CN101350202A - 光盘状态检测方法及其装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种光盘状态检测装置,具备:缺损检测电路,被提供从光盘读取的信号,对缺损进行检测而供给缺损检测信号;旋转同步脉冲生成单元,与上述光盘的旋转同步地输出旋转同步脉冲;存储器,被提供上述缺损检测信号并存储上述缺损检测信号;写入电路,进行向上述存储器的数据的写入处理;读出电路,进行从上述存储器的数据的读出处理;和系统控制器,进行上述读出电路的控制,以与上述旋转同步脉冲同步地进行向上述存储器的上述缺损检测信号的写入,与上述旋转同步脉冲同步地每当上述光盘旋转1周时进行至少1次从上述存储器的上述缺损检测信号的读出。
Description
本申请基于2007年7月19日提交的在先日本专利申请No.2007-187901并要求其优先权,在此通过参考而并入其所有内容。
技术领域
本发明涉及光盘状态检测方法及其装置。
背景技术
近年来,为了将与软盘或MO等可移动介质等同的使用便利性提供到CD-RW或DVD+RW而进行着规格化,当前提出了称为“Mount Rainier(Mt.Rainier)”的规格。
该规格还被称为“CD-MRW、DVD+MRW”,由多个公司作为核心构件(core member)来推动。
为了如MO盘或软盘那样从视窗操作系统(windows)上的浏览器通过托拽和下拉而在盘上写入数据,通常需要利用支持封包写入(packet write)的封包写入软件(packet writing soft)。
但是,视窗操作系统等OS(Operating System,操作系统)标准上不支持该方式,所以在写入时不仅需要封包写入软件,而且还在读出时需要专用的读软件。
另外,在通过封包写入软件来利用市场上销售的介质时,必需事先进行盘的格式化作业,无法直接着手写入作业。为了解决这样的问题,存在MountRainier。
在Mount Rainier中,希望利用硬件(驱动器)来进行缺损(defect)(不良扇区)管理等的统一,来实现基于OS的标准支持。
在以往的封包写入中,由封包写入软件来进行不良扇区的管理、将从OS送来的以2K字节为单位的数据集中成64K字节的固定长度包而写入等处理。通过将这样的处理转移到硬件侧,来容易地实现基于OS的支持。
除此以外,通过将介质的格式化作业设为基于硬件的即时响应(on-demand)的后台处理,用户仅通过将所购入的介质放入驱动器就可以立即开始写入。
但是,以往在硬件驱动器下的缺损、即不良扇区的管理中存在如下那样的问题。
如果对缺损区域进行检测,则通过将该扇区部分交换到设定在盘的外围区域的交换区域,将数据写入正常的区域。但是,由于缺损的定义依赖于各驱动器,所以在检测和判断的手法中存在相异。
特别,在高速驱动器的情况下,如果在该检测中需要时间,则有可能导致驱动器写入性能降低。另外,伴随盘的种类增加,存在难以稳定地检测缺损的问题。
本发明的目的在于提供一种可以短时间且高效地检测缺损的光盘状态检测方法及其装置。
发明内容
本发明的一个方式的光盘状态检测装置的特征在于,包括:缺损检测电路,被提供从光盘读取的信号,对缺损进行检测而供给缺损检测信号;旋转同步脉冲生成单元,与上述光盘的旋转同步地输出旋转同步脉冲;存储器,被提供上述缺损检测信号并存储上述缺损检测信号;写入电路,进行向上述存储器的数据的写入处理;读出电路,进行从上述存储器的数据的读出处理;和系统控制器,进行上述读出电路的控制,以与上述旋转同步脉冲同步地进行向上述存储器的上述缺损检测信号的写入,与上述旋转同步脉冲同步地每当上述光盘旋转1周时进行至少1次从上述存储器的上述缺损检测信号的读出。
另外,本发明的一个方式的光盘状态检测装置的特征在于,具备:光学拾取器,从光盘读取数据;缺损检测电路,被提供从上述光学拾取器读取的信号,对缺损进行检测而输出缺损检测信号;旋转以及旋转同步脉冲生成电路,使上述光盘旋转,并与该旋转同步地输出旋转同步脉冲;存储器,被提供上述缺损检测信号并存储;写入电路,进行向上述存储器的数据的写入处理;读出电路,从上述存储器进行数据的读出处理;和系统控制器,进行上述写入电路以及上述读出电路的控制,以与上述旋转同步脉冲同步地进行向上述存储器的上述缺损检测信号的写入,与上述旋转同步脉冲同步地每当上述光盘旋转1周时进行1次从上述存储器读出上述缺损检测信号。
