CN101452127B - 液晶显示装置及其测试系统与测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种液晶显示装置(10)及其测试系统(1)与测试方法。该液晶显示装置(10)包括一驱动电路(15)、一电连接该驱动电路(15)与外部电路的软性电路板(12)、一从该驱动电路(15)引出的测试线(17)和一与该测试线(17)电连接的测试点(19)，该驱动电路(15)包括多条信号线(151-156)和多个开关元件(159)，该多条信号线(151-156)分别经由一开关元件(159)与该测试线(17)电连接。该液晶显示装置(10)采用该测试系统(1)与测试方法，测试方便。
Description
技术领域
本发明是关于一种液晶显示装置及其测试系统与测试方法。
背景技术
液晶显示装置因具有低辐射性、体积轻薄短小和耗电低等特点，已逐渐取代阴极射线管显示装置而广泛应用在手机、个人数字助理、笔记本电脑、个人电脑和电视等领域。液晶显示装置包括液晶面板、软性电路板，印刷电路板等基本元件，其中液晶面板的基板上设置有驱动液晶面板的驱动电路，印刷电路板上设置有为液晶面板供电的供电电路以及为液晶面板提供各种信号的信号产生电路、控制电路等。液晶面板与印刷电路板通过软性电路板电连接，以实现各种信号的传输和保证电路正常工作，从而实现液晶显示装置的影像显示。
液晶显示装置的驱动电路作为显示所需的重要元件，通常在进行产品开发或者解析时，需要对其处理的各种信号进行测试。目前，大多厂家的做法有两种：一种是将覆盖线路的绝缘材料涂层刮开，直接对所需测试的线路进行测量；另一种是在液晶面板的基板或者软性电路板上设置测试点，将所需测试的线路引出以供测试。然而，采用前一种做法时，由于基板或软性电路板的布线(Layout)比较密集，在刮开涂层进行测试时，容易对相邻线路造成破坏，如此导致测试不方便；采用后一种做法时，设置测试点与引出的测试线需占用基板或者软性电路板的空间，不利于线路的布线，且驱动电路的线路较多，不可能每条线路都设置测试点，如此也不利于测试。
发明内容
为了克服现有技术中液晶显示装置测试不方便的问题，有必要提供一种测试方便的液晶显示装置。
也有必要提供一种上述液晶显示装置的测试系统。
还有必要提供一种利用上述测试系统测试液晶显示装置的测试方法。
一种液晶显示装置，其包括一驱动电路、一电连接该驱动电路与外部电路的软性电路板、一从该驱动电路引出的测试线和一与该测试线电连接的测试点。该驱动电路包括多条信号线和多个开关元件，该多条信号线分别经由一开关元件与该测试线电连接。
一种测试系统，用于测试一液晶显示装置。该测试系统包括一控制平台和一测试驱动板，该控制平台连接该测试驱动板，该测试驱动板为该液晶显示装置提供电压信号与控制信号。该液晶显示装置包括一驱动电路、一电连接该驱动电路与该测试驱动板的软性电路板、一从该驱动电路引出的测试线和一与该测试线电连接的测试点。该驱动电路包括多条信号线和多个开关元件，该多条信号线分别经由一开关元件与该测试线电连接。
一种测试方法，其采用一测试系统对一液晶显示装置测试。该测试系统包括一控制平台和一测试驱动板。该液晶显示装置包括一驱动电路、一电连接该驱动电路与该测试驱动板的软性电路板、一从该驱动电路引出的测试线和一与该测试线电连接的测试点，该驱动电路包括多条信号线和多个开关元件，该多条信号线分别经由一开关元件与该测试线电连接。该测试方法包括以下步骤：
步骤一：对该测试系统进行初始化处理；
步骤二：经由该控制平台对该开关元件的状态参数进行修改；
步骤三：经由该测试驱动板根据修改后的开关元件的状态参数控制对应开关元件的导通或截止；
步骤四：对测试点进行测试；
相较于现有技术，该液晶显示装置在该驱动电路的多条信号线与该测试线之间分别设置一开关元件，该测试方法采用该测试系统，仅需根据所需测试的信号修改其状态参数，并通过测试驱动板选择对应开关元件的导通或截止，不会对线路造成破坏，且仅采用一条测试线与一个测试点即可实现多个信号的测试，无需针对每一所需测试的信号线对应引出一测试线和设置相应测试点，从而节省该软性电路板或该基板的布线空间，测试方便。
附图说明
图1是本发明液晶显示装置第一实施方式的结构示意图。
图2是图1中液晶显示装置的驱动电路的部分电路结构放大示意图。
图3是图1中液晶显示装置的测试系统的方框结构示意图。
图4是图1中液晶显示装置的测试方法的流程图。
图5是本发明液晶显示装置第二实施方式的结构示意图。
图6是图5中液晶显示装置的驱动电路的部分电路结构放大示意图。
