CN101320542B - 一种有机电致发光器件的检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种有机电致发光器件的检测装置，其包括电容数据采集单元，数据存储单元，数据比较单元、还包括数据处理单元及导通单元，电容数据采集单元分别与行列的导通单元连接，数据采集单元及数据存储单元的输出分别连接数据比较单元的输入端，数据比较单元的输出端与数据处理单元的输入端连接，数据处理单元的输出端与导通单元及数据存储单元连接。本发明利用有机电致发光器件具有一电容标准值的特性，对其进行电容检测，将检测结果与电容标准值比较，在电容标准值范围内即为无缺陷像素；不在电容标准值范围内，即为需要修复的存在缺陷的像素。本发明之检测装置对屏体进行电容检测，简单而有效，并且检测时无需器件工作。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测装置，尤其涉及一种有机电致发光器件的检测装置。
背景技术
有机电致发光显示器(OLED)具有自主发光、低电压直流驱动、全固化、视角宽、颜色丰富等一系列的优点，具有广阔的应用前景。
目前OLED器件分光源及点阵两种，其中光源为全屏点亮型，相当于全屏为一个单像素；而点阵型主要应用于显示屏，由多组像素组成。
在OLED的制备过程中，环境中的尘埃和蒸镀过程中的杂质会进入发光区，由于尘埃的存在，电极之间会出现短路现象，进而出现不亮点及列连现象，使得产品成为坏品；一些较小的尘埃即使不能产生短路，也会存在漏电现象，在长期工作后也会成为不亮点。为了保证屏体的质量，OLED显示屏的制程完成后，需要对每片显示屏进行检测程序、老化程序。
由于OLED显示屏是电流驱动性的显示器件，检测屏体的方法通常是观察显示屏的显示效果来检测，即由扫描方式，观察每个通过电流的区域是否发光来判断是否存在缺陷。然而有些缺陷只有在工作一段时间后才能表现出来，对这类缺陷的检测更加困难，常常需要在老化程序和预烧程序完成后才能进行，此时检测出的缺陷会导致整片显示屏报废。
另一种检测方式是通过检测电流信号来判断缺陷是否存在，如中国专利CN1275074号公开了一种由通过预定大小的电流来检测OLED显示屏的方法。该检测方式也需要显示屏进行工作，因而会消耗大量的能耗。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够简单有效判断屏体优良，同时检测缺陷像素位置的有机电致发光器件的检测装置。
本发明的目的是通过以下技术方案予以实现的：本发明之检测装置包括电容数据采集单元，数据存储单元，数据比较单元、其特征在于，还包括数据处理单元及导通单元，所述电容数据采集单元分别与行列的导通单元连接，所述数据采集单元及数据存储单元的输出分别连接数据比较单元的输入端，所述数据比较单元的输出端与数据处理单元的输入端连接，所述数据处理单元的输出端与导通单元及数据存储单元连接。
所述导通单元包括行列开关电路及行列导通装置，该行列导通装置用于根据行列开关电路的通断导通被选中的行或列。
所述数据处理单元通过地址存储器对数据存储单元的数据进行选择。
所述数据存储单元所存数据为有机电致发光器件的电容标准值。
所述电容标准值包括屏体电容标准值，列电容标准值，行电容标准值及像素电容标准值。
所述数据处理单元包括微处理器及行列开关控制器。
本发明基于的原理：有机电致发光器件包含第一电极、有机材料层以及与所述第一电极相对的第二电极，该结构与平行板电容器非常相近。相同结构的有机电致发光器件具有一定的电容量，且电容量满足平行板电容计算公式，即C＝εε0S/d，其中，C表示电容，ε是介电常数，ε0是真空介电常数，S是象素面积，d是两电极间的面间距。若器件结构中存在缺陷，例如附着在第一电极表面的尘埃颗粒或有机材料中的杂质等，都会造成介电常数的变化，进而导致有机电致发光器件电容量的变化。
