CN101430897A - 光学头、光盘装置以及集成电路 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光学头、光盘装置以及集成电路，即使在被记录的信息轨道和未被记录的信息轨道的边界上，也能够实现散焦的影响较小的光盘倾斜信号检测。受光元件7的受光区域具有区域13、7a至7d。倾斜检测器，根据第1差信号、即，从区域7a得到的信号和从区域7b得到的信号的差信号，和第2差信号、即，从区域7c得到的信号和从区域7d得到的信号的差信号，进行倾斜检测。

Description

光学头、光盘装置以及集成电路

本申请是申请号为“200510081950.2”，申请日为2005年7月8日，发明名称为“光学头、光盘装置以及集成电路”之申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种以光学方式在光盘等信息记录媒体上记录信息或者再生信息的光学头、具备光学头的光盘装置以及集成电路。

背景技术

作为以往的光盘用光学头，有一种如专利文献1(日本特开2003-45058号专利公开公报)所公开的光学头，具有检测光盘与光学头的光轴相对倾斜的功能。

图22是专利文献1所记载的以往的光学头的结构示意图。符号101表示光源，符号102表示光学头的光轴，符号103表示分光镜(beamsplitter)，符号104表示物镜，符号105表示光盘，符号106表示检测光学系统，符号107表示受光单元，符号108表示检测光盘的倾斜的倾斜检测单元，符号109表示信号演算单元，符号110表示将输入信号放大k0倍的放大器，符号111表示差动放大器，符号PP1、PP2表示信号演算单元109检测到的两个差信号，符号TILT表示倾斜检测单元108产生的倾斜检测信号。

图23是上述受光单元107的受光区域以及射入其中的光束的示意图。如图23所示，受光区域107由107a～107f六个区域构成，107a～107f各区域是分别检测与射入的光束112相对应的光量的区域。在光束112左右的圆弧所围成的两个区域112a、112b表示在光盘105的信息轨道槽衍射的衍射光的0次成分与±1成分重叠的区域。另外，图中的箭头方向表示信息轨道的方向。

如图22所示，光源101发出的激光穿过分光镜103，经物镜104聚光在光盘105的信息记录面上。光盘105反射的光线再次穿过物镜104，在分光镜103上反射。然后，该光线再经光学检测系统106而被引向受光单元107。

如图23所示，射入受光单元107的光束112由107a～107f受光区域分别受光后，再由信号演算单元109检测出差信号PP1和差信号PP2。如用各受光区域107a～107f的输出电信号来表示这两个差信号PP1和PP2，则结果如下：

PP1＝107c+107e—(107d+107f)

PP2＝107a—107b。

此关系式中的107a～107f表示的是各受光区域的输出电信号。

在倾斜检测单元108中，差信号PP1经放大器110放大k0倍后，由差动放大器111从差信号PP2中减去，然后作为信号TILT而输出。也就是说，信号TILT可以用

TILT＝PP2—k0*PP1

来表示(*表示乘号。以下相同)。此处，设定常数k0，以便用差信号PP1中产生的偏移对因物镜104的光轴与光学头光轴102的位置偏差所引起的差信号PP2的偏移进行补正。因此，信号TILT则成为不会产生因物镜104的位置偏差引起的偏移的信号。

在光盘105相对光学头的光轴102发生了倾斜时，光穿过光盘105的透明基片时会出现彗形象差(coma)现象。这种彗形象差主要使上述的来自信息轨道的衍射光的0次成分和±1次成分重叠的区域的波阵面发生变形。这种波阵面的变形，在检测差信号PP1的区域和检测差信号PP2的区域中有所不同，在这些区域检测到的信号，通过信息轨道而分别受到不同的调制。因此，这种调制的差异表示光盘的倾斜，并体现在信号TILT中。于是，通过检测光点追踪信息轨道中心时的信号TILT，则可以实现不易受到物镜104位置偏差影响的光盘倾斜检测。

然而，在前面所述的以往的光学头的结构中，存在这样一种课题，在被记录的信息轨道与没有被记录的信息轨道的反射率有所不同，例如，在相位变化型的光盘等中，光束中央部位的光的强度分布的对称性发生较大变化，在光盘倾斜检测信号中会产生检测误差。

由图24可知，通过在光束112中央部位的光量分布的对称性变化较大的区域(仅包含衍射光的0次成分的区域，或主要包含0次成分的区域)配置遮光区113(N区域)，则可以降低差信号PP1和差信号PP2的对称性变化的影响。

图25为光盘105的信息轨道截面的图案示意图。各信息轨道分别标注信息轨道编号1～9。

1～9号信息轨道中，4～6号为被记录的信息轨道，1～3号及7～9号为没有被记录的信息轨道。只有以影线标示的信息轨道4～6表示的是被进行了记录而反射率降低。

图26(a)(b)是就图24所示的受光区域，在图25所示的信息轨道图案周期性重复的情况下，对光点穿过这些1～9号信息轨道时产生的信号TILT电平进行模拟的结果。

而且，计算条件如下。即，光源的波长设为405nm，物镜的NA设为0.85，光盘的透明基片厚度设为100μm，信息轨道的间距为0.32μm，信息轨道槽的宽度为0.2μm，信息轨道的深度为1/12波长，被记录的信息轨道的反射率为0.6，没有被记录的信息轨道的反射率为1.0，光盘的倾斜为0deg。此外，检测信号PP2的受光区域107a与受光区域107b的信息轨道方向的宽度为光束直径的0.30，检测信号PP1的受光区域107c、107d、107e、107f的信息轨道方向的宽度为光束直径的0.60，而在其以外的区域则不作为计算条件来使用。另外，遮光区113(N区域)的信息轨道垂直方向上的宽度为光束直径的0.35。而且，还设定常数k0值，以便对上述的物镜的位置偏差为±100μm时所产生的偏移进行补正，此处取1.20。

计算结果如图26(a)(b)所示。图26(a)的3条折线是散焦量为0μm时，在物镜的位置偏差分别为0μm、±100μm的条件下计算的结果。另外，图26(b)的5根折线是物镜位置偏差为0μm时，在散焦量分别为0μm、±0.1μm、±0.2μm的条件下计算的结果。在这些图中，横轴对应的是图25的信息轨道编号，纵轴是将光盘倾斜检测信号TILT换算成光盘倾斜量所得到的值(单位：deg)。

根据图26(a)、(b)可知如下。即，在决定常数k0以控制物镜的位置偏差引起的光盘倾斜检测信号的变动的情况下，如图26(a)所示，物镜的光轴即使偏离了光学头的光轴，对于所有编号的轨道，均可将光盘倾斜检测信号即倾斜检测信号控制在足够小的程度。另一方面，在发生散焦的情况下，如图26(b)所示，尤其是位于被记录的信息轨道与没有被记录的信息轨道的边界上、即编号为3、4、6、7的轨道附近的光盘倾斜检测信号的电平会发生变动。因此，在被记录的信息轨道与没有被记录的信息轨道的边界上，就会出现像检测光盘倾斜一样的误差。

发明内容

本发明就是为了解决这一课题，其目的在于提供一种光学头、集成电路以及光盘装置，即使在被记录的信息轨道与没有被记录的信息轨道的边界上，也能够实现散焦的影响较小的光盘倾斜信号检测。

为解决上述问题，本发明提供了一种光学头，包括光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜和对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元，其中，上述受光单元包括被分割线和区划线分割成多个区域的光束射入区域，其中所述分割线和区划线分别为：通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线、与该纵分割线垂直且相对上述光轴而相互对称配置的直线状第1横分割线及第2横分割线、在上述两横分割线之间、以与上述纵分割线及上述两横分割线相隔的状态相对上述纵分割线而相互对称配置的第1区划线及第2区划线，上述第1区划线及第2区划线包括，与上述两横分割线平行的一对横线和连接该横线的纵分割线侧的端部的内侧线，上述光束射入区域，在上述两横分割线之间设置跨越上述纵分割线的N区域，同时，在上述两横分割线之间，由上述纵分割线划分出的一侧区域，被上述第1区划线分割为上述光轴侧的A2区域和剩余的A1区域，并且在上述两横分割线之间，由上述纵分割线划分出的另一侧区域被上述第2区划线分割为上述光轴侧的B2区域和剩余的B1区域，上述A1区域和上述B1区域相对纵分割线而相互对称配置，上述A2区域和上述B2区域相对纵分割线而相互对称配置，设置根据射入上述受光单元的光束射入区域的光量来检测上述物镜与上述光盘的相对倾斜的倾斜检测单元。

上述光学头最好是，上述A1区域和上述B1区域为主要检测上述光束的0次光和±1次衍射光重叠的区域的中央部的光量的区域。

上述光学头也最好是，上述A2区域和上述B2区域为主要检测上述光束的0次光和±1次衍射光重叠的区域除去了的上述中央部的部分的光量的区域。

上述光学头也最好是，上述第1区划线及上述第2区划线的内侧线，分别呈圆弧状，上述内侧线的曲率半径相对上述光束半径的比值在0.5以上1.2以下。

而且，上述光学头的结构可以是，上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的A1区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A2区域得到的信号和上述受光元件的B2区域得到的信号的差信号，进行倾斜检测。

上述光学头的结构也可以是，上述受光单元包括将上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光元件、和对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件，上述光束射入区域被设在上述分光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从在上述分光元件的A1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第2差信号、即从在上述分光元件的A2区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B2区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，进行倾斜检测。

上述光学头也最好是，上述光束射入区域具有相对上述纵分割线而相互对称配置的A3区域和B3区域，其中，上述A3区域是从相对上述纵分割线在A1区域侧的区域中，除去上述N区域和上述A1区域及上述A2区域的区域，上述B3区域是从相对上述纵分割线在B1区域侧的区域中，除去上述N区域和上述B1区域及上述B2区域的区域，以从上述A3区域得到的信号和从上述B3区域得到的信号的差信号为第3差信号，设置根据上述第1差信号与第2差信号的和信号及上述第3差信号而生成追踪误差信号的TE信号生成单元。

