CN101375798B - 具有第二射线管/检测器修补的ct成像系统和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及具有第二射线管/检测器修补的CT成像系统和方法。一种CT成像系统(10)，包括可旋转台架(12)，具有接收要扫描的目标物体(22)的开口(48)；第一x射线发射源(90，190)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线；以及第二x射线发射源(92，192)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线。第一检测器(100，200)配置为接收从第一x射线发射源(90，190)发射的x射线，第二检测器(106，206)，配置为接收从第二x射线发射源(92，192)发射的x射线。第一检测器(100，200)的第一部分配置为工作在积分模式，第二检测器(106，220)的第一部分配置为工作在至少光子计数模式。
Description
技术领域
本发明一般涉及诊断成像，更特别涉及校正在光子计数中发生的饱和数据的方法和可配置模式检测器。
背景技术
通常，在计算断层扫描(CT)成像系统中，x射线源向物体或目标，诸如病人或一件行李发出扇形射线束。下文中，术语“物体”和“目标”应当包括能够被成像的任何东西。射线束在被物体衰减之后，撞击辐射检测器阵列。在辐射器处检测的经过衰减的射线束辐射的强度通常取决于物体对x射线束的衰减。检测器阵列中每个检测器元件产生单独的电信号，指示每个检测器元件接收的经过衰减的射线束。电信号被传送到数据处理系统进行分析，最终生成图像。
通常，x射线源和检测器阵列绕着成像平面中的台架旋转并围绕物体。X射线源通常包括x射线管，在焦点处发出x射线束。X射线检测器通常包括用于校准在检测器处接收的x射线束的准直器，靠近准直器的、用于将x射线转换成光能的闪烁体，以及用于接收邻近的闪烁体发出的光能并从中产生电信号的光电二极管。
通常，闪烁体阵列中的每个闪烁体将x射线转换成光能。每个闪烁体将光能放到与其相邻的光电二极管。每个光电二极管检测光能并生成对应的电信号。光电二极管的输出被接着传送到数据处理系统用于图像重构。
在大部分计算断层扫描(CT)成像系统中，x射线源和检测器阵列绕包围成像体积的台架旋转并围绕目标物体。X射线源通常包括x射线管，从阳极焦点发出作为扇形或者锥形射线束的x射线。X射线检测器组件通常包括用于减少散射x射线光子到达检测器的准直器，靠近准直器的、用于将x射线转换成光能的闪烁体，以及靠近闪烁体的、用于接收光能并从中产生电信号的光电二极管。通常，闪烁体阵列中的每个闪烁体将x射线转换成光能。每个光电二极管检测光能并生成对应的电信号。光电二极管的输出被接着传送到数据获取系统，并接着到用于图像重构的处理系统。
现有CT成像系统利用的检测器将在一段时间上合计的x射线光子能量转换成电流信号，接着被测量并最终被数字化。这种检测器的一个缺陷是它们不能提供关于检测的光子的能量和入射通量率的独立数据或反馈。即，现有CT检测器具有的闪烁体部件和光电二极管部件中，闪烁体部件在接收到x射线光子时发光，光电二极管检测闪烁体部件的发光，并提供作为多个入射x射线光子的强度和能量的函数的积分的电流信号。尽管普遍认同如果没有现有CT检测器设计实现的进步，CT成像将不是一种可行的诊断成像工具，这些合计检测器的一个缺陷是它们不能提供能量可辨别数据，或者对给定的检测器元件或像素实际接收的光子的数量进行计数和/或测量它们的能量。从而，最近的检测器开发已经包括能量可辨别检测器的设计，其可以提供光子计数和/或能量辨别反馈。在这个方面，可以使该检测器工作在x射线计数模式，每次x射线事件的能量测量模式，或者两者。
