CN101370091A - 摄像装置及其驱动方法和摄像方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种摄像装置及其驱动方法和摄像方法。该摄像装置包括:摄像单元(120),其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的像素的传感器,并感测图像;第一图像缩小单元(151),其通过包括缺陷像素的像素信息而对传感器中在行方向上相邻的像素的像素信息进行相加、并排除缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的像素的像素信息进行相加,来缩小图像;第二图像缩小单元(152),其通过包括缺陷像素的像素信息而对传感器中在列方向上相邻的像素的像素信息进行相加、并排除缺陷像素的像素信息而对在行方向上相邻的像素的像素信息进行相加,来缩小图像;以及选择单元(153),其用于在缩小图像时选择单元(151)或单元(152)。

Description

摄像装置及其驱动方法和摄像方法
技术领域
本发明涉及一种摄像装置及其驱动方法和摄像方法。
背景技术
近来,在使用例如作为一种放射线的X射线的放射线拍摄中,使用具有光电转换元件的数字X射线摄像装置来获取已穿过被摄体的X射线的强度分布。
数字X射线摄像装置在灵敏度和图像质量上优于传统胶片型摄像装置。由于数字X射线摄像装置可以将图像保存为数字数据,因而可以通过各种图像处理,将通过对被摄体进行放射线拍摄(摄像)所获得的图像处理成使得更容易做出诊断的图像。数字X射线摄像装置具有使图像管理变得容易并允许使用网络传送图像数据的优点。
X射线摄像装置采用X射线传感器(2D传感器),在X射线传感器中,以2D阵列(2D矩阵)配置包括光电转换元件和以TFT为代表的切换元件的像素。将被摄体置于X射线生成器和2D传感器之间,并通过2D传感器将已穿过被摄体的X射线量转换成电信号,从而获得被摄体的X射线图像。分别读出来自各个光电转换元件的电信号(电荷),并通过A/D转换器将电信号A/D转换成数字数据。在该数据经过图像处理之后,存储或显示处理后的数据。
目前,已经开发出既能够对静止图像也可以对运动图像进行放射线拍摄的2D传感器。例如,在下面的专利文献1和2中公开了这种2D传感器。近来,在工作效率和节省空间方面出现了对于这样一种X射线摄像装置的需求:该X射线摄像装置通过一个装置既对静止图像也对运动图像进行放射线拍摄。
专利文献1:日本特开平10-285466号公报
专利文献2:日本特开2006-43293号公报
X射线摄像装置在静止图像放射线拍摄中要求高分辨率,并且在荧光拍摄等的运动图像放射线拍摄中要求运动图像的高帧频,而不是高分辨率。即使在运动图像放射线拍摄中,所要求的分辨率和帧频也依赖于放射线拍摄目的而改变。例如,在对静止图像放射线拍摄的预览等的运动图像放射线拍摄中,既不需要这种高分辨率,也不需要这种高帧频。与之相反,在快速运动的心脏等部位的运动图像放射线拍摄中需要高帧频。
为了满足这些需求,在运动图像放射线拍摄中,可以通过从传感器上的多个像素一次读出像素信息(电荷)、并对所读出的像素信息进行相加或平均以增大图像获取速度,来增大帧频。如果逐像素分别读出像素信息,而不执行相加或平均处理,则帧频下降,但是可以获取高分辨率图像。
如果通过相加处理(或平均处理)将2×2个像素的像素信息(电荷)缩小成一个像素的像素信息,则可以通过简单相加(或平均)、并读出模拟信号,来以高速获取图像。
然而,如果即使2×2个像素的其中一个有缺陷,则也必须将相加处理(或平均处理)之后的像素当作缺陷像素。在该情况下,缺陷像素极大地降低了缩小后图像的质量。由半导体形成2D传感器,并且在制造过程中通常难以防止在许多像素中生成任何缺陷。
可以想到通过排除缺陷像素的像素信息而进行缩小处理来防止缩小后的图像的质量下降。在该情况下,例如,如果可以获取像素信息作为数字值,则容易基于缺陷像素的位置信息,仅选择非缺陷像素的像素信息,并对它们进行相加(或平均)。然而,在该情况下,对所有像素的像素信息进行A/D转换,这样抑制了图像读出速度的增大(即,帧频的增大)。需要特别的判断机构以在A/D转换之前排除缺陷像素而执行相加或平均处理。这使得控制和电路结构变得复杂。
简言之,传统上难以通过简单结构同时增大帧频并防止图像质量下降。
发明内容
为了克服传统缺点做出本发明,并且本发明的目的是通过简单结构同时增大帧频并防止图像质量下降。
根据本发明的第一方面,提供一种摄像装置,包括:摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息;第一图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;第二图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及选择单元,其在缩小所述图像时选择所述第一图像缩小单元或所述第二图像缩小单元。
根据本发明的第二方面,提供一种摄像装置,包括:摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息;第一图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;第二图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及选择单元,其在缩小所述图像时,对以所述矩阵形式配置在所述传感器中的所述多个像素的像素信息的每一读出单位,选择所述第一图像缩小单元或所述第二图像缩小单元。
根据本发明的第三方面,提供一种驱动摄像装置的方法,所述摄像装置具有:摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;以及存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息,所述方法包括以下步骤:第一图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;第二图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及选择步骤,用于在缩小所述图像时选择所述第一图像缩小步骤或所述第二图像缩小步骤。
根据本发明的第四方面,提供一种驱动摄像装置的方法,所述摄像装置具有:摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;以及存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息,所述方法包括以下步骤:第一图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;第二图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及选择步骤,用于在缩小所述图像时,对以所述矩阵形式配置在所述传感器中的所述多个像素的像素信息的每一读出单位,选择所述第一图像缩小步骤或所述第二图像缩小步骤。