而且，本发明还提供另一种光学头，包括光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜和对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元，其中，上述受光单元包括被分割线和区划线分割成多个区域的光束射入区域，所述分割线和区划线分别为：通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线、以与该纵分割线相隔的状态相对上述纵分割线而相互对称配置的2条第1区划线及第2区划线、配置在上述纵分割线与第1区划线之间的第3区划线、和在上述纵分割线和第2区划线之间相对光轴而与上述第3区划线对称配置的第4区划线，其中，上述第1区划线及第2区划线包括，在上述纵分割线的垂直方向上延伸的一对横线和连接该横线的纵分割线侧的端部的内侧线，上述第3区划线及第4区划线包括，在上述纵分割线的垂直方向上延伸的一对横线和连接该横线的纵分割线侧的端部的内侧线，上述光束射入区域，设置跨越上述纵分割线的N区域，同时，相对上述第3区划线与上述光轴相反的一侧的区域，被上述第1区划线分割为第3区划线侧的A5区域和剩余的A1区域，相对上述第4区划线与上述光轴相反的一侧的区域，被上述第2区划线分割为第4区划线侧的B5区域和剩余的B1区域，上述A1区域和上述B1区域，相对上述纵分割线而相互对称配置，上述A5区域和上述B5区域，相对上述纵分割线而对称配置，设置根据射入上述受光单元的光束射入区域的光量来检测上述物镜与上述光盘的相对倾斜的倾斜检测单元。

上述光学头最好是，上述A1区域和上述B1区域为主要检测上述光束的0次光和±1次衍射光重叠的区域中的中央部的光量的区域。

上述光学头也最好是，上述A5区域和上述B5区域为主要检测上述光束的0次光和±1次衍射光重叠的区域中除去了上述中央部的部分的光量的区域。

上述光学头最好是，上述第1～第4区划线的上述内侧线，均形成圆弧状。

上述光学头也最好是，上述第3区划线及上述第4区划线的上述内侧线的曲率半径均与上述光束的半径相同。

而且，上述光学头的结构可以是，上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的A1区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A2区域得到的信号和从上述受光元件的B2区域得到的信号的差信号，进行倾斜检测。

上述光学头的结构也可以是，上述受光单元包括：将上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光元件、对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件，上述光束射入区域被设在上述分光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从在上述分光元件的A1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第2差信号、即从在上述分光元件的A2区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B2区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，进行倾斜检测。

上述光学头也最好是，上述光束射入区域具有相对上述纵分割线而相互对称配置的A6区域和B6区域，其中，上述A6区域是从相对上述纵分割线在A1区域侧的区域中，除去上述N区域和上述A1区域、上述A5区域的区域，上述B6区域是从相对上述纵分割线在B1区域侧的区域中，除去上述N区域和上述B1区域、上述B5区域的区域，以从上述A6区域得到的信号和从上述B6区域得到的信号的差信号为第3差信号，设置根据上述第1差信号与第2差信号的和信号及上述第3差信号而生成追踪误差信号的TE信号生成单元。

上述光学头也最好是，上述A5区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.55以上0.65以下，上述B5区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.55以上0.65以下，上述A1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.25以上0.35以下，上述B1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.25以上0.35以下，上述A1区域及上述B1区域之间的间隔相对受光光束直径的比值在0.4以上0.5以下，上述N区域在上述纵分割线垂直方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.2以上0.4以下，上述第1区划线的上述内侧线的曲率半径相对受光光束半径的比值在0.5以上1.2以下，上述第2区划线的内侧线的曲率半径相对上述受光光束半径的比值在0.5以上1.2以下。

而且，本发明还提供另一种光学头，包括光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜和对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元，其中，上述受光单元包括被各分割线分割成多个区域的光束射入区域，其中所述各分割线分别为：通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线、与该纵分割线垂直且相对上述光轴而相互对称配置的直线状第1横分割线及第2横分割线、在由上述纵分割线划分出的一侧区域内的上述两横分割线之间，互相隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第3横分割线和第4横分割线、在由上述纵分割线划分出的另一侧区域内的上述第1横分割线和第2分割线之间，互相隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第5横分割线和第6横分割线、和相对上述第1横分割线和上述第2横分割线在上述光轴相反的一侧，与这些横分割线平行配置的，且相对上述光轴而互相对称配置的第7横分割线和第8横分割线，其中，上述光束射入区域，在上述第1横分割线和上述第2横分割线之间设置跨越上述纵分割线的N区域，同时在由上述纵分割线划分出的一侧区域中的上述第1横分割线和第2分割线之间的区域，被分割为上述第3横分割线和上述第4分割线之间的A1区域和剩余的A7区域，而在由上述纵分割线划分出的另一侧区域中的上述第1横分割线和第2分割线之间的区域，被分割为上述第5横分割线和上述第6分割线之间的B1区域和剩余的B7区域，相对上述第7横分割线和上述第8分割线在上述光轴相反侧的区域被设为N2区域，上述A1领域和上述B1区域相对上述纵分割线而相互对称配置，上述A7区域和上述B7区域，相对上述纵分割线而相互对称配置，设置根据射入上述受光单元的光量来检测上述物镜和上述光盘的相对倾斜的倾斜检测单元。

上述光学头最好是，上述受光单元具有在上述光束射入区域相对上述纵分割线而相互对称配置的A8区域和B8区域，其中，上述A8区域是由上述纵分割线划分的一侧区域中，除去上述A1区域、上述A7区域、上述N区域和上述N2区域而形成的区域，上述B8区域是由上述纵分割线划分的另一侧区域中，除去上述B1区域、上述B7区域、上述N区域和上述N2区域而形成的区域。

上述光学头也最好是，以从上述A8区域得到的信号和从上述B8区域得到的信号之差信号为第3差信号，设置根据上述第1差信号与第2差信号的和信号及上述第3差信号，生成追踪误差信号的TE信号生成单元。

上述光学头也最好是，上述N区域在上述纵分割线垂直方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.35以上0.45以下，上述N区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.5以上0.6以下，上述A1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.2以上0.32以下，上述B1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.2以上0.32以下，上述N2区域间的间隔相对受光光束直径的比值在0.75以上0.85以下。

而且，本发明还提供另一种光学头，包括光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜和对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元，其中，上述受光单元包括被分割线和内侧线分割成多个区域的光束射入区域，所述分割线和内侧线分别为：通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线、在与该纵分割线垂直的方向上延伸且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第1横分割线、与这一对第1横分割线平行且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第2横分割线、在由上述纵分割线划分的一侧区域内的上述第1横分割线和上述第2横分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第3横分割线和第4横分割线、在由上述纵分割线划分的另一侧区域内的上述第1横分割线和上述第2横分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第5横分割线和第6横分割线、与上述纵分割线平行延伸且连接一侧的上述第1横分割线、上述第3横分割线、上述第4横分割线和一侧的上述第2横分割线的内侧端部的第1内侧线、与上述纵分割线平行延伸且连接另一侧的上述第1横分割线、上述第5横分割线、上述第6横分割线和另一侧的上述第2横分割线的内侧端部的第2内侧线、在相对上述第1横分割线和上述第2横分割线而与上述光轴相反的一侧，与这些横分割线平行配置且相对上述光轴而相互对称配置的第7横分割线和第8横分割线，其中，上述光束射入区域，在上述第1内侧线和上述第2内侧线之间设置跨越上述纵分割线的N区域，同时，由上述纵分割线划分的一侧区域中的、由上述第1横分割线、上述第2分割线和上述第1内侧线区划出的区域，被分割为上述第3横分割线和上述第4横分割线之间的A1区域和剩余的A7区域，由上述纵分割线划分的另一侧区域中的、由上述第1横分割线、上述第2分割线和上述第2内侧线区划的区域，被分割为上述第5横分割线和上述第6横分割线之间的B1区域和剩余的B7区域，相对上述第7横分割线和上述第8横分割线与上述光轴相反侧的区域，被设置为N2区域，上述一对第1横分割线和上述一对第2横分割线，相对上述光轴而对称配置，上述A1区域和上述B1区域相对上述纵分割线而对称配置，上述A7区域和上述B7区域，相对上述纵分割线而对称配置，并设置根据在上述受光单元中受光的光量来检测上述物镜和上述光盘的相对倾斜的倾斜检测单元。

上述光学头也最好是，上述A1区域和上述B1区域，是主要检测上述光束的0次光和±1次衍射光重叠的区域的中央部的光量的区域。

上述光学头也最好是，上述A7区域和上述B7区域，是主要检测上述光束的0次光和±1次衍射光重叠的区域中除去上述中央部的部分的光量的区域。

上述光学头也最好是，上述受光单元具有在上述光束射入区域中相对上述纵分割线而相互对称配置的A8区域和B8区域，其中，上述A8区域是由上述纵分割线划分的一侧区域中除去上述A1区域、上述A7区域、上述N区域和上述N2区域而形成的区域，上述B8区域是由上述纵分割线划分的另一侧区域中除去上述B1区域、上述B7区域、上述N区域和上述N2区域而形成的区域。

上述光学头也最好是，以从上述A8区域得到的信号和从上述B8区域得到的信号之差信号为第3差信号，设置根据上述第1差信号与第2差信号的和信号及上述第3差信号，生成追踪误差信号的TE信号生成单元。

上述光学头也最好是，上述N区域在与上述纵分割线垂直的方向上的宽度相对受光光束直径的比值在0.3以上0.4以下，上述N区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.54以上0.65以下，上述A1区域和上述B1区域之间的间隔相对受光光束直径的比值在0.35以上0.45以下，上述A1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.25以上0.38以下，上述B1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.25以上0.38以下，上述N2区域之间的间隔相对受光光束直径的比值在0.8以上0.92以下。

而且，上述光学头的结构可以是，上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的A1区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A7区域得到的信号和上述受光元件的B7区域得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

上述光学头的结构也可以是，上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的A1区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A7区域得到的信号和从上述受光元件的B7区域得到的信号的差信号，和第3差信号、即从上述受光元件的A8区域得到的信号和从上述受光元件的B8区域得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

上述光学头的结构也可以是，上述受光单元包括：将在上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光元件、对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件，上述光束射入区域被设在上述分光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从在上述分光元件的A1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第2差信号、即从在上述分光元件的A7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

上述光学头的结构也可以是，上述受光单元包括：将在上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光元件、对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件，上述光束射入区域被设在上述分光元件中，上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从在上述分光元件的A1区域中衍射、由上述受光元件检测的光束得到的信号和从在上述分光元件的B1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第2差信号、即从在上述分光元件的A7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第3差信号、即从在上述分光元件的A8区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B8区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

上述光学头也最好是，上述倾斜检测单元对上述第1差信号和上述第2差信号进行比较。

上述光学头也最好是，上述倾斜检测单元至少在上述第1差信号和上述第2差信号的其中之一乘以指定的权重系数之后，形成上述第1差信号和上述第2差信号的差信号。

上述光学头也最好是，上述倾斜检测单元根据上述第1差信号和上述第2差信号的相位或相位差来检测信号。

上述光学头也最好是，上述光盘，在被记录了信息的信息轨道和没有被记录信息的信息轨道上的光反射率各不相同。

而且，本发明还提供一种光盘装置，包括本发明所提供的上光学头、驱动光盘的光盘驱动单元、控制上述光学头和上述光盘驱动单元的控制单元。

而且，本发明还提供一种集成电路，根据来自上述光学头的上述受光单元的信号，导出与上述物镜和上述光盘的相对倾斜相对应的倾斜信号，其中，至少在第1差信号、即从上述受光单元的A1区域得到的信号和从上述受光单元的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光单元的A2区域得到的信号和从上述受光单元的B2区域得到的信号的差信号的其中之一乘以指定的权重系数后，生成上述第1差信号和上述第2差信号的差信号，再根据所生成的差信号导出上述倾斜信号。