这些能量可辨别检测器不仅能够进行x射线计数，还能提供检测到的每个x射线的能量等级的测量。尽管多种材料可以用于包括闪烁体和光电二极管的能量辨别检测器的构造，已经显示具有诸如非晶锗或者碲锌镉的，直接将x射线光子转换成电荷的光电导体的直接转换检测器是在优选的材料之中。光子计数检测器的一个缺陷是这些类型的检测器具有有限的计数率，并且很难覆盖包含非常高x射线光子通量率的宽广的动态范围，而非常高x射线光子通量率是现有CT系统通常碰到。一般，需要1000000到1的CT检测器动态范围，以便正确应对CT成像中碰到的光子通量率的可能变化。在现在可用的快速扫描仪中，当扫描域中没有目标时碰到超过108光子/mm2/秒以上的x射线通量并不少见，而同一系统需要计数能够穿过大型目标的中心的仅仅几十个光子。
非常高的x射线光子通量最终导致检测器饱和。即，这些检测器通常在相对低的x射线通量水平饱和。这种饱和可以在小的物体厚度被夹在检测器和辐射源或x射线管之间的检测器位置处发生。已经表明这些饱和区域对应于投影到检测器阵列的物体的宽度附近或者之外的低物体厚度的通路。在很多情况下，物体在对x射线通量的衰减以及随后的对检测器阵列的入射强度的影响上或多或少是圆柱形的。在此情况下，饱和区域表示检测器阵列的末端处两个不相接的区域。在其它不太典型但是并不少见的情况中，饱和在其它位置发生，并且位于检测器上多于两个不相接的区域。在圆柱形物体的情况下，阵列边缘的饱和可以通过在物体和x射线源之间安放蝶形滤片(bowtie filter)而减少。通常，滤片被构造为以使得总衰减，滤片和物体在检测器阵列上均衡的方式匹配物体的形状。从而入射到检测器的通量在阵列上相对均匀，而不导致饱和。然而，可能成为问题的是，在物体群体明显不均匀并且在形状上不完全是圆柱形，也不中心位于射线束的情况下该蝶形滤片可能不是最优的。在这种情况下，也可能出现一个或多个不相接的饱和区域或者过度过滤x射线通量并不必要地产生非常低通量的区域。投影中低的x射线通量导致信息内容减少，这最终会在重构的物体图像中助长不想要的噪声。
已经提出多种技术来解决检测器任何部分的饱和。这些技术包括在检测器阵列的宽度上保持低x射线通量，例如，通过在扫描过程中调制射线管的电流或者x射线电压。然而，这种解决方案使扫描时间增加。即，存在图像的获取时间与额定通量成比例增加的不利之处，该额定通量是获取满足图像质量要求的特定数量的x射线所需的。
此外，已经开发了可配置模式检测器，能够工作在积分或者光子计数模式，其中数据处理方法在检测器的高通量部分从光子计数模式变化到积分模式。然而，对于可配置模式检测器，可能不能获得完整的动态范围，仍会发生饱和。
已经构建了具有多源/检测器子系统的系统，以便改进时间分辨率。然而，这些系统既不包括光子计数能力，也不具有用来自不饱和检测器子系统的数据重建(re-bin)或同时校正一个检测器子系统中的饱和数据的能力。
因此，期望有能够校正在光子计数中发生的饱和数据的系统和方法，以及在多源/检测器CT系统中使用来自非饱和检测器的数据的可配置模式检测器。
发明内容
本发明涉及校正在光子计数中发生的饱和数据的方法和设备，以及在多源/检测器CT系统中使用来自非饱和检测器的数据的可配置模式检测器。
揭示了具有第二射线管/检测器数据修补的光谱CT系统。CT检测器包括半导体层，该半导体层具有附着到其上的多个像素化的阳极。该CT检测器不仅支持X射线光子计数，还支持能量测量或标记以及能量积分。结果，本发明支持解剖学细节以及组织特征信息两者的获得。在此方面，能量辨别信息或数据可以用于减少射线束硬化之类的效应。此外，这些检测器支持组织辨别数据的获取，因而提供指示疾病或者其它反常的诊断信息。这些检测器也可以用于通过使用最优能量加权增强碘和钙(以及其它高原子或材料)的对比度，检测、测量和特征化可以注入到物体中的材料，诸如造影剂和其它专用材料。造影剂例如可以包括注入血流中的碘供更好的观察。