根据本发明的第五方面,提供一种摄像装置,包括:摄像单元,其通过使用以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器来感测图像;第一图像缩小单元,其通过在行方向或列方向上包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像;以及第二图像缩小单元,其通过在不同于所述第一图像缩小单元的所述合成方向的方向上不包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像。
根据本发明的第六方面,提供一种驱动摄像装置的摄像方法,所述摄像方法包括以下步骤:摄像步骤,用于通过使用以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器来感测图像;第一图像缩小步骤,用于通过在行方向或列方向上包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像;以及第二图像缩小步骤,用于通过在不同于所述第一图像缩小步骤的所述合成方向的方向上不包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像。
通过以下参考附图对典型实施例的说明,本发明的其它特征将变得明显。
附图说明
图1是示出根据本发明的第一图像缩小处理的概念的示意图;
图2是示出根据本发明的第二图像缩小处理的概念的示意图;
图3是示出包括根据本发明第一实施例的X射线摄像装置的X射线摄像系统的示意性结构的示例的示意图;
图4是示出图3所示的摄像单元的内部结构的示例的示意图;
图5是示出根据本发明第一实施例的X射线摄像装置的处理序列的示例的流程图;以及
图6是示出根据本发明第二实施例的X射线摄像装置的处理序列的示例的流程图。
具体实施方式
发明要点
在说明用于实践本发明的具体实施例之前,将说明本发明的要点。
为了通过简单结构既增大帧频又防止图像质量下降,本发明者想到了本发明的以下要点。将说明这样一种情况,作为用于增大帧频的缩小处理的示例:将配置在2D传感器上的2×2个像素的像素信息(电荷)缩小成一个像素的像素信息。
本发明者以两个步骤分开检查缩小处理的执行。第一步骤是通过包括缺陷像素的像素信息的模拟信号的简单相加处理(或平均处理),读取在列和行方向的其中一个方向上相邻的两个像素的像素信息,例如2×2个像素中的1×2个像素或2×1个像素。第二步骤是排除缺陷像素的像素信息而对在另一方向上相邻的两个像素进行相加处理(或平均处理)。即使在第一步骤中的包括缺陷像素的像素信息的处理中,两个相邻像素的其中一个是缺陷像素,也可以通过第二步骤中的排除缺陷像素的像素信息的处理,仅利用非缺陷像素的像素信息。
将考虑对2D传感器上以2D矩阵配置的所有像素进行该缩小处理的情况。根据缺陷像素的位置模式,在行方向上进行第一步骤中的处理并在列方向上进行第二步骤中的处理的情况以及在列方向上进行第一步骤中的处理并在行方向上进行第二步骤中的处理的情况之间,缩小后的图像中的缺陷像素的数量可能不同。如果在制造传感器面板期间,或者由于老化,在2D传感器中生成线缺陷,则在行或列方向上局部生成缺陷像素。在该情况下,缩小后的图像中的缺陷像素的数量的差变大。将参考图1和2对此进行详细说明。
图1是示出根据本发明的第一图像缩小处理的概念的示意图。图2是示出根据本发明的第二图像缩小处理的概念的示意图。
图1和2示出用于将2×2个像素缩小成一个像素的示例。图1中的附图标记1001和图2中的附图标记2001表示以2D矩阵配置包括缺陷像素的多个像素1220的2D传感器122。在图1的1001和图2的2001中,“×”像素1220是缺陷像素,并且空白像素1220是非缺陷像素。
将说明图1所示的第一图像缩小处理。
在图1所示的第一图像缩小处理(合成多个像素)中,包括缺陷像素的像素信息而对由图1中的1001表示的2D传感器122中在行方向上相邻的两个像素的像素信息进行相加(或平均)。在相加处理(或平均处理)之后,获得如图1中的1002表示的多个像素1231。随后,排除缺陷像素的像素信息而对图1中的1002表示的在列方向上相邻的两个像素的像素信息进行相加(或平均)。在相加处理(或平均处理)之后,获得如图1中的1003表示的多个像素1232。第一图像缩小处理生成由图1中的1003表示的缩小后的图像。由图1中的1003表示的缩小后的图像包含一个缺陷像素。
将说明图2所示的第二图像缩小处理(合成多个像素)。
在图2所示的第二图像缩小处理中,包括缺陷像素的像素信息而对图2中的2001表示的2D传感器122中在列方向上相邻的两个像素的像素信息进行相加(或平均)。在相加处理(或平均处理)之后,获得如图2中的2002表示的多个像素1233。随后,排除缺陷像素的像素信息而对图2中的2002表示的在行方向上相邻的两个像素的像素信息进行相加(或平均)。在相加处理(或平均处理)之后,获得如图2中的2003表示的多个像素1234。第二图像缩小处理生成如图2中的2003表示的缩小后的图像。由图2中的2003表示的缩小后的图像包含四个缺陷像素。
这样,根据2D传感器中形成的缺陷像素的位置模式,缩小后的图像中的缺陷像素的数量在图1所示的第一图像缩小处理和图2所示的第二图像缩小处理之间有所不同。
缩小后的图像中的缺陷像素经过针对缩小后的图像中的各像素的缺陷校正处理。例如,即使利用用于使用在垂直和水平方向上与缺陷像素相邻的像素的像素信息补偿该缺陷像素的像素值的校正方法,也不能校正图2中的2003表示的缺陷像素1234A的像素值。与之相反,可以对图1中的1003表示的像素1232A获取正常像素值。这样,还可以通过改变缩小处理矫正即使通过缺陷校正处理也不能矫正的缩小后的图像中的像素。
基于此,本发明者考虑配置用于进行图1所示的第一图像缩小处理的第一图像缩小单元和用于进行图2所示的第二图像缩小处理的第二图像缩小单元,并且还配置用于根据这些处理的结果选择其中一个图像缩小单元的选择单元。
基于发明要点的具体实施例
下面将说明基于本发明要点的具体实施例。
本发明以下实施例将X射线摄像装置应用为根据本发明的摄像装置。然而,本发明不局限于此。例如,本发明还包括感测与X射线以外的α射线、β射线、γ射线或光束等的放射线相关联的图像的放射线摄像装置。
第一实施例
将说明本发明的第一实施例。
图3是示出包括根据本发明第一实施例的X射线摄像装置的X射线摄像系统的示意性结构的示例的示意图。
图3所示的X射线摄像系统包括根据第一实施例的X射线摄像装置100、监视器300、打印机400和网络500。
X射线摄像装置100包括X射线生成单元110、摄像单元120、读出控制单元130、A/D转换单元140、系统控制单元150、存储单元160、X射线控制单元170、以及操作输入单元180。将被摄体200置于X射线生成单元110和摄像单元120之间的预定位置。