而且，本发明还提供另一种集成电路，根据来自上述光学头的上述受光单元的信号，导出与上述物镜和上述光盘的相对倾斜相应的倾斜信号，其中，至少在第1差信号、即从上述受光单元的A1区域得到的信号和从上述受光单元的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光单元的A5区域得到的信号和从上述受光单元的B5区域得到的信号的差信号的其中之一乘以指定的权重系数后，生成上述第1差信号和上述第2差信号的差信号，再根据所生成的差信号导出上述倾斜信号。

而且，本发明还提供另一种集成电路，根据来自上述光学头的上述受光单元的信号，导出与上述物镜和上述光盘的相对倾斜相对应的倾斜信号，其中，至少在第1差信号、即从上述受光单元的A1区域得到的信号和从上述受光单元的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光单元的A7区域得到的信号和从上述受光单元的B7区域得到的信号的差信号的其中之一乘以指定的权重系数后，生成上述第1差信号和上述第2差信号的差信号，再根据所生成的差信号导出上述倾斜信号。

而且，本发明的集成电路最好是，设定上述权重系数，以便减小伴随上述物镜位置偏差而产生的差信号的偏移(offset)，以及在被记录了信息的信息轨道和没有记录信息的信息轨道的边界上所产生的差信号的偏移(offset)。

根据本发明，即使在相邻的信息轨道的反射率互不相同的情况下，也可以实现散焦或物镜位置偏差的影响较少、有较高准确度的光盘倾斜检测。

附图说明

图1是本发明实施例1的光学头的概略图。

图2是在上述光学头中设置的受光元件的受光区域示意图。

图3(a)是表示在上述光学头中设散焦量为0时，物镜的位置偏差对检测误差的影响的特性图，(b)是表示在上述光学头中设物镜的位置偏差为0时，散焦量对检测误差的影响的特性图。

图4(a)是概念性的表示光盘不倾斜时受光区域上的光量分布的说明图，(b)是概念性的表示光盘倾斜时受光区域上的光量分布的说明图。

图5是与图2相当的图，表示本发明实施例2的光学头中设置的受光元件的受光区域。

图6(a)是表示在本发明实施例2的光学头中设散焦量为0时，物镜的位置偏差对检测误差的影响的特性图，(b)是表示设物镜的位置偏差为0时，散焦量对检测误差的影响的特性图。

图7是本发明实施例3的光学头的概略图。

图8是与图2相当的图，表示本发明实施例3的光学头中设置的受光元件的受光区域。

图9是与图2相当的图，表示本发明实施例4的光学头中设置的受光元件的受光区域。

图10是与图2相当的图，表示本发明的其他实施例中受光元件的受光区域。

图11是与图2相当的图，表示本发明实施例5的光学头中设置的受光元件的受光区域。

图12是与图2相当的图，表示本发明实施例6的光学头中设置的受光元件的受光区域。

图13是本发明实施例7的光学头的概略图。

图14是本发明实施例7的光学头中设置的衍射元件的受光区域示意图。

图15是本发明实施例7的光学头中设置的受光元件的受光区域示意图。

图16是本发明的其他实施例的光学头中设置的衍射元件的受光区域示意图。

图17是本发明的其他实施例的光学头中设置的受光元件的受光区域示意图。

图18是本发明的其他实施例的光学头中设置的衍射元件的受光区域示意图。

图19是本发明的其他实施例的光学头中设置的受光元件的受光区域示意图。

图20是本发明的其他实施例中光学头中设置的衍射元件的受光区域示意图。

图21是本发明实施例8的光盘装置的概略示意图。

图22是以往的光学头的概略示意图。

图23是以往的光学头中设置的受光单元的受光区域的概略示意图。

图24是以往的光学头的其他受光单元的说明图。

图25是信息轨道的图案示意图。

图26(a)是表示在上述光学头中设散焦量为0时，物镜的位置偏差对检测误差的影响的特性图，(b)是表示设物镜的位置偏差为0时，散焦量对检测误差的影响的特性图。

具体实施方式

以下参照图示对本发明的最佳实施方式进行详细的说明。

(实施例1)

图1是本实施例的光学头的结构图。如图1所示，本光学头包括光源1、分光镜(beam splitter)3、物镜4、检测光学系统6、作为受光单元的一个示例的受光元件7、作为倾斜检测单元的一个示例的倾斜检测器(tiltdetector)8。倾斜检测器8包括具有信号演算单元9和相位差检测单元10的功能的集成电路11。在集成电路11，来自信号演算单元9的两个信号P1、P2被输出到相位差检测单元10。

光源1，例如是射出波长为405nm的光的光源。物镜4的开口数(NA)被设定为0.85。光学头的光轴2垂直于光盘5，物镜4被设置成光轴与该光轴2相一致。

光盘5的各部件如下所列举，即，透明基片的厚度为100μm、信息轨道的间距为0.32μm、信息轨道的槽(groove)的宽度为0.22μm、信息轨道的深度为1/12波长、被记录的信息轨道的反射率为0.6、没有被记录的信息轨道的反射率为1.0。该光盘5是所谓的相位变化型的光信息记录媒体。

由光源1发射出的激光透过分光镜3，从物镜4穿过光盘5的透明基片，而被聚光在信息记录面。在光盘5被反射的光束，再次穿过物镜4，被分光镜3反射，由检测光学系统6引向受光元件7，并在此被多个区域分割而被受光。

受光元件7的受光信号，被引向倾斜检测器8，并在信号演算单元9中得到演算，从而检测出2个推挽信号(push-pull signal)P1、P2。这些信号P1、P2被输入到相位差检测单元10中，由信息轨道引起的调制波形(modulated waveform)的相位差被检测出，并作为信号TL被输出。另外，作为一般的光学头，聚焦检测单元和追踪检测单元、信息信号检测单元等构成要素是必要的，但因在本发明的说明中并不需要，故省略其说明。

图2表示受光元件7的作为光束射入区域的受光区域，并以虚线表示射入到该受光区域的光束12的图案。如图所示，受光区域为长方形。另外，在图2中，信息轨道的切线方向被画成是上下方向。换言之，图的左右方向为光盘5的半径方向。

在光盘5反射时，信息轨道槽衍射的光束12的0次成分，受光于受光区域的大致中央部位。此外，在信息轨道槽衍射的衍射光的±1次成分，虽然也受光于受光区域，但该±1次成分被射入到偏离0次成分所对应的光盘5的半径方向的地方。该±1次成分，其一部分与0次成分重叠而受光于受光区域。图2所示的光束12由左右圆弧所包围的2个区域，表示该0次成分与±1次成分重叠的区域。

受光区域包括：作为A1区域的区域7a、作为B1区域的区域7b、作为A2区域的区域7c、作为B2区域的区域7d、作为A3区域的区域7e和7g、作为B3区域的区域7f和7h、作为N区域的区域13。

受光区域，由在与光盘5的信息轨道切线平行的方向上延伸的纵分割线61左右分割，该分割区域再由2条横分割线(第1横分割线和第2横分割线)62、63纵向分割为3个区域。纵分割线61在没有透镜移动的情况下穿过物镜4的光轴4a。第1横分割线62和第2横分割线63为与纵分割线61互相垂直，且相对物镜4的光轴4a而对称配置的直线。第1横分割线62和第2横分割线63的间隔，与所述0次成分和±1次成分重叠的区域的纵向宽度(以下简称“纵宽”)大体上一致。

所述区域13为被设置在只包含处于光束12中央部的衍射光0次成分或主要包含0次成分的区域上的遮光区。区域13为纵长方形，被设置在可将纵分割线61的一部分包括在内的受光区域的中央处，而位于第1横分割线62与第2横分割线63之间。

在第1横分割线62和第2横分割线63之间的区域之中、相对区域13而在图2左侧的区域，由第1区划线65分割成所述区域7a和7c，而相对区域13在图2右侧的区域，由第2区划线66分割成所述区域7b和7d。

区域7a和区域7b，相对区划线65、66位于物镜4的光轴4a的相反一侧。区域7a和区域7b左右离开区域13，相对于纵分隔线61而成左右对称。区域7a至7d的4个区域用于倾斜检测。

上述区域7c包括：区域7a和第1横分割线62之间的A21区域即区域7c1、区域7a和第2横分割线63之间的A22区域即区域7c2、连接区域7c1和区域7c2的A23区域即区域7c3。区域7c3设置于区域7a和区域13之间。

上述区域7d包括：区域7b和第1横分割线62之间的B21区域即区域7d1、区域7b和第2横分割线63之间的B22区域即区域7d2、连接区域7d1和区域7d2的B23区域即7d3。区域7d3设置于区域7b和区域13之间。

相对第1横分割线62与光轴4a相反的一侧的区域，由纵分割线61左右分割，左侧区域构成上述区域7e，右侧区域构成上述区域7f。

相对第2横分割线63与光轴4a相反的一侧的区域，由纵分割线61左右分割，左侧区域构成上述区域7g，右侧区域构成上述区域7h。区域7e、7g为从纵分割线61的左侧区域除去区域13、区域7a、区域7c的区域，区域7f、7h为从纵分割线61的右侧区域除去区域13、区域7b、区域7d的区域。

第1区划线65和第2区划线66分别包括：在垂直于纵分割线61的方向上延伸的一对横线65a、66a、65b、66b，和连接两横线65a、66a、65b、66b彼此内侧端部的圆弧形的内侧线65c、66c。而横线65a成为区域7a和7c1的边界，横线65b成为区域7a和区域7c2的边界，内侧线65c成为区域7a和7c3的边界。另外，横线66a成为区域7b和区域7d1的边界，横线66b成为区域7b和区域7d2的边界，内侧线66c成为区域7b和区域7d3的边界。

区域7a和区域7b的纵宽(信息轨道方向的最大宽度)，以在受光光束12直径的0.2倍以上0.5倍以下为宜，而在0.25倍以上0.35倍以下则为更佳。区域7a和区域7b的间隔，以在受光光束12直径的0.3倍以上0.6倍以下为宜，而在0.4倍以上0.5倍以下则为更佳。对于图2的受光元件7，设区域7a和区域7b的纵宽约为0.30，设区域7a和区域7b的间隔约为0.47。此外，构成区划线65、66的内侧线65c、66c的曲率半径，以大约在受光光束12半径的0.5倍以上1.2倍以下左右为宜。对于图2的受光元件7，大约为1.0倍。