具体实施方式
请参考图1，其是本发明液晶显示装置第一实施方式的结构示意图。该液晶显示装置10包括一基板11、一软性电路板12、一设置于该基板11上的驱动电路15、一从该驱动电路15引出的测试线17和一设置于该软性电路板12上的测试点19。该软性电路板12用于电连接该驱动电路15与外部电源电路(图未示)和外部控制电路(图未示)。外部电源电路为该驱动电路15供电并提供各种电压信号，外部控制电路为该驱动电路15提供各种控制信号，使该驱动电路15驱动该液晶显示装置10的液晶面板(未标示)，以实现显示影像的目的。该基板11可为一玻璃基板，该测试点19也可设置于该基板11上，通过量测该测试点19，以测试该驱动电路15处理的各种信号是否在正常范围之内。
请一并参考图2，其是该驱动电路15的部分电路结构放大示意图。该驱动电路15包括一内部寄存器150、多个开关元件159和从该驱动电路15内部引脚(图未示)引出的多条信号线，如内部参考电压(Internal Reference Voltage)线151、电源线152、栅极高压线153、栅极低压线154、公共电压线155和晶振(Oscillator，OSC)频率线156等等。外部电源电路通过该内部参考电压线151与电源线152分别为该驱动电路15提供内部参考电压VCI和电源电压VDD，而该驱动电路15通过该栅极高压线153、栅极低压线154和公共电压线155分别输出栅极高压VGH、栅极低压VGL和公共电压VCOM。该多条信号线分别经由一开关元件159电连接至该测试线17。该多个开关元件159的控制端(未标示)均电连接于该内部寄存器150。该内部寄存器150用于设置和储存该多个开关元件159的状态参数，通过改变该开关元件159的状态参数，可经由该控制端控制该开关元件159的导通或截止，从而实现选择所需测试的信号所对应的信号线与该测试线17连通，再通过量测该测试点19以测试该所需测试的信号。该开关元件159可采用晶体管，此时，晶体管的栅极作为控制端。
请参考图3，其是该液晶显示装置10的测试系统1的方框结构示意图。该测试系统1包括一控制平台30和一测试驱动板20。该控制平台30可为一计算机，其储存有该驱动电路1 5的内部寄存器150的状态参数数据，如该开关元件159的状态参数，并包括有一输入接口31、一编译系统32和一输出接口33。该测试驱动板20包括一微控制单元(Micro Control Unit，MCU)21和一电源电路22。该控制平台30经由其输出接口33与该测试驱动板20的微控制单元21连接，该测试驱动板20经由该液晶显示装置10的软性电路板12与其驱动电路15电连接。该输入接口31用于提供一显示与修改该开关元件159的状态参数的界面，该编译系统32用于对该修改后的开关元件159的状态参数进行编译，该输出接口33用于输出编译后的开关元件159的状态参数指令至该微控制单元21。该电源电路22为该驱动电路15提供各种电压信号，如内部参考电压VCI和电源电压VDD，该微控制单元21为该驱动电路15提供各种控制信号，如根据开关元件159的状态参数为该内部寄存器150提供控制指令，以控制该开关元件159的导通或截止。
在对该液晶显示装置10进行测试时，需通过该控制平台30改变所要测试的信号所对应的开关元件159的状态参数；然后通过该测试驱动板20控制该信号所对应的开关元件159导通，而对应其它不测试的信号所对应的开关元件159截止，从而仅使该所要测试的信号所对应的信号线与测试线17连通；再经由该测试点19对该信号进行测试。
请参考图4，其是该液晶显示装置10的测试方法的流程图。该测试方法包括以下步骤：
步骤S1：开始；
测试系统1进行初始化处理。该控制平台30可以预先设置该驱动电路15的内部寄存器150的开关元件159的状态参数，如对某一信号所对应的开关元件159的状态参数置“1”，其它信号所对应的开关元件159的状态参数置“0”。初始化完成之后，该状态参数置“1”的开关元件159即导通，而状态参数置“0”的开关元件159截止。
该控制平台30也可以预先对所有开关元件159的状态参数置“0”，初始化完成之后，所有开关元件159均截止。
步骤S2：修改开关元件159的状态参数；
通过该控制平台30的输入接口31对该内部寄存器150的开关元件159的状态参数进行修改，将当前所需测试的信号所对应的开关元件159的状态参数置“1”，其它信号所对应的开关元件159的状态参数置“0”。该控制平台30的编译系统32对上述指令进行编译，并经由其输出接口33下载(Load)至该测试驱动板20的微控制单元21。
