CN214750442U - 同轴连接器的测试接头 - Google Patents
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Abstract
一种同轴连接器的测试接头,包括:外壳,具有两个相对称的凸耳,两个凸耳使测试接头锁固于测试机台上;内壳体,设置在外壳内部;公头壳体,设置在外壳内部;弹性组件,设置在公头壳体与内壳体外表面之间;绝缘组件,设置在外壳、内壳体与公头壳体中;中心导体,设置在外壳内部,并穿过绝缘组件、内壳体及公头壳体;公头壳体具有穿出外壳的延伸段,延伸段前端具有公接头主体,公接头主体上至少具有开槽,开槽使公接头主体上形成多个具有弹性的弹片,在弹片的外表面具有固接部,在测试插接时,受到母接头挤压,使弹片内径内缩,让弹片插接于母接头腔体中。该弹片在进行测试时,使测试接头的公接头更容易插接于或拔离测试电路板上的母接头。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种连接器,尤其是涉及一种用以连接同轴电缆线进行测试的测试接头。
背景技术
同轴电缆(Coaxial cable)是一种同轴讯号传输线,最内里是一条导电金属线,线的外面有一层塑料围拢的绝缘体,绝缘体外面又有一层或一层以上网状或是铜箔或是铝箔围拢封闭作为屏蔽及接地的导电体,然后导电体外面是最外层再披覆的绝缘物料作为外被以作保护,也可以是没有最外层绝缘外被的Semi-Rigid金属导线。
以往PCB电路板电路模块在制作完成后将进行测试,以验证电路板功能是否正常?在测试时会将同轴电缆线固接在测试仪器与测试机台的测试接头上,在机台的控制下将测试接头的公接头与测试电路板上的母接头插接,使测试接头的公接头上外部的C环扣接于母接头的固定槽中,同时也使公接头的中心导体的针体插入于该母接头的母针中,透过针体将讯号传至该母针上,再由母针传递至测试电路板,或由测试电路板将讯号传递至母针,再由母针传递至针体的往复讯号传递,以检测PCB电路板电路模块功能是否为良品或不良品。
在测试完毕后,机台动作将测试接头的公接头拔离母接头,由于此款MMCX型式公接头与母接头本体接触固定方式为一环状的C型环设计,(国际标准规范标示单颗公母对插的插入力标准值为≦15N/3.4lbs,拔出力为6N~15N/1.4lbs~3.4lbs),原标准设计款式测试接头的公接头不易脱离该母接头,待测物PCB电路板电路模块上的MMCX母接头数量愈多拔出力愈大,为6N~15N/1.4lbs~3.4lbs与母接头数量的倍数。因此必需调整机台控制拔起测试接头的施加力量,让公接头能脱离母接头,但是此施加的力量易让公接头及母接头损坏,甚至损毁PCB电路板电路模块。
实用新型内容
本实用新型的主要目的,在解决上述的缺陷,避免缺陷存在并获致最佳的电气特性表现,本实用新型提供一种同轴连接器的测试接头,用于固接在机台上与母接头插接,所述测试接头包括:
一个外壳,具有两个相对称的凸耳,两个凸耳使所述测试接头锁固于测试机台上;
一个内壳体,设置在所述外壳内部;
一个公头壳体,设置在所述外壳内部;
一个弹性组件,设置在所述公头壳体与内壳体外表面之间;
一个绝缘组件,设置在所述外壳、所述内壳体与所述公头壳体中;
一个中心导体,设置在所述外壳内部,并穿过所述绝缘组件、所述内壳体及所述公头壳体;
所述公头壳体具有一个穿出外壳的延伸段,所述延伸段前端具有一个公接头主体,所述公接头主体上至少具有一个开槽,所述开槽使所述公接头主体上形成多个具有弹性的弹片,在所述弹片的外表面具有一个固接部,在测试插接时,受到母接头挤压,使所述弹片内径内缩,让所述弹片插接于所述母接头腔体中。
在本实用新型的一实施例中,所述外壳包含有一个前壳体及一个后壳体,所述前壳体的内外表面呈阶梯状,所述前壳体于前端具有一个前开口及末端具有一个外接合部,所述外接合部与所述后壳体的一个内接合部组接;两个凸耳设于所述后壳体的前端,且在所述后壳体末端具有一个后开口及一个外螺纹部。
在本实用新型的一实施例中,所述内壳体设置在所述前壳体内部,所述内壳体外表面上具有一个第一挡部及一个第二挡部,所述第一挡部及所述第二挡部配置在所述前壳体内表面的一个第二挡壁及一个第三挡壁上;在所述内壳体的第一挡部设有一个凸出段。
在本实用新型的一实施例中,所述公头壳体设置在所述前壳体内部,并位于所述内壳体前方,所述公头壳体末端与所述内壳体的凸出段之间具有间距;所述公头壳体的外表面具有一个凸块,所述凸块与所述前壳体的第一挡壁接触,所述公头壳体前端的延伸段由所述前壳体的开口延伸至外部。