从图2可知，区域7a和区域7b分别为包含受了光的衍射光(diffractedlight)的0次光和±1次光的重叠区域的大致中央部的区域。该中央部表示，由倾斜或透镜移动所引起的光量变化最显著的部位。

上述信号P1为从区域7a和区域7b得到的调制波形的差信号，即所谓的推挽信号。若用来自区域7a、7b的输出电信号S7a、S7b来表示该信号P1，则为

P1＝S7a—S7b。

上述信号P2为从区域7c和区域7d得到的调制波形的差信号，即所谓的推挽信号。若用来自区域7c、7d的输出电信号S7c、S7d来表示该信号P2，则为

P2＝S7c—S7d。

信号P1和信号P2的相位差随着光盘5的倾斜而发生变化，其变化方向基于光盘5的倾斜方向而为正或负。因此，若检测出该相位差和变化方向，则能够进行倾斜检测即光盘5的倾斜检测。具体地讲，根据信号P1和信号P2的相位或相位差，检测信号P1和信号P2的一方或双方信号，从这些信号来产生作为光盘倾斜检测信号的信号TL。相位差检测可采用普通的检测方法。例如，可将信号P1和信号P2，通过高通滤波器除去DC成分，然后在信号P1零交叉点的时机检测出信号P2的电平，作为倾斜信号TL而输出。

另外，与以往的技术相同，可设定指定的常数k，以补正由物镜4的光轴4a相对光学头的光轴2的位置偏差所产生的偏移，当通过

TL＝P1—k*P2

的运算而得出倾斜信号TL时，通过检测光点追踪(tracing)信息轨道时的倾斜信号TL的电平，即使是不易受物镜4的位置偏差影响的倾斜检测也成为可能。即，当物镜4在相对信息轨道方向垂直的方向上为可移动时，射入受光元件7的光束12则随着物镜4的移动，在受光元件7上左右移动。该光束12在受光区域上的移动距离，尽管是由物镜4的尺寸大小、受光元件7的尺寸大小、光学头各部件之间的距离、光学特性等因素决定，但对于通常的物镜4的移动，则以设受光区域上的光束12的移动距离为受了光的光束12的直径的±10％左右为宜。通过该程度的移动，在各区域7a至7d上受光的光的强度分别发生变化。此时，若区域7a、7b的受光强度增强，则区域7c、7d的受光强度会减弱。而且，虽然信号P1、P2也都在变化，但因各自的变化大小由区域7a至7d的形状而有所不同，因此，通过根据被适当设定的这些区域7a至7d的形状，选择使透镜移动时的倾斜信号TL(＝P1—k*P2)的变化变小的常数k，由此可减少物镜4的移动对倾斜信号TL的影响。

图3(a)及图3(b)是就图2所示的本实施例的受光元件7，与图25所示相同，假定反射率不同的信息轨道图案周期性重复，对光点横穿这些1～9的信息轨道时所产生的倾斜信号TL电平的变化进行了模拟实验的结果。而为了与以往的技术进行比较，假定倾斜信号TL是作为

TL＝P1—k*P2

而被检测的信号。

计算条件如下。即，光源的波长设为405nm、物镜的NA设为0.85、光盘的透明基片的厚度设为100μm、信息轨道的间距设为0.32μm、信息轨道的槽的宽度设为0.2μm、信息轨道的深度设为1/12波长、被记录的信息轨道的反射率为0.6、没有被记录的信息轨道的反射率为1.0、光盘的倾斜为0deg。

在该模拟实验中，将图2中的检测信号P1的区域7a(A1区域)和区域7b(B1区域)的纵宽(信息轨道的切线方向的宽度)对光束直径的比设为0.30、将区域7a和7b的间隔对光束直径的比设为0.47、将第1区划线65的内侧线65c的曲率半径及第2区划线66的内侧线66c的曲率半径设为与光束12的半径相同。另外，还将检测信号P2的区域7c、7d的纵宽(信息轨道方向的宽度)、即第1横分割线62与第2横分割线63的间隔设为光束直径的0.60倍。而在其以外的区域则不用于计算。此外，区域13(N区域)的横向宽度(以下简称为“横宽”)(垂直于信息轨道切线方向的宽度)对光束直径的比设为0.35。而且，还设定常数k值为1.14，以补正物镜位置偏差±100μm所产生的偏移。

图3(a)的3条折线是在散焦(defocus)量为0μm时，对物镜位置偏差0μm和±100μm进行计算所得。而图3(b)的5条折线是在物镜偏差为0μm时，对散焦量0μm、±0.1μm、±0.2μm进行计算所得。这些图中，横轴对应于图25的信息轨道号，纵轴为将倾斜信号TL换算成光盘倾斜量所得(单位：deg)。

图26(b)所示的以往的技术中，由散焦引起的光盘倾斜的检测误差最大为0.17deg(p—p)，而图3(b)所示的本实施例却为0.10deg(p—p)。这表明，在本实施例的受光元件7中，由于信号P1和信号P2乘以常数k的信号，对应于散焦和物镜位置偏差而产生大致相等的偏移，因此，作为光盘倾斜检测信号的倾斜信号TL，不易受散焦和物镜位置偏差双方的影响。另外，上述检测误差指的是，被记录的信息轨道和没有被记录的信息轨道的边界附近的检测信号的最大值(deg)和最小值(deg)之差值。

这样，在本发明中，通过将光束12中特别是散焦影响较大的区域即图2所示的区域7a、7b和区域13之间的区域，适当地分成信号P1和信号P2，由此可获得散焦和物镜位置偏差双方影响较少、有较高准确度的光盘倾斜检测信号。

在本实施例的倾斜检测器8中，虽然是根据作为第1差信号的信号P1和在作为第2差信号的信号P2上乘以常数k的信号，而产生了差信号TL，但取而代之，也可以是倾斜检测器8，至少将信号P1和信号P2的其中之一乘以指定的权重系数后，再生成信号P1和信号P2。即只要信号P1和信号P2相减时，各自的权重系数比为常数k即可。

另外，倾斜检测器8还具有用来比较第1差信号P1和第2差信号P2的大小的比较电路，亦通过该比较电路的比较结果，将光盘倾斜方向作为倾斜信号TL来检测，根据倾斜信号TL为1或0、或者为正或负，对物镜4的倾斜进行微调整，以进行相应于光盘倾斜量的倾斜补正。

即使在检测信号P1和信号P2的相位差时，亦可通过本发明的受光元件7而大幅减少将散焦和物镜4的位置偏差误作为光盘倾斜而输出的程度。

在此，区域7e至7h(即在光束12中除去了区域7a至7d和区域13(遮光区)的区域)，在本实施例中并不用于倾斜检测。这是因为要在后述(实施例3)中用于其他目的。因此亦可省略区域7e至7h。

图4(a)(b)是表示光盘倾斜时受光元件7上的光量分布变化的图案示意图。如图4(a)所示，光盘没有倾斜时，0次光和±1次光重叠的区域12a、12b的光量分布左右区域大致相同，而区域12a、12b内的光量分布也大致相同。与此相对，如图4(b)所示，在光盘处于倾斜状态时，左右区域12a、12b的其中之一的中央部的光量减少，而另一方区域12b、12a的中央部的光量则增加。

即光盘倾斜量增加时，0次光和±1次光重叠的区域12a、12b的中央部的光量变化也增加，信号P1有正或负增加，而信号P2则以相反符号增加，因此，通过相减两者所得到的倾斜信号TL，能够检测出光盘的倾斜。

另外，上述的说明是光点追踪信息轨道的情况，而当光点在垂直信息轨道的方向上移动时(横穿信息轨道时)，左右区域的光量将随着光点位置而发生变化。

受光区域的分割形状，从本实施例中的说明可知，并不局限于图2的例子。也就是说，重要的是怎样在区域7a和区域7c分配对光束12中的0次光和±1次光进行受光的区域，分割线形状为图2所示形状之外亦可。

(实施例2)

图5表示应用于本发明实施例2的光学头的受光元件17的受光区域。17a至17d分别为被分割的受光区域。另外，由于本实施例与上述实施例1类似，所以对相同的构成要素标注与图1、图2相同的符号，并对不相同部分进行说明，而省略其他说明。

区域17a和区域17b的纵宽(信息轨道方向的最大宽度)在受光光束12直径的0.2倍以上0.5倍以下为宜，而在0.25倍以上0.35倍以下则为更佳。区域17a和区域17b的间隔在受光光束12直径的0.3倍以上0.6倍以下为宜，而在0.4倍以上0.5倍以下则为更佳。对于图5的受光元件17，设区域17a和区域17b的纵宽约为0.30，设区域17a和区域17b的间隔约为0.47。此外，构成区划线65、66的内侧线65c、66c的曲率半径，在图5的受光元件17的情况下，约为0.5倍。

信号TL作为

TL＝P1—k*P2

而被检测。在此，信号P1和信号P2，使用各受光区域17a～17d的输出电信号S17a～S17d，以

P1＝S17a—S17b

P1＝S17c—S17d

来表示。

图6(a)、(b)，是就图5所示的本实施例2的受光元件17，与实施例1相同，对信号TL电平进行了模拟实验的结果。该计算条件与实施例1相同。

在该模拟实验中，将图5中的检测信号P1的区域17a(A1区域)和区域17b(B1区域)的纵宽(信息轨道的切线方向宽度)对光束直径的比设为0.30，将区域7a和区域7b的间隔对光束直径的比设为0.47，将第1区划线65的内侧线65c的曲率半径及第2区划线66的内侧线66c的曲率半径设为光束12半径的1/2。而将检测信号P2的区域17c、17d的纵宽设为光束直径的0.60倍。另外，其外侧的区域不用于计算。并且，还将区域13(N区域)的横宽对光束直径的比设为0.35。决定常数k值并设为1.15，以补正物镜位置偏差±100μm所产生的偏移。

图6(b)所示的本实施例2中，由散焦引起的光盘倾斜检测误差为0.08deg(P—P)，可以说，该受光元件17的光盘倾斜检测信号TL，即使与实施例1的受光元件7相比较，也不易受到散焦和物镜位置偏差双方的影响。

这表明，区域17a(A1区域)和区域17c(A2区域)的分界线、即第1区划线65，区域17b(B1区域)和区域17d(B2区域)的分界线、即第2区划线66分别位于光束12内特别是散焦影响较大的区域附近，并且，因其区域在信息轨道方向也有分布，因此不仅可通过改变区域17a(A1区域)和区域17b(B1区域)的间隔，也可通过将区划线设为适当的形状，从而获得有较高准确度的光盘倾斜检测信号。

