加密通信。结果，CRUM装置200可以容易地被安装到成像设备并处理加密通信，而不管CRUM装置200的密钥所应用的加密算法。

如上面参照图1所描述的，检测单元230可包括篡改检测器。如果同时采用了加密模块250和篡改检测器(作为检测单元230)，则可以实现利用硬件和软件的系统数据安全。

参照图2，存储单元210可包括O/S存储器211、非易失性存储器212和易失性存储器213。

O/S存储器211可存储O/S以操作可更换单元100或CRUM装置200。非易失性存储器212可被用作永久存储空间，即使断电也能保留存储的信息。易失性存储器213可被用作临时存储空间。

尽管在图2中将存储单元210描述为包括O/S存储器211、非易失性存储器212和易失性存储器213，但是这些存储器中的一部分或全部可被用作控制单元220中的内部存储器。与通用存储器不同，可出于安全的目的设计这些存储器211、212、213，例如，地址/数据线加扰或比特加密。

非易失性存储器212可存储各种信息，例如，电子签名、各种加密算法信息、关于可更换单元100的状态信息(例如，调色剂的剩余量、更换周期信息或者剩余可打印页数)、标识信息(例如，制造商、生产日期和时间、序列号或型号)或者维修服务信息。

具体地，非易失性存储器212可存储关于操作环境和驱动条件的数据库(例如，表1中示出的例子)或者关于检测单元230的检测值以及相应驱动条件的数据库。

另外，为了简明起见，省略了对与图1中的控制单元120、检测单元230和接口单元240对应的控制单元220、检测单元230和接口单元240的操作的描述。

图3示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的成像设备的框图。参照图3，成像设备包括多个可更换单元100-1～100-n和主控制器300。

根据成像处理的顺序，多个可更换单元100-1～100-n布置在成像设备400内部的合适的位置上。因此，事先存储关于适合于各个操作环境的驱动条件的信息，所述各个操作环境是从各个位置计算得来的。

如果使用彩色打印机，将安装四个彩色墨盒，例如，青色(C)、洋红色(M)、黄色(Y)和黑色(K)墨盒。如果需要的话，也可安装其它耗材。如果使用了多个可更换单元100-1～100-n，则对可更换单元100-1～100-n中每一个提供输入/输出(I/O)接口效率低。相反，可以使用一个串行I/O信道将可更换单元100-1～100-n连接到主控制器300。在这种情况下，主控制器300可使用赋给可更换单元100-1～100-n的相应地址访问可更换单元100-1～100-n。

主控制器300可具有为每个可更换单元100-1～100-n独立设置的单独而唯一的电子签名信息，主控制器300因此能够执行与可更换单元100-1～100-n的验证或加密数据通信。

每个可更换单元100-1～100-n可包括CRUM装置(200-1～200-n)。换句话说，可基于图1或图2中示出的结构实现可更换单元100-1～100-n。

可更换单元100-1～100-n可独自监控操作环境，并为主控制器300提供与监控结果相应的自己的驱动条件。如果根据图2所示的例子实现图3的可更换单元100-1～100-n，则可更换单元100-1～100-n的每个CRUM装置(200-1～200-n)可计算适合于自己的操作环境的驱动条件，并将结果提供给主控制器300。

如上所述，由于可更换单元100-1～100-n内设置的检测单元(130、230)能够执行操作环境的监控，因此，不需要单独的热敏电阻就可以获得在可更换单元100-1～100-n的位置处的最准确的操作环境，结果，可以在最佳条件下驱动可更换单元100-1～100-n。

此外，由于可更换单元100-1～100-n能够自己计算与操作环境相应的驱动条件并将结果通知给主控制器，不需要主控制器300计算可更换单元100-1～100-n的驱动条件，结果，可以减少计算负荷。

主控制器300可以根据可更换单元100-1～100-n提供的驱动条件驱动可更换单元100-1～100-n。例如，如果第一个可更换单元100-1是显影器，第二个可更换单元100-2是定影器，则第一个可更换单元100-1可以将驱动显影器所需要的电压信息提供给主控制器300，第二个可更换单元100-2可把将被提供给定影器加热辊和定影器加压辊的电压的信息提供给主控制器300。因此，主控制器300可控制电源单元(未示出)提供适合于由可更换单元100-1～100-n计算的驱动电压条件的驱动电压或驱动电流。