在本实用新型的一实施例中,所述弹性组件用于配于所述公头壳体的凸块与所述内壳体的凸出段之间。
在本实用新型的一实施例中,所述绝缘组件包含有一个第一绝缘件及一个第二绝缘件,所述第一绝缘件一端设置在所述内壳体内部,另一端由所述凸出段穿出延伸至所述公头壳体内部,所述第二绝缘件设置在所述后壳体及所述内壳体末端中,且所述第一绝缘件及所述第二绝缘件上各具有一个供所述中心导体穿过的通孔。
在本实用新型的一实施例中,所述中心导体前端具有一个中心针,所述中心针贯穿所述第二绝缘件的通孔及所述第一绝缘件的通孔,并延伸至所述公接头主体中;所述中心导体的末端具有至少一个剖槽,所述剖槽使所述中心导体末端形成多个具有弹性的弹片体。
在本实用新型的一实施例中,所述中心导体系包含有一个套管、一个弹性组件及一个中心针;所述套管设置在所述第二绝缘件的通孔及所述第一绝缘件的通孔中,所述套管的末端具有至少一个剖槽,所述剖槽使所述套管末端形成多个具有弹性的弹片体,所述弹性组件及所述中心针依序设置在所述套管内部,所述中心针末端的一个卡接部卡接于所述套管内,所述中心针的一个针体穿出所述套管及穿过所述第一绝缘件的通孔,并延伸至所述公接头主体中。
在本实用新型的一实施例中,所述公接头主体外表面具有一个倾斜面或弧面,所述倾斜面或弧面在公接头主体与所述母接头组接时,保持最小间隙。
在本实用新型的一实施例中,所述弹片的外表面上还包含有一个斜角或一个圆角。
采用上述技术方案后,本实用新型的效果是:
1、由于将测试接头的公接头上开设有一开槽设计,该开槽设计使该测试接头的公接头形成复数弹片,因此,该弹片在进行测试时,使测试接头的公接头更容易插接于或拔离测试电路板上的母接头。
由于测试接头的公接头主体上具有斜角或圆角,因此该斜角或圆角使该公接头易于导入插接于该母接头中。
由于测试接头的公接头主体上具有倾斜面或弧面,因此该倾斜面或弧面在公接头与母接头组接时,具有自动导正的效果,并保持最小间隙及偏移量,以维持最佳同轴度,从而获得最佳的电气特性表现。
附图说明
图1为本实用新型涉及的第一实施例的测试接头的侧剖视示意图;
图2为本实用新型涉及的第一实施例的测试接头的公头壳体示意图;
图3为本实用新型涉及的第一实施例的测试接头安装于测试机台示意图;
图4为本实用新型涉及的第一实施例的测试接头进行测试的动作示意图;
图5为本实用新型涉及的第一实施例的测试接头进行测试的动作另一示意图;
图6为本实用新型涉及的第一实施例的测试接头进行测试的动作另一示意图;
图7为本实用新型涉及的第二实施例的测试接头的侧剖视示意图。
图中,测试接头-10;外壳-1;前壳体-11;前开口-111;外螺纹部-112;第一挡壁-113;第二挡壁-114;第三挡壁-115;后壳体-12;凸耳-122;后开口-123;外螺纹部-124;内壳体-2;第一挡部-21;第二挡部-22;凸出段-23;公头壳体-3;凸块-31;延伸段-32;公接头主体-33;倾斜面-331;开槽-332;弹片-333;固接部-334;斜角-335;弹性组件-4;绝缘组件-5;第一绝缘件-51;第二绝缘件-52;通孔-511、521;中心导体-6;中心针-61;剖槽-62;弹片体-63;
具体实施方式
下面通过实施例对本实用新型技术方案作进一步的描述:
请参阅图1、2,是本实用新型的第一实施例的测试接头的剖视及公头壳体外观立体示意图。如图所示:本实用新型提供一种MMCX款同轴连接器测试接头,该测试接头10包括:一个外壳1、一个内壳体2、一个公头壳体3、一个弹性组件4、一个绝缘组件5及一个中心导体6。其中,在将测试接头10固接在测试机台(图中未显示)上,以该测试接头电性固接同轴电缆线(图中未显示)进行测试时,将该公头壳体3插接于测试电路板(图中未显示)的母接头上即可对PCB电路板模块进行测试。
该外壳1,包含有一前壳体11及一个后壳体12。该前壳体11的内外表面呈阶梯状,该前壳体11于前端具有一个前开口111及末端外表面具有一呈螺纹状的外接合部112,该外接部112与该后壳体12内壁呈螺纹状的内接合部121组接。该后壳体12的前端具有两个相对称的凸耳122,该两个凸耳122使该测试接头10可以锁固于测试机台上,且于后壳体12末端具有一个后开口123及一个外螺纹部124,以螺接同轴电缆测试线并连接预以测试的PCB电路板模块。
该内壳体2,设置在该前壳体11内部,该内壳体2外表面上具有一个第一挡部21及一个第二挡部22,该第一挡部21及第二挡部22配置在该前壳体11内表面的一个第二挡壁114及一个第三挡壁115上。在该内壳体2的第一挡部22设有一凸出段23,该凸出段23以供套接该弹性组件4。