从上述说明可知，受光元件17的分割形状并不局限于图5的示例。即，重要的是怎样在A1区域和A2区域中分配光束12的0次光±1次光的受光区域，一般来说，如果将光束12的0次光和±1次光的重叠区域即区域17a(A1区域)受光的面积、和光束12的0次光和±1次光重叠区域即17c(A2区域)受光的面积的比设为0.6～1.5左右时，区域17a～17d的形状亦可为图5所示形状以外的形状。

(实施例3)

图7是表示本发明实施例3的光学头的概略图。图7中，与图1相同的构成要素标注上与图1相同的符号，并省略其说明。以下，对与图1不同的构成要素进行说明。

作为受光单元的一个示例的受光元件27，与集成电路28a的信号演算29通信连接，其中所述集成电路28a设于作为信号检测单元的一个示例的信号检测器28中。在信号检测器28中，设置有放大器31和32、差动放大器33和34、加法放大器35。

由信号演算单元29输出3个差信号P1、P2、P3。放大器31将信号演算单元29输出的输入信号P2放大k1倍。放大器32，将信号演算单元29输出的输入信号P3放大k2倍。信号检测器28，输出光盘倾斜检测信号即倾斜信号TL和追踪误差信号TE。

图8表示受光元件27的受光区域。该受光区域被分割的分割图案，与图1的受光元件7的分割图案相同。即受光区域分割成区域27a～27h，同时也设有作为遮光区而形成的区域13(N区域)。区域13被配置在只包含存在于光束12中央部的衍射光的0次成分或主要包含0次成分的区域。

在受光元件27检测到的信号被引向信号检测器28，并在信号演算单元29中予以演算，从而检测出3个推挽信号P1、P2、P3。

信号P1是在区域27a、27b检测出的推挽信号，信号P2是在区域27c、27d检测出的推挽信号，信号P3是在区域27e～27h检测出的推挽信号。若将这些信号P1、P2、P3，用来自各区域27a～27h的输出电信号S27a～S27h来表示，则为

P1＝S27a—S27b

P2＝S27c—S27d

P3＝S27e+S27g—(S27f+S27h)。

信号P1和信号P2是为了检测衍射光的0次成分和±1次成分重叠区域的光而受到信息轨道调制的信号。另一方面，信号P3则检测只包含衍射光的0次成分或主要包含0次成分的区域的光，几乎不受信息轨道的调制。因此，根据物镜4的位置偏差，检测与在受光元件27上移动的光束12的位置相对应的信号。

光盘5存在倾斜时，信号P1和信号P2的相位差发生变化，其变化方向基于光盘倾斜的方向而为正或负。因此，与实施例1相同，如果检测出该相位差和方向，则能够检测出光盘的倾斜。

而且，信号P2由放大器31放大k1倍后，通过差动放大器33从信号P1中减去，而作为倾斜信号TL被输出。即倾斜信号TL通过

TL＝P1—k*P2

的运算而得出。另外，与实施例1相同，设定指定的常数k，以补正物镜4的光轴相对光学头的光轴2的位置偏差所产生的偏移。

对于此受光元件27产生的光盘倾斜信号，由于用于光盘倾斜检测的区域27a～27d的形状和实施1相同，所以，显然也不易受到散焦和物镜位置偏差双方的影响，故省略详其细说明。

信号P1和信号P2的和信号为，因光盘倾斜产生的波形的零交叉点(zero crossing)偏差较小的信号。关于该信号P1和信号P2的和信号，可以通过利用信号P3补正物镜位置偏差所引起的偏移，而作为追踪误差信号来使用。即如图7所示，通过差动放大器34，从加法放大器35产生的信号P1和信号P2的和信号中，减去由放大器32放大k2倍的信号P3，由此得到物镜位置偏差或光盘倾斜产生的波形的零交叉点偏差较小且稳定的追踪误差信号TE。即信号TE可通过

TE＝(P1+P2)—k2*P3

的运算而得出。换言之，通过加法放大器35、放大器32、差动放大器34而构成产生追踪误差信号的TE信号生成单元。而且还设定常数k2，以补正因物镜的位置偏差而在信号P1和信号P2的和信号中产生的偏移。

因此，通过利用信号TE进行追踪控制，并测定光点追踪信息轨道时的倾斜信号TL，从而可以检测光盘倾斜。

上述的说明中，是在信号P1和信号P2的和信号(P1+P2)、第3差信号P3的后者上乘以上述常数k2而生成追踪误差信号TE的，但也可以在和信号(P1+P2)和第3差信号P3的至少一方乘以指定的权重系数后，生成和信号和第3差信号P3的差信号。也就是，将和信号(P1+P2)和第3差信号P3进行相减时，各自的权重系数的比为常数k2即可。

而且，在上述的说明中，即设定指定的常数k1，以补正物镜4的光轴位置偏差所产生的偏移，又设定指定的常数k2，以补正因物镜位置偏差而在信号P1和信号P2的和信号中产生的偏移，但也并不局限于此。例如，信号TL也可通过以下的计算式，即

TL＝TL1—TL2

TL1＝P1—k3*P2

P1＝S27a—S27b

P2＝S27c—S27d

TL2＝S27e+S27g—k4*(S27f+S27h)

而得出。在此演算中设定常数k3、k4时，可以首先设定常数k3，以使移动物镜时的TL1信号AC振幅达到最小，然后设定常数k4，以使TL信号的偏移变动在指定范围内。这样，则可抑制偏离轨道时倾斜信号TL的电平的变动，同时也可抑制透镜移动所产生的倾斜信号TL的误差变动。

另外，追踪误差信号TE也可以根据以下计算式

TE＝P1+P2

而得出。此时，由加法放大器35构成TE信号生成单元。

(实施例4)

图9和图10，表示应用于本发明实施例4的光学头的受光元件37的受光区域。在此，与实施例1相同的构成要素标注上相同的符号，并省略其说明。

在受光区域设有：作为A1区域的区域37a、作为B1区域的区域37b、作为A5区域的区域37c、作为B5区域的区域37d、为A6区域的区域37e、作为B6区域的区域7f、作为N区域的区域13。

受光区域由纵分割线61左右分割。其左侧区域形成有区域37a、区域37c、区域37e。区域37a和区域37c由第1区划线65分割。换言之，相对第3区划线67而与光轴4a相反的一侧区域，由第1区划线65分割成第3区划线67侧的区域37c和区域37a。而纵分割线61的左侧区域，则由第3区划线67分割成区域37c和区域37e。

另一方面，纵分割线61的右侧区域形成有区域37b、区域37d、区域37f。区域37b和区域37d由第2区划线66分割。换言之，相对第4区划线68而与光轴4a相反的一侧区域，由第2区划线66分割成第4区划线68侧的区域37d和区域37b。而纵分割线61的右侧区域，则由第4区划线68分割成区域37d和区域37f。

区域13形成为纵长方形，并设置在只包含存在于光束12中央部的衍射光0次成分或主要包含0次成分的区域。

区域37a和区域37b与区域13相隔，在区域13的纵宽范围内相对于纵分隔线61而对称配置。区域37c和区域37d也相对于纵分隔线61而对称配置。区域37a及区域37b与实施例1中的区域7a及区域7b结构相同。

第1区划线65和第2区划线66分别包括，在垂直于纵分割线61的方向上延伸的一对横线65a、66a、65b、66b和彼此连接两横线65a、66a、65b、66b的内侧端部的圆弧形的内侧线65c、66c。

第3区划线67和第4区划线68分别包括，在垂直于纵分割线61的方向上延伸的一对横线67a、68a、67b、68b和彼此连接两横线67a、68a、67b、68b的内侧端部的圆弧形的内侧线67c、68c。横线67a、68a、67b、68b配置在射入光束12的0次光和±1次光重叠区域的端部附近。内侧线67c、68c配置在紧邻射入光束12的0次光和±1次光重叠区域的纵分割线61侧，其中央部分别与区域13相接，另一方面，在此中央部的两侧与区域13相隔。该内侧线67c、68c的曲率半径，与受光光束12的半径大致相同。另外，内侧线67c、68c亦可不与区域13相接。

区域37c包括作为一对A51区域的一对区域37c1和作为连接两区域37c1的A52区域的区域37c2，从三个方向包围区域37a。区域37c1与区域37a在信息轨道切线方向的两侧邻接配置。换言之，区域37a在纵分割线61的延伸方向上被两区域37c1所夹。区域37c2则在形成弯曲形状的同时，又沿着光束12的±1次光的外围而设置在区域37a和区域13之间。

区域37d包括作为一对B51区域的一对区域37d1和作为连接两区域37d1的B52区域的区域37d2，从三个方向包围区域37b。区域37d1与区域37b在信息轨道切线方向的两侧邻接配置。换言之，区域37b在纵分割线61的延伸方向上被两区域37d1所夹。区域37d2则在形成弯曲形状的同时，又沿着光束12的±1次光的外围而设置在区域37b和区域13之间。

区域37e在纵分割线61左侧的区域中而形成于区域37c外侧。另一方面，区域37f在纵分割线61右侧的区域中而形成于区域37d外侧。

区域37a、37b分别包含受了光的衍射光的0次光和±1次光重叠区域的大致中央部分，是0次光和±1次光的受光区域。而区域37c、37d则是除去0次光和±1次光重叠区域的中央部以外的0次光和±1次光的受光区域。另一方面，区域37e、37f是仅对光束12的0次光、或主要对0次光进行受光的区域。

例如，比较图9所示的受光区域和图8所示的受光区域可知，区域27c(A2区域)和区域37c(A5区域)的形状不同，区域27d(B2区域)和区域37d(B5区域)的形状也不同。在该不同的部位、即从区域27c、27d中除去并被纳入区域37e、37f的约呈三角形的区域中，由于几乎不受信息轨道的调制，所以，几乎对光盘倾斜检测信号即倾斜信号TL无影响。另一方面，该约呈三角形的区域，由于受被记录·未被记录的信息轨道边界的影响轻微，这样，通过将划分为区域37e、37f的区域设定成适当的形状·大小，则可以不使光盘倾斜检测性能降低，而使追踪误差信号在被记录·未被记录的信息轨道边界上的影响减小。为此，有必要随着区域37c、37d的面积减少而相应的减少区域37a、37b的面积。具体而言，可以扩大区域37a和区域37b间的间隔或减小区域37a及区域37b的纵宽，或同时采用这两种方法。

