CN101414934A - 硬件模块测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种硬件模块测试方法。该硬件模块测试方法包括以下步骤：S102，对完成硬件模块的测试项的测试所需的前提条件和/或资源等情况进行统计，根据统计结果将测试项分别划分到多个测试工位；以及S104，分别利用多个测试工位的测试项对硬件模块进行测试，并对测试结果进行存储。本发明通过对硬件模块的测试项的综合分析整理，把硬件模块的测试项合理分解到不同的测试工位，极大地促进了硬件模块测试效率和质量的提升。

Description

硬件模块测试方法

技术领域

本发明涉及通信领域，更具体地涉及一种硬件模块测试方法。

背景技术

随着各种新技术的日新月异，硬件技术、制造工艺、高效软件等方面也得到了飞速的发展，前几年还是瓶颈的技术，现在已经得到了较完善的解决。

功能单一、体积巨大的硬件模块所组成的产品已经不能满足人们对产品的各种要求，而逐渐的淡出舞台。硬件模块已经逐步向高性能、高密度、小体积、多功能的高度集成化方向发展。

随着硬件模块的高度集成化，硬件模块的设计也越来越复杂。硬件模块的硬件组成不仅包括各种数字硬件电路、模拟硬件电路，还包括各种复杂的射频硬件电路。要达到对硬件模块硬件的全面测试，不仅对当前的测试方法提出了更高的要求，而且对测试所需要的各种设备仪表资源的高效利用提出了挑战。

对于进入批量生产的硬件模块，如何更好地合理安排硬件模块的测试，将直接影响到硬件模块的质量和效率。

当然，在一个测试工位完成硬件模块的所有测试是完全可能的，只要在该测试工位布置和安排测试所需要的所有资源，就可以使测试项按照一定顺序进行执行。但是，顺序化的执行以及资源的集中占用会导致硬件模块测试效率的大幅降低(测试项之间测试方法存在互斥等不利因素)。特别是高集成度的硬件模块的测试项甚至已经超过百项，而且其中对于模拟、射频硬件部分的测试，更需要借助仪器仪表的配合，才能进行测试，单一测试工位的测试已经不能满足硬件模块测试的要求，需要寻求更好的测试方法来满足较高的要求。

然而，简单的测试工位划分，不仅不能提高效率，而且会因为复杂的测试工位设计(例如，设计的测试工位较多，各个测试工位的资源分配不合理等)导致效率和质量下降的情况出现。如何合理有效地进行多测试工位的划分，达到硬件模块测试的效率和质量双赢，是对测试方法改进的高要求。

发明内容

鉴于以上所述的一个或多个问题，本发明提供了一种新的硬件模块测试方法。

根据本发明的硬件模块测试方法，包括以下步骤：对完成硬件模块的测试项的测试所需的前提条件和/或资源情况进行统计，根据统计结果将测试项分别划分到多个测试工位；以及分别利用多个测试工位的测试项对硬件模块进行测试，并对测试结果进行存储。

优选地，将具有继承关系的测试项划分到同一个测试工位；将所需资源情况相同的测试项划分到同一个测试工位；将具有相同硬件属性的测试项划分到同一个测试工位；并将所需前提条件和/或资源情况互斥的测试项划分到不同的测试工位。

其中，可以先对测试结果进行本地存储，再将测试结果同步到结果服务器上。也可以直接将测试结果存储在结果服务器上。可以串行、并行、或串并结合地执行多个测试工位。

本发明通过对硬件模块的测试项的综合分析整理，把硬件模块的测试项合理分解到不同的测试工位，极大地促进了硬件模块测试效率和质量的提升。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的硬件模块测试方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的硬件模块的测试资源与测试方法之间的关系示意图；

图3是根据本发明实施例的硬件模块的测试工位形成示意图；

图4是根据本发明实施例的硬件模块的测试工位执行顺序示意图；

图5是根据本发明实施例的硬件模块的测试结果的存储过程的示意图；

图6是根据本发明实施例的硬件模块的测试连接交互示意图；以及

图7是根据本发明实施例的MTR单板的测试工位的执行顺序示意图。

具体实施方式

下面参考附图，详细说明本发明的具体实施方式。

参考图1，说明根据本发明实施例的硬件模块测试方法。如图1所示，该硬件模块测试方法包括以下步骤：

S102，根据完成硬件模块的测试项的测试所需的前提条件、资源情况、以及如何使用这些前提条件和资源进行测试的方法，对硬件模块的所有测试项进行统计，根据统计结果将测试项分别划分到多个测试工位；

