CN101526402B - 判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法 - Google Patents

Abstract

一种判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法，它是主要利用荫罩的高温生长以后低温尺寸不完全回缩的特性通过对荫罩烧结前后尺寸的测量与标准值进行比较的方法，从而判断烧成炉炉温的准确性和均匀性。本发明的测量方法比较简单，便于实施，具有提高了生产效率，减少了资源的浪费和节约了生产成本的优点。

Description

判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法

技术领域

本发明涉及等离子显示屏领域，尤其是一种在较短的时间内以及无需停产的情况下判断隧道窑式烧成炉，具体地说是等离子显示屏制备过程中判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法。

背景技术

等离子平板显示屏Plasma Display Panel，简称PDP，是利用两个电极间加高压，引发惰性气体放电产生等离子体，等离子产生的紫外线激发对应电极区涂有的荧光粉发光进行显示的平面显示屏。荫罩式等离子显示屏ShadowMask Plasma Display Panel，简称SMPDP，是在原有PDP技术基础上，利用彩色阴极射线管CRT中的荫罩板即金属栅网板代替传统PDP中复杂的障壁制造，独立加工荫罩板，并在其上制作荧光粉，最后将前基板、荫罩板、后基板以“三明治”的方式装配起来制作成整屏。目前采用的荫罩式等离子体显示屏主要包括：前基板、后基板、荫罩，如图1所示。前基板从玻璃基板4起，分别有扫描电极1、介质层2以及在介质层表面形成的保护层3组成；后基板从玻璃基板5起，分别有与扫描电极1垂直的寻址电极6、介质层7、以及在介质层表面形成的保护层8组成。包含电极的前后基板结构如图2、3所示。荫罩是由导电材料加工而成的包含网孔阵列的金属薄网板。其具备经高温烧结后尺寸增大，再进过低温后荫罩尺寸不会完全回缩的特性。R、G、B三色荧光粉浆料分别按顺序涂覆在荫罩孔内，如图4、5所示。

前后基板的制备过程需要经过3～4次的烧结工艺，而烧成炉显示温度与被烧成材料表面实际温度是有差异的，通常为了保证烧成炉炉温的准确性和均匀性是将热电偶9的一头贴付在玻璃基板的测量点上送进烧成炉的炉膛10，另一头接到显示温度的监控设备上进行炉温测量，如图6示，在贴有热电偶9的玻璃基板进入每一个炉温段时从监控设备的温度显示器11上记录下此时的温度，将其与设定温度比较，再行数次校调，以达到工艺所需炉温。但是，运用这样的监控方法时不能进行正常的烧结工艺，而且将热电偶放入烧成炉内对炉膛也产生了污染，测量温度结束后还需要用干净的光玻璃送进烧成炉的炉膛10，将炉膛内落在玻璃上的脏物跟随玻璃一起带出，用以清洁炉膛，这样一条烧结曲线的监控测量需要花将近一周左右的时间，既耽误了生产，也消耗了人力、物力和财力。不能达到准确、高效、无污染和低成本的要求，不能满足现有生产的需要。

发明内容

本发明的目的是针对传统监控炉温的方法既耽误生产，又造成污染的问题，提出一种高效率、易实施、又能准确反映炉温的判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法。

本发明的技术方案是：

一种判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法，它包括以下步骤：

(a).选一张荫罩作为标准荫罩，在标准荫罩上选取测量点并记录测量点的中心坐标的横坐标X、纵坐标Y，在烧成炉炉温正常的情况下，将标准荫罩放入烧成炉烧结的炉膛内，烧结完成后，记录标准荫罩测量点烧结后的中心坐标X、Y并记录；

(b).将标准荫罩测量点烧结前后中心坐标X、Y的测量值进行比较，得出烧结前后标准荫罩的测量点中心坐标X、Y的变化量即ΔX、ΔY并将这个数值作为标准值；

(c).选取一张未烧结的与标准荫罩相同的测量荫罩，测量与标准荫罩同样位置的实际测量点中心坐标值X1、Y1，然后放入烧成炉的炉膛内烧结，测量荫罩烧结完成后，记录测量荫罩测量点烧结后的中心坐标的横坐标X1、纵坐标Y1；