根据本发明的一个方面，一种CT成像系统包括可旋转台架，具有接收要扫描的目标物体的开口；第一x射线发射源，连接到所述可旋转台架并且配置为朝目标物体发射x射线；以及第二x射线发射源，连接到所述可旋转台架并且配置为朝目标物体发射x射线。第一检测器配置为接收从第一x射线发射源发射的x射线，第二检测器配置为接收从第二x射线发射源发射的x射线。第一检测器的第一部分配置为工作在积分模式，第二检测器的第一部分配置为工作在至少光子计数模式。
根据本发明的另一方面，一种x射线成像的方法包括，在第一检测器阵列的第一部分中接收x射线，所述x射线从第一x射线源发出穿过成像区域的至少一部分，以及在第二检测器阵列的第一部分中接收x射线，所述x射线从第二x射线源发出穿过成像区域的至少一部分。该方法还包括，以积分模式操作第一检测器阵列的第一部分，以从接收的x射线生成第一组数据，以光子计数模式操作第二检测器阵列的第一部分，以从接收的x射线生成第二组数据，以及使用第一和第二组数据生成图像。
根据本发明的还有另一方面，一种CT成像系统包括台架，配置为绕目标物体旋转；以及一对源，连接到所述台架并配置为朝目标物体发出高频电磁辐射。第一检测器阵列模块配置为接收从该对源的第一源发出并穿过目标物体的高频电磁辐射，第二检测器阵列模块配置为接收从该对源的第二源发出并穿过目标物体的高频电磁辐射。第一检测器阵列模块配置为工作在至少积分模式，第二检测器阵列模块配置为工作在至少光子计数模式。
本发明的各种其它特征和优点将从下面的详细描述和附图变得清楚。
附图说明
附图示出目前意图实现本发明的一个优选实施例。
附图中：
图1是CT成像系统的绘图。
图2是图1所示系统的示意框图。
图3是CT系统检测器阵列的一个实施例的透视图。
图4是检测器的一个实施例的透视图。
图5是直接转换检测器的一个实施例的侧视图。
图6示出根据本发明一实施例具有两个源和两个检测器阵列的台架。
图7示出根据本发明另一实施例具有两个源和两个检测器阵列的台架。
图8是与非侵入包裹检查系统一起使用的CT系统的绘图。
具体实施方式
诊断设备包括x射线系统、磁共振(MR)系统、超声系统、计算断层扫描(CT)系统、正电子发射断层扫描(PET)系统、超声、核医疗学和其它类型的成像系统。X射线源的应用包括成像、体格检查、安全、以及工业检查应用。然而，在此，本领域技术人员将见到一个适用于与单层或其它多层配置一起使用的实现方案。以及，一个可以用来检测和转换x射线的实现方案。本领域技术人员还将进一步见到一个可以用来检测和转换其它高频电磁能量的实现方案。一个可用于“第三代”CT扫描仪和/或其它CT系统的实现方案。
参考六十四层计算断层扫描(CT)系统描述本发明的工作环境。然而，本领域技术人员应理解本发明同样适用于与其它多层配置一起使用的场合。此外，还将参照x射线的检测和转换描述本发明。然而，本领域技术人员将进一步认识到本发明也同样适用于其它高频电磁能量的检测和转换。本发明将参照“第三代”CT扫描仪描述，但是同样适用于其它CT系统。
参考图1，示出了计算断层扫描(CT)系统10，包括表示“第三代”CT扫描仪的台架12。台架12具有x射线源14，朝台架12的相对侧上的检测器组件或准直器18投射x射线束16。现在参考图2，检测器组件18由多个检测器20和数据获取系统(DAS)32构成。该多个检测器20感应穿过医疗病人22的投射的x射线，DAS32将数据转换成数字信号供后续处理。每个检测器20产生表示撞击的射线束并就此而随着穿过病人而被衰减的射线束的强度的模拟电信号。在获取x射线投射数据的扫描过程中，台架12和安装于其上的部件绕旋转中心24旋转。
台架12的旋转和x射线源14的工作由CT系统10的控制机构26管理。控制机构26包括x射线控制器28，提供功率和定时信号给x射线源14以及台架电动机控制器30，控制台架12的旋转速度和位置。图像重构器34从DAS32接收采样并数字化的x射线数据并进行高速重构。将经过重构的图像作为输入施加到计算机36，计算机36在大容量存储装置38中存储该图像。
