CN101593526B - 光盘设备、控制其的方法、和信息存储介质 - Google Patents

Abstract

一种光盘设备，根据在光盘介质上记录的信息，按照从光学拾取器输出的输出信号，来控制光学拾取器相对于光盘介质表面的相对位置，以实施用于维持可读取信息的状态的伺服控制，当实施伺服控制时获取信息读取精确度的评估值，并在改变伺服控制的参数的设置值时，基于分别对于参数的至少三个设置值而获取的评估值，来计算要被设置用于实施伺服控制的参数的设置值。光盘设备根据对于参数的至少两个设置值而获得的评估值，来确定被设置用于进一步获取评估值的设置值。

Description

光盘设备、控制其的方法、和信息存储介质

技术领域

本发明涉及一种用于读取在诸如CD、DVD和蓝光盘(商标)的光盘介质上记录的信息的光盘设备、控制该光盘设备的方法、及信息存储介质。

背景技术

近年来，已经使用各种光盘介质作为信息记录介质。使用光盘设备来读取在这种光盘介质上记录的信息。光盘设备包括用光来辐射光盘介质以检测来自该光盘介质的反射光的光拾取器。光盘设备控制驱动系统，该驱动系统用于相对于光盘介质的表面而相对地移动光拾取器，以将光拾取器移动到能够读取信息的位置。以此方式，光盘设备从光盘介质读取信息。

由于当读取信息时的光盘介质的旋转而导致的轴向偏转(axial runout)，光盘介质可以垂直地轻微移动。另外，从光盘介质的中心到其上记录信息的光盘介质的轨道的距离，在正在连续读取信息时，逐渐改变。因此，当读取信息时进行伺服控制。在伺服控制中，根据从光拾取器输出的输出信号，在驱动系统上进行反馈，以维持在光盘介质上记录的信息可读的状态。作为具体例子，光盘设备进行焦点伺服控制，以调整在光拾取器和光盘介质的表面之间的距离，来维持从光拾取器辐射的光被聚焦在光盘介质的信号表面的状态，或进行循轨(tracking)伺服控制，以在光盘介质的直径方向上移动该光拾取器，来允许光的焦点跟随循轨位置。

当光盘设备实施该伺服控制时，设置各种控制参数用于控制。例如，在焦点伺服控制中，能够给出与在包括在光拾取器中的物镜和光盘介质表面之间的距离的偏移量值(offset value)有关的参数(焦点偏移(bias)参数)、和用于校正物镜的球面像差的参数，作为上述参数。通过适当地调整该控制参数，能够改进光拾取器的信息读取精确度。

针对控制参数而设置的设置值取决于诸如要被读取的光盘介质的类型、光盘介质的个体差异、和光拾取器的使用环境之类的各种因素而改变。因此，需要光盘设备在开始从光盘介质读取信息之前预先进行参数调整操作。具体地，控制该参数调整操作，用于在设置可允许范围内改变控制参数的设置值，试图利用正被设置的若干设置值来从该介质读取信息，评估此时的信息读取精确度来计算能够改进信息读取精确度的设置值(调整的值)，并设置所计算的设置值作为控制参数(例如，见日本专利No.4001024)。

在如上所述的参数调整操作中，例如，使用诸如抖动值(jitter value)的评估值来评估读取精确度。在该情况下的抖动值表示从光拾取器的输出中获取的再现信号的相对于基准时钟的时间偏离。控制参数的这种评估值和设置值通常具有能够用二次曲线来近似的关系。图19是示出在上述的控制参数的设置值和评估值之间的关系的例子的图。在图19中，在横坐标轴(X-轴)上表示控制参数的设置值，而在纵坐标轴(Y-轴)上表示评估值。在该例子中，使用抖动值作为评估值。因此，随着评估值降低，读取精确度变高。在图19所示的例子中，用凹面向上的抛物线来表示在控制参数的设置值和评估值之间的关系。评估值能够减小(即，能够改进信息读取精确度)被设置为控制参数的设置值的、与在抛物线的顶点附近的位置对应的在X轴上的值。

当光盘设备利用上述的在控制参数的设置值和评估值之间的关系来进行参数调整操作时，需要以如下方式获得与在控制参数的设置值和评估值之间的关系近似的二次曲线。具体地，当控制参数分别设置为彼此不同的至少三个设置值时，获取与设置值分别对应的评估值。需要至少三个采样数据项的原因如下。除非在二次曲线上指定如图19所示的至少三个点，即，切线的斜率变为负的点Pa、切线的斜率变得接近0的点Pb、和切线的斜率变为正的点Pc，否则不能很精确地近似上述关系。

为了进行参数调整操作，光盘设备，例如，首先设置预定初始值作为控制参数，然后在每次将该设置值增大(或减小)预定步长量时试图获取与设置值分别对应的评估值。考虑到与调整目标相对应的最佳设置值取决于光盘介质的类型或个体差异而变化，控制参数的值的设置可允许范围被设置为大到一定程度。对于一些类型的光盘介质，能够读取信息，且能够仅在包含在控制参数的设置可允许范围内的、最佳设置值附近的有限范围内获取评估值。在这种情况下，利用当在控制参数的设置可允许范围内从固定初始值顺序地增大或减小设置值的同时获取评估值的方法，在多次试图获取评估值之后，才成功地获取评估值。因此，用于计算最佳设置值所需的多个采样数据项的获取有时耗费长时间。

当通过上述的参数调整操作来对多个控制参数设置最佳调整值时，有时希望集体地改变多个控制参数以同时调整所述控制参数。其原因如下。通常，由多个控制参数的函数来表示信息读取精确度。因此，即使当独立地调整各个控制参数时，也不总是获得最佳调整值。

上述控制参数中的波动影响了伺服控制。对于多个控制参数的值的一些组合，在一些情况下不再能够继续伺服控制(具体地，发生伺服错误)。作为具体例子，图20示出了控制参数的组合的范围，其中，对于两个控制参数，即用于焦点偏移的参数(FB参数)和用于校正球面像差的参数(SA参数)，能够正常地进行焦点伺服控制(伺服正常操作范围R)。在该图上，横坐标表示SA参数的值，而纵坐标表示FB参数的值。由虚线围绕的区域表示伺服正常操作范围R。具体地，只要SA参数的值和FB参数的值的组合在伺服正常操作范围R内，就能够继续伺服控制。

当通过改变控制参数的值来进行参数调整以评估在改变控制参数的值之后的读取精确度时，如果控制参数的改变的值的组合在上述伺服正常操作范围R之外，则发生伺服错误。在该情况下，除非再次进行用于开始伺服控制的伺服设置处理(例如，在焦点伺服控制的情况下，用于调整物镜在光盘介质的信号表面上的焦点的焦点检测处理)，否则无法读取信息。因此，当在改变控制参数的值的组合的同时评估读取精确度时，改变后的控制参数的值的组合需要落入伺服正常操作范围R内。

但是，即使改变后的控制参数的值的组合落入伺服正常操作范围R内，仍然存在如下担心，即当在一次改变中各个控制参数的改变量大时，在使控制参数的值的组合改变的过程中，将发生伺服错误。图20中的箭头表示发生这种问题的具体例子。该箭头表示将各个控制参数的值从由点A所表示的控制参数的值的组合改变为由点B表示的控制参数的值的组合的过程。在图20所示的例子中，光盘设备首先将SA参数从点A所表示的状态改变，以允许该状态转变到点X表示的状态。然后，光盘设备改变FB参数，以允许该状态转变到由点B表示的状态。在该情况下，虽然点A和B二者都落入伺服正常操作范围R，以提供允许焦点伺服控制的控制参数的值的组合，但当组合的状态转变到由点X表示的状态时，控制参数的值的组合移出了伺服正常操作范围R。因此，发生伺服错误，阻止了伺服控制的继续。因此，为了评估在由点B所表示的状态下的读取精确度，需要再次进行伺服设置处理。因此，参数调整需要额外的时间。如上所述，当在改变多个控制参数的值的组合的同时调整控制参数时，在多个控制参数之一在一次中大程度改变的情况下，虽然改变后的控制参数的值的组合满足伺服控制可允许条件，但仍发生伺服错误。因此，存在导致时间损失的危险。