该公头壳体3,设置在该前壳体11内部,并位于该内壳体2前方,该公头壳体3末端与该内壳体2的凸出段23之间具有一定间距。该公头壳体3的外表面具有一个凸块31,该凸块31与该前壳体11的第一挡壁113接触,使该公头壳体3前端的延伸段32由该前壳体11的开口111延伸至外部。该延伸段32前端具有一个公接头主体33,该公接头主体33外表面具有一倾斜面(或弧面)331。该倾斜面(或弧面)331在公接头主体33与母接头(图中未显示)组接时,保持最小间隙,以维持最佳同轴度,以获得最佳的电气特性表现。该公接头主体33上至少具有一个开槽332,该开槽332使该公接头主体33上形成多个具有弹性的弹片333,于该弹片333的外表面具有一固接部334及一斜角(或圆角)335,此斜角(或圆角)335在测试插接时,受到母接头开口内壁的挤压,使该弹片334内径内缩,让该弹片333易导入接入于母接头中,在该弹片333插入该母接头后,该弹片333本身弹力弹开后,使该固接部334固接定位于该母接头中。该弹性组件4,设置在该公头壳体3的凸块31与该内壳体2的凸出段23之间,在该公头壳体3与母接头进行插接时,该弹性组件4使该公头壳体3产生一个向后内缩的缓冲动作,使该公接头主体33得以顺利插入于该母接头中。
该绝缘组件5,包含有一个第一绝缘件51及一个第二绝缘件52。该第一绝缘件51一端设置在该内壳体2内部,另一端由凸出段23穿出延伸至该公头壳体3内部,该第二绝缘件52设置在该后壳体12及该内壳体2末端中,且该第一绝缘件51及该第二绝缘件52上各具有一个供该中心导体6穿过的通孔511、521。
该中心导体6,其上前端具有一中心针61。该中心针61贯穿该第二绝缘件52的通孔521及该第一绝缘件51的通孔511中,并延伸至该公接头主体33中,在公接头主体33与母接头插接时,使该中心针61得以顺利插入于该母接头的母针中。该中心导体61的末端具有至少一剖槽62,该剖槽62使该中心导体6末端形成多个具有弹性的弹片体63,以供夹接同轴转接连接器(图中未显示)的中心针。
请参阅图3,是本实用新型的第一实施例的测试接头安装于测试机台示意图。如图所示:本实用新型在运用时,系将多个的测试接头10的该后壳体12的二凸耳122锁固于测试机台20上,且每一个测试接头10都将对应测试电路板40上所电性固接的母接头30。
在测试时,以该测试接头10的后壳体12电性固接同轴电缆线(图中未显示)后,将该公头壳体3插接于测试电路板(图中未显示)的母接头上即可对PCB电路板模块进行测试。
请参阅图4-6,是本实用新型的第一实施例的测试接头进行测试的动作示意图。如图所示:在测试接头10电性固接同轴电缆线(图中未显示)后,机台20将带动该所有的测试接头10插接到该母接头30,该公接头主体33上的该弹片333的该些斜面335受到母接头30的开口301内壁的挤压,使该弹片333内径内缩,让该弹片333插入于母接头30中,在该弹片333插入该母接头30后,该弹片333本身弹力弹开后,使该固接部334固接定位于该母接头30的定位槽302中。同时也使该中心导体6上的中心针61插入于母接头30的母针303中。
在该公头壳体3与母接头30进行插接时,该弹性组件4使该公头壳体3产生一个向后内缩的缓冲动作,使该公接头主体33得以顺利插入于该母接头30中。该公接头主体33的开槽332所形成多个具有弹性的弹片333及该弹片333的外表面的斜角(或圆角)335设计,使该测试接头10测试完毕后容易脱离与该母接头30,且在测试接头10与该母接头30脱离时让测试接头10不会受损或不易拔离的现象发生。
请参阅图7,是本实用新型的第二实施例的测试接头的侧剖视示意图。如图所示:本实施例与第一实施例大致相同,所不同处在于中心导体7,该中心导体7,系包含有一个套管71、一个弹性组件72及一个中心针73。该套管71是设置在该第二绝缘件52的通孔521及该第一绝缘件51的通孔511中,该套管71的末端具有至少一个剖槽711,该剖槽711使该套管71末端形成多个具有弹性的弹片体712,以供夹接同轴电缆线(图中未显示)的中心针。在该弹性组件72及该中心针73依序设置在套管71中,该中心针73末端的卡接部731卡接于套管71内,该中心针73的针体732穿出该套管71并穿过该第一绝缘件51的通孔511并延伸至该公接头主体33中,在公接头主体33与母接头插接时,该弹性组件72使该中心针73的针体732产生一个向后内缩的缓冲动作,使该针体732得以顺利插入于该母接头的母针中。
以上所述实施例,只是本实用新型的较佳实例,并非来限制本实用新型的实施范围,故凡依本实用新型申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰,均应包括于本实用新型专利申请范围内。