此外，主控制器300可检查由可更换单元100-1～100-n提供的耗材信息，以显示更换周期通知的消息，或者将该数据发送给可更换单元100-1～100-n。

尽管图3示出了多个可更换单元100-1～100-n，但是，仅有一个可更换单元可以执行上面提到的检测驱动条件并发送结果的操作。

图4示出了根据本发明总体构思的示例性实施例的CRUM装置、可更换单元和成像设备中使用的示例性软件结构。

参照图4，成像设备400的软件(a)可另外包括用于执行与可更换单元100-1～100-n的验证和加密的安全机制、用于执行软件级别的加密操作的S/W加密操作区域，以及用于数据管理的应用、用于直接管理的装置驱动器以及命令处理程序。

同时，可更换单元100-1～100-n的软件(b)可包括具有用于数据保护目的的多个块的IC芯片区域、用于与主机软件进行接口连接的应用(App)区域以及用于操作上述区域的O/S区域。

图4在装置软件的区域中示出了用于文件管理的O/S的基本组件以及用于数据保护的操作块。简而言之，程序可以被分为用于形成安全系统的硬件控制程序、使用硬件控制程序的应用程序以及防篡改程序。由于所述应用程序被加载到上述程序中以实现CRUM功能，因此，不可能检查通信信道中的实际数据的内容。尽管为了有效的数据保护，可以基于其它结构设计包括基本组件的程序，但是需要O/S级别的小心编程。

图5是用于解释根据本发明总体构思的示例性实施例的成像设备的结构的示意图。参照图5，成像设备400包括多个可更换单元，如显影单元100-1、激光扫描单元(LSU)、转印单元100-3、OPC 100-4、充电单元100-5、清洁单元100-6和定影单元100-7。

参照图5，以粗的水平线示出的打印纸从附图的左侧移动到右侧。OPC100-4的表面上被充电单元100-5充电，从而通过LSU 100-2的操作，在充电的表面上形成潜像。随着显影单元100-1开始显影，调色剂附着到潜像上，调色剂图像被转印单元100-3转印到打印纸上。通过定影单元100-7，调色剂被粘附到打印纸上。图5中的小的空白点表示调色剂颗粒。

可更换单元的至少一部分可包括如图1或2中所示的控制单元120、220和存储单元110、210。因此，使用与根据各个位置设置的每个操作环境相应的驱动条件，可以单独地计算最佳驱动条件。结果，主控制器300可以具有最小计算负荷，同时获得高质量图像。

参照图6，在操作S610，可更换单元监控操作环境，并在操作S620根据监控结果检测驱动条件，即，驱动电压信息。

在操作S630，每个可更换单元将检测到的驱动条件发送给主控制器300。在操作S640，主控制器300根据接收到的驱动条件单独驱动可更换单元。

如上所述，操作环境可以是温度信息，但是不限于温度信息。因此，操作环境可以是湿度或者其它环境信息。此外，驱动条件还可包括电流值或脉冲占空比以及电压，或者电压。

尽管已经示出和描述了本发明总体构思的一些示例性实施例，但是，本领域的技术人员应该理解，在不脱离本发明总体构思的原理和精神的情况下，可以对这些示例性实施例作出改变，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims

1、一种参与成像设备的成像作业的可更换单元，包括：

存储单元，存储与操作环境相应的驱动条件；

检测单元，监控所述操作环境；

控制单元，如果检测单元检测到驱动环境，则控制单元从存储单元检测相应的驱动条件；

接口单元，将检测到的相应的驱动条件提供给成像设备的主体。

2、如权利要求1所述的可更换单元，其中，操作环境包括可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种，驱动条件包括可更换单元的驱动电压条件。

3、如权利要求1所述的可更换单元，其中，存储单元、检测单元、控制单元和接口单元被安装到设置在可更换单元内的客户可更换单元监控装置。

4、如权利要求1所述的可更换单元，其中，检测单元包括至少一个二极管或至少一个晶体管，并检查所述至少一个二极管的一端和另一端之间的电势差，或者所述至少一个晶体管的基极-发射极电压，以检测温度信息。