发明内容

鉴于上述实际情况，提出本发明，本发明具有如下目的：提供一种光盘设备，当调整伺服控制的参数时，在短时间段内能够获取计算参数的最佳设置值所需的多个采样数据项，还提供控制该光盘设备的方法和信息存储介质。

本发明具有另一目的：提供一种当调整伺服控制的参数时能够防止容易地发生伺服错误的光盘设备、控制该光盘设备的方法、和信息存储介质。

根据本发明的一个方面，一种光盘设备，用于读取在光盘介质上记录的信息，包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质的表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制；评估值获取装置，用于当实施伺服控制时获取光学拾取器的信息读取精确度的评估值；以及参数调整装置，用于在改变预定参数的设置值时，基于由评估值获取装置对于预定参数的至少三个设置值的每个而获取的评估值，来计算要被设置来实施伺服控制的预定参数的设置值，其中，所述参数调整装置根据对于预定参数的至少两个设置值而获得的评估值来确定将被设置以用于进一步获取评估值的设置值。

在上述光盘设备中，所述参数调整装置可以根据分别对于预定参数的至少两个设置值中的最大值和最小值而获取的两个评估值之间的大小关系，把被设置以用于进一步获取评估值的设置值确定为大于最大值及小于最小值中的一个。

在上述光盘设备中，所述光学拾取器可以包括用于将光聚焦在光盘介质的信号表面上的物镜、和用于改变其自身位置以校正所述物镜的球面像差的准直器透镜，所述预定参数可以是所述准直器透镜的位置的参数。

在上述光盘设备中，所述光学拾取器可以包括用于将光聚焦在光盘介质的信号表面上的物镜，所述预定参数可以是关于在物镜和光盘介质的表面之间的距离的偏移量值的参数。

另外，根据本发明的另一方面，一种控制光盘设备的方法，所述光盘设备包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质的表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制，所述方法包括：评估值获取步骤，当实施伺服控制时获取光学拾取器的信息读取精确度的评估值；以及参数调整步骤，在改变预定参数的设置值时，基于在评估值获取步骤中对于预定参数的至少三个设置值的每个而获取的评估值，来计算要被设置以用于实施伺服控制的预定参数的设置值，其中，所述参数调整步骤包括根据对于预定参数的至少两个设置值而获取的评估值来确定被设置以用于进一步获取评估值的设置值。

另外，根据本发明的再一方面，一种计算机可读信息存储介质，存储用于控制光盘设备的程序，所述光盘设备包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；以及伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质的表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制，所述程序控制计算机运行为：评估值获取装置，用于当实施伺服控制时获取光学拾取器的信息读取精确度的评估值；以及参数调整装置，用于在改变预定参数的设置值时，基于由评估值获取装置对于预定参数的至少三个设置值的每个而获取的评估值，来计算要被设置用于实施伺服控制的预定参数的设置值，其中，所述参数调整装置根据对于预定参数的至少两个设置值而获取的评估值来确定被设置用于进一步获取评估值的设置值。

另外，根据本发明的再一方面，一种光盘设备，用于读取在光盘介质上记录的信息，包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质的表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制；以及参数调整装置，用于当实施伺服控制时将被设置用于伺服控制的多个参数的每个的值改变为给定目标值，其中，所述参数调整装置以多次来进行将多个参数中的至少一个的值改变为目标值，在多次改变至少一个参数之间改变另一参数。

在上述光盘设备中，当多个参数的至少一个向目标值改变的量超出预定基准量时，所述参数调整装置可以以多次来进行多个参数中至少一个的值的改变。

在上述光盘设备中，所述参数调整装置可以以预定步长改变量为单位，划分多个参数中的至少一个向目标值的改变量，每次将多个参数中的至少一个的值改变每个预定步长改变量。

在上述光盘设备中，当在将多个参数的每个的值改变为目标值的过程中，伺服控制中发生错误时，在下次改变多个参数的每个的值时，参数调整装置可以在减小预定步长改变量之后改变多个参数的每个的值。

另外，根据本发明的再一方面，一种用于控制光盘设备的方法，所述光盘设备包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；以及伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质的表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制，所述方法包括在实施伺服控制期间将被设置用于伺服控制的多个参数的每个的值改变为给定目标值，其中，所述改变包括以多次来进行将多个参数的至少一个的值改变为目标值，在多次改变至少一个参数之间改变另一参数。

另外，根据本发明的再一方面，一种计算机可读信息存储介质，存储用于控制光盘设备的程序，所述光盘设备包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；以及伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质的表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制，所述程序控制计算机运行为：参数调整装置，用于在实施伺服控制期间将被设置用于伺服控制的多个参数的每个的值改变为给定目标值，其中，所述参数调整装置以多次来进行将多个参数的至少一个的值改变为目标值，在多次改变至少一个参数之间改变另一参数。

附图说明

在附图中：

图1是图示根据本发明实施例的光盘设备的配置例子的方块图；

图2是示出根据本发明实施例的光盘设备的光学拾取器的内部配置例子的示意图；

图3是示出根据本发明实施例的光盘设备的功能的例子的功能方块图；

图4是示出在要获取的评估值和设置值的改变顺序之间的关系的例子的图；

图5是示出在要获取的评估值和设置值的改变顺序之间的关系的另一例子的图；

图6是示出在要获取的评估值和设置值的改变顺序之间的关系的再一例子的图；

图7是示出根据本发明实施例的光盘设备所进行的处理的例子的流程图；

图8是示出根据本发明实施例的光盘设备所进行的处理的例子的流程图；

图9是示出根据本发明实施例的光盘设备所进行的处理的例子的流程图；

图10是示出在当初始值被设置时评估值的获取失败的情况下设置值的改变顺序的例子的说明图；

图11是用于示出判断异常值的方法的图；

图12是示出终止判断处理的例子的流程图；

图13是示出终止判断处理的例子的流程图；

图14是示出改变控制参数的值的组合的过程的例子的说明图；

图15是示出改变控制参数的值的组合的过程的另一例子的说明图；

图16是示出改变控制参数的值的组合的过程的另一例子的说明图；

图17A和17B是示出改变控制参数的值的组合的过程的另一例子的说明图；

图18A和18B是示出改变控制参数的值的组合的过程的另一例子的说明图；

图19是示出在参数的设置值和评估值之间的关系的例子的图；以及

图20是示出在现有技术的光盘设备中改变控制参数的值的组合的过程的例子的说明图。

具体实施方式

此后，参考附图详细描述本发明的示例实施例。

[硬件配置]

根据本发明实施例的光盘设备1读取在光盘介质上记录的信息。如图1所示，光盘设备1包括：介质支撑部分11、主轴马达(spindle motor)12、光学拾取器13、三轴致动器(three-axis actuator)14、进给马达15、驱动电路16、RF放大器17、伺服信号处理单元18、记录信息处理单元19、和控制单元20。

由光盘设备1从光盘介质M读取信息，该光盘介质M包括：记录信息的数据记录层、和在数据记录层的两面上提供的用于保护数据记录层的保护层。此后，数据记录层的表面被称为信号表面。光盘设备1可以被配置为不仅从光盘介质M读取所记录的信息，还能够向光盘介质M写入信息。另外，光盘设备1还可以被配置以能够读取在诸如CD、DVD和蓝光盘的多种光盘介质M上记录的信息。

介质支撑部分11旋转地支撑光盘介质M。介质支撑部分11还使用从主轴马达12发送的功率来旋转光盘介质M。

光学拾取器13用光来辐射光盘介质M，并检测由光盘介质M反射的辐射光的部分，以根据所检测的反射光来输出输出信号。能够由三轴致动器14在包括光盘介质M的直径方向和与光盘介质M的表面垂直的方向(即，沿着光盘介质M的旋转轴的方向)的两个方向上移动光学拾取器13。另外，三轴致动器14能够改变光学拾取器13相对于光盘介质M的相对倾斜。三轴致动器14在垂直于光盘介质M的表面的方向上移动光学拾取器13，来改变从光学拾取器13中所包括的物镜36到光盘介质M的表面的距离。

图2是示出光学拾取器13的内部配置例子的图。在图2所示的例子中，光学拾取器13包括：发光元件31、偏振分束器32、准直器透镜(collimator lens)33、准直器透镜驱动单元34、正像面镜(erecting mirror)35、物镜36、和光电检测器(photodetector)37。

