CN101597162B - 一种Gd掺杂CeO2过渡层薄膜及其制备方法 - Google Patents

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Abstract

一种Gd掺杂CeO2过渡层薄膜及其制备方法属于高温超导材料制备技术领域。本发明所提供的Gd掺杂CeO2过渡层薄膜由Ce1-xGdxO2复合氧化物固溶体组成,其中,0.1≤x≤0.5;过渡层薄膜的厚度为30~250nm。本发明通过以醋酸铈为前驱盐,以醋酸钆为钆源,采用化学溶液方法制备前驱液后,经过旋涂或者浸涂的方法将前驱液涂敷到金属基带上,再经过热处理工艺制得Gd掺杂CeO2过渡层薄膜。本发明具有制备工艺简单,成本低,所得薄膜厚度大而且没有裂纹,同时薄膜可以外延基底的织构,表面平整致密,起到隔离超导层与基底材料之间相互反应的作用等优点。

Description

一种Gd掺杂CeO<sub>2</sub>过渡层薄膜及其制备方法
技术领域
本发明属于高温超导材料制备技术领域,具体涉及高温超导涂层导体过渡层的制备技术。
背景技术
以YBCO为主的稀土类钡铜氧化物第二代涂层超导体,由于具有高的不可逆场,高的载流能力、低的交流损失,潜在的价格优势,早在上世纪80年代末就被预测将有非常广泛的应用前景。但是由于YBCO材料本征的特点:在制备过程中需引入充足的氧气使其转化为超导相;临界电流密度强烈地依赖晶界夹角;与大多数金属材料都会发生化学反应,导致其很难象第一代Bi系超导材料那样采用粉末套管法(PIT)制备成高性能的超导线带材。经过科学家们多年的研究发现将YBCO薄膜涂覆于带有过渡层的织构金属基带上是制备YBCO涂层超导线带材以实现其应用的唯一可行之路。
作为涂层导体多层结构中的过渡层部分起着承上启下的关键作用:阻止金属基板与超导层间的扩散反应;防止金属基底被氧化;改善基底与超导层间的晶格匹配;传递金属基带的“取向”外延生长获得双轴织构的YBCO薄膜。基于这样的作用,要求过渡层材料具有高度稳定的化学和物理性质,与基底或超导层间良好的晶格匹配程度,与基底和超导层元素有良好的兼容性,有较小的热膨胀系数,较强的抗氧化性,具有良好的导电性,提高涂层超导带材的工程临界电流密度(Je)的同时,在失超时也能够承担一部分电流,保护超导薄膜不被破坏。然而很难有一种材料能够同时符合过渡层所有的要求,通常都是将几种材料组合在一起作为涂层导体的过渡层材料,目前比较成熟的结构是:CeO2/YSZ/Y2O3。但是,这三层过渡层目前均是采用物理沉积技术制备的,该方法不仅制备过程复杂、缓慢,而且制备成本也非常高,不利于未来大规模的商业化应用。最近也有一些采用化学溶液方法制备过渡层的报道,但是所配置的前驱液体系较复杂,造成前驱液不稳定,容易出现沉淀,寿命短。
如果能开发出一种单一的过渡层材料,并采用成本低廉的化学溶液方法制备,那将会大大简化过渡层的制备过程,提高制备效率,降低制备成本,更利于推进涂层导体商业化的进程。
发明内容
本发明的目的在于解决现有涂层导体过渡层制备过程中存在的问题,提供一种工艺简单、高效,且成本低廉的Gd掺杂CeO2单一过渡层薄膜及其制备方法。
本发明所提供的一种Gd掺杂CeO2过渡层薄膜由Ce1-xGdxO2复合氧化物固溶体组成,其中,0.1≤x≤0.5;过渡层薄膜的厚度为30~250nm。
本发明通过以有机铈盐为前驱盐,以醋酸钆为钆源,采用化学溶液方法制备前驱液后,经过旋涂或者浸涂的方法将前驱液涂敷到金属基带上,再经过热处理工艺制得Gd掺杂CeO2过渡层薄膜,具体步骤如下:
1)制备前驱液:将醋酸铈和醋酸钆,按铈离子与钆离子的摩尔比为1-x∶x,其中,0.1≤x≤0.5,铈离子与钆离子的总浓度为0.1~1.0mol/L,溶解到正丙酸中,得到前驱液;
2)涂敷前驱液:将步骤1)制备的前驱液采用旋涂或者浸涂的方式涂敷到金属基带上,得到前驱膜;