X射线生成单元110在X射线控制单元170的控制下生成X射线111。更具体地,在第一实施例中,X射线生成单元110向介于X射线生成单元110和摄像单元120之间的被摄体200发出X射线111。
摄像单元120具有以2D矩阵配置包括缺陷像素的多个像素的2D传感器。2D传感器将已穿过被摄体200的X射线111转换成电信号,从而感测图像。更具体地,摄像单元120感测与进入2D传感器的X射线(放射线)的强度分布相对应的图像。电信号是基于根据入射X射线的量而存储在各像素中的电荷(像素信息)的模拟信号。
读出控制单元130控制由摄像单元120的2D传感器所检测到的电信号的读出。
A/D转换单元140将从摄像单元120的2D传感器读出的电信号转换成数字信号。
系统控制单元150对图3所示的X射线摄像系统的构件的驱动进行全面控制。系统控制单元150包括作为功能组件的第一图像缩小单元151、第二图像缩小单元152、选择单元153和缺陷校正单元154。
存储单元160存储表示摄像单元120的2D传感器中存在的缺陷像素的位置的缺陷像素位置信息161、各种设置信息162、以及各种图像数据163。
在系统控制单元150的控制下,X射线控制单元170对X射线生成单元110和由X射线生成单元110生成的X射线111进行控制。
操作输入单元180将操作者输入的各种信息输入到系统控制单元150中。
将由A/D转换单元140转换成数字信号并通过系统控制单元150处理的图像数据作为图像数据163,存储在存储单元160中。如果必要,则通过图像处理单元(未示出)将该图像数据处理成适合于诊断的图像数据,并且将其显示在监视器300上。在根据第一实施例的X射线摄像系统中,还可以将该图像数据输出给打印机400,或者通过网络500将该图像数据传送给用于远程诊断的显示装置或图像管理系统。
将说明系统控制单元150的各功能结构。
第一图像缩小单元151进行例如图1所示的第一图像缩小处理。更具体地,如图1中的1001和图1中的1002所示,第一图像缩小单元151对摄像单元120的2D传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息,包括基于缺陷像素位置信息161的缺陷像素的像素信息而进行相加或平均。然后,如图1中的1002和图1中的1003所示,第一图像缩小单元151对在列方向上相邻的多个像素的像素信息,排除基于缺陷像素位置信息161的缺陷像素的像素信息而进行相加或平均。第一图像缩小单元151的处理实现第一图像缩小处理,以将多个行×多个列上的像素的像素信息缩小成由摄像单元120的2D传感器所感测到的图像中的一个像素的像素信息。
第二图像缩小单元152进行例如图2所示的第二图像缩小处理。更具体地,如图2中的2001和图2中的2002所示,第二图像缩小单元152对摄像单元120的2D传感器中在列方向上相邻的多个像素的像素信息,包括基于缺陷像素位置信息161的缺陷像素的像素信息而进行相加或平均。然后,如图2中的2002和图2中的2003所示,第二图像缩小单元152对在行方向上相邻的多个像素的像素信息,排除基于缺陷像素位置信息161的缺陷像素的像素信息而进行相加或平均。第二图像缩小单元152的处理实现第二图像缩小处理,以将多个行×多个列上的像素的像素信息缩小成由摄像单元120的2D传感器所感测到的图像中的一个像素的像素信息。
当缩小由摄像单元120的2D传感器感测到的图像时,选择单元153根据第一图像缩小单元151和第二图像缩小单元152的处理结果,选择第一图像缩小单元151或第二图像缩小单元152。缺陷校正单元154对由通过选择单元153选择的第一图像缩小单元151或第二图像缩小单元152缩小的图像中的缺陷像素进行缺陷校正。
将说明图3所示的摄像单元120的内部结构。
图4是示出图3所示的摄像单元120的内部结构的示例的示意图。
如图4所示,摄像单元120包括驱动电路121、2D传感器122、电源123、以及读出电路124。
在2D传感器122中,以2D矩阵配置包括缺陷像素的多个像素1220。一个像素1220包括一个用于将入射X射线转换成电荷(像素信息)的转换元件1221、以及用于将由转换元件1221转换的电荷(像素信息)传送给像素1220外部的切换元件1222。在图4所示的示例中,在2D传感器122中配置m×n个像素1220。
转换元件1221包括例如光电转换元件、以及光电转换元件上方(在被摄体200和光电转换元件之间)的荧光体。在该情况下,荧光体将进入转换元件1221的X射线转换成可见光,并且光电转换元件将由荧光体转换的可见光转换成电荷(像素信息)。第一实施例中的转换元件1221不局限于由光电转换元件和荧光体组成的转换元件,并且还可以是所谓的将入射的X射线直接转换成电荷(像素信息)的直接转换型转换元件。由例如TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)形成切换元件1222。
在读出控制单元130的控制下,驱动电路121进行控制,以通过在行方向(主扫描方向)上连接2D传感器122的像素1220的驱动线(栅极线)g1~gm来驱动像素1220。即,驱动电路121构成副扫描单元,其中,该副扫描单元从在2D传感器122中以2D矩阵配置的像素1220中顺序选择用作读出单位的行上的像素,并且在列方向(副扫描方向)上扫描2D传感器122。更具体地,驱动线g1~gm连接到像素1220的切换元件1222的栅电极。驱动电路121向驱动线提供驱动信号以接通切换元件1222,并从转换元件1221向外部传送电荷(像素信息)。
例如,电源123向2D传感器122的像素1220的转换元件1221提供偏置电压。
在读出控制单元130的控制下,读出电路124进行控制,以通过在列方向上连接2D传感器122的像素1220的信号线s1~sn从像素1220的转换元件1221读出电荷(像素信息)。即,读出电路124构成主扫描单元,其中,主扫描单元通过信号线s1~sn从由驱动电路121选择的行上的像素中,顺序读出电荷(像素信息)。
更具体地,读出电路124包括信号放大电路1241、采样保持电路1242、以及多路复用电路1243。信号放大电路1241基于通过切换元件1222和信号线s1~sn从转换元件1221读出的电荷(像素信息),对电信号进行放大。采样保持电路1242保持由信号放大电路1241处理后的电信号,直到传送电信号为止。多路复用电路1243按照时间序列顺序接通开关SW1~SWn,以按照时间序列顺序读出保持在采样保持电路1242中的电信号,并通过放大器A将电信号输出到A/D转换单元140。通过从读出控制单元130输入的控制信号MUX1~MUXn,对多路复用电路1243的开关SW1~SWn的ON/OFF操作进行控制。
如上所述,根据第一实施例的系统控制单元150单独包括第一图像缩小单元151和第二图像缩小单元152。当基于输入到操作输入单元180的操作缩小图像时,选择单元153选择使用哪一个图像缩小单元。
首先,将说明第一图像缩小单元151的处理。
第一图像缩小单元151利用通过读出控制单元130控制图4所示的驱动电路121和读出电路124,来进行第一图像缩小处理。作为第一图像缩小单元151的处理,将说明用以将2×2个像素缩小成一个像素的图1所示的缩小处理。