计算机36还经由控制台40从操作员处接收指令和扫描参数，控制台40具有某种形式的操作员界面，诸如键盘、鼠标、声控控制器或者任何其它适合的输入装置。相关的显示器42允许操作员观察重构的图像和来自计算机36的其它数据。操作员提供的指令和参数由计算机36用于提供控制信号和信息给DAS32、x射线控制器28和台架电动机控制器30。此外，计算机36操作工作台电动机控制器44，控制电动机化的工作台46来定位病人22和台架12。具体讲，工作台46将病人22整体或者部分移动通过图1的台架开口48。
如图3所示，检测器组件18包括导轨17，准直叶片或板19置于其间。放置板19以在x射线束碰撞到例如位于检测器组件18上的图4的检测器之前对其进行准直。在一个实施例中，检测器组件18包括57个检测器20，每个检测器20具有像素元50的64×16的阵列规格。结果，检测器组件18具有64行和912列(16x57个检测器)，这允许随台架12的每次旋转收集64个同时的数据层。
参考图4，检测器20包括DAS32，每个检测器20包括布置在包装51中的多个检测器元件50。检测器20包括相对于检测器元件50设置在包装51中的引脚52。包装51放置在具有多个二极管59的背光二极管阵列53上。背光二极管阵列53接着放置在多层基底54上。间隔物55放置在多层基底54上。检测器元件50光耦合到背光二极管阵列53，背光二极管阵列53接着电耦接到多层基底54。柔性电路56连接到多层基板54的表面57以及DAS32。检测器20通过使用引脚52放置在检测器组件18中。
在一个实施例的操作中，撞击在检测器组件50中的x射线生成穿过包装51的光子，从而产生在背光二极管阵列53中的二极管上检测到的模拟信号。该产生的模拟信号传送通过多层基板54，通过柔性电路56，到DAS32，该模拟信号在其中求积分并被转换成数字信号。
或者每个检测器20可以被设计为将射线能量直接转换成包含能量辨别或光子计数数据的电信号。这种检测器通常被称为“直接转换”器件。直接转换器件也可以相似地被配置为工作在积分模式。这种器件可以被称为可配置。在一优选实施例中，每个检测器20包括从CZT制作的半导体层。每个检测器20还包括连接到半导体层的多个金属化阳极。如后面将描述的，这种检测器20其上具有多个比较器的电路，这可以减少由于多个能量事件的积累引起的统计错误。
现在参考图5，示出根据本发明一个实施例的CZT或直接转换检测器的一部分。检测器20由半导体层60定义，半导体层60具有多个电子的像素化的结构或者像素来定义多个检测器元件，阳极或触点62。该电子像素化是通过将电触点62的2D阵列64施加到直接转换材料的层60上来实现的。
检测器20包括连接到半导体层60的邻近的高压电极66。高压电极66连接到电源(未示出)，并且其被设计为在x射线检测过程中给半导体层60供电。本领域技术人员将意识到高压电极66应当相对薄以减少x射线吸收特性，并且，在一优选实施例中厚度为几百埃。在一个优选实施例中，高压电极66可以通过金属化工艺固定到半导体层60上。撞击半导体层60的x射线光子将在其中产生电荷，该电荷在一个或多个电触点62中收集，并且可以被读出到图2的DAS32。收集的电荷的幅度指示了产生该电荷的光子的能量。
积分检测器或者在积分模式工作的光子计数检测器提供CT数值或Hounsfield值。另一方面，能量选择或者能量辨别CT系统可以提供与材料的原子数和密度相关的附加信息。该信息对于多种医疗临床应用可以是特别有用的，其中不同材料的CT数值可能相似但是原子数可能较为不同。例如，钙化的斑和碘对比增强的血液可能一起位于冠状动脉或其它组织中。如同本领域技术人员将意识到的，已知钙化的斑和碘对比增强的血液具有截然不同的原子数，但是在某种密度下这两种材料不能单独由CT数值区分。
由于与光子计数检测器相比积分检测器不同的饱和水平和增加的饱和阈值，光子计数检测器的饱和区域可能发生在低于能量积分检测器中发生饱和的通量水平。此外，即使可以将光子计数检测器配置为以积分模式工作，这种工作具有有限的动态范围并且可能不足以避免饱和。因此，可以在双源/双检测器布置中采用检测器类型的组合，以便用来自第二检测器的非饱和数据修补检测器的饱和区域，并保留最高的剂量使用。