发光元件31是用于输出具有预定波长的激光束的半导体激光元件。从发光元件31发射的输出光穿过偏振分束器32和准直器透镜33，然后由正像面镜35反射。另外，由正像面镜35反射的输出光被物镜36聚焦在与物镜36相距焦距F的焦点位置，以被光盘介质M反射。

在由光盘介质M反射的光穿过物镜36之后，所反射的光被正像面镜35反射，以被偏振分束器32导向光电检测器37。光电检测器37包括在例如N乘以N的矩阵中排列的多个光接收元件。当由偏振分束器32引导的反射光到达光接收元件时，光电检测器37输出与由多个光接收元件的每个接收的光的强度相应的信号，作为输出信号。

准直器透镜驱动单元34包括致动器等，且在激光束的光轴方向上往复驱动准直器透镜33。准直器透镜驱动单元34沿着光轴方向来移动准直器透镜33，以使能校正物镜36的球面像差。

进给马达15沿着光盘介质M的直径方向移动光学拾取器13和三轴致动器14二者。通过驱动进给马达15，光学拾取器13能够从光盘介质M的中心附近的位置移动到在光盘介质M的外围附近的位置。

驱动电路16根据从伺服信号处理单元18输入的控制信号来输出用于驱动准直器透镜驱动单元34、三轴致动器14、主轴马达12、和进给马达15的驱动信号。主轴马达12的旋转速度根据来自驱动电路16的驱动信号而改变。因此，控制光盘介质M的旋转速度。另外，通过根据来自驱动电路16的驱动信号而驱动三轴致动器14和进给马达15，控制物镜36沿直径方向与光盘介质M的旋转轴的距离和从物镜36到光盘介质M的表面的距离。

通过例如用于把来自光学拾取器13的输出信号转换为数字信号的A/D转换器、和用于处理通过转换而获得的数字信号的数字信号处理器(DSP)、微型计算机等，来实现RF放大器17、伺服信号处理单元18、记录信号处理单元19、和控制单元20。

RF放大器17基于从光学拾取器13输出的、多个光接收元件各自的输出信号，来输出各种信号。具体地，RF放大器17用给定增益来放大来自每个光接收元件的输出信号，来输出所获得的信号作为用于数据再现的RF信号。RF放大器17还输出通过全部相加多个光接收元件的放大输出信号而获得的牵入(pull-in)信号(PI信号)。PI信号的电平表示从光学拾取器13输出的输出信号的总电平。

另外，RF放大器17计算并输出表示物镜36的焦点位置相对于光盘介质M的信号表面的偏离的焦点误差信号(FE信号)。作为例子，通过在多个光接收元件之中，从沿着与预定对角线方向交叉的对角线方向排列的光接收元件的输出信号的总和中，减去沿着预定对角线方向排列的光接收元件的输出信号的总和，来计算FE信号。另外，RF放大器17计算并输出循轨误差信号(TE信号)，表示在记录信息的数据记录层中的轨道位置和物镜36的焦点位置之间的在光盘介质M的直径方向上的偏离。

伺服信号处理单元18基于从RF放大器17输出的PI信号、FE信号、和TE信号，来生成用于伺服控制的各种信号，并向控制单元20输出所生成的信号。伺服信号处理单元18根据从控制单元20输入的命令，向用于驱动三轴致动器14、准直器透镜驱动单元34、进给马达15、和主轴马达12的驱动电路16输出控制信号。

在该实施例中，伺服信号处理单元18用作伺服实施单元，根据来自控制单元20的命令来进行伺服控制。具体地，在输入了来自控制单元20的用于开始伺服控制的命令之后，伺服信号处理单元18根据从RF放大器17输入的FE信号来输出用于控制三轴致动器14的控制信号，以进行焦点伺服控制，在垂直于光盘介质M的表面的方向上对光学拾取器13进行位置调整。因此，在光盘介质M的信号表面上维持物镜36的焦点。另外，伺服信号处理单元18根据从RF放大器17输入的TE信号，来输出用于控制三轴致动器14的控制信号，以进行用于在直径方向上改变光学拾取器13的位置的循轨伺服控制。因此，光学拾取器13在平行于光盘介质M的表面的方向上相对地移动，以使得物镜36的焦点跟随数据记录层中的轨道。以此方式，通过由伺服信号处理单元18进行的伺服控制，来控制光学拾取器13相对于光盘介质M的表面的相对位置。因此，能够维持光学拾取器13从光盘介质M能够读取信息的状态，且以这种状态来读取信息。当由于干扰等的影响而发生了伺服错误(即，不能再继续伺服控制)时，伺服信号处理单元18向控制单元20输出用于通知伺服错误的发生的信号。

记录信号处理单元19把从RF放大器17输出的RF信号解调为表示在光盘介质M上记录的信息的数字信号，且输出被解调的数字信号。记录信号处理单元19还计算与光学拾取器13读取在光盘介质M上记录的信息的读取精确度有关的评估值(诸如RF振幅或抖动值)，并把所计算的评估值输出至控制单元20。此后，作为具体例子，记录信号处理单元19测量表示RF信号波形的上升时刻相对于基准时钟的时间偏离的抖动值，作为评估值，并向控制单元20输出所测量的抖动值。

由例如微型计算机来构造控制单元20，该控制单元20包括执行模块和存储元件。在控制单元20的存储元件中，存储了要被执行的程序和各种参数。执行模块根据在存储元件中存储的程序来进行处理。具体地，控制单元20从伺服信号处理单元18接收信号的输入(诸如，PI信号的峰值检测的结果的信号、和表示对FE信号进行的预定判断的结果的信号)，且进行处理(焦点检测处理)，以基于所述信号来检测物镜36的焦点被调整到信号表面上的位置，且把在光学拾取器13和光盘介质M之间的距离设置到所检测的位置。当由焦点检测处理进行焦点检测时，控制单元20向伺服信号处理单元18输出用于开始焦点伺服控制的命令，以在焦点检测之后维持状态。

控制单元20连接到用作主机的个人计算机、家庭游戏机的主体、视频解码器等。响应于来自主机的请求，控制单元20向伺服信号处理单元18输出用于驱动进给马达15或三轴致动器14的指令，以将物镜36的焦点位置(即，在光盘介质M上的信息读取位置)移动到光盘介质M上希望的位置。除了上述操作以外，控制单元20还向伺服信号处理单元18输出用于改变主轴马达12的旋转速度的指令，以调整光盘介质M的旋转速度。然后，在此状态下，控制单元20向主机侧输出通过解调从记录信号处理单元19输出的从光盘介质M读取的信号而获得的信号。

[参数调整操作的概念]

在该实施例中，光盘设备1对针对由伺服信号处理单元18进行的伺服控制而设置的预定控制参数进行参数调整操作。在该参数调整操作中，计算要被设置用于实施伺服控制的控制参数的设置值(此后，称为调整值)。具体地，光盘设备1计算允许以良好的精确度来读取在光盘介质M上记录的信息的控制参数的设置值，作为调整值。通过设置控制参数的值为由参数调整操作计算的调整值，光盘设备1能够在希望的条件下实施伺服控制，以用良好的精确度来从光盘介质M读取信息。

当例如在光盘设备1中新放入光盘介质M或光盘设备1通电时，进行参数调整操作。这是因为允许以良好的精确度来读取信息的控制参数的值取决于光盘介质M的类型和个体差异而变化。一旦进行了参数调整操作，则将控制参数的值设置为所计算的调整值。此后，用为相同光盘介质M设置的调整值来进行伺服控制。当要进行参数调整操作时，需要实际地从光盘介质M读取信息，以在信息读取时计算抖动值。因此，在由伺服信号处理单元18进行伺服控制时，光盘设备1进行参数调整操作。

[单个控制参数的参数调整操作]

此后，首先描述对单个控制参数进行参数调整操作的例子。作为控制参数的例子，描述了如下情况：调整关于准直器透镜33的位置的参数(此后，称为SA参数)。准直器透镜驱动单元34根据调整的SA参数来改变准直器透镜33的位置。因此，光学拾取器13能够校正物镜36的球面像差，来以良好的精确度来读取信息。

以下描述当进行参数调整操作时由根据该实施例的光盘设备1的控制单元20进行的处理。如图3所示，控制单元20功能上包括评估值获取单元41和参数调整单元42。另外，参数调整单元42功能上包括设置值改变单元42a和调整值计算单元42b。通过由控制单元20执行在控制单元20中包括的存储元件中所存储的程序，来以软件的形式实现上述功能。