S104，分别利用多个测试工位的测试项对硬件模块进行测试，并对测试结果进行存储。

具体地，对于具有继承关系的各个测试项，要优先安排在同一个测试工位进行测试。硬件模块的测试项以及测试方法是通过同行评审的方式进行确定的。由于硬件模块的硬件设计电路的不断模块化使得不同硬件模块的测试项存在相同性，从而可以进行测试项以及测试方法的共享互用，所以可以建立如图2所示的测试项库202，其中存储有所有硬件模块的测试项。

根据完成硬件模块的测试项的测试的前提条件和资源使用情况206以及测试方法204，确定硬件模块的测试工位。其中，可以根据以下原则来划分硬件模块的测试工位：

1)具有测试继承性的测试项优先选择在同一个测试工位；

2)使用同样资源(例如仪器、外在条件等)的测试项优先选择在同一个测试工位；

3)具有相同硬件属性(数字硬件、模拟硬件、射频硬件)的测试项优先选择在同一个测试工位；

4)具有测试互斥性的测试项不放在同一个测试工位；

5)具有需要人工干预的测试项优先选择在同一个测试工位；以及

6)其它划分原则。

当硬件模块的测试项分别同时满足上述原则中的几项时，可以根据硬件模块在实际环境中的测试情况进行适当的调整。

如图3所示，对硬件模块的测试项进行测试工位划分并形成测试工位库212后，建立硬件模块库208与测试项库202中的各测试项之间的映射关系，并将该映射关系存储在映射关系库210中。对于固定的硬件模块，测试项与测试工位的关系是一一对应的。

其中，硬件模块和测试项之间的映射关系的建立，可以通过测试工位的选择，直接达到对硬件模块测试项的直接调用。在获取了硬件模块的测试工位划分后，测试工位的执行顺序也有一定的原则和安排。测试工位的执行顺序有串行工位执行214、并行工位执行216、以及串并组合工位执行218等(如图4所示)。

具体到每个硬件模块的测试工位的执行顺序的安排，要根据硬件模块每个测试工位的特点、以及测试工位之间的关联来确定。对于安排的测试工位的具体数量，则要视各个测试工位的执行时间、资源使用情况、以及待测试硬件模块的数量等因素来决定。

可以根据确定的硬件模块的测试工位执行顺序，建立硬件模块的测试工艺文件，通过测试工艺文件的制定，指导测试人员较好地执行硬件模块的测试。

对于测试工位得出的测试结果的保存方式，可以选用以下方式之一：

1)先将各个测试工位的测试结果保存在本地，然后把本地保存的测试结果同步到结果服务器上。该方式的优势在于，可以不用与结果服务器保持实时通讯。

2)不对各个测试工位的测试结果进行本地保存，而直接上传到结果服务器上。该方式必须要保证与结果服务器始终保持通讯，否则会导致测试结果丢失。

具体的各个测试工位的测试结果的保存形式如图5所示。当进行硬件模块的测试结果的统计和查询时，只要输入必要的查询提交就可以得出相应结果。

下面以一块收发信机板(MTR)为例对本发明进行详细说明。MTR单板包括数字硬件部分、模拟硬件部分、以及射频硬件部分三部分的硬件电路，集成度较高，功能比较复杂。

MTR单板的数字硬件部分的测试项包括：中央处理单元(CPU)小系统的硬件测试(例如，EPLD、FLASH、DDR内存、Eeprom、网口等)、FPGA测试、DSP测试、I/Q通路测试、复位电路测试、指示灯测试、温度传感器测试、前面板输出信号测试、以及后背板输出信号测试等。

MTR单板的模拟硬件部分的测试项包括：电源接口的测试、对外提供的电压测试等。

MTR单板的射频硬件部分的测试项包括：下行校准测试、下行验证测试、下行输出功率测试、下行辐射模板测试、下行ACLR测试、下行PCDE测试、下行EVM测试、上行灵敏度测试、上行RSSI测试、以及上行阻塞测试等。

MTR单板的测试项已经列出，那么如何进行测试工位的划分呢？先来分析一下展开测试需要的资源以及测试方法。

MTR单板的数字硬件部分的测试项需要的测试资源包括：测试封装、以及运行在MTR单板上的相应程序(包括DSP程序、CPU程序、FPGA程序、以及EPLD程序)。对于MTR单板内的数字硬件部分的测试方法222是通过测试后台向MTR单板发送测试项消息，MTR单板收到消息后进行处理，然后返回测试结果来完成的。对于MTR单板对外接口的测试方法224，将借助测试封装来达到测试目的。测试后台向测试封装发送测试项消息，测试封装与MTR单板完成测试交互，测试结果由测试封装上报。