本发明的一个方式的光盘状态检测方法进行具有旋转同步脉冲生成单元、系统控制器、缺损检测电路、写入电路、读出电路、存储器的光盘装置的状态检测,其特征在于,包括如下的步骤:利用上述缺损检测电路从自光盘读取的信号检测缺损,并输出缺损检测信号的步骤;与从上述旋转同步脉冲生成单元同步于光盘的旋转而发生的旋转同步脉冲同步地,上述系统控制器对上述写入电路进行控制,以向上述存储器写入上述缺损检测信号的步骤;和与上述旋转同步脉冲同步地上述系统控制器对上述读出电路进行控制,以每当上述光盘旋转1周时至少1次读出向上述存储器写入的上述缺损检测信号。
附图说明
图1是示出本发明的实施方式1的光盘状态检测装置的结构的框图。
图2示出相同的光盘状态检测装置所进行的光盘状态检测方法中的包括缺损检测的处理步骤的流程图。
图3是示出光盘中的数据区域、保护区域、交换区域的说明图。
图4是示出震动(shock)检测时的各信号的波形变化的时序图。
图5是示出缺损检测时的各信号的波形变化的时序图。
图6是示出存储器的动作时的各信号的波形的时序图。
图7是示出从存储器读出数据时的各信号的波形的时序图。
图8是示出存储器的结构的框图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施方式的光盘状态检测方法及其装置进行说明。在本实施方式中,伺服控制系统由数字电路构成。
从光盘11利用光拾取器12读出的信号通过RF(Radio Frequency,射频)放大器15,被取出伺服系统错误信号和信息数据信号Rf。
作为伺服系统错误信号的跟踪(tracking)错误信号TE在通过AD转换器16a转换成数字值之后,被输入到跟踪伺服控制电路16而输出控制信号,经由进给电动机控制电路17、DA转换器18a、放大器18,进行拾取器12的跟踪、使聚焦致动器、拾取器12整体动作的进给电动机14等的驱动,以可以使光拾取器12对螺旋状的轨道(track)进行追踪。
进而,从跟踪伺服控制电路16输出的控制信号在加法器41中与来自透镜驱动信号发生电路22a的驱动信号相加后,经由DA转换器20a、放大器20提供到拾取器12。
作为另一方的伺服系统错误信号的聚焦错误信号FE经由AD转换器19a转换成数字值后,输入到散焦·脱轨(detrack)检测电路32和聚焦伺服控制电路19。
在散焦·脱轨检测电路32中,对由于成为光盘11的成型不良或振动等原因而发生的聚焦错误、跟踪错误所引起的伺服异常状态进行检测,该结果被供给到存储器33并存储。
在聚焦伺服控制电路19中,使光束对焦于光盘11上那样地生成并输出的控制信号在加法器42中与从透镜驱动信号发生电路22输出的驱动信号相加之后,经由DA转换器21a、放大器21供给到拾取器12。
在再现系统中,信息数据信号RF被送到数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26,通过数据提取处理被2值化之后,实施位时钟抽出处理、同步信号抽出处理、以及解调处理。
在数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26中,进一步对进行了解调处理的数据和同步时钟,使用校正RAM27来进行校正处理。
在线速度恒定CLV(Constant Liner Velocity,恒定线速度)的盘旋转控制的情况下,在数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26中生成再现同步信号并送到盘电动机控制电路23,通过盘电动机驱动器24控制盘电动机13。
在高速再现驱动器中,一般多使用角速度恒定CAV(Constant AngularVelocity,恒定角速度)控制。在该情况下,从盘电动机13生成与电动机的转数同步的时钟信号FG并输入到盘电动机控制电路23,经由缓冲器24控制盘电动机13,以使时钟信号FG成为恒定周期。
另外,从RF放大器15输出摆动(wobble)信号并提供到摆动PLL以及解码器26b,表示光盘11上的拾取器12的位置的地址信息被提供到系统控制器25,基于该地址信息的控制信号被输出到盘电动机控制电路23。
进而另外,从数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26,向盘电动机控制电路23提供根据再现数据生成的时钟。
这样,向盘电动机控制电路23,输入从盘电动机13输出的时钟信号FG、从系统控制器25输出的控制信号、从数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26输出的时钟这3个控制系统的信号。