第一图像缩小单元151使驱动电路121提供用于将驱动线(栅极线)g1的电位改变为Hi的驱动信号,从而接通连接到驱动线g1的所有切换元件1222。然后,将基于第一行上的像素的电荷(像素信息)的电信号读出到读出电路124,并由采样保持电路1242保持该电信号。第一图像缩小单元151通过读出控制单元130同时接收控制信号MUX1和MUX2,以同时接通开关SW1和SW2。此后,第一图像缩小单元151对于开关SW3~SWn,按顺序每两个同时接通。因此,将保持在采样保持电路1242中的第一行上的两个相邻像素的电荷(像素信息)同时读出到放大器A,作为模拟信号对其进行相加(或平均),并输出到A/D转换单元140。对于2D传感器122的第二~第m行顺序进行第一行的处理。由图1中的1002表示该处理。
通过每两个地接通/断开开关SW1~SWn,使得可以通过包括缺陷像素的像素信息而对2D传感器122中在行方向上相邻的两个像素进行的相加处理(或平均处理),来进行读出。在该情况下,可以降低输出到A/D转换单元140的电信号的数量,因此,与对所有像素信息进行A/D转换的情况相比,可以实现高速读出。
通过A/D转换单元140,将通过对2D传感器122中在行方向上相邻的两个像素的电荷(像素信息)进行相加(或平均)所获得的电信号转换成数字信号,并将该数字信号输入到系统控制单元150(第一图像缩小单元151)。第一图像缩小单元151对从A/D转换单元140提供的电信号中的在列方向上相邻的两个像素的像素信息,排除基于存储在存储单元160中的缺陷像素位置信息161的缺陷像素的像素信息而进行相加(或平均)。在该情况下,第一图像缩小单元151仅将非缺陷像素的像素信息作为数字信号进行相加(或平均)。通过该处理,将2×2个像素缩小成一个像素。由图1中的1003表示该处理。
在A/D转换单元140的A/D转换之后,可以将像素信息当作数字信号(数字数据)。即使要相加的两个像素的其中一个是缺陷像素,也容易排除缺陷像素的像素信息,并且通过仅使用非缺陷像素的像素信息来缩小图像。然而,当要相加的两个像素均为缺陷像素时,即使在缩小之后,它们仍保持为缺陷。
接着,将说明第二图像缩小单元152的处理。
第二图像缩小单元152利用通过读出控制单元130对图4所示的驱动电路121和读出电路124进行控制,来进行第二图像缩小处理。作为第二图像缩小单元152的处理,将说明用以将2×2个像素缩小成一个像素的图2所示的缩小处理。
第二图像缩小单元152使驱动电路121提供用于将驱动线(栅极线)g1和g2的电位改变为Hi的驱动信号,从而接通连接到这两个驱动线g1和g2的所有切换元件1222。然后,将基于第一和第二行上的像素的电荷(像素信息)的电信号同时读出到读出电路124,并由采样保持电路1242保持该电信号。通过同时接通两个驱动线上的切换元件1222,作为模拟信号而对2D传感器122中在列方向上相邻的两个像素的电荷(像素信息)进行相加(或平均),并保持在采样保持电路1242中。顺序接通多路复用电路1243中的开关SW1~SWn,以将保持在采样保持电路1242中的电信号通过放大器A顺序输出到A/D转换单元140。对于2D传感器122的第三~第m行,每两行地顺序进行第一和第二行的处理。由图2中的2002表示该处理。
通过将来自驱动电路121的驱动信号每两行地同时提供给驱动线g1~gm,可以包括缺陷像素的像素信息而对2D传感器122中在列方向上相邻的两个像素的像素信息进行相加(或平均)。在该情况下,与向各驱动线提供驱动信号的情况相比,可以将从2D传感器122的各像素读出像素信息的计数减少一半,以实现高速读出。
通过A/D转换单元140,将通过对2D传感器122中在列方向上相邻的两个像素的电荷(像素信息)进行相加(或平均)所获得的电信号转换成数字信号,并输入到系统控制单元150(第二图像缩小单元152)。第二图像缩小单元152对从A/D转换单元140所提供的电信号中的在行方向上相邻的两个像素的像素信息,排除基于存储在存储单元160中的缺陷像素位置信息161的缺陷像素的像素信息而进行相加(或平均)。在该情况下,第二图像缩小单元152仅将非缺陷像素的像素信息作为数字信号进行相加(或平均)。通过该处理,将2×2个像素缩小成一个像素。由图2中的2003表示该处理。
在A/D转换单元140的A/D转换之后,可以将像素信息当作数字信号(数字数据)。即使要相加的两个像素的其中一个是缺陷像素,也容易排除缺陷像素的像素信息,并且通过仅使用非缺陷像素的像素信息来缩小图像。然而,当要相加的两个像素均为缺陷像素时,即使在缩小之后,它们仍保持为缺陷。
将说明对根据第一实施例的X射线摄像装置100进行驱动的方法。
图5是示出根据本发明第一实施例的X射线摄像装置的处理序列的示例的流程图。假定在下面的流程图中,操作者通过操作输入单元180预先选择图像缩小模式作为放射线拍摄模式,并设置与被摄体200的放射线拍摄有关的所要求的帧频。
在图5的步骤S101,第一图像缩小单元151通过使用存储在存储单元160中的缺陷像素位置信息161,在实际放射线拍摄之前的预备放射线拍摄中,对由摄像单元120感测到的图像执行上述第一图像缩小处理。第一图像缩小单元151通过计算,获取通过第一图像缩小处理缩小后的图像中的缺陷像素的数量N1。在图1所示的示例中,如图1中的1003所示,获取缺陷像素的数量N1=1。
在步骤S102,第二图像缩小单元152通过使用存储在存储单元160中的缺陷像素位置信息161,在实际放射线拍摄之前的预备放射线拍摄中,对由摄像单元120感测到的图像执行上述第二图像缩小处理。第二图像缩小单元152通过计算,获取通过第二图像缩小处理缩小后的图像中的缺陷像素的数量N2。在图2所示的示例中,如图2中的2003所示,获取缺陷像素的数量N2=4。
在步骤S103,选择单元153将在步骤S101中获取的缺陷像素的数量N1和在步骤S102中获取的缺陷像素的数量N2进行比较,并判断缺陷像素的数量N1是否小于缺陷像素的数量N2。
如果选择单元153在步骤S103中判断为缺陷像素的数量N1小于缺陷像素的数量N2,则处理进入步骤S104。在步骤S104,选择单元153判断在使用第一图像缩小单元151时获得的帧频是否满足通过操作输入单元180输入的所要求的帧频。更具体地,在步骤S104,选择单元153通过判断在使用第一图像缩小单元151时获得的帧频是否等于或大于通过操作输入单元180输入的所要求的帧频来进行该判断。
如果选择单元153在步骤S104判断为在使用第一图像缩小单元151时获得的帧频满足通过操作输入单元180输入的所要求的帧频,则处理进入步骤S105。在步骤S105,系统控制单元150执行实际放射线拍摄以对被摄体200进行放射线拍摄。选择单元153选择第一图像缩小单元151的处理作为用于读出由摄像单元120感测到的(被摄体)图像的方法,并使第一图像缩小单元151进行第一图像缩小处理。因此,基于第一图像缩小处理来缩小(被摄体)图像。