参考图6，示出了根据本发明一个实施例的CT台架10的轴位图。台架12包括第一x射线源90和第二x射线源92。在该实施例中，第一检测器100在弧102上接收数据，以便接收通过第一视域(FOV)104的数据。第二检测器106在弧108上接收数据，以便接收通过第二FOV
110的数据。在该实施例中，第二FOV110小于第一FOV104。然而，本领域技术人员将认识到取决于检测器100和106中实现的覆盖弧102和108，两个FOV104和110可以大小相同，或者第二FOV110可以大于第一FOV104。可变蝶形滤片112，114可以可选的放置在一个或两个x射线源90，92它们各自的检测器100，106之间。本领域技术人员将认识到具有例如高于光子计数检测器的饱和阈值的检测器，诸如积分检测器，可以不需要蝶形滤片。
根据本发明的一个实施例，覆盖FOV104的检测器100是基于闪烁体的合计检测器，覆盖FOV110的第二检测器106是直接转换、光子计数检测器。由于两个检测器的饱和阈值不同，并且直接转换检测器中的饱和阈值趋向于为较低，直接转换检测器106的部分在给定的通量水平下容易饱和，不管是否存在蝶形滤片114。然而，由于积分检测器100增加的动态范围能力，检测器100将趋向于在相当的通量水平下也不饱和，从而提供可以用于修补FOV110中发生的检测器106的饱和区域的数据。
换言之，当第二检测器106饱和时，由于第二检测器106对应的FOV110小于较大检测器100的FOV104，并且由于第一检测器100具有较高的通量能力，其中获得的数据可以用于校正否则的话在光子计数检测器106中丢失的数据。本领域技术人员将认识到从一个检测器100取得并修补到第二检测器106中的数据必须适当地配准，以计入获取数据的两个台架角度。
现在参考图7，示出了根据本发明另一个实施例的CT台架10的轴位图。台架12包括第一x射线源190和第二x射线源192。在该实施例中，第一检测器200在弧202上接收数据，以便接收通过第一FOV204的数据。第二、分段弧检测器206在弧208上接收数据，以便接收通过第二FOV210的数据。在该实施例中，第一FOV204小于第二FOV210。然而，本领域技术人员将认识到取决于检测器200和206中实现的覆盖弧202和208，两个FOV204和210可以大小相同，或者第二FOV210可以小于第一FOV204。可变蝶形滤片212，214可以可选的放置在一个或两个x射线源190，192它们各自的检测器200，206之间。本领域技术人员将认识到具有例如高于光子计数检测器的饱和阈值的检测器，诸如积分检测器，可以不需要蝶形滤片。
在一个实施例中，检测器200可以是基于闪烁体的积分检测器，或者可配置为工作在积分或者光子计数模式之一的光子计数检测器。另一方面，分段弧检测器206具有第一部分220和第二部分222，223。根据本发明一个实施例，第一部分220配置为工作在与第二部分222，223不同的处理模式。以这种方式，第一部分220可以是配置为工作在光子计数模式的可配置能量辨别检测器部分，第二部分222，223可以是基于闪烁体的积分检测器，或配置为工作在积分模式的可配置能量辨别检测器部分。这样，检测器206可以具有由在第二FOV210中包含的第一部分220限定的二次FOV230。尽管二次FOV230显示为直径小于对应于第一检测器200的FOV204，但本领域技术人员将认识到FOV204，230同样可以具有相若的直径或者二次FOV230直径可以小于FOV204的直径。
由于检测器在部分220中的饱和阈值不同于检测器在部分222，223中的饱和阈值，第一部分220的部分容易在低于检测器200的给定的通量水平下饱和，不管是否存在蝶形滤片212。然而，由于检测器200增加的动态范围能力，检测器200将趋向于在相若的通量水平下也不饱和，从而提供可以用于修补FOV230中发生的检测器部分220的饱和区域的数据。