另一方面,在数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26中校正后的数据被送到数据缓冲电路28而被缓冲之后,通过未图示的主机I/F传送到主机计算机。
相反,在记录数据的情况下,数据从主机计算机通过主机I/F被提供到数据缓冲电路28。数据缓冲电路28将该数据临时写入数据缓冲电路28内的存储器,依次向数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26发送数据。
在数据提取电路/同步解调电路以及CD/DVD数据校正处理电路/奇偶校验生成电路26中,使用校正RAM 27,对所送来的数据附加奇偶校验数据。
附加了奇偶校验数据后的数据被调制成记录到光盘11的位流数据而送到激光功率调制电路29,对拾取器12的记录用激光进行调制而刻录位。包括记录开始定时的控制的记录控制是按照根据在RF放大器15中生成的摆动信号由摆动PLL和解码器电路26b生成的物理地址和记录定时来进行的。
由RF放大器15生成的信息数据信号RF中包含的DC分量在平均值检波器30中被检波并发送到缺损检测电路31。在缺损检测电路31中检测缺损,而生成缺损检测信号并写入存储器33。
这样向存储器33分别输入并写入从散焦·脱轨检测电路32输出的缺损检测信号、从缺损检测电路31输出的缺损检测信号。
向存储器33的写入是通过写入地址电路34与从盘电动机13输出的同步于旋转的脉冲状的时钟信号FG同步地进行的。从写入地址电路34输出每当光盘11旋转1周时发生1次的中断信号,作为1个旋转中断信号输入到系统控制器25。
存储在存储器33中的数据按照由读出地址电路34a指定的地址,通过读出电路35与中断信号同步地以每当光盘11旋转1周时1次的比率高速地被读出并送到系统控制器25,对缺损的发生进行检测。
系统控制器25具有对上述各电路的动作时序进行掌控的功能。另外,系统控制器25总是对缺损进行监视,在检测到缺损的情况下,向数据区域内的缺损表登记光盘11上的缺损的位置,进行将想要写入缺损的位置的数据写入到交换区域的处理。
使用图2的流程图,对使用了本实施方式的光盘状态检测装置的光盘状态检测方法中的缺损检测处理的步骤进行说明。
如上所述,Mount Rainier记录提供如FDD那样搭载于个人计算机中的OS支持光盘记录,在将光盘插入驱动器之后可以立即写入的光盘系统。
为了实现这样的功能,需要在后台处理格式化处理,并且需要进行将存在于数据记录区域中的缺损等记录不良部分交换到光盘的外围部的交换区域来记录数据的这样的缺损管理等。
当然,光盘以可再写性(Rewritable)为前提,例如提出在CD-RW、DVD+RW中支持Mount Rainier记录的规格。在Mount Rainier记录中,在后台执行格式化,但在CD中以1个扇区为单位(2K字节)进行处理,在DVD中以1个块为单位(16个扇区)进行处理。
以下的处理由图1所示的系统控制器25进行。首先,作为步骤S11,开始后台格式化程序。
在步骤S14中,以1个扇区或1个块为单位,通过将例如“AA”这样的校验(verifying)用的数据被记录到光盘的整个面,从而进行格式化处理。通过步骤S12、S13、S14,对所有扇区或所有块进行格式化。在步骤S12中,如果判定为正在记录与校验用不同的本来应记录的数据,则转移到后述的步骤S31。
在格式化完成之后,作为步骤S21,开始从光盘11的内周向外围读出并检查所记录的数据“AA”是否正确读出的校验程序。
在步骤S22中,与步骤S12同样地判断是否为正在记录数据。在正在记录数据的情况下,转移到后述的步骤S31中的数据记录程序。在并非数据正在记录数据的情况下,经由步骤S23转移到步骤S24。
在步骤S24中,执行1个扇区或1个块中的校验,作为步骤S25判定是否存在不良(NG)扇区或不良(NG)块。在存在的情况下,作为步骤S26进行缺损的登记。
通过从步骤S22到步骤S26的循环,直到所有扇区或所有块的校验完成为止进行校验处理,在完成的时间点,校验例程完成,作为步骤S27结束基于Mount Rainier的记录。
此处,在步骤S21~S26中的校验程序中,实际上通过写入并读出数据“AA”来进行验证,所以与其结果对应的可靠性高。
当在步骤S12、S22中判定为正在记录数据时,转移到步骤S31的数据记录程序。
经由步骤S32,在步骤S33中判断是否存在1个旋转中断信号的输入。如后所述,在存储器中存在存储器存储体A、B这2种,每当光盘11旋转1周时切换存储体而进行1次读出。在被输入了1个旋转中断信号的情况下转移到步骤S38,否则转移到步骤S34。
