CN101562303B - 一种测试用快速拔插连接器组件 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试用快速拔插连接器组件，包括插头和用于连接插头与插座的连接套，该连接套中开设有连接通孔，连接通孔的前端孔壁上设有用于连接插座的连接螺纹，连接通孔内还设有用于固定插头的卡和结构；所述插头包括有导体构成的外壳体，外壳体内沿轴向穿设有插针，外壳体与插头之间填充绝缘体，插头沿轴向延伸突出连接套的前端面，在外壳体的外表面设置有与连接套卡配的弹性接触件。采用上述结构，本发明的快速拔插连接器的结构简单，连接方便，可以节省测试时间，加快测试速度，提高了测试效率。

Description

一种测试用快速拔插连接器组件

技术领域

本发明属于电连接器领域，准确的说是涉及一种用于测试时使用的可快速拔插的连接器组件。

背景技术

在一些工作环境比较恶劣或信号传输较为精确的电子设备在采用同轴线缆进行信号传输时，为保证连接器的插头与插座之间连接稳固，不易脱离，其通常使用螺纹连接式连接器进行固定连接。为保证这些电子设备的工作效率和工作的准确性，需要经常的对各电子设备进行各项性能的调试或测试，调试或测试时需要将连接在电子设备上的插头与插座分离，仅留下固定在电子设备上的插座，然后将测试仪器的测试连接头与待测电子设备上的插座连接以对该待测的电子设备进行各项指标性能的测试。

现有的测试仪器上的连接头同样采用与待测电子设备插座配套的普通螺纹连接式插头，该插头包括插头壳体及插头壳体的插接端上活动装配的连接螺帽，插头壳体与连接螺帽之间设有轴向限位结构。为了避免因插头部分的电磁泄漏影响检测结果，现有的插头壳体与连接螺帽以及插座的连接端均为金属材料，这样做的目的是将插头壳体与插座壳体通过连接螺帽导通，插头、插座、设备壳体形成等电势而实现屏蔽效果，从而使检测更加准确。

为实现上述效果，在对电子设备进行测试时，将普通螺纹连接插头与待测电子设备上的插座旋接，测试完成后再卸开。由于插头上的插头外壳与螺帽之间存在轴向限位结构而不可分离，如果测试项目较多或需要对设备进行反复调试时，插头就要频繁的与待测电子设备上的插座连接和卸开，采用螺纹式连接的插头和插座在连接或卸开时会比较繁琐，非常浪费时间，调试或测试的效率很低，并且容易造成待测电子设备上的插座磨损，电子设备在正常连接时容易出现故障。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于测试时连接的快速拔插连接器，以解决上述测试仪器与待测设备连接较为繁琐的问题。

本发明的技术方案是：一种测试用快速拔插连接器组件，包括插头和用于连接插头与插座的连接套，连接套上轴向开设有连接通孔，连接套的一端设有用于连接插座的连接螺纹，连接通孔内设有用于卡配插头的卡合结构；所述插头包括有导体构成的外壳体，外壳体内沿轴向穿设有内导体，外壳体与内导体之间填充绝缘体，内导体设有与插座相互适配的插接端，在外壳体的外表面还设置有与连接套卡配的弹性接触件。

所述连接套上的连接螺纹对应插座的连接端开设在连接套一端的孔壁或外表面上。

所述插头内导体上设有与插座上的插接端对应啮合的插针或插孔。

所述连接套内的卡合结构为连接通孔的孔壁上周向开设的环形卡槽。

所述环形卡槽为锥孔结构形成锥孔结构，该锥形卡槽的大直径端靠近连接套上设有连接螺纹的一端。

所述弹性接触件由沿插头外壳体周向间隔设置截面为弧形的金属弹片组成。

所述插头外壳体的外表面周向开设有环形凹槽，所述金属弹片设置在该凹槽中。

所述金属弹片为一体连接结构，其包括环绕插头外壳体设置的金属基板，该金属基板上沿插头径向间隔开设有轴向长孔，相邻两长孔之间的金属基板向上拱起形成金属弹片。

为方便插头与连接套的插接，所述连接套的另一端的孔壁上设有锥形的导向结构。

进一步，为防止插头与连接套内环形卡槽在插接时出现碰撞，所述插头外壳体上靠近插接端处设置有台阶，该台阶朝向插接方向设有倒角。

本发明连接器组件在使用时，只需将连接器中的连接套旋装在待测设备的插座上后，将测试仪器连接的插头插入连接套中，插头与待测设备的插座插接，通过弹性接触件与卡槽的配合固定插头，不仅可以迅速拔插该插头，而且可以固定插头的位置，保证插头与插座的插接状态；连接套插孔中采用锥孔形卡槽，可以通过插头外壳体上的金属弹片与连接套上锥形卡槽的配合所产生的轴向推力，将插头推向插座方向，能够保证插头与插座连接配合面的紧密接触，插头外壳体采用导电体制作，可以在插头与插座连接后保证其外壳体之间的紧密电连接，对插头与插座的连接处进行完全的屏蔽，避免外界信号的干扰，确保测试的顺利进行，保证测试的准确性；采用上述结构，本发明的快速拔插连接器的结构简单，连接方便，其不仅可以节省电子设备调试或测试的时间，加快测试速度，提高测试效率，而且，在调试或测试完成后还不会影响到电子设备的正常连接使用。