MTR单板的模拟硬件部分的测试项需要的测试资源包括：测试封装、以及运行在MTR单板上的相应程序(包括DSP程序、CPU程序、FPGA程序、以及EPLD程序)。测试方法如图6中的测试方法224。

MTR单板的射频硬件部分的测试项需要的测试资源包括：测试封装、矢量分析仪、信号源、GPIB卡、以及运行在MTR单板上的相应程序(包括DSP程序、CPU程序、FPGA程序、以及EPLD程序)。对于射频硬件部分的测试方法，需要根据测试项的实际情况进行测试细节划分，即测试步骤化。例如，要完成下行输出功率测试，首先要进行仪器初始化(通过GPIB卡控制)、单板射频初始化、单板频点设置、仪器频点设置、单板发送功率(由测试封装发送测试数据到单板，单板才输出功率)、读取仪器测量结果、测试结果分析等一系列步骤，才完成该测试项的测试。

通过上述测试项的测试方法以及所需测试资源的分析，初步定为三个测试工位。这三个测试工位分别是数字硬件测试工位、射频上行测试工位、以及射频下行测试工位。划分原则是依照测试工位划分原则中的原则2、原则3、以及原则6。

数字硬件测试工位包括的测试项是所有的数字硬件电路部分的测试项以及模拟硬件电路部分的测试项(由于模拟电路测试项较少，将模拟电路测试项安排在在该测试工位)。划分原则依据原则3和原则6。

射频上行测试工位包括的测试项是下行校准测试、下行验证测试、下行输出功率测试、下行辐射模板测试、下行ACLR测试、下行PCDE测试、以及下行EVM测试等。划分原则依照原则3和原则4。

射频上行测试工位包括的测试项是上行灵敏度测试、上行RSSI测试、上行阻塞测试等。划分原则依照原则3和原则4。

在测试工位划分完后，就形成了MTR单板的测试工位执行库。那么MTR单板的测试工位执行顺序又如何安排呢？根据各个测试工位的特点，采用串并组合的方式完成工位的执行顺序，可以大大提高测试效率，如图7所示。

在MTR的测试工位执行测试时，根据当前MTR单板所处的实际测试工位，进行对应测试工位的选择(例如，数字硬件工位)。当正确选择MTR单板的测试工位后，根据测试工位调用对应的测试项，依据测试项进行自动测试执行，输出各个测试项的测试结果。

由于硬件模块生产所处的实际环境为小局域网，不可能实时与结果服务器保持联系和通讯，所以先把各个测试工位的测试结果保存在本地，当与结果服务器保持通讯时，将本地的测试结果同步到结果服务器上，然后清除本地的保存结果。

当进行MTR单板的测试结果的统计和查询时，输入要查询的条件，例如测试日期、执行人员、查询工位等等，从而可以获取对应的信息。

综上所述，本发明通过对硬件模块的测试项的综合分析整理，把硬件模块的测试项合理分解到不同的测试工位，从而可以极大地促进硬件模块测试效率和质量的提升。

以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。

Claims (8)

1.一种硬件模块测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

对完成硬件模块的测试项的测试所需的前提条件和/或资源情况进行统计，根据统计结果将所述测试项分别划分到多个测试工位；以及

分别利用所述多个测试工位的测试项对所述硬件模块进行测试，并对测试结果进行存储。

2.根据权利要求1所述的硬件模块测试方法，其特征在于，将具有继承关系的测试项划分到同一个测试工位。

3.根据权利要求2所述的硬件模块测试方法，其特征在于，将所需资源情况相同的测试项划分到同一个测试工位。

4.根据权利要求3所述的硬件模块测试方法，其特征在于，将具有相同硬件属性的测试项划分到同一个测试工位。

5.根据权利要求4所述的硬件模块测试方法，其特征在于，将所需前提条件和/或资源情况互斥的测试项划分到不同的测试工位。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的硬件模块测试方法，其特征在于，先对所述测试结果进行本地存储，再将所述测试结果同步到结果服务器上。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的硬件模块测试方法，其特征在于，直接将所述测试结果存储在结果服务器上。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的硬件模块测试方法，其特征在于，串行、并行、或串并结合执行所述多个测试工位。

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