在步骤S34中,判断记录扇区或记录块是否被缺损登记。在被缺损登记的情况下,在步骤S35中中断记录而对交换区域进行查找之后,作为步骤S37对1个扇区或1个块记录数据。在没有被缺损登记的情况下,作为步骤S36对1个扇区或1个块记录数据。在步骤S36、S37之后,返回到步骤S12。
当在步骤S33中判定为被输入了1个旋转中断信号的情况下,在步骤S38中从存储器33的某一个存储器存储体A、B进行标志的读取。
在步骤S39中,判断是否检测到散焦或脱轨,在检测到的情况下在步骤S40中中断数据的记录,转移到步骤S41。散焦或脱轨与缺损不同,是由于震动的原因而发生的临时现象,所以如果再次重写则可以写入的情况较多。因此,在步骤S41中仅向前返回预定位数而再次进行写入处理(重试),返回到步骤S12。
当在步骤S39中没有检测到散焦或脱轨的情况下,在步骤S42中判定是否检测到缺损。在检测到的情况下,在步骤S43中中断记录之后,在步骤S44中向数据区域中的缺损表登记缺损的位置。在没有检测到缺损的情况下,返回到步骤S12。
这样在本实施方式中,在数据记录程序S31中,在用虚线围起来的部分60中,设有每当光盘11旋转1周时从存储器33读出1次标志信息的处理。由于每当光盘11旋转1周时进行1次该读出处理即可,所以可以减轻系统控制器25的负荷。
图3示出光盘101中的数据区域102、在其外围隔着保护区域103设置的交换区域104。当存在无法读出的区域的情况下,在将其物理地址、即光盘101上的地址且通常被调制并记录在摆动信号内的地址登记到数据区域102内的缺损表之后,将写入数据写入交换区域104。
另外,在Mount Rainier规格中,如果在格式化中或校验中执行了数据的记录命令,则可以中断格式化或校验处理而开始数据的记录。作为上述步骤S31示出的数据记录程序实现这样的处理。
在记录数据的情况下,按照通过格式化处理或校验处理登记的缺损登记信息来记录数据。但是,也需要假设在格式化处理或校验处理没有结束的状态下输出数据的记录命令的情况。
在这样的情况下,与记录动作平行地进行缺损检测。在记录中检测到缺损的情况下,中断记录对该部分直接进行缺损登记。通过进行这样的处理,即使在格式化处理或校验处理没有结束的状态下也可以记录数据。
此处,如果成为如上所述那样总是对缺损进行监视的那样的结构,则对系统控制器25造成更大的负荷。
进而,作为无法记录数据的要因,不仅是缺损,还考虑如搭载于笔记本(掌上)型个人计算机中的驱动器那样由于振动引起的记录不良,不仅是缺损监视还需要监视记录中的伺服状态,系统控制器25的负荷进一步变大。
因此在本实施方式中,通过如上所述每当光盘11旋转1周时从存储器33读取1次标志,从而减轻系统控制器25的负荷,以下详细叙述。
关于在震动时、缺损时发生聚焦错误、跟踪错误时的现象,参照图4、图5来进行说明。
此处,信息数据低频信号RFDC是抽出信息数据信号RF的低频分量的信号,且是表示光盘11的表面的反射状态的信号。振动信号SHC是将以预先决定聚焦错误信号FE的抖动的限制电平(高阈值Vthh 1、低阈值Vthl 1)进行了限制的检测标志、和以预先决定跟踪错误信号TE的抖动的限制电平(高阈值Vthh 2、低阈值Vthl 2)进行了限制的检测标志取逻辑和的信号,且是表示伺服的动作状态的信号。缺损检测信号DFCT是对信息数据低频信号RFDC的通常电平进行了限制(sliced)的信号,且是表示缺损的存在的信号。
由于来自外部的振动等,伺服从轨道的轨迹偏出而检测到脱轨时的各信号的波形如4所示。
信息数据信号RF是由高频构成的信号,但如果被提供震动则在该期间中振幅变动得较小。
跟踪错误信号TE的电平较大地变动,从轨道偏出的举动出现。在跟踪错误信号TE中振幅变动得更大,其结果输出检测到震动的脉冲状的震动信号SHC。
在振动更激烈的情况下,甚至聚焦错误信号FE也较大地抖动而检测出散焦,有时聚焦透镜的聚焦位置偏移。
在这样的情况下,当然需要紧急停止记录,并且被中止的记录数据需要再次返回到之前而重新记录。
缺损存在时的各信号的波形变化如图5所示。如果缺损存在,则所照射出的光束不被反射而检测光量降低,所以信息数据低频信号RFDC的电平降低。因此,通过对该部分进行预先决定的限制电平(低阈值Vthl 3)限制,可以生成缺损检测信号DFCT。
在这样的情况下,无法在该区域记录数据。因此,将存在缺损的区域缺损登记到数据区域102内的缺损表,向光盘11的外围部的交换区域记录数据。
对在检测到震动的情况下、或者在检测到缺损的情况下的存储器33的动作进行说明。