3)高温烧结:在通保护气体的条件下,将前驱膜于950~1200℃烧结15~120分钟,得到厚度为30~70nm的Gd掺杂CeO2过渡层薄膜;
4)重复步骤2)中的涂敷前驱液和步骤3)中的高温烧结操作0~4次时,得到厚度为30~250nm的Gd掺杂CeO2过渡层薄膜。
步骤2)中采用旋涂方式将前驱液涂敷到金属基带上时,旋转涂敷的转数为2000~5000rpm,旋涂时间为30~120s。步骤2)中采用浸涂方式将前驱液涂敷到金属基带上时,垂直提拉金属基带的速度为10~150毫米/分钟。
步骤3)中所述的保护气体为H2气、N2气或Ar气的一种或几种的混合。
与现有技术相比较,本发明具有以下优点:
1)本发明以醋酸盐为前驱盐,丙酸为溶剂配置前驱液,相比采用其他前驱盐和溶剂的方法,不仅采用的化学药品廉价易得,而且配置的前驱液非常稳定,在空气条件下保存数月都不出现沉淀,前驱液寿命长,可长期重复使用,制备工艺简单,成本低廉。
2)本发明所制备的Gd掺杂CeO2过渡层薄膜的厚度可以达到30~250nm,但薄膜中没有出现裂纹,同时该种薄膜可以外延基底的织构,表面平整致密,起到隔离超导层与基底材料之间相互反应的作用。
下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步详细说明。
附图说明
图1、实施例1中的NiW金属基带的(111)面phi扫描。
图2、实施例1中制备的Ce0.9Gd0.1O2单层过渡层薄膜的(111)面phi扫描。
图3、实施例2中制备的Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜的AFM照片。
图4、实施例3中制备的Ce0.5Gd0.5O2五层过渡层薄膜的XRD图谱。
图5、实施例4中制备的Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜的(200)面摇摆曲线。
图6、实施例4中制备的Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜的(111)面phi扫描。
图7、实施例5中制备的Ce0.7Gd0.3O2单层过渡层薄膜的XRD图谱。
下面结合附图及具体实施方式对本发明进行具体的描述。
具体实施方法
实施例1
1)将醋酸铈和醋酸钆按铈离子与钆离子的摩尔比为0.9∶0.1,铈离子与钆离子的总浓度为0.1mol/L,加入正丙酸中加热搅拌至溶解,得到前驱液;
2)将前驱液用旋涂法涂敷到NiW金属基带上,转数为2000rpm,时间为30s,得到前驱膜;
3)在H2气保护条件下,将前驱膜于950℃烧结120分钟,得到得到30nm厚的具有立方织构的Ce0.9Gd0.1O2单层过渡层薄膜。
图1为所用NiW合金基带(111)面phi扫描图,图2为Ce0.9Gd0.1O2过渡层薄膜的(111)面phi扫描图,其FWHM(半高宽度)为6.22,比NiW基带的FWHM小0.81,表明Ce0.9Gd0.1O2过渡层薄膜不仅外延了NiW合金基带的立方织构,而且织构比金属基带有所改善。
实施例2
1)将醋酸铈和醋酸钆按铈离子与钆离子的摩尔比为0.8∶0.2,铈离子与钆离子的总浓度为0.4mol/L,加入到正丙酸中加热搅拌至溶解,得到前驱液;
2)将前驱液用旋涂法涂敷到NiW金属基带上,转数为5000rpm,时间为120s,得到前驱膜;
3)在H2与Ar的混合(H2与Ar的体积百分比分别为5%和95%)气保护条件下,将前驱膜于1200℃烧结15分钟,得到60nm厚的具有立方织构的Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜。
Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜的表面形貌如图3所示,由此AFM照片可见过渡层表面平整致密,晶粒细小均匀,没有裂纹。