Claims (10)
1.一种同轴连接器的测试接头,用于固接在机台上与母接头插接,所述测试接头包括:
一个外壳,具有两个相对称的凸耳,两个凸耳使所述测试接头锁固于测试机台上;
一个内壳体,设置在所述外壳内部;
一个公头壳体,设置在所述外壳内部;
一个弹性组件,设置在所述公头壳体与内壳体外表面之间;
一个绝缘组件,设置在所述外壳、所述内壳体与所述公头壳体中;
一个中心导体,设置在所述外壳内部,并穿过所述绝缘组件、所述内壳体及所述公头壳体;
其特征在于:所述公头壳体具有一个穿出外壳的延伸段,所述延伸段前端具有一个公接头主体,所述公接头主体上至少具有一个开槽,所述开槽使所述公接头主体上形成多个具有弹性的弹片,在所述弹片的外表面具有一个固接部,在测试插接时,受到母接头挤压,使所述弹片内径内缩,让所述弹片插接于所述母接头腔体中。
2.根据权利要求1所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述外壳包含有一个前壳体及一个后壳体,所述前壳体的内外表面呈阶梯状,所述前壳体于前端具有一个前开口及末端具有一个外接合部,所述外接合部与所述后壳体的一个内接合部组接;两个凸耳设于所述后壳体的前端,且在所述后壳体末端具有一个后开口及一个外螺纹部。
3.根据权利要求2所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述内壳体设置在所述前壳体内部,所述内壳体外表面上具有一个第一挡部及一个第二挡部,所述第一挡部及所述第二挡部配置在所述前壳体内表面的一个第二挡壁及一个第三挡壁上;在所述内壳体的第一挡部设有一个凸出段。
4.根据权利要求3所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述公头壳体设置在所述前壳体内部,并位于所述内壳体前方,所述公头壳体末端与所述内壳体的凸出段之间具有间距;所述公头壳体的外表面具有一个凸块,所述凸块与所述前壳体的第一挡壁接触,所述公头壳体前端的延伸段由所述前壳体的开口延伸至外部。
5.根据权利要求4所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述弹性组件用于配于所述公头壳体的凸块与所述内壳体的凸出段之间。
6.根据权利要求5所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述绝缘组件包含有一个第一绝缘件及一个第二绝缘件,所述第一绝缘件一端设置在所述内壳体内部,另一端由所述凸出段穿出延伸至所述公头壳体内部,所述第二绝缘件设置在所述后壳体及所述内壳体末端中,且所述第一绝缘件及所述第二绝缘件上各具有一个供所述中心导体穿过的通孔。
7.根据权利要求6所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述中心导体前端具有一个中心针,所述中心针贯穿所述第二绝缘件的通孔及所述第一绝缘件的通孔,并延伸至所述公接头主体中;所述中心导体的末端具有至少一个剖槽,所述剖槽使所述中心导体末端形成多个具有弹性的弹片体。
8.根据权利要求6所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述中心导体系包含有一个套管、一个弹性组件及一个中心针;所述套管设置在所述第二绝缘件的通孔及所述第一绝缘件的通孔中,所述套管的末端具有至少一个剖槽,所述剖槽使所述套管末端形成多个具有弹性的弹片体,所述弹性组件及所述中心针依序设置在所述套管内部,所述中心针末端的一个卡接部卡接于所述套管内,所述中心针的一个针体穿出所述套管及穿过所述第一绝缘件的通孔,并延伸至所述公接头主体中。
9.根据权利要求1所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述公接头主体外表面具有一个倾斜面或弧面,所述倾斜面或弧面在公接头主体与所述母接头组接时,保持最小间隙。
10.根据权利要求1所述的同轴连接器的测试接头,其特征在于:所述弹片的外表面上还包含有一个斜角或一个圆角。
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CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
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