如图6所示,从盘电动机13输出的时钟信号FG被输入到写入地址电路34而生成存储器33的写入地址“Nn-2、Nn-1、Nn、…”。
另一方面,从散焦·脱轨检测电路32输出的震动信号SHC作为标记信息,以位数据的形式写入存储器33。此处,作为位信息“bit 0”,被写入到存储器地址“Nn-1”。
另外,从缺损检测电路31输出的缺损检测信号DFCT向存储器33作为标志信息写入,作为位信息“bit 1”而被写入存储器地址“Nn+4”的位置。此处,位信息“bit 0”、“bit 1”的宽度对应于时钟信号FG的脉冲宽度。
这样,按照在系统控制器25中在每当光盘11旋转1周时发生1次的中断定时,读出写入到存储器33的2种标志信息。
图7示出每当光盘11旋转1周时,进行写入的存储器存储体和进行读出的存储器存储体交替切换的现象。
每当光盘11旋转1周时,脉冲状的1个旋转中断信号被输入到系统控制器25。在光盘11旋转1周的期间与时钟信号FG的1个脉冲同步地对存储器存储体A进行数据的写入,读出是为了对存储器存储体B以每当旋转1周时1次的比率读出1次旋转量的存储器33的信息而进行的。
此处,由于系统控制器25对存储器33进行读出的速度非常高,所以可以大致突发状地瞬间读出1次旋转量的数据。如果1次旋转结束,则对存储器存储体B进行写入,对存储器存储体A进行读出。这样,进行写入、读出的存储器存储体交替切换。由此,可以使写入处理和读出处理工作成恰如同时并行地处理。(在一个旋转的中断信号为低时存在图3的S33的中断,且执行60的读子程序,除此以外执行写子程序。标志成为表示在读程序中是正常轨道、还是散焦轨道、还是缺损轨道的指针。)
参照图8,对存储器33的电路结构的一个例子进行说明。
该存储器33具备存储器存储体A201、存储器存储体B202、写入地址计数器211、写入地址解码器212、读出地址解码器213、读出地址计数器214。
向写入地址计数器211输入时钟信号FG,与时钟信号FG同步地生成写入地址,提供到写入地址解码器212。
写入地址解码器212例如对存储器存储体A指定地址,从数据输入电路221输入标志位,而进行写入。
另一方面,读脉冲读出后被提供到地址计数器214而生成读出地址,并提供到读出地址解码器213。在该情况下,对存储器存储体B指定地址,所读出的标志经由数据输出电路222从I/O总线被传送。
根据上述实施方式的光盘状态检测方法及其装置,可以减轻向系统控制器的负担,可以简单地进行Mount Rainier记录等处理。另外,还可以在减轻了向系统控制器的负荷的状态下容易地取得盘的缺损以外的散焦信息和脱轨信息,可以提高光盘驱动器的可靠性。
在当前的实施例中,每当光盘11旋转1周时,该中断信号供给到系统控制器25。因此,每当光盘11旋转1周时,写入数据的存储器存储体和读出数据的存储器存储体被交替地切换。
然而,每当光盘11旋转1周时,多个中断信号能够供给到该系统控制器25。在这种情况下,每当光盘11旋转1周时,写入数据的存储器存储体和读出数据的存储器存储体被多次交替地切换。进而,在每次改变写入数据的存储器存储体和读出数据的存储器存储体时,系统控制器25以突发状地n次读取缺损检测信号。其中n是在光盘11旋转1周时交替地切换存储器存储体的次数。
上述实施方式仅为一个例子,并不限定本发明,可以在本发明的技术性范围内进行各种变更。例如,读取次数不限定为1次。
Claims (20)
1.一种光盘状态检测装置,其特征在于,包括:
缺损检测电路,被提供从光盘读取的信号,对缺损进行检测而供给缺损检测信号;
旋转同步脉冲生成单元,与上述光盘的旋转同步地输出旋转同步脉冲;
存储器,被提供上述缺损检测信号并存储上述缺损检测信号;
写入电路,进行向上述存储器的数据的写入处理;
读出电路,进行从上述存储器的数据的读出处理;和
系统控制器,进行上述读出电路的控制,以与上述旋转同步脉冲同步地进行向上述存储器的上述缺损检测信号的写入,与上述旋转同步脉冲同步地每当上述光盘旋转1周时进行至少1次从上述存储器的上述缺损检测信号的读出。
2.根据权利要求1所述的光盘状态检测装置,其特征在于,还具备从光盘读取数据的光学拾取器,
上述缺损检测电路接收从上述光学拾取器读取的信号,对缺损进行检测而输出缺损检测信号,
上述旋转同步脉冲生成单元使上述光盘旋转,与该光盘的旋转同步地输出旋转同步脉冲。
3.根据权利要求1所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
上述存储器至少具有第1存储体以及第2存储体,