(d).将测量荫罩测量点烧结前后中心坐标X1、Y1的测量值进行比较，得出烧结前后测量荫罩的测量点中心坐标X1、Y1的变化量即ΔX1、ΔY1；

(e).将测量荫罩的测量点中心坐标变化量即ΔX1、ΔY1分别与标准值ΔX、ΔY进行比较得到差值，如果差值在所选荫罩类型的合理误差范围内，误差范围是0-50um，炉温正常，烧成炉炉温准确性和均匀性符合要求；否则，炉温异常，烧成炉炉温准确性和均匀性不符合要求。

本发明的测量点为八个。

本发明的标准荫罩的测量点和测量荫罩的测量点均位于同样的固定区域内。

本发明进入烧成炉的荫罩均放在石英垫板上面一起进入烧成炉。

本发明的有益效果：

本发明利用荫罩的高温生长以后低温尺寸不完全回缩的特性通过对荫罩烧结前后尺寸的测量与标准值进行比较的方法的特性，能在准确监控炉温的同时又不耽误生产，我们通过测量荫罩的数据监控炉温的准确性和均匀性，提高了生产效率。

本发明的方法简单，便于实施，省去了用热电偶拉测炉温的费时、费力。能够在生产的过程中随时监控炉温的状况。提高了生产效率，减少了对烧成炉环境的污染，保证了烧成制品的品质，达到了增产降耗的目的。

附图说明

图1是荫罩式等离子显示屏的结构示意图。

图2是前基板的结构示意图。

图3是后基板的结构示意图。

图4是荫罩网孔的俯视结构图。

图5是荫罩网孔的横截面示意图。

图6是用热电偶测量炉温示意图。

图7是本发明的荫罩测量区域示意图。

图8是本发明的荫罩送入烧成炉示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。

如图8所示，一种判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法，它包括以下步骤：

(a).选一张荫罩作为标准荫罩，在标准荫罩上选取测量点并记录测量点的中心坐标的横坐标X、纵坐标Y，在烧成炉炉温正常的情况下，将标准荫罩放入烧成炉烧结的炉膛10内，烧结完成后，记录标准荫罩测量点烧结后的中心坐标X、Y并记录；

(b).将标准荫罩测量点烧结前后中心坐标X、Y的测量值进行比较，得出烧结前后标准荫罩的测量点中心坐标X、Y的变化量即ΔX、ΔY并将这个数值作为标准值；

(c).选取一张未烧结的与标准荫罩相同的测量荫罩，测量与标准荫罩同样位置的实际测量点中心坐标值X1、Y1，然后放入烧成炉的炉膛10内烧结，测量荫罩烧结完成后，记录测量荫罩测量点烧结后的中心坐标的横坐标X1、纵坐标Y1；

(d).将测量荫罩测量点烧结前后中心坐标X1、Y1的测量值进行比较，得出烧结前后测量荫罩的测量点中心坐标X1、Y1的变化量即ΔX1、ΔY1；

(e).将测量荫罩的测量点中心坐标变化量即ΔX1、ΔY1分别与标准值ΔX、ΔY进行比较得到差值，如果差值在所选荫罩类型的合理误差范围内，误差范围是0-50um，炉温正常，烧成炉炉温准确性和均匀性符合要求；否则，炉温异常，烧成炉炉温准确性和均匀性不符合要求。

本发明的测量点为八个，所述的标准荫罩的测量点和测量荫罩的测量点均位于同样的固定区域内。

本发明进入烧成炉的荫罩均放在石英垫板12上面一起进入烧成炉。

具体实施时：

实施例一：

首先取一枚未进过烧结的荫罩作为标准荫罩，参照附图7测量固定的八点(A点～H点)中心坐标值(X、Y)，在炉温正常的情况下将此测量的荫罩参照附图8送入烧成炉烧结，待烧结完成后同样参照附图7测量固定的八点(A点～H点)中心坐标值(X、Y)，将烧结前后八点坐标值进行比较，得出(ΔX、ΔY)，将此比较值作为该炉温的标准值。