每次由下述设置值改变单元42a改变设置值时，评估值获取单元41从记录信号处理单元19获取基于RF信号而由记录信号处理单元19测量的评估值(抖动值)。

参数调整单元42的设置值改变单元42a根据预定规则来改变SA参数的设置值，并向伺服信号处理单元18输出改变的设置值，以改变准直器透镜33的位置。以下详细描述关于设置值改变的规则。然后，每次设置值改变单元42a改变SA参数的设置值时，由评估值获取单元41获取当设置设置值时的抖动值。因此，获得与SA参数的多个设置值的每个相当应的抖动值。设置值改变单元42a重复改变设置值，直到获取了满足预定条件的设置值和抖动值的多个组合。在以下描述中，通过设置值改变单元42a进行的设置值改变而获取的设置值和抖动值的组合被称为采样数据项。

调整值计算单元42b基于采样数据项来计算调整值。作为具体例子，调整值计算单元42b使用最小二乘法来获取用于近似所获得的采样数据项的二次曲线。然后，调整值计算单元42b计算与二次曲线的顶点位置对应的SA参数的设置值，作为调整值。此后，调整值计算单元42b向伺服信号处理单元18输出计算的调整值，以将准直器透镜33的位置移动到与调整值相应的位置。因此，球面像差被校正到希望的状况，以允许记录信号处理单元19用良好的精确度来读取在光盘介质M上记录的信息。

此后，以下描述当设置值改变单元42a顺序地改变设置值以获得多个采样数据项时的设置值改变规则。

首先，设置值改变单元42a设置预定初始值X0作为用于获取第一采样数据项的设置值。初始值X0例如是这样的值，其使得成功获取抖动值的可能性统计上被认为高。作为对关于各类光盘介质的设置值和抖动值之间的关系预先进行检查的结果，来确定这种初始值X0。通过设置如此确定的初始值X0，不论由于光盘介质M的个体差异而导致的要获得的调整值的差异如何，得到在初始测量中成功地从光盘介质M读取信息以获得抖动值的高可能性。

当为初始值X0成功地获取抖动值时，设置值改变单元42a把用于第二次测量的SA参数的设置值设置为通过将初始值X0改变预定步长量d而获得的值。如在初始值X0的情况下，可以根据作为对各类光盘介质预先进行测试的结果而获得的、允许抖动值的测量的SA参数的范围，来确定步长量d。设置值改变单元42a可以将SA参数相对于初始值X0增大步长量d(即，向初始值X0加上步长量d)，或可以将SA参数相对于初始值X0减小步长量d(即，从初始值X0减去步长量d)。作为以下描述的具体例子，设置值改变单元42a将SA参数设置为(X0-d)以用于第二次测量。

当以上述方式为设置值X0和(X0-d)分别测量抖动值时，设置值改变单元42a根据针对两个设置值而获取的抖动值，来确定要用于进一步获取评估值而设置的设置值。作为具体例子，设置值改变单元42a根据在与两个设置值分别对应的两个抖动值之间的大小关系，来确定与下一测量的目标对应的SA参数的设置值。即，当由Y(X)表示在设置值X正被设置的情况下由评估值获取单元41获取的评估值时，设置值改变单元42a根据在Y(X0)和Y(X0-d)之间的大小关系来确定下次要改变的SA参数的设置值。

具体地，当在Y(X0)与Y(X0-d)之间的比较中，Y(X0)小于Y(X0-d)时，设置值改变单元42a把SA参数改变为大于X0的设置值(在该情况下(X0+d))。另一方面，当Y(X0-d)小于Y(X0)时，设置值改变单元42a改变SA参数为小于(X0-d)的设置值(在该情况下(X0-2d))。

另外，用相同的方法来确定与第四和随后测量的目标分别对应的SA参数的设置值。具体地，根据在为已经获取了抖动值的设置值的最大值XH和最小值XL而分别获得的两个评估值Y(XH)和Y(XL)之间的大小关系，设置值改变单元42a确定要被进一步改变的设置值大于最大值XH或小于最小值XL。作为具体例子，当建立关系：Y(XH)＜Y(XL)时，设置值改变单元42a改变设置值为(XH+d)。另一方面，当建立关系：Y(XH)＞Y(XL)时，设置值改变单元42a改变设置值为(XL-d)。

评估值获取单元41和设置值改变单元42a重复如上所述的改变设置值及获取用改变的设置值测量的抖动值，直到获得允许调整值计算单元42b以良好的精确度来计算调整值的多个采样数据项为止。为了近似采样数据项来以良好的精确度计算调整值，希望获取满足预定条件的三个或更多采样数据项。以下描述用于判断是否已经获得了这种采样数据项以便确定是否要终止采样数据项的获取的条件(测量终止条件)。

图4、5、6的每个是示出在以上述方式确定的设置值和抖动值之间的关系的例子的图。在图4到6的每个中，横坐标轴表示SA参数的设置值，而纵坐标轴表示抖动值。横坐标轴的正方向表示准直器透镜33朝向正像面镜35移动的方向，而负方向表示准直器透镜33朝向发光元件31移动的方向。在每个图上的点P1、P2、P3、P4和P5表示分别由第一、第二、第三、第四和第五次测量获得的采样数据项。

在图4中，在点P2处的抖动值小于在点P1处的抖动值。因此，第三次测量的设置值要小于在点P2处的设置值。因此，当完成第三次测量时，在点P3处的设置值变为新的最小值XL。由于在点P3处的抖动值大于在点P1处的抖动值，因此用大于在点P1处的设置值的设置值来进行第四次测量。

在图5所示的例子中，在点P1处的抖动值是在点P1到P5处的抖动值中最大的。因此，在X轴的负方向上连续改变设置值，直到第五次测量。

图6图示了在由第一次测量获得的抖动值位于二次曲线的顶点附近的情况下的例子。在该例子中，在从第一次测量开始在X轴的负方向和X轴的正方向上交替地改变设置值时，进行测量。

如图4到6所示，根据在与已经测量抖动值的设置值的最大值和最小值分别对应的抖动值之间的大小关系，为下次测量而设置的设置值被确定为设置得大于最大值或小于最小值。因此，设置值改变单元42a能够以如下方式改变设置值。具体地，在用二次曲线来近似在设置值和抖动值之间的关系的情况下，在二次曲线的顶点不位于已经测量的设置值的最大值和最小值之间时，如图5所例示，设置值被改变为更接近于二次曲线的顶点。当二次曲线的顶点位于已经测量的设置值的最大值和最小值之间时，设置值被改变以扩大从作为扩大中心的顶点起在X轴的正方向和负方向这两个方向上的测量范围，如图6所例示。因此，根据该实施例的光盘设备1能够通过较少次数的测量来获取包含调整值计算单元42b计算调整值所需要的三个点的采样数据项，该三个点即：相对于二次曲线的正切斜率变为负的点、正切斜率接近0的点、和正切斜率变为正的点。因此，能够在短时间段内进行参数调整操作。

将参考图7到9的流程图来描述由在该实施例中的控制单元20进行的处理的流程的具体例子。由Xn表示由用于获取第n个采样数据项的设置值改变单元42a设置的SA参数的设置值。由Yn来表示在设置值Xn正被设置的情况下测量的抖动值。

首先，设置值改变单元42a重置每个变量，作为预定初始化处理(S1)。具体地，设置0作为Dirc变量、CntPlus变量、和CntMinus变量的每个。在此，Dirc变量表示设置值改变单元42a改变设置值的方向。-1的Dirc变量表示在负方向上的改变，+1表示在正方向上的改变，0表示未设置方向的状态。预定初始值X0被用作基准，CntPlus变量表示在X轴的正方向上改变要被测量的设置值的次数，而CntMinus变量表示在X轴的负方向上改变要被测量的设置值的次数。