上述系统控制器进行上述写入电路以及上述读出电路的控制,在上述写入电路向上述第1存储体写入数据的期间,上述读出电路从上述第2存储体读出数据,在上述写入电路对上述第2存储体写入数据的期间,上述读出电路从上述第1存储体读出数据。
4.根据权利要求2所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
上述存储器至少具有第1存储体以及第2存储体,
上述系统控制器进行上述写入电路以及上述读出电路的控制,在上述写入电路向上述第1存储体写入数据的期间,上述读出电路从上述第2存储体读出数据,在上述写入电路对上述第2存储体写入数据的期间,上述读出电路从上述第1存储体读出数据。
5.根据权利要求3所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
6.根据权利要求4所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
7.根据权利要求3所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
8.根据权利要求4所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
9.根据权利要求1所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
上述缺损检测电路在检测到上述光盘本身的缺损时,输出上述缺损检测信号。
10.根据权利要求1所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
上述系统控制器每当上述光盘旋转1周时,突发状地读出上述光盘的1周旋转的上述缺损检测信号。
11.根据权利要求7所述的光盘状态检测装置,其特征在于,
每当在用于数据读出的存储器存储体和用于数据写入的存储器存储体之间切换时,系统控制器突发状地读出缺损检测信号。
12.一种光盘状态检测方法,进行具有旋转同步脉冲生成单元、系统控制器、缺损检测电路、写入电路、读出电路、存储器的光盘装置的状态检测,其特征在于,包括如下的步骤:
利用上述缺损检测电路从自光盘读取的信号检测缺损,并输出缺损检测信号的步骤;
与从上述旋转同步脉冲生成单元同步于光盘的旋转而发生的旋转同步脉冲同步地,上述系统控制器对上述写入电路进行控制,以向上述存储器写入上述缺损检测信号的步骤;和
与上述旋转同步脉冲同步地上述系统控制器对上述读出电路进行控制,以每当上述光盘旋转1周时至少1次读出向上述存储器写入的上述缺损检测信号。
13.根据权利要求12所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
上述存储器至少具有第1存储体以及第2存储体,
上述系统控制器进行上述写入电路以及上述读出电路的控制,在上述写入电路向上述第1存储体写入数据的期间,上述读出电路从上述第2存储体读出数据,在上述写入电路对上述第2存储体写入数据的期间,上述读出电路从上述第1存储体读出数据。
14.根据权利要求12所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
15.根据权利要求13所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
16.根据权利要求12所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
17.根据权利要求13所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第1存储体的写入和读出,
每当上述光盘旋转1周时,多次交替执行向上述第2存储体的写入和读出。
18.根据权利要求12所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
上述缺损检测电路在检测到上述光盘本身的缺损时,输出上述缺损检测信号。
19.根据权利要求12所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
上述系统控制器每当上述光盘旋转1周时,突发状地读出上述光盘的1周旋转的上述缺损检测信号。
20.根据权利要求16所述的光盘状态检测方法,其特征在于,
每当在用于数据读出的存储器存储体和用于数据写入的存储器存储体之间切换时,系统控制器突发状地读出缺损检测信号。
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