附图说明

图1为本发明中插头的结构示意图；

图2为本发明中连接套的结构示意图；

图3为本发明中金属弹片的展开示意图；

图4为本发明的使用状态图。

具体实施方式

如图1、图2、图3所示，本发明的快速拔插连接器由一插头和与其插配的专用连接套5组合而成，该插头包括外导体1构成的壳体，壳体外表面设有台阶，台阶朝向插接方向设置有倒角。外导体1内沿轴向穿设有与插座插接的插针4，插针4沿外导体轴向延伸并突出外导体的前端面，在外导体1的后端面设置有用于连接测试线缆的连接部9，在外导体1与插针4之间填充有绝缘体3，在外导体1的外表面周向还开设有环状凹槽，该环状凹槽内装配有环形的弹性接触件2，该弹性接触件2包括环绕插头外壳体设置的金属基板21，该金属基板21上沿插头径向间隔开设有轴向长孔22，相邻两长孔22之间的金属基板向上拱起形成金属弹片23。

连接套5由导体制作而成，该连接套5上轴向开设有连接通孔，连接套5的一端设有用于连接插座的连接螺纹，连接通孔内设有用于卡配插头的卡合结构，在本实施例中，由于插座上的连接螺纹开设在外表面上，因此插头上的连接螺纹7对应插座开设在连接通孔的一端孔壁上，其另一端的孔壁上开设有锥形的导向孔结构。插孔中对应插头上的弹性接触件2开设的卡合结构为在孔壁上周向开设的环形卡槽6，该环形卡槽6为锥形结构，其大直径的一端朝向连接套的螺纹端方向。

使用时，如图4所示，将专用连接套5通过连接螺纹7旋装在待测电子设备的插座上，然后将插头插入连接套5的插孔中，连接套端部的导向孔可以对插头插入时进行导向，插头壳体上的倒角可以防止插头与连接头插接时与连接套内部的锥形卡槽产生碰撞。插头与待测设备的插座插接后，插头通过其上设置弹性接触件2与连接套5上设置的锥形卡槽6的卡配固定，同时，锥形卡槽的槽壁对弹性接触件产生一个朝向插座方向的推力，使插头与插座的配合面紧密接触，从而使得插头与插座的外壳形成紧密的电连接，屏蔽外部的信号干扰，使调试或测试工作得以顺利进行。当需要对电子设备进行反复调试或测试时，只需直接将插头从连接套5中拔出或插入，从而实现测试时，插头与插座的快速拔插，加快测试速度，减少调试或测试时间。

为保证插头与插座外壳体之间的紧密电连接，确保屏蔽效果，上述连接套也可以使用金属导体制作，同时，确保弹性接触件与插头外壳之间能够形成稳定的电连接关系。

本发明不局限于上述实施例，连接套上用于连接插座的螺纹视插座情况而定，其可以设在连接通孔的孔壁上也可以设在连接套的外壁上；同时，本领域的技术人员很容易会想到其它结构或形状的连接套与插头的卡合结构以及弹性接触件，但不论其结构或形状如何变化，只要是连接组件由插头和连接套组成、插头与连接套为插接卡合结构、连接套与插座之间采用螺纹连接的，都在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，包括插头和用于连接插头与插座的连接套，连接套上轴向开设有连接通孔，连接套的一端设有用于连接插座的连接螺纹，连接通孔内设有用于卡配插头的卡合结构；所述插头包括有导体构成的外壳体，外壳体内沿轴向穿设有内导体，外壳体与内导体之间填充绝缘体，内导体设有与插座相互适配的插接端，在外壳体的外表面还设置有与连接套卡配的弹性接触件。

2.根据权利要求1所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述连接套上的连接螺纹对应插座的连接端开设在连接套一端的孔壁或外表面上。

3.根据权利要求1所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述插头内导体上设有与插座上的插接端对应啮合的插针或插孔。

4.根据权利要求1所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述连接套内的卡合结构为连接通孔的孔壁上周向开设的环形卡槽。

5.根据权利要求4所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述环形卡槽为锥孔结构形成锥形卡槽，该锥形卡槽的大直径端靠近连接套上设有连接螺纹的一端。

6.根据权利要求1所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述弹性接触件由沿插头外壳体周向间隔设置截面为弧形的金属弹片组成。

7.根据权利要求6所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述插头外壳体的外表面周向开设有环形凹槽，所述金属弹片设置在该凹槽中。

8.根据权利要求6或7所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述金属弹片为一体连接结构，其包括环绕插头外壳体设置的金属基板，该金属基板上沿插头径向间隔开设有轴向长孔，相邻两长孔之间的金属基板向上拱起形成金属弹片。

9.根据权利要求1所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述连接套的另一端的孔壁上设有锥形的导向孔结构。

10.根据权利要求1所述的测试用快速拔插连接器组件，其特征在于，所述插头外壳体上靠近插接端处设置有台阶，该台阶朝向插接方向设有倒角。

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