换言之，当第一部分220中数据饱和时，检测器200中的数据可以用于校正否则的话在光子计数部分220中丢失的数据。本领域技术人员将认识到从检测器200取得并修补到第一检测器部分220中的数据必须适当地配准，以计入获取数据的两个台架角度。
在这里描述的实施例中，数据的校正可以通过使用迭代重构技术完成。在该技术中，通过对所研究的目标的图像进行初始猜测或者尝试来开始饱和数据的校正。前面的方法使用系统模型来设计尝试图像，以便获得预期的数据。预期的数据与实际测量的数据之间的差异产生用于调整尝试图像的误差。重复该过程以便使预期的数据更好地匹配测量的数据，直到达到精度或者迭代次数的限制。
在这里描述的实施例中，数据修补可以通过计入各检测器之间台架角度的差异并相应地内插来进行。对于轴向扫描，通过基于获取的数据是否偏移了整数数量的视图来计入台架角度中的差异，重建(rebin)数据。如果两个检测器偏移了整数数量的视图，那么通过简单的将数据集偏移该整数数量的偏移视图来执行重建(rebinning)。如果两个检测器没有偏移整数数量的视图，那么将来自一个检测器的在一组台架角度上的数据线性插值到第二检测器的台架角度集。
对于螺旋扫描，需要更精细的内插。即，当一源/检测器子系统在时间T处于第一角度A时，那么直到时间T+delta第二源/检测器子系统不会到达角度A。在该时间间隔delta内，病人被移动，从而通过该病人的视图不是等价的(由于它们是在轴向扫描中)。数据实际上是角度和沿Z轴的病人位置的二维离散集合的函数。从而，内插必须计入螺旋扫描中检测器的视位(view position)和沿Z轴的病人位置。
现在参考图8，包裹/行李检查系统510包括可旋转台架512，可旋转台架512中具有开口514，包裹和行李可以通过该开口。可旋转台架512包含高频电磁能量源516以及检测器组件518，检测器组件518具有由类似于图4或图5中所示的闪烁体单元的闪烁体单元构成的闪烁体阵列。还提供传送机系统520，其包括由结构524支撑的传送带522，以便自动和连续的将包裹或行李526传过开口514以进行扫描。目标526由传送带522馈送通过开口514，接着获取成像数据，传送带522以受控和连续的方式从开口514移走包裹526。结果，邮政检查员、行李处理员以及其它安全人员可以非侵入地检查包裹526的内容，查找爆炸物、刀具、枪支、违禁品等。
因此，根据本发明的一个实施例，一种CT成像系统包括可旋转台架，具有接收要扫描的目标物体的开口；第一x射线发射源，连接到所述可旋转台架并且配置为朝目标物体发射x射线；以及第二x射线发射源，连接到所述可旋转台架并且配置为朝目标物体发射x射线。第一检测器配置为接收从第一x射线发射源发射的x射线，第二检测器配置为接收从第二x射线发射源发射的x射线。第一检测器的第一部分配置为工作在积分模式，第二检测器的第一部分配置为工作在至少光子计数模式。
根据本发明的另一实施例，一种x射线成像的方法包括，在第一检测器阵列的第一部分中接收x射线，所述x射线从第一x射线源发出穿过成像区域的至少一部分，以及在第二检测器阵列的第一部分中接收x射线，所述x射线从第二x射线源发出穿过成像区域的至少一部分。该方法还包括，以积分模式操作第一检测器阵列的第一部分，以从接收的x射线生成第一组数据，以光子计数模式操作第二检测器阵列的第一部分，以从接收的x射线生成第二组数据，以及使用第一和第二组数据生成图像。
根据本发明的再一实施例，一种CT成像系统包括台架，配置为绕目标物体旋转；以及一对源，连接到所述台架并配置为朝目标物体发出高频电磁辐射。第一检测器阵列模块配置为接收从该对源的第一源发出并穿过物体的高频电磁辐射，第二检测器阵列模块配置为接收从该对源的第二源发出并穿过物体的高频电磁辐射。第一检测器阵列模块配置为工作在至少积分模式，第二检测器阵列模块配置为工作在至少光子计数模式。
已经借助优选实施例描述了本发明，但应理解除了明确表述的那些之外的等价物，替换和修改是可能的，并且在所附权利要求的范围内。