如果选择单元153在步骤S103判断为缺陷像素的数量N1不小于(等于或大于)缺陷像素的数量N2,或者如果在步骤S104判断为在使用第一图像缩小单元151时获得的帧频不满足所要求的帧频,则处理进入步骤S106。在步骤S106,系统控制单元150执行实际放射线拍摄以对被摄体200进行放射线拍摄。选择单元153选择第二图像缩小单元152的处理作为用于读出由摄像单元120感测到的(被摄体)图像的方法,并使第二图像缩小单元152进行第二图像缩小处理。因此,基于第二图像缩小处理来缩小(被摄体)图像。
在结束步骤S105或S106中的处理之后,处理进入步骤S107。在步骤S107,缺陷校正单元154对通过由选择单元153选择的第一图像缩小单元151或第二图像缩小单元152缩小后的图像中的缺陷像素进行缺陷校正。在该情况下,对缩小后的图像的各像素进行缺陷校正处理。例如,作为该缺陷校正方法,通过相邻像素的像素信息对缺陷像素的像素信息进行补偿。
将已经过缺陷校正单元154的缺陷校正处理的缩小后的图像作为图像数据163存储在存储单元160中。如果必要,则通过图像处理单元(未示出)将图像数据163处理成适合于诊断的图像数据,并将其显示在监视器300上、输出到打印机400、或者通过网络500传送到外部。
通过步骤S101~S107中的处理,适当选择第一图像缩小单元151的第一图像缩小处理或第二图像缩小单元152的第二图像缩小处理,以对由摄像单元120感测到的(被摄体)图像进行处理。
将说明图5所示的流程图中的特征处理。
在步骤S103,选择单元153将由第一图像缩小单元151缩小后的图像中的缺陷像素的数量N1和由第二图像缩小单元152缩小后的图像中的缺陷像素的数量N2进行比较。选择单元153选择可以获得更少数量的缺陷像素的图像缩小单元。
与第二图像缩小单元152的第二图像缩小处理相比,第一图像缩小单元151的第一图像缩小处理降低了与放射线拍摄有关的帧频。即,与驱动电路121对在列方向上相邻的像素的像素信息包括缺陷像素的像素信息而进行相加(或平均)的情况相比,在读出电路124对在行方向上相邻的像素的像素信息包括缺陷像素的像素信息而进行相加(或平均)的情况下,帧频更低。由于该原因,当步骤S104中在使用第一图像缩小单元151时获得的帧频不满足所要求的帧频时,选择单元153选择使用第二图像缩小单元152进行读出。在该情况下,选择单元153选择在选择第一图像缩小单元151或第二图像缩小单元152时具有更短处理时间的图像缩小单元。这样可以进一步增大与放射线拍摄有关的帧频。
如果在步骤S103中,缺陷像素的数量N1等于缺陷像素的数量N2,则选择单元153在步骤S106中选择使用第二图像缩小单元152进行读出。在该情况下,选择单元153选择具有更短处理时间(更高读出速度)的第二图像缩小单元152。
第一实施例对获取缺陷像素位置信息161没有任何限制。例如,可以使用在制造2D传感器122时的检查结果的数据,或者使用通过在不生成任何X射线时进行测试感测所获得的数据。作为图像缩小处理的示例,第一实施例说明了将2×2个像素的像素信息(电荷)缩小成一个像素的像素信息的处理(即,使用2×2个像素作为缩小单位的处理)。然而,本发明并不局限于此。例如,本发明还可应用于将4×4个像素或8×8个像素作为缩小单位进行缩小的形式。注意,缩小单位期望为2D传感器122的总行数的约数。
如上所述,在根据第一实施例的X射线摄像装置100中,选择单元153在缩小和读出由摄像单元120所感测到的(被摄体)图像时,选择第一图像缩小单元151或第二图像缩小单元152。
该结构可以通过简单结构增大帧频,并防止图像质量下降。
更具体地,在根据第一实施例的X射线摄像装置100中,选择单元153选择可以在缩小后的图像中获得更少数量的缺陷像素的图像缩小单元。因此,X射线摄像装置100可以提供几乎没有质量下降的高质量图像。当所要求的帧频高时,选择单元153选择具有更高处理速度(更短处理时间)的图像缩小单元。X射线摄像装置100甚至可以处理需要高帧频的放射线拍摄。另外,可以无需任何复杂的用于通过模拟电信号的简单相加(平均)在读出之前排除缺陷像素的硬件结构,而通过简单电路结构实现根据第一实施例的X射线摄像装置100。
第二实施例
将说明本发明的第二实施例。
包括根据第二实施例的X射线摄像装置的X射线摄像系统的示意性结构与图3所示的包括根据第一实施例的X射线摄像装置的X射线摄像系统的示意性结构相同。在第一实施例中,选择单元153判断要对整个2D传感器122执行第一图像缩小单元151的第一图像缩小处理还是执行第二图像缩小单元152的第二图像缩小处理。与此相反,在第二实施例中,选择单元153判断要对2D传感器122中的每多个行执行第一图像缩小单元151的第一图像缩小处理还是执行第二图像缩小单元152的第二图像缩小处理。即,选择单元153判断要对读出电路124的在2D传感器122中配置的像素的像素信息的每一读出单位执行第一图像缩小单元151的第一图像缩小处理还是执行第二图像缩小单元152的第二图像缩小处理。
将说明对根据第二实施例的X射线摄像装置100进行驱动的方法。
图6是示出根据本发明第二实施例的X射线摄像装置的处理序列的示例的流程图。下面的流程图举例示出这样一种情况:读出作为读出电路124的读出单位的、配置在2D传感器122中每两行上的像素的像素信息。在下面的说明中,以2D矩阵配置在2D传感器122中的像素1220的行数m为偶数。
在图6的步骤S201,系统控制单元150将表示读出电路124的读出单位编号的变量M设置为0。因此,设置了读出单位编号M。
在步骤S202,根据第二实施例,为了由读出电路124每两行地读出像素信息,系统控制单元150判断读出单位编号M是否小于2D传感器122的行数m的一半。即,在步骤S202,系统控制单元150判断在2D传感器122的像素中是否仍然存在未经过读出电路124读出的像素。
如果系统控制单元150在步骤S202判断为读出单位编号小于2D传感器122的行数m的一半,则判断为在2D传感器122的像素中仍然存在未经过读出电路124读出的像素,并且处理进入步骤S203。在步骤S203,第一图像缩小单元151通过使用缺陷像素位置信息161,对在实际放射线拍摄之前的预备放射线拍摄中由摄像单元120感测到的图像中的第(2M+1)和第(2M+2)行上的像素,执行上述第一图像缩小处理。第一图像缩小单元151通过计算,获取通过第一图像缩小处理缩小后的图像中的与第(2M+1)和第(2M+2)行上的像素相对应的缺陷像素的数量N1M
在步骤S204,第二图像缩小单元152通过使用缺陷像素位置信息161,对在实际放射线拍摄之前的预备放射线拍摄中由摄像单元120感测到的图像中的第(2M+1)和第(2M+2)行上的像素,执行上述第二图像缩小处理。第二图像缩小单元152通过计算,获取通过第二图像缩小处理缩小后的图像中的与第(2M+1)和第(2M+2)行上的像素相对应的缺陷像素的数量N2M
在步骤S205,选择单元153将在步骤S203获取的缺陷像素的数量N1M和在步骤S204中获取的缺陷像素的数量N2M进行比较,并判断缺陷像素的数量N1M是否小于缺陷像素的数量N2M