5、如权利要求1所述的可更换单元，其中，检测单元包括篡改检测器，以监控操作环境并阻止试图对可更换单元进行的物理篡改。

6、如权利要求5所述的可更换单元，其中，控制单元包括用于运行自己的操作系统的中央处理单元，用于控制存储单元、篡改检测器和接口单元的操作。

7、一种成像设备，包括：

至少一个可更换单元，参与成像设备的成像作业；

主控制器，与所述至少一个可更换单元通信并控制成像作业；

其中，所述至少一个可更换单元监控操作环境，并将与操作环境对应的自己的驱动条件提供给主控制器，

主控制器根据所提供的驱动条件单独地驱动所述至少一个可更换单元。

8、如权利要求7所述的成像设备，其中，可更换单元包括：

存储单元，用于存储与操作环境相应的驱动条件；

检测单元，用于监控所述操作环境；

控制单元，如果检测单元检测到操作环境，则控制单元从存储单元的检测相应的驱动条件；

接口单元，将检测到的相应的驱动条件提供给主控制器。

9、如权利要求8所述的成像设备，其中，所述操作环境包括可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种，驱动条件包括可更换单元的驱动电压条件。

10、如权利要求8所述的成像设备，其中，存储单元、检测单元、控制单元和接口单元被安装到设置在可更换单元内的客户可更换单元监控装置上。

11、如权利要求8所述的成像设备，其中，检测单元包括至少一个二极管或至少一个晶体管，并检查所述至少一个二极管的一端和另一端之间的电势差，或者所述至少一个晶体管的基极-发射极电压，以检测温度信息。

12、如权利要求8所述的成像设备，其中，检测单元包括篡改检测器，用于监控操作环境并阻止试图对可更换单元进行的物理篡改。

13、如权利要求12所述的成像设备，其中，控制单元包括用于运行操作系统的中央处理单元，以控制篡改检测器和接口单元的操作。

14、一种客户可更换单元监控装置，可安装到可更换单元内以参与成像设备的成像作业，所述客户可更换单元监控装置包括：

存储单元，存储为可更换单元设置的驱动条件，所述驱动条件对应于操作环境；

检测单元，用于监控所述操作环境；

控制单元，如果检测单元检测到操作环境，则控制单元从存储单元检测驱动条件；

接口单元，将检测到的相应驱动条件提供给成像设备的主体。

15、如权利要求14所述的客户可更换单元监控装置，其中，所述操作环境包括可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种，驱动条件包括可更换单元的驱动电压条件。

16、如权利要求14所述的客户可更换单元监控装置，其中，控制单元包括用于运行操作系统的中央处理单元，以控制存储单元、检测单元和接口单元的操作。

17、一种成像设备的单元驱动方法，所述成像设备包括至少一个可更换单元以及用于与所述至少一个可更换单元通信并控制成像作业的主控制器，所述单元驱动方法包括：

所述至少一个可更换单元监控操作环境；

所述至少一个可更换单元检测与监控的操作环境相应的各自的驱动条件；

所述至少一个可更换单元将检测的各自的驱动条件提供给主控制器；

由主控制器根据提供的驱动条件单独驱动所述至少一个可更换单元。

18、如权利要求17所述的单元驱动方法，其中，所述检测包括：

从存储单元检测与监控的操作环境相应的驱动电压条件，所述存储单元存储有与所述至少一个可更换单元的每一个的操作环境相应的预设的驱动电压条件，所述操作环境包括可更换单元的内部温度和外部温度中的至少一种。

19、如权利要求17所述的单元驱动方法，其中，由篡改检测器执行对所述至少一个可更换单元的监控，所述篡改检测器设置在可更换单元内，用于阻止试图对可更换单元进行的物理篡改。

20、如权利要求17所述的单元驱动方法，其中，所述可更换单元包括用于执行操作系统的中央处理单元，以控制可更换单元的操作。

21、一种位于具有主控制器的成像设备内的可更换单元，所述可更换单元包括：

检测单元，用于检测可更换单元的操作环境；

控制器单元，用于确定与检测的操作环境相应的驱动条件以及将所述驱动条件提供给主控制器，从而根据所述驱动条件驱动所述可更换单元，

其中，所述检测单元包括篡改检测器，用于检测试图对可更换单元进行的篡改。

22、如权利要求21所述的可更换单元，还包括：

存储单元，用于存储确定的驱动条件以及与可更换单元相关的信息。

23、如权利要求21所述的可更换单元，其中，所述操作环境为电压、温度、压力、光频率和光量中的至少一种。

24、如权利要求21所述的可更换单元，其中，控制器单元独立于主控制器运行所述操作系统。