CN101539309A - 加热烹调器 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种加热烹调器，可以在不使磁控管发生异常振动的状况下推测其寿命，在磁控管达到设定寿命时将这一情况通知给用户。其特征为，具有：磁控管(8)，对加热室内供给微波；磁控管温度检测机构(19)，检测该磁控管的温度；寿命判断机构(18)，判断上述磁控管的寿命；通知机构(12)，通知由该寿命判断机构判断出的寿命；上述寿命判断机构在由上述磁控管温度检测机构得到的磁控管的检测温度达到预定温度以上时，判断为上述磁控管的寿命已到，通过上述通知机构将其通知给用户。

Description

加热烹调器

技术领域

本发明涉及一种在不给磁控管增加负担的状况下推定其寿命的加热烹调器。

背景技术

以往，作为加热烹调器的电子微波炉的可使用的期间，也就是寿命，一般情况下对于用户来说难以判断。作为寿命的大致标准，可以通过计算求取根据1天电子微波炉的平均使用次数、使用时间的磁控管的效率半衰期等，以此进行设定。但是，因为使用频率在每个情形下差别较大，另外用户一般也较少会记住购买日，所以在用户家中，现实情况是意识不到加热烹调器使用寿命已终结而在非效率的状态下继续使用。

另一方面，在专利文献1中公开有一种通过磁控管出现异常振动时的灯丝电压的比较来求得磁控管的剩余寿命，并显示该剩余寿命、设置通知机构的技术。

专利文献1：特开2001-082744号公报

但是，在上述专利文献1所述的构成中，为了推测电子微波炉的寿命，需要使磁控管发生异常振动，若这样使之发生了异常振动，则导致给磁控管及驱动电路造成负担，存在作为电子微波炉的寿命缩短并且易于发生故障这样的不佳状况。

发明内容

本发明是考虑上述问题所在而做出的，其目的为提供一种加热烹调器，可以在不使磁控管发生异常振动的状况下推测其寿命，在磁控管达到设定寿命时将这一情况通知给用户。

为了解决上述问题，本发明的加热烹调器其特征为，具有：磁控管，对加热室内供给微波；磁控管温度检测机构，检测该磁控管的温度；寿命判断机构，判断上述磁控管的寿命；以及通知机构，通知由上述寿命判断机构判断出的寿命；上述寿命判断机构在由上述磁控管温度检测机构得到的磁控管检测温度达到预定温度以上时，判断为上述磁控管的寿命已到，通过上述通知机构将这一情况通知给用户。

根据本发明，可以通过掌握磁控管的加热效率的下降，在不使之发生异常振动的状况下确切地判断加热烹调器的寿命，并能够对用户进行通知。

附图说明

图1是表示本发明的1个实施方式的电子微波炉的概略横剖面图。

图2是图1中的电子微波炉的电构成的框图。

图3是说明图1的红外线温度传感器的检测视场的立体图。

图4是表示本发明的1个实施例的、相对加热烹调时间的磁控管温度上升值的初期和寿命末期状态的比较曲线图。

图5是表示本发明的其他实施例的、相对食品温度上升值的磁控管初期阶段和寿命末期的温度上升值的变化的比较曲线图。

符号说明

1电子微波炉        2箱体               3加热烹调室

4炉门              7机械室             8磁控管

9冷却风扇          10操作面板          11操作键

12显示器           13加热器            14风扇

16红外线加热器     17磁控管驱动电路    18控制电路

19磁控管温度检测元件                   20存储机构

具体实施方式

下面，根据附图来说明本发明的1个实施方式。作为加热烹调器的电子微波炉(1)如按横剖面描述其概略构成的图1所示，具备矩形箱状的箱体(2)，将箱体(2)内作为加热烹调室(3)。该加热烹调室(3)是收置被加热物进行加热烹调的空间，在其前表面开口设置有对下侧的边进行枢轴支撑并且转动自如的炉门(4)，另外在加热烹调室(3)内的底面上设置有载置被加热物的转台(5)。

在上述加热烹调室(3)的侧方通过分隔壁(6)设置机械室(7)，在该机械室(7)内设置有：磁控管(8)，作为进行微波加热的机构；和冷却风扇(9)，对这些设备送风进行冷却。另外，在上述机械室(7)的前表面在整个宽度的范围内配设操作面板(10)，在其里侧设置有安装有电气安装件的电路基板，上述操作面板具备：各种操作键(11)，设定加热烹调时的烹调方法和烹调时间、烹调温度等的烹调条件；和作为通知机构的显示器(12)，用LCD等显示上述所设定的烹调条件等。

另外，在上述加热烹调室(3)的背面，配设加热烹调时对被加热物吹送热风的加热器(13)和风扇(14)，并且在为了排出由被加热物产生的蒸汽等所设置的排气管道(15)内配设热敏电阻，在箱体(2)内的加热烹调室(3)的背面上部，设置红外线温度传感器(16)来作为食品温度检测机构，该红外线温度传感器检测作为被加热物的食品的表面温度。