随后，设置值改变单元42a为第一次测量设置预定初始值X0作为设置值X1(S2)。根据该设置，准直器透镜驱动单元34将准直器透镜33移动到预定初始位置。

接下来，设置值改变单元42a判断Dirc变量是否是0(S3)。由于在上述初始化处理中设置0作为Dirc变量，因此在第一次进行步骤S3的过程中确定Dirc变量是0，且处理进行到步骤S9。另一方面，当第二及随后次数进行在步骤S3中的处理时，Dirc变量被设置为除了0以外的值。因此，设置值改变单元42a根据Dirc变量的值来改变设置值。具体地，设置值改变单元42a判断Dirc变量是1还是-1(S4)。当Dirc变量是1时，设置值改变单元42a给CntPlus变量加1(S5)，且设置由如下计算公式计算的值：

X1＝Dirc·d·CntPlus+X0

作为新的设置值X1(S6)。另一方面，当Dirc变量是-1时，设置值改变单元42a向CntMinus变量加1(S7)，并设置由如下计算公式计算的值：

X1＝Dirc·d·CntMinus+X0作为新的设置值X1(S8)。

然后，在该状态下测量抖动值。由评估值获取单元41获取作为测量结果而获得的抖动值Y1(S9)。然后，设置值改变单元42a判断是否成功地测量了抖动值(S10)。如果抖动值的测量失败，则判断是否已经进行了预定次数或更多次的测量(S11)。如果从未成功地测量抖动值，则即使在在如下所述改变设置值的同时进行预定次数的测量之后，设置值改变单元42a也判断发生错误以终止参数判断操作(不正常终止)。

另一方面，当在步骤S11中判断还没有进行预定次数的测量时，设置值改变单元42a判断Dirc变量是否是0(S12)。当Dirc变量是0时，设置-1作为Dirc变量的新值(S13)。以此方式，当第一次测量失败时，首先在负方向上改变SA参数的设置值X1，来重新试图测量。另一方面，当Dirc变量不是0时，设置值改变单元42a反转Dirc变量(S14)。具体地，当Dirc变量是1时，Dirc变量的值被改变为-1。另一方面，当Dirc变量是-1时，Dirc变量的值被改变为1。然后，处理返回到步骤S3以根据反转的Dirc变量将设置值改变为新的设置值X1。

根据上述流程，当在设置初始值X0的情况下抖动值的测量失败时，相对于作为中心的初始值X0在X轴负方向和正方向上交替地改变设置值，以试图测量抖动值，如图10所示。在图10所示的例子中，叉表示不成功的测量。因此，图10示出第五次测量是抖动值的第一次成功测量。如上所述，初始值X0不被设置在能够设置SA参数的范围的两端附近，而被设置为提供抖动值的成功测量的高可能性的值。因此，希望能够通过在交替地减小和增大设置值时重复抖动值的测量，而不是通过在从初始值X0恒定地增大或减小设置值时重复抖动值的测量，来更早地成功测量抖动值。

作为参数调整操作的不正常终止的原因之一，构想能够测量抖动值的范围相比于步长量d太小以至于不能成功地测量抖动值。因此，在由于在步骤S11中的判断而导致的参数调整操作的不正常终止的情况下，光盘设备1可以将步长量d改变为更小的值，以再次进行参数调整操作。在该情况下，可以以增加的用作在步骤S11中的出错标准的测量次数，再次进行参数调整操作。

当在步骤S10中判断成功地测量了设置值X1的抖动值Y1时，设置值改变单元42a判断Dirc变量是否是0(S15)。当Dirc变量是0时，意味着在第一次试探中已经成功地测量了抖动值Y1。在该情况下，设置-1作为Dirc变量(S16)。由于在上述该实施例中在第二次测量中首先在负方向上改变设置值，因此在该情况下Dirc变量被设置为-1。当在步骤S15中Dirc变量是除了0以外的值时，意味着第一次测量已经失败，且已经若干次试图进行抖动值Y1的测量。在该情况下，Dirc变量未改变。然后，在维持上次改变设置值的方向的情况下设置值被改变为下一值之后，进行第二及随后的测量。

具体地，设置值改变单元42a判断Dirc变量是1还是-1(S17)。当Dirc变量是1时，设置值改变单元42a向CntPlus变量加1(S18)，且设置由如下计算公式计算的值：

Xn＝Dirc·d·CntPlus+X0

作为设置值Xn(S19)。另一方面，当Dirc变量是-1时，设置值改变单元42a向CntMinus变量加1(S20)，且设置由如下计算公式计算的值：

Xn＝Dirc·d·CntMinus+X0

作为设置值Xn(S21)。

然后，评估值获取单元41获取为在步骤S19或S21中设置的SA参数而测量的抖动值Yn(S22)。然后，设置值改变单元42a判断在步骤S22中是否成功地获取了抖动值Yn(S23)。

当在步骤S23中判断抖动值Yn的获取已经失败时，设置值改变单元42a判断在测量了抖动值的设置值的范围的两侧上，抖动值的测量是否失败(S24)。具体地，对于比测量成功的设置值的最大值更大的设置值，以及对于比测量成功的设置值的最小值更小的设置值，判断抖动值的获取是否失败。当满足了该条件时，假设即使进一步改变设置值，也将不会成功地测量抖动值。因此，处理进行到步骤S27，以通过使用成功测量的抖动值来计算调整值。

另一方面，当在步骤S23中判断已经成功地获取抖动值Yn时，进一步判断是否由在步骤S9和S22中的处理获取了三个或更多的抖动值(S25)。如果已经获取了三个或更多的抖动值，则设置值改变单元42a进行终止判断处理，用于判断在采样数据项上是否满足预定测量终止条件(S26)。以下描述终止判断测量的内容。

当由在步骤S26中的处理判断了满足终止判断条件(即，判断要终止测量)，且在步骤S24中判断抖动值的测量在设置值的两侧上失败时，调整值计算单元42b使用在S9和S22中获得的采样数据项来计算调整值。具体地，调整值计算单元42b首先进行从采样数据项中删除不正常点的处理(S27)。具体地，通过从已经获取抖动值的设置值中排除最大值XH和最小值XL而获得的每个设置值被确定为目标设置值Xi。由以下判断方法来判断对于目标设置值Xi而获得的抖动值Yi是否是由于错误而生成的不正常数据。即，判断对于目标设置值Xi而获得的抖动值Yi是否大于对于位于目标设置值Xi的两侧的设置值(Xi-d)和(Xi+d)而分别获得的抖动值Y(Xi-d)和Y(Xi+d)的平均值。如图11所示，该判断用于判断在示出设置值和抖动值之间的关系的图上，相对于连接目标设置值Xi的两侧上的两个采样点的直线1，与目标设置值Xi对应的采样点位于之上还是之下。设想该图由凹面朝上抛物线表示。因此，当在图11所示的例子中与目标设置值Xi对应的采样点位于直线1之上时，抖动值Yi假设为由于测量错误而生成的不正常值。因此，调整值计算单元42b从用于随后的调整值计算处理的数据中排除了满足上述条件的、不正常的目标设置值Xi和相应的抖动值Yi的组合。

接下来，调整值计算单元42b使用在步骤S27中排除不正常点之后的剩余采样数据项来计算调整值(S28)。具体地，调整值计算单元42b计算用于通过最小二乘法来近似采样数据项的二次曲线，并计算与二次曲线的顶点的位置相对应的设置值来作为调整值。然后，在所计算的调整值被设置为SA参数的设置值之后(S29)，终止参数调整处理。因此，由准直器透镜驱动单元14将准直器透镜13移动到与调整值相应的位置。随后，在抖动值减小的条件下进行焦点伺服控制。

当在步骤S24中判断抖动值的测量在两侧上没有失败时，当在步骤S25中判断还没有获取三个或更多抖动值时，或当在步骤S26中判断没有满足测量终止条件时(即，判断要继续测量)，设置值改变单元42a根据到那时为止所获得的抖动值，来确定接下来要改变设置值的方向。具体地，设置值改变单元42a首先比较与成功测量了抖动值的设置值的最大值XH相对应的抖动值Y(XH)、和与成功测量了抖动值的设置值的最小值XL相对应的抖动值Y(XL)的大小(S30)。当建立了关系：Y(XL)≤Y(XH)时，设置-1为Dirc变量(S31)。另一方面，当建立了关系：Y(XL)＞Y(XH)时，设置1为Dirc变量(S32)。然后，在步骤S31或S32中确定的方向上，判断是否已经存在抖动值测量已经失败的任何设置值(S33)。具体地，当Dirc变量是-1时，判断对于小于最小值XL的设置值，抖动值的测量是否失败。当Dirc变量是1时，判断对于大于最大值XH的设置值，抖动值的测量是否失败。