此处，对本实施例4的受光元件37，就散焦引起的光盘倾斜的检测误差的模拟实验结果进行说明。该模拟实验，与实施例1中的说明相同，如表1所示，附上5项条件作为计算条件来进行计算。所附条件的项目为：

1)区域37c(A5区域)的纵宽(＝区域37d(B5区域)的纵宽)

2)区域37a(A1区域)的纵宽(＝区域37b(B1区域)的纵宽)

3)区域37a(A1区域)与区域37b(B1区域)之间的间隔

4)区域13(N区域)的横宽

5)区划线65、66的内侧线65c、66c的曲率半径。

表中各项目的数字，1)至4)表示相对受光光束12直径的比值，5)表示相对受光光束12半径的比值。此外，检测误差用将光盘倾斜检测信号即倾斜信号TL换算成光盘倾斜量所得(单位：deg)来表示。其他计算条件与实施例1中的说明相同。

表1

 

	例1	例2	例3	例4	例5	例6
							1)区域37c、37d的纵宽	0.60	0.60	0.60	0.60	0.60	0.70
2)区域37a、37b的纵宽	0.30	0.30	0.30	0.30	0.40	0.30
							3)区域37a、37b间的间隔	0.47	0.47	0.47	0.53	0.47	0.47
4)区域13的横宽	0.35	0.35	0.25	0.35	0.35	0.35
							5)内侧线65c、66c的曲率半径	0.5	1.0	0.5	0.5	0.5	0.5
检测误差	0.082	0.096	0.090	0.186	0.210	0.193

例2至例6，任何一例的项目与其他各例不同，而例1没有与其他例不同的项目。具体而言，例2的5)与其他例不同，例3的4)与其他例不同，例4的3)与其他例不同，例5的2)与其他例不同，例6的1)与其他例不同。其中，例1是5)的曲率半径为0.5的图10所示的例子，例2是5)的曲率半径为1.0的图9所示的例子。

由该模拟试验的结果可知，例1至例3中，检测误差为0.082～0.096deg(p-p)，与以往技术的0.17deg相比减小了一半，是良好的结果。与此相对，例4至例6与以往技术相比难说较好。综合以上结果，1)区域37c、37d的纵宽相对光束直径的比值以在0.55以上0.65以下为宜，2)区域37a、37b的纵宽相对光束直径的比值以在0.25以上0.35以下为宜，3)区域37a、37b间的间隔相对光束直径的比值以在0.4以上0.5以下为宜，4)区域13的横宽相对光束直径的比值以在0.2以上0.4以下为宜，5)内侧线65c、66c的曲率半径相对光束半径的比值以在0.5以上1.2以下为宜。若在以上的这些数值范围内，则即使在被记录了信息的信息轨道和未被记录信息的信息轨道的边界上，也可以不易受到散焦和物镜双方的影响。

受光元件37的受光区域的分割形状，从上述说明中可知，并不局限于图9及图10的例子。光束12中0次光与±1次光重叠的区域，在A1区域和A5区域中如何分布则很重要，而分割线的形状亦可为图9及图10所示形状以外的形状。

此外，本实施例4的受光元件37，即可与图1所示的倾斜检测器8电连接，亦可与图7所示的信号检测器28电连接。

其他的结构、作用及效果与实施例1相同。

(实施例5)

图11表示应用于本发明实施例5的光学头的受光元件47的受光区域。此处，与实施例1相同的构成要素标注上相同的符号，省略其说明。

受光区域设有，作为A1区域的区域47a、作为B1区域的区域47b、作为A7区域的区域47c、作为B7区域的区域47d、作为A8区域的区域47e、作为B8区域的区域47f、作为N区域的区域13和作为N2区域的区域14。

受光区域被纵分割线61左右分割，同时，设有跨越该纵分割线61两侧的区域13。该区域13设于与纵分割线61垂直的第1横分割线62与第2横分割线63之间。区域13在纵分割线方向的宽度(纵宽)与第1横分割线62和第2横分割线63的间隔一致，而在与纵分割线61垂直方向的宽度(横宽)比衍射光的0次成分和±1次光重叠的左右区域间的间隔略窄。

区域13的左侧区域，在纵分割线61的延伸方向上被与横分割线62、63平行的第3横分割线64a及第4横分割线64b分割为3个区域。其中，中间的区域形成上述区域47a，其两侧的区域形成上述区域47c。

区域13的右侧区域，在纵分割线61的延伸方向上被与横分割线62、63平行的第5横分割线64c及第6横分割线64d分割为3个区域。其中，中间的区域形成上述区域47b，其两侧的区域形成上述区域47d。区域47a和区域47b即相对纵分割线61而相互对称配置，又分别与区域13相邻接。此外，区域47c和区域47d即相对纵分割线61而相互对称配置，又分别与区域13相邻接。

区域47a、47b分别包含受了光的衍射光的0次光和±1次光重叠区域的大致中央部，是0次光和±1次光的受光区域。区域47c、47d则是除去0次光和±1次光重叠区域的中央部以外的0次光和±1次光的受光区域。

相对第1横分割线62而与上述光轴4a相反的一侧区域，被与第1横分割线62平行的第7横分割线64e所分割。另一方面，相对第2横分割线63而与上述光轴4a相反的一侧区域，被与第2横分割线63平行的第8横分割线64f所分割。第7横分割线64e和第8横分割线64f相对光轴4a对称配置。而相对第7横分割线64e及第8横分割线64f与光轴4a相反的一侧区域被设为上述区域14。

区域14由不检测射入光束12的遮光区构成。这样，通过在区域13的上下两侧设置由遮光区构成的区域14，可容易地调整用于分别补正伴随物镜的位置偏差产生的追踪误差信号的偏移、和在被记录了信息的信息轨道及未被记录信息的信息轨道的边界上产生的追踪误差信号的偏移的系数。

第1横分割线62和第7横分割线64e之间的区域被纵分割线61左右分割，同时，第2横分割线63和第8横分割线64f之间的区域也被纵分割线61左右分割。而且，在第1横分割线62及第7横分割线64e间的区域和第2横分割线63及第8横分割线64f间的区域中，纵分割线61左侧的区域为上述区域47e，右侧的区域为上述区域47f。换言之，区域47e和区域47f相对第1横分割线62及第2横分割线63而形成于光轴4a的相反侧。该区域47e、47f是仅对光束12的0次光、或主要对0次光进行受光的区域。

在受光元件47检测到的信号，被引向信号检测器，从而检测出3个推挽信号P1、P2、P3。

信号P1是在区域47a、47b检测的推挽信号，信号P2是在区域47c、47d检测的推挽信号，信号P3是在区域47e、47f检测的推挽信号。若用来自各区域47a至47f的输出电信号S47a至S47f来表示信号P1、P2、P3，则有

P1＝S47a—S47b

P2＝S47c—S47d

P3＝S47e—S47f。

而倾斜信号TL则可由

TL＝P1—k1*P2

演算而得。

另外，取而代之，还可采用倾斜信号TL通过

TL＝P1—k1*P2—k2*P3

的演算而得到的结构。该结构中，在设定常数k1、k2时，亦可首先设定常数k1以便使物镜移动时的P1—k1*P2的AC振幅达到最小，然后再设定常数k2以便使倾斜信号TL的偏移变动在指定范围内。这样，即可以抑制偏离轨道时的倾斜信号TL的电平变动，又可以抑制透镜移动(1ensshift)所引起的倾斜信号TL的误差变动。

此外，在信号检测器中，作为检测以下2个推挽信号P1、P2

P1＝S47a—S47b

P2＝S47c+S47e—(S47d+S47f)

的结构，也可以是倾斜信号TL通过

TL＝P1—k1*P2

的运算而得到的结构。

此处，对本实施例5的受光元件47，就散焦引起的光盘倾斜的检测误差的模拟实验结果进行说明。在此模拟试验中，用上述的计算式

TL＝P1—k1*P2

导出信号TL。

在此模拟试验中，如表2所示，附上4项条件作为计算条件来进行计算。所附条件的项目为：

1)区域13(N区域)的横宽(＝区域47a(A1区域)和区域47b(B1区域)之间的间隔)

2)区域13(N区域)的纵宽(＝区域47a(A1区域)和区域47c(区域A7)的合计纵宽)

3)区域47a(A1区域)的纵宽(＝区域47b(B1区域)的纵宽)

4)区域14(N2区域)间的间隔(＝区域47a(A1区域)、区域47c(A7区域)和区域47e(A8区域)的合计纵宽)。

表中的数字表示相对受光光束12直径的比值。另外，表中的TE平衡表示追踪误差信号稳定性的指标，是表示追踪误差信号的零交叉点的偏差量。

表2

 

	例1	例2	例3	例4	例5
						1)区域13的横宽	0.40	0.36	0.40	0.40	0.40
2)区域13的纵宽	0.54	0.54	0.54	0.54	0.60

 

3)区域47a、47b的纵宽	0.26	0.26	0.26	0.32	0.26
						4)区域14、14间的间隔	0.80	0.80	0.85	0.80	0.80
检测误差	0.070	0.065	0.069	0.074	0.075
						TE平衡	0.0226	0.0298	0.0268	0.0226	0.0240

例2至例5，任何一例的项目与其他各例不同，而例1没有与其他例不同的项目。具体而言，例2的1)与其他例不同，例3的4)与其他例不同，例4的3)与其他例不同，例5的2)与其他例不同。

由该模拟试验的结果可知，本实施例的受光元件47，任一例的检测误差都在0.065～0.075deg(p-p)之间，与以往的技术的0.17deg(p-p)相比减小了4成，是非常良好的结果。

因此，1)区域13的横宽相对光束直径的比值以在0.35以上0.45以下为宜，而在0.36以上0.40以下则为更佳。2)区域13的纵宽相对光束直径的比值以在0.5以上0.6以下为宜，而在0.54以上0.60以下则为更佳。3)区域47a、47b的纵宽相对光束直径的比值以在0.2以上为宜，而在0.26以上则为更佳。并且，该比值以在0.32以下为宜，而在0.30以下则为更佳。4)区域14、14间的间隔相对光束直径的比值以在0.75以上0.85以下为宜，而在0.80以上0.85以下则为更佳。若在以上的这些数值范围内，则即使在被记录了信息的轨道和未被记录信息的轨道的边界上，也可以不易受到散焦和物镜双方的影响。

其他的结构、作用及效果与实施例4相同。

(实施例6)

图12表示应用于本发明实施例5的光学头的受光元件57的受光区域。此处，与实施例1相同的构成要素标注上相同的符号，省略其说明。

受光区域设有，作为A1区域的区域57a、作为B1区域的区域57b、作为A7区域的区域57c、作为B7区域的区域57d、作为A8区域的区域57e、作为B8区域的区域57f、作为N区域的区域13和作为N2区域的区域14。