10 计算断层扫描(CT)成像系统
12 台架
14x 射线源
16x 射线束
17 导轨
18 检测器组件或准直器
19 准直叶片或板
20 多个检测器
32 数据获取系统(DAS)
22 医疗病人
24 旋转中心
26 控制机构
28x 射线控制器
30 台架电动机控制器
34 图像重构器
36 计算机
38 大容量存储装置
40 操作员经由控制台
42 相关的显示器
44 工作台电动机控制器
46 电动机化的工作台
48 台架开口
50 像素元
51 包装
52 引脚
53 背光二极管阵列
59 多个二极管
54 多层衬底
55 间隔物
56 柔性电路
60 半导体层
62 阳极或触点
66 邻近的高压电极
90 第一x射线源
92 第二x射线源
100 第一检测器
102 弧
104 第一视域(FOV)
106 第二检测器
108 弧
110 第二FOV
112 可变蝶形滤片
114 可变蝶形滤片
190 第一x射线源
192 第二x射线源
200 第一检测器
202 弧
204 第一FOV
206 第二、分段弧检测器
208 弧
210 第二FOV
212 可变蝶形滤片
214 可变蝶形滤片
220 第一部分
222 第二部分
223 第二部分
230 二次FOV
510 包裹/行李检查系统
512 可旋转台架
514 开口
516 高频电磁辐射源
518 检测器组件
520 传送机系统
522 传送带
524 结构支撑的传送带
526 包裹或行李
Claims (9)
1.一种CT成像系统(10)，包括：
可旋转台架(12)，具有接收要扫描的目标物体(22)的开口(48)；
第一x射线发射源(90，190)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线；
第二x射线发射源(92，192)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线；
第一检测器(100，200)，配置为接收从第一x射线发射源(90，190)发射的x射线；以及
第二检测器(106，206)，配置为接收从第二x射线发射源(92，192)发射的x射线；
其中第一检测器(100，200)的第一部分配置为工作在积分模式，第二检测器(106，220)的第一部分配置为工作在至少光子计数模式，
计算机，编程为使用来自第一检测器(100，200)的第一部分的非饱和数据来校正第二检测器(106，206)中的饱和数据。
2.如权利要求1所述的CT成像系统(10)，其中第一检测器(100)的第一部分包括整个第一检测器。
3.如权利要求2所述的CT成像系统(10)，其中第二检测器的第一部分包括整个第二检测器(106)。
4.如权利要求2所述的CT成像系统(10)，其中第二检测器(106)具有有限的视域FOV(110)，其小于第一检测器的视域FOV(210)。
5.如权利要求2所述的CT成像系统(10)，其中第一x射线发射源(90)具有的峰值功率能力大于第二x射线发射源(92)的峰值功率能力。
6.如权利要求1所述的CT成像系统(10)，其中第二检测器(206)包括直接转换检测器，能够配置为工作在积分模式或者光子计数模式。
7.如权利要求1所述的CT成像系统(10)，其中第二检测器的第二部分(222，223)配置为工作在至少积分模式。
8.如权利要求7所述的CT成像系统(10)，其中第二检测器的第一部分(220)被放置为中心地接收从第二x射线发射源(192)发出的中心x射线束。
9.如权利要求1所述的CT成像系统(10)，其中第二检测器的第二部分(222，223)配置为工作在积分模式和光子计数模式中的任意模式，并且其中第二x射线发射源(192)具有的峰值功率能力大于第一x射线发射源(190)的峰值功率能力。
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