当在步骤S33中判断不存在抖动值测量已经失败的设置值时，设置值改变单元42a返回到步骤S17以改变设置值为下一值。另一方面，当在步骤S33中判断存在抖动值测量失败的设置值时，设置值改变单元42a反转在步骤S31或S32中设置的Dirc变量的值(S34)。然后，设置值改变单元42a返回到步骤S17，以将设置值改变为下一值。通过上述处理，调整SA参数。

接下来，将参考图12和13的流程图描述在上述步骤S26中进行的终止判断处理的例子。在以下描述中，在已经测量了抖动值的设置值中，除了最大值XH和最小值XL以外，抖动值Yn变为最小的设置值Xn被示为设置值XM。

设置值改变单元42a首先比较最大值XH的抖动值Y(XH)和最小值XL的抖动值Y(XL)中较小一个与抖动值Y(XM)的大小(S41)。具体地，令值a和b中较小一个标示为min(a，b)。然后，判断是否建立条件表达式：

Y(XM)＜min(Y(XL)，Y(XH))。

当建立该条件表达式时，对应于设置值XL、XM和XH的三个采样数据项具有凹面朝上的关系。

当判断满足步骤S41的条件表达式时，设置值改变单元42a进一步判断在min(Y(XL)，Y(XH))和Y(XM)之间的差是否大于预定余量值(margin value)Mgn(S42)。具体地，设置值改变单元42a判断是否建立条件表达式：

min(Y(XL)，Y(XH))-Y(XM)＞Mgn。

当建立该条件表达式时，已经成功地测量了抖动值的设置值的范围的两侧上的抖动值的每个比测量的抖动值的最小值Y(XM)大预定余量值Mgn或更大。在该情况下，判断至少三个设置值XL、XM和XH和相应抖动值的组合满足条件，作为能够由最小二乘法近似的采样数据项。因此，判断终止测量以终止该终止判断处理。

另一方面，当判断不满足步骤S42的条件表达式时，设置值改变单元42a判断是否要由以下描述的过程来进一步继续测量。具体地，设置值改变单元42a首先判断，对于比当前获取抖动值的设置值的最小值XL更小的设置值，抖动值的测量是否已经失败(S43)。如果抖动值的测量失败，则设置值改变单元42a判断，对于比当前获取抖动值的设置值的最大值XH更大的设置值，抖动值的测量是否已经失败(S44)。当即使在步骤S44中判断抖动值的测量失败时，也意味着在已经进行测量的设置值的范围的两侧上，抖动值的测量已经失败。因此，判断满足测量终止条件，且不进一步进行测量。然后终止该终止判断处理。

当在步骤S44中判断抖动值的测量在最大值XH侧上未失败时，设置值改变单元42a判断在Y(XH)和Y(XM)之间的差是否超过余量值Mgn(S45)。具体地，判断是否满足如下条件表达式：

Y(XH)-Y(XM)＞Mgn。

当满足条件表达式时，考虑不再需要用大于最大值XH的设置值来测量抖动值。另一方面，由于在步骤S43中判断，对于小于最小值XL的设置值，抖动值的测量失败，因此，不再进行测量。然后，判断满足测量终止条件以终止该终止判断处理。相反，当判断不满足步骤S45的条件表达式时，希望进一步用大于最大值XH的设置值来继续抖动值的测量。因此，判断不满足测量终止条件(即，要继续测量)，以终止该终止判断处理。

当在步骤S43中判断抖动值的测量未失败时，设置值改变单元42a进一步判断，对于如步骤S44中大于最大值XH的设置值，抖动值的测量是否失败(S46)。当判断该测量未失败时，测量未在终止测量的设置值的范围的任何一侧上失败。因此，继续测量。相应地，判断不满足测量终止条件。然后，终止该终止判断处理。

另一方面，当在步骤S46中判断抖动值的测量在最大值XH侧上失败时，设置值改变单元42a判断在Y(XL)和Y(XM)之间的差是否超过余量值Mgn(S47)。具体地，判断是否满足如下条件表达式：

Y(XL)-Y(XM)＞Mgn。

当满足条件表达式时，类似于步骤S45的情况，考虑不再需要用小于最小值XL的设置值来测量抖动值。因此，不再进行测量。然后，判断满足测量终止条件，以终止该终止判断处理。相反，当判断不满足步骤S47的条件表达式时，需要进一步用小于最小值XL的设置值来继续测量抖动值。因此，判断不满足测量终止条件，终止该终止判断处理。

当判断不满足步骤S41的条件表达式时，此次设置值改变单元42a比较Y(XH)和Y(XL)中较大的一个与Y(XM)的大小(S48)。具体地，令值a和b中较大的一个被标示为max(a，b)。然后判断是否建立如下条件表达式：

Y(XM)＞max(Y(XL)，Y(XH))。

当建立该条件表达式时，分别对应于设置值XL、XM和XH的三个采样数据项具有凹面朝下关系。

当判断满足步骤S48的条件表达式时，考虑Y(XM)的值由于测量错误等而变为不正常。因此，需要进一步继续测量。然而，在继续测量之前，判断是否需要改变余量值Mgn。具体地，设置值改变单元42a判断在Y(XM)和min(Y(XL)，Y(XH))之间的差是否大于预定余量值Mgn(S49)。具体地，设置值改变单元42a判断是否建立如下条件表达式：

Y(XM)-min(Y(XL)，Y(XH))＞Mgn。

当满足该条件表达式时，存在如下可能性：即使继续测量，且对于新的设置值的最大值XH和最小值XL来测量比min(Y(XL)，Y(XH))的当前值大余量值Mgn或更多的抖动值，新测量的抖动值仍可能比作为不正常值的Y(XM)更小。因此，为了用良好的精确度通过最小二乘法来进行近似，余量值Mgn增大。具体地，设置值改变单元42a将余量值设置为如下表达的新值：

Mgn＝Y(XM)-min(Y(XL)，Y(XH))

(S50)。当判断满足步骤S48的条件表达式时，需要继续测量，而不论随后步骤S49中的判断结果如何。因此判断不满足测量终止条件，且终止该终止判断处理。

另一方面，当判断不满足步骤S48的条件表达式时，对应于设置值XL、XM和XH的三个采样数据项具有单调增大或单调减小的关系。在该情况下，如在判断不满足步骤S42的条件表达式的情况下，处理进行到步骤S43，在该处，设置值改变单元42a根据不可能测量的点的存在或不存在来判断是否继续测量。

在上述处理中使用的常数，诸如初始值X0、步长量d、和余量值Mgn，可以存储在诸如即使在光盘设备1断电之后仍能够保持数据的EEPROM的存储器区域中。以该方式，如果该值需要以后修改，则能够重写该值为新值。

根据上述该实施例，当获取三个或更多的采样数据项来计算调整值时，根据已经通过测量评估值而获得的两个或更多评估值，来确定要被接下来设置的设置值。因此，能够有效地获取近似计算所需的采样数据项，导致在短时间段内的参数调整。

虽然在上述描述中使用抖动值作为评估值，但例如也可以使用诸如RF信号的振幅值的其它评估值。当使用如下评估值时，在设置值和评估值之间的关系由例如凹面朝下抛物线来表示，其中，该评估值表示：如RF信号的振幅值的情况，随其增大，从光盘介质读取信息的精确度更好。即使在该情况下，除了反转用于判断评估值的大小关系的标准之外，能够由与上述相同的处理来计算调整值。另外，要被调整的控制参数不局限于准直器透镜33的位置参数，还可以是诸如与和调整从物镜36到光盘介质表面的距离的偏移量值有关的参数相对应的焦点偏移参数的各种参数。

[用于多个控制参数的参数调整操作]

接下来，将描述当集体地对多个控制参数进行参数调整操作时由根据该实施例的光盘设备实现的控制。在以下例子中，光盘设备1进行参数调整操作，以对多个控制参数分别计算要被设置以用于进行伺服控制的调整值。