受光区域中设有相对纵分割线61而对称配置的一对第1横分割线62a、62b，和同样相对纵分割线61而对称配置的一对第2横分割线63a、63b。这些横分割线62a、62b、63a、63b均为配置成在纵分割线垂直方向上延伸的直线状。而且，一对第1横分割线62a、62b和一对第2横分割线63a、63b，还相对上述光轴4a而对称配置。

相对第1横分割线62a、62b与光轴4a相反的一侧设有与该第1横分割线62a、62b平行的第7横分割线64e，相对第2横分割线63a、63b与光轴4a相反的一侧设有与该第2横分割线63a、63b平行的第8横分割线64f。第7横分割线64e和第8横分割线64f相对光轴4a而对称配置。相对第7横分割线64e及第8横分割线64f与光轴4a相反的一侧区域设为上述区域14。

在图12的纵分割线61的左侧区域中，第1横分割线62a和第2横分割线63a之间的区域，设有互相隔开间隔而与其平行配置的直线状第3横分割线64a及第4横分割线64b。而且，还设有分别连接第1横分割线62a、第3横分割线64a、第4横分割线64b及第2横分割线63a的内侧端部而与纵分割线61平行的直线状第1内侧线69a。

在该左侧区域中，由第1横分割线62a、第1内侧线69a和第2横分割线63a区划的矩形区域，被分割为第3横分割线64a及第4横分割线64b之间的上述区域57a和其两侧的上述区域57c。此外，该左侧区域中除去区域57a、区域57c、区域13、区域14的区域则形成上述区域57e。

在图12的纵分割线61的右侧区域中，第1横分割线62b和第2横分割线63b之间的区域，设有互相隔开间隔而与其平行配置的直线状第5横分割线64c及第6横分割线64d。而且，还设有分别连接第1横分割线62b、第5横分割线64c、第6横分割线64d及第2横分割线63b的内侧端部而与纵分割线61平行的直线状第2内侧线69b。

在该右侧区域中，由第1横分割线62b、第2内侧线69b和第2横分割线63b区划的矩形区域，被分割为第5横分割线64c及第6横分割线64d之间的上述区域57b和其两侧的上述区域57d。此外，该右侧区域中除去区域57b、区域57d、区域13、区域14的区域则形成上述区域57f。

区域57e具有作为A81区域的区域57e1和作为A82区域的区域57e2。区域57e1在信息轨道的切线方向上设有2个，在两区域57e1之间配置有区域57a、区域57c及区域13。区域57e2形成于第1内侧线69a和区域13之间。而且，该区域57e2还形成为在区域13与区域57a、57c之间连接两区域57e1。换言之，区域57a、区域57c是与区域13相隔的。

区域57a和区域57b相对纵分割线61而对称配置，区域57c和区域57d相对纵分割线61而对称配置。

区域57f具有作为B81区域的区域57f1和作为B82区域的区域57f2。区域57f1在信息轨道的切线方向上设有2个，在两区域57f1之间配置有区域57b、区域57d及区域13。区域57f2形成于第2内侧线69b和区域13之间。而且该区域57f2还形成为在区域13与区域57b、57d之间连接两区域57f1。换言之，区域57b、区域57d是与区域13相隔的。

区域57e2、57f2跨越只对衍射光0次光受光的区域及0次光和±1次光重叠的区域。区域13，则设置于只包含存在于光束12中央部的衍射光0次成分或主要包含0次成分的区域中。

在受光元件57检测到的信号，被引向信号检测器，从而检测出3个推挽信号P1、P2、P3。

信号P1是在区域57a、57b中检测的推挽信号，信号P2是在区域57c、57d中检测的推挽信号，信号P3是在区域57e、57f中检测的推挽信号。若用来自各区域57a至57f的输出电信号S57a～S57f来表示信号P1、P2、P3，则有

P1＝S57a—S57b

P1＝S57c—S57d

P3＝S57e—S57f。

而倾斜信号TL则可通过

TL＝P1—k1*P2

的运算而得。

另外，取而代之，还可采用倾斜信号TL通过

TL＝P1—k1*P2—k2*P3

的运算而得到的结构。该结构中，在设定常数k1、k2时，亦可首先设定常数k1以便使物镜移动时的P1—k1*P2的AC振幅达到最小，然后再设定常数k2以便使倾斜信号TL的偏移变动在指定范围内。

此处，对本实施例6的受光元件57，就散焦引起的光盘倾斜的检测误差的模拟实验结果进行说明。在此模拟试验中，用上述计算式

TL＝P1—k1*P2

导出倾斜信号TL。

在此模拟试验中，如表3所示，附上5项条件作为计算条件来进行计算。所附条件的项目为：

1)区域13(N区域)的横宽

2)区域13(N区域)的纵宽(＝区域57a(A1区域)和区域57c(区域A7)的合计纵宽)

3)区域57a(A1区域)与区域57b(B1区域)之间的间隔

4)区域57a(A1区域)的纵宽(＝区域57b(B1区域)的纵宽)

5)区域14(N2区域)间的间隔(＝区域57a(A1区域)、区域57c(A7区域)和区域57e(A8区域)的合计纵宽)。

表中的数字表示相对受光光束12直径的比值。

表3

 

	例1	例2	例3	例4	例5	例6
							1)区域13的横宽	0.35	0.30	0.35	0.35	0.35	0.35
2)区域13的纵宽	0.60	0.60	0.60	0.60	0.60	0.54
							3)区域57a、57b间的间隔	0.38	0.38	0.42	0.38	0.38	0.38
4)区域57a、57b的纵宽	0.30	0.30	0.30	0.30	0.38	0.30
							5)区域14、14间的间隔	0.85	0.85	0.85	0.92	0.85	0.85
检测误差	0.089	0.102	0.111	0.083	0.100	0.078
							TE平衡	0.0138	0.0328	0.0485	0.0248	0.0138	0.0174

例2至例6，任何一例的项目与其他各例不同，而例1没有与其他例不同的项目。具体而言，例2的1)与其他例不同，例3的3)与其他例不同，例4的5)与其他例不同，例5的4)与其他例不同，例6的2)与其他例不同。

由该模拟试验的结果可知，本实施例的受光元件57，任一例的检测误差都在0.078～0.111deg(p-p)之间，与以往技术的0.17deg(p-p)相比减小了一半，是非常良好的结果。

因此，1)区域13的横宽相对光束直径的比值以在0.3以上0.4以下为宜，而在0.30以上0.35以下为更佳。2)区域13的纵宽相对光束直径的比值以在0.54以上为宜，而在0.55以上则为更佳。并且，该比值以在0.65以下为宜，而在0.60以下则为更佳。3)区域57a、57b间的间隔相对光束直径的比值以在0.35以上0.45以下为宜，而在0.38以上0.42以下则为更佳。4)区域57a、57b的纵宽相对光束直径的比值以在0.25以上为宜，而在0.30以上则为更佳。并且，该比值以在0.38以下为宜，而在0.35以下则为更佳。5)区域14、14间的间隔相对光束直径的比值以在0.8以上为宜，而在0.85以上则为更佳。并且，该比值以在0.92以下为宜，而在0.90以下则为更佳。若在以上的这些数值范围内，则即使在被记录了信息的轨道和未被记录信息的轨道的边界上，也可以不易受到散焦和物镜双方的影响。

其他的结构、作用及效果与实施例5相同。

(实施例7)

图13是本发明实施例7中涉及的光学头结构的概略图。此处，与实施例1相同的构成要素标注上相同的符号，并省略其说明。

本实施例7不同于上述任何实施例，作为受光单元的一个示例的受光器，其结构包括有分光元件和受光元件。具体地来说，就是设置作为在来自光盘5的反射光束的光路中将光束分成多束光束的分光元件的一个示例的衍射元件71。受光元件72具有可对被衍射元件71分成的多束光束分别进行受光的受光区域。衍射元件71被设置于光路中分光镜3和受光元件72之间。衍射元件71是由例如全息图元件(hologram element)构成。

衍射元件71的光束射入区域如图14所示，和实施例1中的受光元件7一样，被分割为多个区域。对这些区域，为方便起见而标注与图2相同的符号，并省略其详细的说明。衍射元件71将射入光束相隔成0次光和在7a～7h、13的各区域中分别被衍射的±1次光。

在7a～7h和13各区域中，被衍射并相隔成0次光和±1次光。由于各区域具有不同的衍射模式，因而，使得来自各区域的衍射光射向各个不同的方向，而在受光元件72的各受光区域上受光。

受光元件72，如图15所示，具有15个对在衍射元件71中被相隔的光束分别进行受光的受光区域。即，由于衍射元件71被分割为7个区域，所以，为了能对0次光和在各区域上衍射的±1次光进行受光，有15个受光区域被设置。本实施例中，由于被分割的光束在受光元件72受光，所以，各受光区域不是被分割线分割，而是形成了各自被相隔的结构。

在图15中，X区域是检测0次光的区域。用此被检测信号，，可进行例如聚焦检测和信息信号检测。A1+～A3+区域是检测在衍射元件71的A1区域～A3区域中被衍射的+1次光的检测区域，B1+～B3+区域是检测在衍射元件71的B1区域～B3区域中被衍射的+1次光的检测区域。此外，A1—～B3+区域是检测在衍射元件71的A1区域～B3区域中被衍射的-1次光的检测区域。此外，N+区域是检测N区域+1次光的区域，N-区域是检测N区域-1次光的区域。

倾斜检测器8根据第1差信号、即从在衍射元件71的7a区域中衍射、由受光元件72检测到的光束得到的信号和从在衍射元件71的7b区域中衍射、由受光元件72检测到的光束得到的信号的差信号，和第2差信号、即从在衍射元件71的7c区域中衍射、由受光元件72检测到的光束得到的信号和从在衍射元件71的7d区域中衍射、由受光元件72检测到的光束得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。此倾斜检测的演算和上述实施例相同，在此处将省略其详细的说明。

在此结构中，区域13(N区域)是作为衍射元件71上的一个区域而构成的。因此，可以在受光元件上不对在此区域13中被衍射的光束进行检测，或即使检测，也不用于光盘倾斜检测。这样，就可实现与上述实施例的光学头同等的性能。

另外，在由分光元件和受光元件构成受光单元的情况下，作为分光元件一个示例的衍射元件71，如图16所示，可以与实施例4相同的形式而分割。此时，受光元件72可如图17所示设置受光区域。而且，作为分光元件一个示例的衍射元件71，如图18所示，可以与实施例5相同的形式而分割。此时，受光元件72可如图19所示设置受光区域。在此受光元件72中，N+区域对13区域和14区域各自的+1次光进行受光，而N-区域则对13区域和14区域各自的-1次光进行受光。此外，作为分光元件一个示例的衍射元件71，如图20所示，可以与实施例6相同的形式而分割。此时的受光元件72也与图19相同。