如作为电构成框图的图2所示，在电子微波炉(1)内具备上述磁控管(8)以及用来驱动该磁控管的磁控管驱动电路(17)，并且通过以微型计算机为主体的具备ROM、RAM等存储器的控制电路(18)进行控制。从上述操作键(11)对控制电路(18)进行输入，并且该输入内容等被显示于作为通知机构的显示器(12)上。

上述磁控管(8)由磁控管温度检测元件(19)来检测其温度，由作为食品温度检测机构的上述红外线温度传感器(16)得到的食品温度及存储它们的数据的存储机构(20)中的数据，都输入给控制电路(18)，并通过该控制电路(18)内所包括的作为寿命判断机构的微型计算机来判断其寿命。

上述红外线温度传感器(16)例如在IC芯片上将8个红外线检测元件配设成线状，如图3所示通过使其检测视场a1～a8在加热烹调室(3)底面的宽度方向的范围内如箭头所示进行往复移动，来计测包括被加热物的载置区域在内的底面温度，根据由该红外线检测元件得到的信号，控制电路(18)通过计算底面上所设置的作为被加热物的食品的表面温度并进行校正，来检测被加热物的温度，使检测到的温度存储于上述存储机构(20)中。

图4是表示自烹调开始的磁控管(8)的温度变化的曲线图。x轴表示自烹调开始的经过时间，y轴表示磁控管(8)的温度上升值，实线表示磁控管(8)在初期阶段的温度上升曲线，虚线表示寿命末期的磁控管(8)的温度上升曲线。

磁控管(8)因为随着其寿命的结束临近，作为磁控管温度(T)相对进行加热烹调的食品温度(Tf)之比的加热效率下降，所以如同通过附图中表示初期阶段的实线和虚线之间的对比所明确的那样，即使是相同的输入，也因磁控管损耗而产生热，从上升时开始随着时间经过而出现温度差。从而，只要检测到加热烹调时磁控管(8)的温度，就可以推测寿命的结束。

另外，因为从开始加热烹调到磁控管(8)的温度稳定为止需要10～15分钟的时间，以及通常电子微波炉的使用大多是3分钟之内的烹调时间，所以磁控管(8)的温度检测最好在加热烹调开始后的上升过程中进行，在本实施例中，上述图4中的预定时间(t1)作为开始加热烹调之后的自上升开始的时间，检测了经过了1分钟时的磁控管温度。

烹调时间经过1分钟后的寿命末期的磁控管的温度上升值(Te)预先通过实验已经求出为45K，在超过45K时，判断为此时正在使用的电子微波炉的寿命已到，在显示器(12)上进行表示寿命已到这一内容的显示，通知给用户。

下面，对于本发明的第2实施例进行说明。上述实施例是磁控管温度(T)和加热烹调经过时间(t)之间的关系，与之相对，本实施例用来根据磁控管温度(T)和上述食品温度(Tf)之间的关系推测磁控管(8)的寿命。

图5是在x轴上表示因加热烹调而上升的食品温度相对于最初的上升值并且在y轴上表示与之相伴随的磁控管(8)的温度上升值的变化的曲线图，表示出磁控管加热效率的变化。实线表示磁控管(8)初期阶段的温度上升趋势，虚线表示寿命末期的温度上升趋势。

电子微波炉中的自动烹调中，其食品“加热”烹调的使用次数最多，该情况下，对放置于室温下的烹调物进行“加热”烹调的用户较多。而且，因为食品的重新加热温度大多在约80℃时完成，另外放置食品的室温通常是25℃左右，所以只要将作为从此时开始的温度上升值的55K设为食品的温度上升预定值(Tf)，则“加热”烹调就在80℃时完成，并且有效的是在临近该完成的定时判断磁控管(8)的寿命。

从食品的加热开始，与上述食品的温度上升值(Tf)对应的磁控管(8)的温度上升值，在磁控管(8)处于初期阶段时，是接近食品温度上升值(Tf)的55K这样的较低的值(To′)，加热效率较高，但是在磁控管(8)的寿命末期，加热效率下降，温度上升值增大。

从而，在该食品温度上升值(Tf)为55K时，在磁控管的温度上升值超过作为磁控管寿命末期的温度上升值(Te′)所预先设定的85K的情况下，判断为此时正在使用的电子微波炉寿命已到，在显示器(12)上进行表示寿命已到这一情况的显示，通知给用户。

如上所述，根据食品的温度上升值设定磁控管(8)的寿命推定的值的原因是，通过在相同的定时测定为了加热食品使温度上升所耗费的磁控管(8)的消耗能量和食品的温度上升度并使之对应，来减少误差，但是即使不利用温度上升值，也可以根据测定出的食品温度来判断磁控管(8)的寿命，此时在食品温度为80℃的时刻计测磁控管温度。

这样一来，因为只要判断磁控管(8)的寿命，就可以只按烹调时间来修正因作为负荷的食品量不一致引起的误差，所以使寿命推定的准确度得到提高。

有关上述的磁控管(8)的寿命判断，也可以在每次加热烹调时，都把根据相对检测测定出的食品温度(Tf)的磁控管温度(T)所求取的加热效率数据，例如提取此前5次的数据，将其中的最大值和最小值作为异常值予以删除，根据剩余的数据的平均值来判断寿命，在平均值达到预定值以上时，做出寿命已到这样的判定并进行显示。