此后，描述如下例子来作为调整多个控制参数的例子，其中，集体地调整两个控制参数，即用于准直器透镜33的位置的参数(SA参数)、和与从物镜36到光盘介质表面的距离的偏移量值有关的焦点偏移参数(此后，称为FB参数)。准直器透镜驱动单元34根据调整的SA参数来改变准直器透镜33的位置，从而实现物镜36的球面像差的校正。另外，根据调整的FB参数来调整FE信号的偏移量，从而校正在物镜36的焦点位于信号表面上时物镜36的位置、和在输出FE信号的基准值的状态下物镜36的位置之间、在垂直于光盘介质表面的方向上的位置偏离。上述调整使得光学拾取器13以良好的精确度从光盘介质M读取信息。

此后，描述由根据该实施例的光盘设备1的控制单元20进行的用于进行多个控制参数的参数调整操作的处理。通过由控制单元20执行在控制单元20中包括的存储元件中所存储的程序，以软件的形式来实现以下描述的处理。

控制单元20首先把SA参数和FB参数的设置值改变为根据给定规则确定的目标值，并向伺服信号处理单元18输出用于根据目标值驱动三轴致动器14的控制信号。以此方式，控制单元20改变准直器透镜33的位置和物镜36的位置。以下该处理被称为设置值改变处理。然后，每次完成设置值改变处理时，控制单元20判断是否已经从伺服信号处理单元18输出了用于通知伺服错误的发生的信号。当发生伺服错误时，控制单元20再次进行伺服设置处理(在该情况下是焦点检测处理)，以使得伺服信号处理单元18再次开始进行伺服控制。

在完成了设置值改变处理且由伺服信号处理单元18进行伺服控制的状态下，控制单元20从记录信号处理单元19获取由记录信号处理单元19基于RF信号而测量的评估值(抖动值)。因此，由设置值改变处理改变的SA参数和FB参数的给定目标值的组、和在参数被设置到相应目标值的情况下测量的抖动值的组合，作为采样数据项而被获取。

控制单元20重复设置值改变处理若干次，以获取多个采样数据项。然后，控制单元20对如此获得的多个采样数据项进行预定计算处理，以计算能够减小抖动值的SA参数和FB参数的各个调整值。控制单元20向伺服信号处理单元18输出如此计算的调整值的每个，以根据调整值来调整准直器透镜33的位置和物镜36的位置。该设置值改变处理可以与将由用于执行对于单个控制参数的参数调整操作的设置值改变单元42a执行的相同。具体地，当控制单元20在获取两个或更多采样数据项之后进一步进行设置值改变处理时，控制单元20可以根据到那时为止获得的采样数据项中的抖动值的大小，来确定接下来分别对于SA参数和FB参数设置的目标值。

此后，描述由控制单元20进行的将每个参数的值改变为给定目标值的设置值改变处理的细节。在以下描述中，分别由Xa和Ya表示在设置值改变处理开始时的SA参数和FB参数的设置值(初始值)，且分别由Xb和Yb来表示SA参数和FB参数的目标值。分别由Δx和Δy来表示将参数的值改变为给定目标值的总改变量。即建立

Xb＝Xa+Δx；以及

Yb＝Ya+Δy。

在该实施例中，目标值Xb被设置为通过向初始值Xa加预定单位改变量(步长量)dx的整数倍而获得的值。以相同的方式，目标值Yb被设置为通过向初始值Ya加预定单位改变量(步长量)dy的整数倍而获得的值。具体地，令n为任意整数。然后，建立

Δx＝n·dx；以及

Δy＝n·dy，其中，n可以是正值和负值的任何一个。

在该实施例中，当控制参数向目标值的总改变量超过用于多个控制参数中的至少一个控制参数的预定基准量时，控制单元20若干次改变控制参数的值。在多次改变控制参数之间，改变其它参数。具体地，取代首先一次把SA参数改变总改变量Δx，然后一次把FB参数改变总改变量Δy，来将SA参数和FB参数改变为给定目标值Xb和Yb，而是，对总改变量超过给定基准量的参数，以逐步的方式，以两步或更多步改变设置值。在该情况下，交替地重复改变SA参数的值的步骤和改变FB参数的值的步骤，以将每个参数改变为其给定目标值。

在该情况下，控制单元20可以将总改变量划分为预定步长改变量，作为单位，来每次把控制参数改变步长改变量。具体地，步长改变量表示在一步中改变相应控制参数的单位量。可以根据预定基准量来确定步长改变量。作为例子，当单位改变量dx和dy是基准量，且总改变量Δx和Δy分别超过单位改变量dx和dy时，在一步中把每个参数分别改变dx或dy。

图14是示出当进行上述控制时每个参数的改变的过程的例子的图。在图14所示的例子中，如同图20的情况，横坐标轴表示SA参数，而纵坐标轴表示FB参数。表示设置值改变处理开始时的参数的各个初始值的组合的点A、表示参数的各个目标值的组合的点B、和伺服正常操作范围R的位置与图20的那些一样。从点A到点B的用于SA参数的总改变量Δx是4dx，而从点A到点B的用于FB参数的总改变量Δy是4dy。在图14所示的例子中，通过由控制单元20进行的设置值改变处理，SA参数首先改变dx，在准直器透镜33的位置根据SA参数的值的改变而移动之后，FB参数的值改变dy。然后，根据FB参数的值的改变，物镜36的位置移动。上述操作重复四次。最后，SA参数的设置值改变为目标值Xb，而FB参数的设置值改变为目标值Yb。因此，防止两个参数的值的组合在设置值改变处理的过程期间超出伺服正常操作范围R。因此，与图20所示的情况相反，不发生伺服错误。

如上所述，对于达到目标值的总改变量超过预定基准量的控制参数，改变控制参数的值的过程被划分为多步，对于每个步长改变量，交替地进行一个参数的值的改变和其它参数的值的改变。因此，在具有多个参数作为基准轴的空间中，表示改变参数的过程的路径变得更接近于连接表示参数的各个初始值的组合的点A和表示参数的各个目标值的组合的点B的直线。因此，在将参数的值改变为其目标值的过程中，减小了参数值组合不在伺服正常操作范围R内的状态(即，伺服错误状态)的发生的可能性。

虽然在上述例子中，用作用于判断是否以多步进行每个参数的改变的标准的基准量、和每步中用于改变参数值的步长改变量，等于单位改变量，但基准量和步长改变量可以大于单位改变量。如果对于SA参数减小在每步中的步长改变量，具体地，相应地增加通过划分总改变量而获得的步数。因此，准直器透镜驱动单元34若干次地重复以极小的距离来驱动准直器透镜33的控制。当准直器透镜驱动单元34包括例如步进马达(stepping motor)时，准直器透镜驱动单元34由于初始激励和延长的激励时间段的影响，耗费长时间来在一步中改变准直器透镜33的位置。因此，当步数增加时，设置值改变处理所需的时间也增大。因此，在伺服错误不可能发生的情况下，增大步长改变量。因此，能够减小设置值改变处理所需的时间。

如上所述，希望根据伺服正常操作范围R的大小和形状，在不可能发生伺服错误的范围内，将步长改变量设置为尽可能大的值。作为具体例子，当伺服正常操作范围R是如图14所示的椭圆形时，根据该椭圆形的长轴和短轴的直径、和该长轴或短轴相对于X轴的倾斜，来确定SA参数和FB参数的步长改变量。图15图示了当SA参数的基准量和步长改变量是2dx且FB参数的基准量和步长改变量是2dy时改变SA参数和FB参数的过程的例子。即使在图15所示的例子中，参数的值的组合也在伺服正常操作范围R内改变。

在图14和15所示的每个例子中，基准量或步长改变量与单位改变量的比率对于两个参数相同。具体地，在图15中，例如，基准量或步长改变量是SA参数和FB参数的每个的单位改变量的两倍大。但是，基准量或步长改变量与单位改变量的比率可以对于每个控制参数而不同。

图16图示了把参数分别改变对于单位改变量具有不同比率的各个步长改变量的例子。在图16中所示的例子中，对于总量Δx＝4dx且Δy＝4dy，SA参数的步长改变量被设置为4dx，而FB参数的步长改变量被设置为2dy。因此，对于SA参数，在一步中把设置值改变总改变量。另一方面，对于FB参数，在两步中把设置值改变总改变量。即使在图16所示的例子中，参数的值的组合在伺服正常操作范围R内从点A改变到点B。另外，由于把SA参数的设置值改变总改变量所需的步数是1，因此改变准直器透镜33的位置的次数小于在图14和15所示的例子中的次数。