(实施例8)

图21是本发明实施例的光盘装置的概略图。在图21中，光盘装置包括一筐体(casing)，此筐体80的内部包括光盘驱动单元81、控制单元82和光学头83。光盘驱动单元81具有旋转驱动光盘5的功能。光学头83是由例如实施例1的光学头所构成。另外，取而代之，也可由实施例2至实施例7的光学头构成。控制单元82具有驱动控制光盘驱动单元81和光学头83的功能、对在光学头83中被受光的控制信号、信息信号进行信号处理的功能、以及在筐体80的外部和内部使信息信号接口(interfacing)的功能。

此光盘装置，由于光学头83可由实施例1至7中的任何之一的光学头所构成，因此，可以进行散焦和物镜位置偏差的影响较少的、有较高准确度的光盘倾斜检测。

本发明的光学头，可进行有较高准确度的光盘倾斜检测。因此，本发明可用于对相位变化型的光盘等进行信息记录或再生的光学头。而且，也可用于具有调整光盘倾斜的调整结构的光盘驱动，或具有通过倾斜物镜对由于光盘倾斜而产生的彗形象差进行补正的功能的光学头。

Claims (14)

1.一种光学头，其特征在于包括，光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜、对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元以及检测上述物镜与光盘的相对倾斜的倾斜检测单元，其中：

上述受光单元包括被纵分割线、横分割线以及内侧线分割成多个区域的光束射入区域，其中所述纵分割线为通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线；所述横分割线为在与该纵分割线相垂直的方向上延伸且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第1横分割线、与这一对第1横分割线平行且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第2横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域内的上述第1横分割线及上述第2横分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第3横分割线及第4横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域内的上述第1横分割线及第2分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第5横分割线及第6横分割线、在相对上述第1横分割线及上述第2横分割线而与上述光轴相反的一侧、和这些横分割线平行配置且相对上述光轴而相互对称配置的第7横分割线及第8横分割线；所述内侧线为与上述纵分割线平行延伸且连接处于其中一侧的上述第1横分割线、上述第3横分割线、上述第4横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第1内侧线、与上述纵分割线平行延伸且连接处于另一侧的上述第1横分割线、上述第5横分割线、上述第6横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第2内侧线；其中，

上述光束射入区域，

在上述第1内侧线及上述第2内侧线之间设有跨越上述纵分割线的N区域；

由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域的由上述第1横分割线、上述第2横分割线及上述第1内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第3横分割线及上述第4横分割线之间的A1区域和剩余的A7区域；

由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域中的由上述第1横分割线及上述第2横分割线及上述第2内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第5横分割线及上述第6横分割线之间的B1区域和剩余的B7区域；

相对上述第7横分割线及上述第8横分割线与上述光轴相反的一侧区域设有N2区域；

上述的一对第1横分割线和上述的一对第2横分割线，相对上述光轴而相互对称配置；

上述A1区域和上述B1区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；

上述A7区域和上述B7区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；

上述倾斜检测单元，根据在上述受光单元受光的光量来检测上述物镜与光盘的相对倾斜。

2.根据权利要求1所述的光学头，其特征在于，上述A1区域和上述B1区域，是主要用于检测上述光束的0次光和±1次衍射光相重叠的区域的中央部的光量的区域。

3.根据权利要求2所述的光学头，其特征在于，上述A7区域和上述B7区域，是主要用于检测上述光束的0次光和±1次衍射光相重叠的区域中除去了上述中央部的那部分的光量的区域。

4.根据权利要求1所述的光学头，其特征在于：

上述受光单元，具有在上述光束射入区域中相对上述纵分割线而相互对称配置的A8区域和B8区域；其中，

上述A8区域是由上述纵分割线划分出的一侧区域中、除去上述A1区域、上述A7区域、上述N区域及上述N2区域的区域；

上述B8区域是由上述纵分割线划分出的另一侧区域中、除去上述B1区域、上述B7区域、上述N区域及上述N2区域的区域。

5.根据权利要求1所述的光学头，其特征在于：

上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中；

上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的A1区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A7区域得到的信号和从上述受光元件的B7区域得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

6.根据权利要求1所述的光学头，其特征在于：

上述受光单元包括，将上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光元件、对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件；

上述光束射入区域被设置在上述分光元件内；

上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从在上述分光元件的A1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第2差信号、即从在上述分光元件的A7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

7.根据权利要求5或6所述的光学头，其特征在于还包括追踪误差信号生成单元，其中，

设从上述A8区域得到的信号和从上述B8区域得到的信号的差信号为第3差信号，

上述追踪误差信号生成单元，根据上述第1差信号与上述第2差信号的和信号及上述第3差信号，生成追踪误差信号。

8.根据权利要求2所述的光学头，其特征在于：

上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中；

上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的A1区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A7区域得到的信号和从上述受光元件的B7区域得到的信号的差信号，和第3差信号、即从上述受光元件的A8区域得到的信号和从上述受光元件的B8区域得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

9.根据权利要求2所述的光学头，其特征在于：

上述受光单元包括，将上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光元件、对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件；

上述光束射入区域被设置在上述分光元件内；

上述倾斜检测单元器，根据第1差信号、即从在上述分光元件的A1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，第2差信号、即从在上述分光元件的A7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B7区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第3差信号、即从在上述分光元件的A8区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B8区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。

10.根据权利要求8或9所述的光学头，其特征在于还包括追踪误差信号生成单元，其中，该追踪误差信号生成单元，根据上述第1差信号与上述第2差信号的和信号及上述第3差信号，生成追踪误差信号。

11.根据权利要求1所述的光学头，其特征在于：

上述N区域在与上述纵分割线垂直的方向上的宽度相对受光光束直径的比值在0.3以上0.4以下；

上述N区域在纵分割线方向上的宽度相对受光光束直径的比值在0.54以上0.65以下；

上述A1区域及上述B1区域间的间隔相对受光光束直径的比值在0.35以上0.45以下；

上述A1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.25以上0.38以下；

上述B1区域在纵分割线方向的宽度相对受光光束直径的比值在0.25以上0.38以下；

上述N2区域间的间隔相对上述受光光束直径的比值在0.8以上0.92以下。

12.一种光盘装置，其特征在于包括：

具备光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜、对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元以及检测上述物镜与光盘的相对倾斜的倾斜检测单元的光学头；

驱动光盘的光盘驱动单元；

控制上述光学头及上述光盘驱动单元的控制单元；其中，

上述受光单元包括被纵分割线、横分割线以及内侧线分割成多个区域的光束射入区域，所述纵分割线为通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线；所述横分割线为在与该纵分割线相垂直的方向上延伸且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第1横分割线、与这一对第1横分割线平行且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第2横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域内的上述第1横分割线及上述第2横分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第3横分割线及第4横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域内的上述第1横分割线及第2分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第5横分割线及第6横分割线、在相对上述第1横分割线及上述第2横分割线与上述光轴相反的一侧、与这些横分割线平行配置且相对上述光轴而相互对称配置的第7横分割线及第8横分割线；所述内侧线为与上述纵分割线平行延伸且连接处于其中一侧的上述第1横分割线、上述第3横分割线、上述第4横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第1内侧线、与上述纵分割线平行延伸且连接另一侧的上述第1横分割线、上述第5横分割线、上述第6横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第2内侧线；其中，

上述光束射入区域，

在上述第1内侧线及上述第2内侧线间设有跨越上述纵分割线的N区域；

由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域的由上述第1横分割线、上述第2横分割线及上述第1内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第3横分割线及上述第4横分割线之间的A1区域和剩余的A7区域；

由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域中的由上述第1横分割线、上述第2横分割线及上述第2内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第5横分割线及上述第6横分割线之间的B1区域和剩余的B7区域；

相对上述第7横分割线及上述第8横分割线与上述光轴相反的一侧区域设有N2区域；

上述的一对第1横分割线和上述的一对第2横分割线，相对上述光轴而相互对称配置；

上述A1区域和上述B1区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；

上述A7区域和上述B7区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；

上述倾斜检测单元，根据在上述受光单元受光的光量来检测上述物镜与光盘的相对倾斜。

13.一种集成电路，根据来自将光源射出的激光通过物镜聚光在光盘的信息轨道上、通过受光单元对该信息轨道反射的光束进行受光的光学头的上述受光单元的信号，导出对应于上述物镜与上述光盘的相对倾斜的倾斜信号，其特征在于：

上述受光单元包括被纵分割线、横分割线以及内侧线分割成多个区域的光束射入区域，所述纵分割线为通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线；所述横分割线为在与该纵分割线相垂直的方向上延伸且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第1横分割线、与这一对第1横分割线平行且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第2横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域内的上述第1横分割线及上述第2横分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第3横分割线及第4横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域内的上述第1横分割线及第2分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第5横分割线及第6横分割线、在相对上述第1横分割线及上述第2横分割线而与上述光轴相反的一侧、和这些横分割线平行且相对上述光轴而相互对称地配置的第7横分割线及第8横分割线；所述内侧线为与上述纵分割线平行延伸且连接处于其中一侧的上述第1横分割线、上述第3横分割线、上述第4横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第1内侧线、与上述纵分割线平行延伸且连接上述另一侧的第1横分割线、上述第5横分割线、上述第6横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第2内侧线；其中，

上述光束射入区域，

在上述第1内侧线及上述第2内侧线间设有跨越上述纵分割线的N区域；

由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域的由上述第1横分割线、上述第2分割线及上述第1内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第3横分割线及上述第4横分割线之间的A1区域和剩余的A7区域；

由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域的由上述第1横分割线、上述第2分割线及上述第2内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第5横分割线及上述第6横分割线之间的B1区域和剩余的B7区域；

相对上述第7横分割线及上述第8横分割线与上述光轴相反的一侧区域被设为N2区域，

上述的一对第1横分割线和上述的一对第2横分割线，相对上述光轴而相互对称配置；

上述A1区域和上述B1区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；

上述A7区域和上述B7区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；

至少对第1差信号、即从上述受光元件的A1区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A7区域得到的信号和从上述受光元件的B7区域得到的信号的差信号的其中之一乘以指定的权重系数后，生成上述第1差信号和上述第2差信号的差信号，再根据所生成的差信号导出上述倾斜信号。

14.根据权利要求13所述的集成电路，其特征在于，上述权重系数被设定成使伴随上述物镜的位置偏差所产生的差信号的偏移减小。

Images