如果选择单元153在步骤S205判断为缺陷像素的数量N1M小于缺陷像素的数量N2M,则处理进入步骤S206。在步骤S206,选择单元153选择第一图像缩小单元151的处理,作为用于从在对被摄体200进行放射线拍摄的实际放射线拍摄中由摄像单元120感测到的(被摄体)图像的第(2M+1)和第(2M+2)行上的像素读出像素信息的方法。然后,选择单元153使第一图像缩小单元151进行第一图像缩小处理。
如果选择单元153在步骤S205判断为缺陷像素的数量N1M不小于(等于或大于)缺陷像素的数量N2M,则处理进入步骤S207。在步骤S207,选择单元153选择第二图像缩小单元152的处理,作为用于从在对被摄体200进行放射线拍摄的实际放射线拍摄中由摄像单元120感测到的(被摄体)图像的第(2M+1)和第(2M+2)行上的像素读出像素信息的方法。然后,选择单元153使第二图像缩小单元152进行第二图像缩小处理。
在结束步骤S206或S207中的处理之后,处理进入步骤S208。在步骤S208,系统控制单元150通过将表示读出电路124的读出单位编号的变量M增大1,来改变读出单位编号M。系统控制单元150对改变后的读出单位编号M再次执行从步骤S202开始的处理。
如果系统控制单元150在步骤S202判断为读出单位编码M等于或大于2D传感器122的行数m的一半,则判断为读出电路124已从2D传感器122的所有像素读出了像素信息,并且处理进入步骤S209。在步骤S209,系统控制单元150生成对各读出单位通过第一或第二图像缩小处理缩小后的图像,并且缺陷校正单元154对缩小后的图像中的缺陷像素进行缺陷校正。在该情况下,对缩小后的图像的每一像素进行缺陷校正处理。例如,作为该缺陷校正方法,利用相邻像素的像素信息补偿缺陷像素的像素信息。
将已经过缺陷校正单元154的缺陷校正处理的缩小后的图像作为图像数据163存储在存储单元160中。如果必要,则通过图像处理单元(未示出)将图像数据163处理成适合于诊断的图像数据,并将其显示在监视器300上、输出到打印机400、或者通过网络500传送到外部。
通过步骤S201~S209的处理,适当选择第一图像缩小单元151的第一图像缩小处理或第二图像缩小单元152的第二图像缩小处理,并对读出电路124的每一读出单位执行所选择的图像缩小处理。
将说明图6所示的流程图的特征处理。
在步骤S205,选择单元153将由第一图像缩小单元151缩小后的图像的读出单位中的缺陷像素的数量N1M和由第二图像缩小单元152缩小后的图像的读出单位中的缺陷像素的数量N2M进行比较。作为缺陷像素的数量N1M和缺陷像素的数量N2M的比较结果,选择单元153选择可以获得更少数量的缺陷像素的图像缩小单元(步骤S206或S207)。
如果在步骤S205缺陷像素的数量N1M等于缺陷像素的数量N2M,则选择单元153在步骤S207中选择使用第二图像缩小单元152进行读取。在该情况下,选择单元153选择可以获得更短处理时间(更高读出速度)的第二图像缩小单元152。
第二实施例已举例示出了这样一种处理:将读出电路124的读出单位设置成2D传感器122的两个行,并将缩小单位设置成2×2个像素。然而,本发明并不局限于此。例如,本发明还可应用于将缩小单位设置成4×4个像素并将读出单位设置成2D传感器122的四个行的形式、或者应用于将缩小单位设置成8×8个像素并将读出单位设置为2D传感器122的八个行的形式。注意,缩小单位期望为2D传感器122的总行数的约数。读出单位不必始终与缩小单位一致,并且还可以是例如缩小单位的整数倍。例如,当缩小单位为2×2个像素时,还可以将读出单位设置成缩小单位的整数倍,如两行、四行或六行。
在第二实施例中,从2D传感器122的顶部向底部,选择与读出单位相对应的多个行。然而,本发明并不局限于此,并且还可以从2D传感器122的底部向顶部,选择与读出单位相对应的多个行。
如上所述,在根据第二实施例的X射线摄像装置100中,选择单元153在读出电路124的各读出单位中,选择第一图像缩小单元151或第二图像缩小单元152。
除根据第一实施例的X射线摄像装置的效果以外,该结构还可以进一步降低缩小后的图像中的缺陷像素的数量,并且提供图像质量几乎没有下降的图像。
可以通过启动存储在计算机的RAM或ROM中的程序来实现图3中的构成根据上述各实施例的X射线摄像装置100的单元(构件)以及表示驱动该X射线摄像装置100的方法的图5和6中的步骤。该程序和存储该程序的计算机可读存储介质落在本发明的范围内。
更具体地,通过将程序存储在CD-ROM等的存储介质中、或者通过各种传输介质,将该程序提供给计算机。作为存储该程序的存储介质,除CD-ROM以外,还可以使用软盘、硬盘、磁带、磁光盘、以及非易失性存储卡等。作为程序传输介质,可以使用用于作为载波传播程序信息以提供该程序信息的计算机网络(例如,LAN、因特网等WAN、或无线通信网络)系统中的通信介质。该通信介质的示例是光纤等的有线信道或无线信道。
本发明不局限于通过由计算机执行提供的程序实现根据各实施例的X射线摄像装置100的功能的形式。另外,当通过与运行在计算机上的OS(操作系统)或其它应用程序软件协作的程序来实现根据各实施例的X射线摄像装置100的功能时,该程序落在本发明的范围内。另外,当通过由计算机的功能扩展板或单元执行所提供的程序的全部或部分处理来实现根据各实施例的X射线摄像装置100的功能时,该程序落在本发明的范围内。
尽管已经参考典型实施例说明了本发明,但是应该理解,本发明不局限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释,以包含所有这类修改、等同结构和功能。

Claims (17)

1.一种摄像装置,包括:
摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;
存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息;
第一图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;
第二图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及
选择单元,其在缩小所述图像时选择所述第一图像缩小单元或所述第二图像缩小单元。
2.根据权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,所述选择单元将由所述第一图像缩小单元缩小后的图像中的缺陷像素的数量和由所述第二图像缩小单元缩小后的图像中的缺陷像素的数量进行比较,并选择所述第一图像缩小单元和所述第二图像缩小单元中可以获得更少数量的缺陷像素的图像缩小单元。
3.根据权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,当选择所述第一图像缩小单元或所述第二图像缩小单元时,所述选择单元选择所述第一图像缩小单元和所述第二图像缩小单元中可以获得更短处理时间的图像缩小单元。