在图16所示的例子中，FB参数的步长改变量比SA参数的步长改变量相当于单位改变量具有更小比率。因此，对于FB参数的步数大于对于SA参数的。因此，与图14和15所示的例子相反，在图16所示的例子中，在开始改变SA参数的值之前，改变FB参数的值。如上所述，控制单元20可以根据按照每个控制参数的步长改变量而确定的每个控制参数的步数，来选择用于开始改变设置值步骤的控制参数。

在图15和16所示的例子中，每个控制参数的步长改变量变得大于图14所示的例子中的。因此，与图14所示的例子相比，更担心控制参数的值的组合在设置值改变处理的过程中可能移出伺服正常操作范围R，以致导致伺服错误。因此，如果当通过使用大于图15和16所示的单位改变量的步长改变量来进行设置值改变处理时发生伺服错误，则控制单元20可以将步长改变量修改为更小的值，用于下一和随后的设置值改变处理。

例如，图17A和17B图示了当在如图15所示例性地示出的、用SA参数的步长改变量2dx和FB参数的步长改变量2dy进行的设置值改变处理中不希望地发生了伺服错误时的步长改变量的修改的例子。虽然，在图17A中用与图15所示的情况中相同的步长改变量来进行设置值改变处理，但在由点X表示的位置处发生伺服错误，不像图15的例子。因此，为了在下一设置值改变处理中，将控制参数的各个设置值从点B改变为点C，控制单元20将控制参数的各个步长改变量修改为dx和dy，其每个与在先前设置值改变处理中使用的步长改变量的一半的值相对应，如图17B所例示。因此，例如，当从点A到点B的设置值改变处理由在相同路径中而不在相反方向上的第二设置值改变处理来跟随时，即使在第一设置值改变处理中发生伺服错误，仍能够防止伺服错误在第二设置值改变处理中发生。

类似地，图18A和18B图示了当如图16所示例性地示出的在用SA参数的步长改变量4dx和FB参数的步长改变量2dy进行的设置值改变处理中发生伺服错误时的步长改变量的修改的例子。即使在图18A中，在由点X表示的位置处发生伺服错误。因此，在如图17B的情况那样平分每个控制参数的步长改变量之后，进行如图18B所示的下一设置值改变处理。因此，控制单元20能够以很难发生伺服错误的模式，来在下一和随后的设置值改变处理中进行设置值改变处理。

在图18B所示的例子中，由于平分图18A的步长改变量，因此SA参数的步长改变量变为2dx且FB参数的步长改变量变为dy。另一方面，SA参数的总改变量Δx为4dx，而FB参数的总改变量Δy为4dy。因此，用于改变SA参数的设置值的步数为2，而用于改变FB参数的设置值的步数为4。因此，在两个参数的步数之间存在大于1的差。因此，与图16的例子相反，即使首先对于FB参数开始了改变设置值的步骤，简单通过交替地重复改变FB参数的设置值和SA参数的设置值，仍不能完成所有步骤。因此，在步骤的任何一个中，连续两次进行改变FB参数的设置值的步骤。在这种情况下，如图18B所示，不作为设置值改变处理中的最初或最后设置改变步骤，而是在改变过程中间，控制单元20在连续步骤中进行设置值改变。以此方式，控制参数的值的组合将移出伺服正常操作范围R的可能性降低。

根据上述该实施例，当集体地改变多个控制参数用于调整参数时，与其它一个(或多个)参数的改变交替地，在多个步骤中进行至少一个控制参数的值的改变。因此，控制参数的值的组合很难移出伺服正常操作范围R，从而减少伺服错误的发生。

本发明的实施例不局限于上述。例如，虽然在上述描述中使用抖动值作为评估值，但也能够使用诸如RF信号的振幅值的其它评估值。另外，即使对于控制参数，当集体地调整除了上述SA参数和FB参数以外的各种参数时，也可以进行上述控制。

虽然已经描述了当前考虑为本发明的特定实施例，但理解可以对其进行各种修改，所附权利要求意图覆盖落入本发明的真实精神和范围的所有这种修改。

Claims (7)

1.一种光盘设备，用于读取在光盘介质上记录的信息，包括：

光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；

伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制；

评估值获取装置，用于当伺服控制实施时获取光学拾取器的信息读取精确度的评估值；以及

参数调整装置，用于在改变预定参数的设置值时，基于由评估值获取装置针对预定参数的至少三个设置值的每个而获取的评估值，来计算要被设置以用于实施伺服控制的预定参数的设置值，

其中，所述参数调整装置根据对于预定参数的至少两个设置值而获取的评估值，来确定被设置以用于进一步获取评估值的设置值，

其中，所述参数调整装置根据对于预定参数的至少两个设置值中的最大值和最小值而分别获取的两个评估值之间的大小关系，把被设置以用于进一步获取评估值的设置值确定为大于最大值及小于最小值中的一个。

2.根据权利要求1所述的光盘设备，

其中，所述光学拾取器包括用于将光聚焦在光盘介质的信号表面上的物镜、和用于改变其自身位置以校正所述物镜的球面像差的准直器透镜，以及

其中，所述预定参数是关于所述准直器透镜位置的参数。

3.根据权利要求1所述的光盘设备，

其中，所述光学拾取器包括用于将光聚焦在光盘介质的信号表面上的物镜，以及

其中，所述预定参数是与在物镜和光盘介质表面之间的距离的偏移量值有关的参数。

4.一种控制光盘设备的方法，所述光盘设备包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号，来控制光学拾取器相对于光盘介质表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制，所述方法包括：

评估值获取步骤，当伺服控制实施时获取光学拾取器的信息读取精确度的评估值；以及

参数调整步骤，在改变预定参数的设置值时，基于在评估值获取步骤中针对预定参数的至少三个设置值的每个而获取的评估值，来计算要被设置以用于实施伺服控制的预定参数的设置值，

其中，所述参数调整步骤包括根据针对预定参数的至少两个设置值而获取的评估值，来确定被设置以用于进一步获取评估值的设置值，

其中，所述参数调整步骤根据对于预定参数的至少两个设置值中的最大值和最小值而分别获取的两个评估值之间的大小关系，把被设置以用于进一步获取评估值的设置值确定为大于最大值及小于最小值中的一个。

5.一种光盘设备，用于读取在光盘介质上记录的信息，包括：

光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；

伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号，来控制光学拾取器相对于光盘介质表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制；

参数调整装置，用于当伺服控制实施时把被设置以用于伺服控制的多个参数的每个的值改变为给定目标值；

其中，所述参数调整装置以多次来进行将多个参数的至少一个的值改变为目标值，以及在多次改变至少一个参数之间改变另一参数，

其中，当多个参数的至少一个向目标值的总改变量超出预定基准量时，所述参数调整装置以多次来进行多个参数的至少一个的值的改变，

其中，所述参数调整装置以预定步长改变量为单位，划分多个参数的至少一个向目标值的改变的量，以及每次将多个参数的至少一个的值改变每个预定步长改变量，其中，对每个步长改变量，交替地进行一个参数的值的改变和其他参数的值的改变。

6.根据权利要求5所述的光盘设备，其中，当在将多个参数的每个的值改变为目标值的过程中，伺服控制中发生错误时，参数调整装置在预定步长改变量减小之后，改变多个参数的每个的值，以用于下次改变多个参数的每个的值。

7.一种用于控制光盘设备的方法，所述光盘设备包括：光学拾取器，用于根据在光盘介质上记录的信息来输出输出信号；以及伺服实施单元，用于根据所述光学拾取器的输出信号来控制光学拾取器相对于光盘介质表面的相对位置，以实施用于维持从光盘介质可读取信息的状态的伺服控制，

所述方法包括在实施伺服控制期间把被设置以用于伺服控制的多个参数的每个的值改变为给定目标值；

其中，所述改变包括以多次来进行将多个参数的至少一个的值改变为目标值，且在多次改变至少一个参数之间改变另一参数，

其中，当多个参数的至少一个向目标值的总改变量超出预定基准量时，所述改变以多次来进行多个参数的至少一个的值的改变，

其中，所述参数调整装置以预定步长改变量为单位，划分多个参数的至少一个向目标值的改变的量，以及每次将多个参数的至少一个的值改变每个预定步长改变量，其中，对每个步长改变量，交替地进行一个参数的值的改变和其他参数的值的改变。