若当前所需测试的信号所对应的开关元件159的状态参数为初始化过程中所预设的置“1”状态，则无须修改其状态参数。
步骤S3：根据修改后的开关元件159的状态参数控制对应开关元件159的导通或截止；
该测试驱动板20的微控制单元21根据修改后的开关元件159的状态参数，控制当前所需测试的信号所对应的开关元件159导通，而其它信号所对应的开关元件159截止。
步骤S4：对该测试点19进行测试；
此时仅当前所需测试的信号所对应的信号线与测试线17连通，通过测试工具对该测试点19进行测试，即可得到所需测试的信号的状态。
步骤S5：结束。
对该测试点19的测试完成之后，对一信号的测试结束。如需测试下一信号，再返回步骤S2重新修改各信号所对应的开关元件159的状态参数。
如此对所需测试的信号逐一进行测试。
该液晶显示装置10在该驱动电路15的多条信号线与该测试线17之间分别设置一开关元件159，该测试方法采用该测试系统1仅需根据所需测试的信号修改其状态参数，并通过测试驱动板20选择对应开关元件159的导通或截止，不会对线路造成破坏，且仅采用一条测试线17与一个测试点19即可实现多个信号的测试，无需针对每一所需测试的信号线对应引出一测试线17和设置相应测试点19，从而节省该软性电路板12或该基板11的布线空间，测试方便。
另外，可以根据不同类型的系统指令设置开关元件159的状态参数，以对应其导通或截止，并不限于置“1”或置“0”。
还可以仅对经常需要测试的信号所对应的信号线与该测试线17之间设置开关元件159，其它不是经常需要测试的信号则不用，如此可以合理利用驱动电路15内部的布线空间。
请参考图5，其是本发明液晶显示装置第二实施方式的结构示意图。该液晶显示装置50与第一实施方式液晶显示装置10的不同之处在于：该液晶显示装置50包括从其驱动电路55引出的一测试线57和一快捷测试线570，该测试线57和该快捷测试线570分别与一测试点59和一快捷测试点590电连接。该测试点59可设置于基板51或软性电路板52上，该快捷测试点590也可设置于该基板51或该软性电路板52上。
请一并参考图6，其是该驱动电路55的部分电路结构放大示意图。该快捷测试线570用于直接与该驱动电路55的某一信号线电连接，如直接与经常需要测试的内部参考电压VCI所对应的内部参考电压线551电连接。而其它信号线，包括电源线552，栅极高压线553，栅极低压线554，公共电压线555，晶振频率线556等分别经由一开关元件559与该测试线57电连接。
另外，也可将其它需要经常测试的信号所对应的信号线与该快捷测试线570电连接，直接经由该快捷测试点590进行测试，如电源电压VDD所对应的电源线552；或者将经常需要测试的信号所对应的信号线分别引出一快捷测试线570与一快捷测试点590电连接，如将内部参考电压线551与电源线552分别引出一快捷测试线570与一快捷测试点590电连接，对内部参考电压VCI与电源电压VDD进行直接测试，而其它信号所对应的信号线与该测试线57之间则设置开关元件559。如此，在仅需对某些经常需要测试的信号测试时，通过直接测试可节省测试时间，而在一并需要测试许多其它信号时，可采用测试系统1和上述测试方法来测试，测试方便。
Claims (10)
1.一种液晶显示装置(10、50)，其包括一驱动电路(15、55)、一电连接该驱动电路(15、55)与外部电路的软性电路板(12、52)、一从该驱动电路(15、55)引出的测试线(17、57)和一与该测试线(17、57)电连接的测试点(19、59)，其特征在于：该驱动电路(15、55)包括多条信号线(151-156、552-556)和多个开关元件(159、559)，该多条信号线(151-156、552-556)分别经由一开关元件(159、559)与该测试线(17、57)电连接。
2.如权利要求1所述的液晶显示装置(10、50)，其特征在于：该驱动电路(15、55)进一步包括一内部寄存器(150)，该内部寄存器(150)用于设置和储存该多个开关元件(159、559)的状态参数。
3.如权利要求2所述的液晶显示装置(10、50)，其特征在于：该多个开关元件(159、559)均包括一控制端，该控制端分别电连接于该内部寄存器(150)。
4.如权利要求1所述的液晶显示装置(50)，其特征在于：该液晶显示装置(50)进一步包括至少一从该驱动电路(55)引出的快捷测试线(570)和至少一快捷测试点(590)，每一快捷测试线(570)电连接于一快捷测试点(590)。