4.根据权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,所述选择单元将由所述第一图像缩小单元缩小后的图像中的缺陷像素的数量和由所述第二图像缩小单元缩小后的图像中的缺陷像素的数量进行比较,并且当缺陷像素的数量彼此相等时,选择所述第一图像缩小单元和所述第二图像缩小单元中可以获得更短处理时间的图像缩小单元。
5.一种摄像装置,包括:
摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;
存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息;
第一图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;
第二图像缩小单元,其通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及
选择单元,其在缩小所述图像时,对以所述矩阵形式配置在所述传感器中的所述多个像素的像素信息的每一读出单位,选择所述第一图像缩小单元或所述第二图像缩小单元。
6.根据权利要求5所述的摄像装置,其特征在于,所述选择单元将由所述第一图像缩小单元缩小后的图像中的所述读出单位中的缺陷像素的数量和由所述第二图像缩小单元缩小后的图像中的所述读出单位中的缺陷像素的数量进行比较,并选择所述第一图像缩小单元和所述第二图像缩小单元中可以获得更少数量的缺陷像素的图像缩小单元。
7.根据权利要求5所述的摄像装置,其特征在于,所述选择单元将由所述第一图像缩小单元缩小后的图像中的所述读出单位中的缺陷像素的数量和由所述第二图像缩小单元缩小后的图像中的所述读出单位中的缺陷像素的数量进行比较,并且当缺陷像素的数量彼此相等时,选择所述第一图像缩小单元和所述第二图像缩小单元中可以获得更短处理时间的图像缩小单元。
8.根据权利要求1或5所述的摄像装置,其特征在于,所述摄像单元还包括:
副扫描单元,其从以所述矩阵形式配置在所述传感器中的所述多个像素中顺序选择与读出单位相对应的行上的像素;以及
主扫描单元,其顺序读出由所述副扫描单元选择的行上的像素的像素信息。
9.根据权利要求8所述的摄像装置,其特征在于,当包括所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均时,所述第一图像缩小单元使所述主扫描单元同时读出在所述行方向上相邻的所述多个像素的所述像素信息,并将所述像素信息作为模拟信号进行相加或平均。
10.根据权利要求8所述的摄像装置,其特征在于,当包括所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均时,所述第二图像缩小单元使所述副扫描单元同时选择与在所述列方向上相邻的所述多个像素相关联的多个行上的像素,并将在所述多个行上的同时选择的所述像素的像素信息作为模拟信号进行相加或平均。
11.根据权利要求1或5所述的摄像装置,其特征在于,当排除所述缺陷像素的像素信息而对多个相邻像素的像素信息进行相加或平均时,所述第一图像缩小单元和所述第二图像缩小单元基于存储在所述存储单元中的所述缺陷像素的所述位置信息,仅将所述缺陷像素以外的非缺陷像素的像素信息作为数字信号进行相加或平均。
12.根据权利要求1或5所述的摄像装置,其特征在于,还包括缺陷校正单元,所述缺陷校正单元对由所述选择单元选择的所述第一图像缩小单元或所述第二图像缩小单元缩小后的图像中的缺陷像素进行缺陷校正。
13.根据权利要求1或5所述的摄像装置,其特征在于,所述摄像单元感测与入射在所述传感器上的放射线的强调分布相对应的图像。
14.一种驱动摄像装置的方法,所述摄像装置具有:摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;以及存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息,所述方法包括以下步骤:
第一图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;
第二图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及选择步骤,用于在缩小所述图像时选择所述第一图像缩小步骤或所述第二图像缩小步骤。
15.一种驱动摄像装置的方法,所述摄像装置具有:摄像单元,其具有以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器,并感测图像;以及存储单元,其存储所述缺陷像素的位置信息,所述方法包括以下步骤:
第一图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;
第二图像缩小步骤,用于通过包括基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对所述传感器中在所述列方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均、并排除基于所述位置信息的所述缺陷像素的像素信息而对在所述行方向上相邻的多个像素的像素信息进行相加或平均,来缩小所述图像;以及
选择步骤,用于在缩小所述图像时,对以所述矩阵形式配置在所述传感器中的所述多个像素的像素信息的每一读出单位,选择所述第一图像缩小步骤或所述第二图像缩小步骤。
16.一种摄像装置,包括:
摄像单元,其通过使用以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器来感测图像;
第一图像缩小单元,其通过在行方向或列方向上包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像;以及
第二图像缩小单元,其通过在不同于所述第一图像缩小单元的所述合成方向的方向上不包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像。
17.一种驱动摄像装置的摄像方法,所述摄像方法包括以下步骤:
摄像步骤,用于通过使用以矩阵形式配置包括缺陷像素的多个像素的传感器来感测图像;
第一图像缩小步骤,用于通过在行方向或列方向上包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像;以及
第二图像缩小步骤,用于通过在不同于所述第一图像缩小步骤的所述合成方向的方向上不包括所述缺陷像素而合成多个像素,来缩小所述图像。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104068882A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 富士胶片株式会社 放射线图像检测设备及其操作方法、以及放射线成像系统
CN104799877A (zh) * 2010-11-22 2015-07-29 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社 动态诊断辅助信息生成系统