在生产过程中，当需要监控炉温的准确性和均匀性时，只要将一枚未烧结的与标准荫罩相同的荫罩参照附图7测量固定的八点(A点～H点)中心坐标值(X1、Y1)，然后放入烧成炉，参照附图8，烧结的荫罩可以随同生产需要烧结的产品一同进入烧成炉烧结。待该荫罩烧结完成后同样参照附图7测量固定的八点(A点～H点)中心坐标值(X1、Y1)，将荫罩烧结前后八点坐标值进行比较，得出(ΔX1、ΔY1)。最后将(ΔX1、ΔY1)分别与标准值(ΔX、ΔY)比较，在等离子显示器面板的烧结工艺中，荫罩尺寸为1097*618mm时，与标准值的差值小于50um左右是符合要求的，若超差这个范围那么就需要烧成工艺人员注意，此时炉温存在异常，需要采取措施校正炉温。

实施例二：

首先取一枚未经过烧结的荫罩作为标准荫罩，在炉温正常的情况下将此荫罩参照附图8送入烧成炉烧结，待烧结完成后参照附图7测量固定的八点(A点～H点)中心坐标值(X、Y)，将值作为该炉温的标准值。

在生产过程中，当需要监控炉温的准确性和均匀性时，为了避免荫罩间本身的差异，只要将一枚未烧结的与标准荫罩相同的同一批次的荫罩放入烧成炉，参照附图8，烧结的荫罩可以随同生产需要烧结的产品一同进入烧成炉烧结。待该荫罩烧结完成后同样参照附图7测量固定的八点(A点～H点)中心坐标值(X1、Y1)。最后将(X1、Y1)与标准值(X、Y)进行比较。荫罩尺寸为1097*618mm时，若比较的值小于10um此时烧成炉的炉温是符合要求的，反之，就需要烧成人员注意，此时炉温存在异常，需要采取措施校正炉温。

本发明未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。

Claims (4)

1.一种判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法，其特征是它包括以下步骤：

(a).选一张荫罩作为标准荫罩，在标准荫罩上选取测量点并记录测量点的中心坐标的横坐标X、纵坐标Y，在烧成炉炉温正常的情况下，将标准荫罩放入烧成炉烧结的炉膛(10)内，烧结完成后，记录标准荫罩测量点烧结后的中心坐标X、Y并记录；

(b).将标准荫罩测量点烧结前后中心坐标X、Y的测量值进行比较，得出烧结前后标准荫罩的测量点中心坐标X、Y的变化量即ΔX、ΔY并将这个数值作为标准值；

(c).选取一张未烧结的与标准荫罩相同的测量荫罩，测量与标准荫罩同样位置的实际测量点中心坐标值X1、Y1，然后放入烧成炉的炉膛(10)内烧结，测量荫罩烧结完成后，记录测量荫罩测量点烧结后的中心坐标的横坐标X1、纵坐标Y1；

(d).将测量荫罩测量点烧结前后中心坐标X1、Y1的测量值进行比较，得出烧结前后测量荫罩的测量点中心坐标X1、Y1的变化量即ΔX1、ΔY1；

(e).将测量荫罩的测量点中心坐标变化量即ΔX1、ΔY1分别与标准值ΔX、ΔY进行比较得到差值，如果差值在所选荫罩类型的合理误差范围内，误差范围是0-50um，炉温正常，烧成炉炉温准确性和均匀性符合要求；否则，炉温异常，烧成炉炉温准确性和均匀性不符合要求。

2.根据权利要求1所述的判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法，其特征是所述的测量点为八个。

3.根据权利要求1所述的判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法，其特征是所述的标准荫罩的测量点和测量荫罩的测量点均位于同样的固定区域内。

4.根据权利要求1所述的判断烧成炉炉温准确性和均匀性的方法，其特征是所述的进入烧成炉的荫罩均放在石英垫板(12)上面一起进入烧成炉。

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