5.如权利要求4所述的液晶显示装置(50)，其特征在于：该驱动电路(55)进一步包括至少一直接经由该快捷测试线(570)与一快捷测试点(590)电连接的信号线(551)。
6.一种测试系统(1)，用于测试一液晶显示装置(10)，其特征在于：该测试系统(1)包括一控制平台(30)和一测试驱动板(20)，该控制平台(30)连接该测试驱动板(20)，该测试驱动板(20)为该液晶显示装置(10)提供电压信号与控制信号，该液晶显示装置(10)包括一驱动电路(15)、一电连接该驱动电路(15)与该测试驱动板(20)的软性电路板(12)、一从该驱动电路(15)引出的测试线(17)和一与该测试线(17)电连接的测试点(19)，该驱动电路(15)包括多条信号线(151-156)和多个开关元件(159)，该多条信号线(151-156)分别经由一开关元件(159)与该测试线(17)电连接。
7.如权利要求6所述的测试系统(1)，其特征在于：该测试驱动板(20)包括一微控制单元(21)，该微控制单元(21)用于为该驱动电路(15)提供控制信号，该驱动电路(15)进一步包括一内部寄存器(150)，该内部寄存器(150)用于设置和储存该多个开关元件(159)的状态参数，该控制平台(30)储存有该内部寄存器(150)的开关元件(159)的状态参数数据，该控制平台(30)包括一输入接口(31)、一编译系统(32)和一输出接口(33)，该输入接口(31)用于提供一显示与修改该开关元件(159)的状态参数的界面，该编译系统(32)用于对该修改后的开关元件(159)的状态参数进行编译，该输出接口(33)用于输出编译后的开关元件(159)的状态参数指令至该微控制单元(21)，该微控制单元(21)用于根据修改后的开关元件(159)的状态参数控制所需测试的信号所对应的开关元件(159)导通，而其它信号所对应的开关元件(159)截止，该测试点(19)用于对该所需测试的信号进行测试。
8.一种测试方法，其采用一测试系统(1)对一液晶显示装置(10)测试，其特征在于：该测试系统(1)包括一控制平台(30)和一测试驱动板(20)，该液晶显示装置(10)包括一驱动电路(15)、一电连接该驱动电路(15)与该测试驱动板(20)的软性电路板(12)、一从该驱动电路(15)引出的测试线(17)和一与该测试线(17)电连接的测试点(19)，该驱动电路(15)包括多条信号线(151-156)和多个开关元件(159)，该多条信号线(151-156)分别经由一开关元件(159)与该测试线(17)电连接，该测试方法包括以下步骤：
步骤一：对该测试系统(1)进行初始化处理；
步骤二：经由该控制平台(30)对该开关元件(159)的状态参数进行修改；
步骤三：经由该测试驱动板(20)根据修改后的开关元件(159)的状态参数控制对应开关元件(159)的导通或截止；
步骤四：对测试点(19)进行测试。
9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于：该测试驱动板(20)包括一微控制单元(21)，该驱动电路(15)进一步包括一内部寄存器(150)，该内部寄存器(150)用于设置和储存该多个开关元件(159)的状态参数，该控制平台(30)储存有该内部寄存器(150)的开关元件(159)的状态参数数据，该控制平台(30)包括一输入接口(31)、一编译系统(32)和一输出接口(33)，在步骤二中，经由该输入接口(31)对该开关元件(159)的状态参数进行修改，修改后的开关元件(159)的状态参数经由该编译系统(32)编译后，经由该输出接口(33)下载至该微控制单元(21)；在步骤三中，该微控制单元(21)根据修改后的开关元件(159)的状态参数，控制当前所需测试的信号所对应的开关元件(159)导通，而其它信号所对应的开关元件(159)截止。
10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于：在步骤一中，该控制平台(30)预先对某一信号所对应的开关元件(159)的状态参数置“1”，对其他信号所对应的开关元件(159)的状态参数置“0”，该微控制单元(21)控制该状态参数置“1”的开关元件(159)导通，而状态参数置“0”的开关元件(159)截止；在步骤二中，对当前所需测试的信号所对应的开关元件(159)的状态参数置“1”，其它信号所对应的开关元件(159)的状态参数置“0”。
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