实施例3
1)将醋酸铈和醋酸钆按铈离子与钆离子的摩尔比为0.5∶0.5,铈离子与钆离子的总浓度为0.3mol/L,加入到正丙酸中加热搅拌至溶解,得到前驱液;
2)将前驱液用浸渍法涂敷到NiW金属基带上,提拉NiW金属基带的速度为150毫米/分钟,得到前驱膜;
3)在N2气保护条件下,将前驱膜于1150℃烧结60分钟,得到50nm厚的具有立方织构的Ce0.5Gd0.5O2单层过渡层薄膜;
4)多层涂敷:重复进行步骤2)和3)4次,得到厚度为250nm的Ce0.5Gd0.5O25层过渡层薄膜。
Ce0.5Gd0.5O2五层过渡层薄膜的XRD图谱如图4所示,由图可见,薄膜中没有杂质相生成,薄膜成分单一。
实施例4
1)将醋酸铈和醋酸钆按铈离子与钆离子的摩尔比为0.8∶0.2,铈离子与钆离子的总浓度为0.4mol/L,加入到正丙酸中加热搅拌至溶解,得到前驱液;
2)将前驱液用旋涂法涂敷到NiW金属基带上,转数为4000rpm,时间为60s,得到前驱膜;
3)在Ar气保护条件下,将前驱膜于1100℃烧结60分钟,得到厚度为60nm的具有立方织构的Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜。
图5为Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜的(200)面的摇摆曲线,图6为Ce0.8Gd0.2O2单层过渡层薄膜的(111)面phi扫描图,其FWHM分别为4.18和6.19,表明过渡层具有锐利的面外和面外双轴取向。
实施例5
1)将醋酸铈和醋酸钆按铈离子与钆离子的摩尔比为0.7∶0.3,铈离子与钆离子的总浓度为1.0mol/L,加入到正丙酸中加热搅拌至溶解,得到前驱液;
2)将前驱液用浸涂法涂敷到NiW金属基带上,提拉NiW金属基带的速度10毫米/分钟,得到前驱膜;
3)在N2与H2的混合(N2与H2的体积百分比分别为95%和5%)气条件下,将前驱膜于1000℃烧结90分钟,得到厚度为100nm的具有立方织构的Ce0.7Gd0.3O2单层过渡层薄膜。
Ce0.7Gd0.3O2单层过渡层薄膜的XRD图谱如图7所示,由图可见,薄膜中没有杂质相生成,薄膜成分单一。

Claims (4)

1.一种Gd掺杂CeO2过渡层薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)制备前驱液:将醋酸铈和醋酸钆,按铈离子与钆离子的摩尔比为1-x∶x,其中,0.1≤x≤0.5,铈离子与钆离子的总浓度为0.1~1.0mol/L,溶解到正丙酸中,得到前驱液;
2)涂敷前驱液:将步骤1)制备的前驱液采用旋涂或者浸涂的方式涂敷到金属基带上,得到前驱膜;
3)高温烧结:在通保护气体的条件下,将前驱膜于950~1200℃烧结15~120分钟,得到厚度为30~70nm的Gd掺杂CeO2过渡层薄膜;
4)重复步骤2)中的涂敷前驱液和步骤3)中的高温烧结操作0~4次,得到厚度为30~250nm的Gd掺杂CeO2过渡层薄膜。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤2)中采用旋涂方式将前驱液涂敷到金属基带上时,旋转涂敷的转数为2000~5000rpm,旋涂时间为30~120s。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤2)中采用浸涂方式将前驱液涂敷到金属基带上时,垂直提拉金属基带的速度为10~150毫米/分钟。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤3)中所述的保护气体为H2气、N2气或Ar气的一种或几种的混合。
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