CN110178366A (zh) * 2017-01-17 2019-08-27 索尼半导体解决方案公司 摄像装置和摄像装置控制方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100266171A1 (en) * 2007-05-24 2010-10-21 Surgiceye Gmbh Image formation apparatus and method for nuclear imaging
JP5404179B2 (ja) 2009-05-21 2014-01-29 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法、プログラム
KR101025988B1 (ko) 2009-08-25 2011-03-30 삼성전기주식회사 이미지 센서의 픽셀 결함 보정 장치 및 방법
JP5586909B2 (ja) * 2009-09-29 2014-09-10 キヤノン株式会社 情報処理装置、システム、方法及びプログラム
KR101026046B1 (ko) 2009-10-06 2011-03-30 삼성전기주식회사 이미지 센서의 픽셀 결함 보정 장치 및 방법
US8379955B2 (en) * 2010-11-27 2013-02-19 Intrinsic Medical Imaging, LLC Visualizing a 3D volume dataset of an image at any position or orientation from within or outside
JP5955007B2 (ja) 2012-02-01 2016-07-20 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像方法
JP2013255040A (ja) * 2012-06-05 2013-12-19 Canon Inc 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法およびプログラム
JP5424371B1 (ja) 2013-05-08 2014-02-26 誠 雫石 固体撮像素子及び撮像装置
WO2016080016A1 (ja) * 2014-11-20 2016-05-26 株式会社島津製作所 光検出器
JP2020031960A (ja) * 2018-08-31 2020-03-05 コニカミノルタ株式会社 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3431277B2 (ja) * 1994-05-30 2003-07-28 株式会社東芝 X線診断装置
US5528043A (en) * 1995-04-21 1996-06-18 Thermotrex Corporation X-ray image sensor
US5886353A (en) * 1995-04-21 1999-03-23 Thermotrex Corporation Imaging device
JPH10285466A (ja) 1997-04-07 1998-10-23 Toshiba Corp 撮像装置
JP4646394B2 (ja) * 2000-12-15 2011-03-09 オリンパス株式会社 撮像装置
US6751005B1 (en) * 2002-12-20 2004-06-15 Eastman Kodak Company Compensating for pixel defects by spatial translation of scene content
US7796169B2 (en) * 2004-04-20 2010-09-14 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus for correcting captured image
EP1605403A1 (en) * 2004-06-08 2005-12-14 STMicroelectronics S.r.l. Filtering of noisy images
JP2006043293A (ja) 2004-08-06 2006-02-16 Canon Inc 放射線撮像装置及びその制御方法
JP4378341B2 (ja) * 2005-12-26 2009-12-02 キヤノン株式会社 撮像装置及び補正方法
JP4807075B2 (ja) * 2005-12-28 2011-11-02 ソニー株式会社 撮像装置およびその欠陥画素補正方法
JP2007189589A (ja) * 2006-01-16 2007-07-26 Sony Corp 情報処理装置および情報処理方法、学習装置および学習方法、並びにプログラム
JP4850730B2 (ja) * 2006-03-16 2012-01-11 キヤノン株式会社 撮像装置、その処理方法及びプログラム
JP4908289B2 (ja) * 2007-03-30 2012-04-04 富士フイルム株式会社 画像処理装置、方法及びプログラム

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104799877A (zh) * 2010-11-22 2015-07-29 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社 动态诊断辅助信息生成系统
CN104799877B (zh) * 2010-11-22 2018-06-01 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社 动态诊断辅助信息生成系统
US10278661B2 (en) 2010-11-22 2019-05-07 Konica Minolta, Inc. Dynamic diagnosis support information generation system
CN104068882A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 富士胶片株式会社 放射线图像检测设备及其操作方法、以及放射线成像系统
CN104068882B (zh) * 2013-03-29 2018-04-17 富士胶片株式会社 放射线图像检测设备及其操作方法、以及放射线成像系统
CN110178366A (zh) * 2017-01-17 2019-08-27 索尼半导体解决方案公司 摄像装置和摄像装置控制方法
CN110178366B (zh) * 2017-01-17 2022-05-13 索尼半导体解决方案公司 摄像装置和摄像装置控制方法

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