接下来，对于第3实施例进行说明。由磁控管驱动电路(17)驱动的磁控管(8)的驱动时间由作为驱动时间测定机构具有计时器的微型计算机来测定，进行累计，存储于图2所示的上述存储机构(20)中，并且在测定出的累计时间不足预先作为寿命所设定的时间，例如作为相当于平均驱动时的10年时间的累计时间的400小时时，判断为尚未达到寿命，因此可以抑制因温度传感器的误检测而出现奇值的情形、因误判定导致的寿命通知的情形。

接下来，说明第4实施例。本实施例除了上述各实施例的构成之外，还特别设定“牛奶加热”等通常很多用户要使用的菜单，只有在该菜单的工作时才进行磁控管(8)的寿命判断。

特定的菜单具有上述“牛奶加热”等的专用按钮，通过进行操作，根据微型计算机的程序驱动磁控管(8)，在红外线温度传感器(16)检测到作为加热设定温度的60℃的时刻结束加热烹调工作。

此时，牛奶的负荷容量因为通常大多是和约200ml左右大致相同的量，所以通过特定菜单，就可以在大致同一负荷的条件下进行寿命判断，并且除了因相对于上述食品温度(Tf)的磁控管温度(T)导致的加热效率的变化之外，因负荷改变导致的磁控管(8)的温度上升程度的不一致误差也被减轻，因此还可以进一步提高寿命推定的准确度。

还有，关于上述特定的菜单，若如上所述只以一例进行测定，则因为还存在很少的不使用该菜单的用户，所以也可以通过设置“牛奶”、“加热”、“烫酒”等被较多使用的多个菜单，加以集中。

进而，说明第5实施例。在本实施例中，作为除上述各种实施例之外的寿命判断机构，把作为上述食品温度检测机构的红外线温度传感器(16)作为负荷检测机构，来检测要加热烹调的食品的负荷量。使红外线温度传感器(16)中的到上述红外线检测元件的检测视场a1～a8的8个部位按宽度方向移动进行检测，只有在加热烹调室(3)底面上的食品量在预定的范围，例如是大小相当于底面积整体的大约20～30％的范围时，才进行温度测定。还有，在上述图3的构成中，底面的52个部位为计测有效范围。

因为通过进行烹调加热，被加热物的温度上升与加热烹调室(3)底面相比有所增大，所以上述52个部位的计测点之中温度上升率高的计测点的部位为被加热物的大小，如果只在该被加热物的计测点数是10～16个计测点时进行寿命判定，就可以获得被加热物的大小大致相等的同一负荷条件下的温度上升值。

据此，因为在食品的大小大致相同的条件下测定加热效率，所以可以按相同量的负荷进行判断，能够做出准确度更高的寿命的推定。

还有，在上述实施例中，虽然利用红外线温度传感器(16)，来检测加热烹调室(3)内被加热物的大小，但是也可以利用重量传感器等来检测被加热物的重量，在大致相同重量的条件下推定寿命。

Claims (7)

1.一种加热烹调器，其特征为，

具有：磁控管，其对加热室内供给微波；磁控管温度检测机构，其检测该磁控管的温度；寿命判断机构，其判断上述磁控管的寿命；以及通知机构，其通知由该寿命判断机构判断出的寿命；上述寿命判断机构在由上述磁控管温度检测机构检测到的磁控管的检测温度达到预定温度以上时，判断为上述磁控管的寿命已到，通过上述通知机构将这一情况通知给用户。

2.根据权利要求1所述的加热烹调器，其特征为，

寿命判断机构根据开始烹调并经过了预定时间时的上述磁控管的检测温度，来判断寿命。

3.根据权利要求1或2所述的加热烹调器，其特征为，

具有食品温度检测机构，该食品温度检测机构检测食品的温度；寿命判断机构根据在由上述食品温度检测机构检测到的食品温度为预定温度时的上述磁控管的检测温度，来判断寿命。

4.根据权利要求1或2所述的加热烹调器，其特征为，

具有驱动时间测定机构，该驱动时间测定机构测定磁控管的累计驱动时间；寿命判断机构直到经过预定的累计驱动时间为止，不进行寿命的判断。

5.根据权利要求1或2所述的加热烹调器，其特征为，

寿命判断机构根据磁控管温度检测机构检测到的多个上述磁控管的检测温度数据，计算除了其中的最大值和最小值之外的多个温度数据的平均值，在该平均值达到预定温度以上时，判断为磁控管寿命已到。

6.根据权利要求1或2所述的加热烹调器，其特征为，

寿命判断机构只在特定菜单的工作时才判断寿命。

7.根据权利要求1或2所述的加热烹调器，其特征为，

具备负荷检测机构，该负荷检测机构检测食品的负荷量；寿命判断机构只在由上述负荷检测机构检测到的食品负荷量在预定范围内时，才判断寿命。

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