本发明利用有机电致发光器件具有一电容标准值的特性，对其进行电容检测，将检测结果与电容标准值比较，在电容标准值范围内即为无缺陷像素；不在电容标准值范围内，即为需要修复的存在缺陷的像素。采用本发明之检测装置对屏体进行电容检测，简单而有效，并且检测时无需器件工作。
附图说明
图1为本发明检测装置结构框图；
图2为本发明之实施例结构图。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本发明做进一步说明。
参照图1、2。本发明之有机电致发光器件检测装置包括电容数据采集单元1，数据存储单元2，数据比较单元3及数据处理单元4、导通单元5-1、5-2；其中，电容数据采集单元1为一电容测量仪11，数据存储单元2为一数据存储器21，数据比较单元3为一比较器31，导通单元5-1、5-2包括行列开关电路6-1、6-2及行列导通装置7-1、7-2，该行列导通装置7-1、7-2用于根据行列开关电路6-1、6-2导通被选中的行或列，数据处理单元4通过地址存储器8对数据存储单元2进行选择，数据存储单元2所存数据为有机电致发光器件的电容标准值，电容标准值包括屏体电容标准值，列电容标准值，行电容标准值及像素电容标准值，数据处理单元4包括微处理器9及行列开关控制器10。
电容测量仪11的测量端分别与行列的导通装置7-1、7-2连接，本实施例中导通装置7-1、7-2为受控于行列开关电路6-1、6-2的探针，被选中的行或列通过探针与测试装置实现电连接；电容测量仪11及数据存储器21的输出分别连接比较器31的输入端，在比较器31中对两组数据进行比较，比较器31的输出端与微处理器9的输入端连接，将比较结果输入到微处理器9中，微处理器9的输出端通过地址存储器8对数据存储器21中的数据进行选择，同时，地址存储器8将微处理器9所选择的行或列地址信号通过行列开关控制器10控制对应的开关电路，通过相应的探针电连接所选中的行或列。
对有机电致发光显示屏进行检测过程如下：
①微处理器9送全屏地址，从数据存储器21得到全屏电容标准值对比数据，同时打开对应地址的所有行列开关，利用探针将全屏所有行和列与测试装置的电容测量仪11电连接，进行数据采集，采集到的全屏电容数据和数据存储器21中对应的全屏电容标准值送到比较器31中进行对比，将对比结果返回微处理器9进行判断是否在数据存储器21对应数据范围内，如检测数据在其范围内，则屏体无缺陷；如果不在其范围内，则进行行或列扫描，确定缺陷像素位置。
②微处理器9送所有行地址数据通过开关控制器10将屏体的行全部打开，然后依次打开各列开关进行列扫描，将采集到的每一列的电容数据与数据存储器21中对应列地址的列标准电容值数据送比较器31进行对比后，比较结果送给微处理器9进行判断，如数据在数据存储器21对应数据范围内，则继续列扫描，如不在数据存储器21对应数据范围内，则记录该列地址Ym，将其存储在微处理器9的存储器中，并继续列扫描、判断、记录，直到最后一列。至此得到所有与数据存储器21中对应列电容标准值不相符数据对应的列地址Ym。
③微处理器9根据步骤②记录的不符合数据存储器21中对应列电容标准值数据的第一个列地址Ym对应的列开关打开，依次扫描行，将采集到的像素电容数据与数据存储器21中对应像素电容标准值进行对比，并将比较结果送给微处理器9进行判断，如数据在像素电容标准值范围内，则继续扫描，如不在该范围内，则记录该像素地址Xn、Ym，并继续扫描判断记录，直到最后一行。微处理器9根据步骤②记录的不符合数据范围的下一个列地址对应的列开关打开，并重复上述操作，直到将所有不符合数据存储器21对应的列中的像素检测完。至此则找到所有与数据存储器21中对应像素电容标准值不相符的像素地址，即所有缺陷像素的地址。
对有机电致发光显示屏还可进行如下检测过程：
①微处理器9送全屏地址，从数据存储器21得到对比数据，同时打开对应地址的所有行列开关，利用探针将全屏所有行和列与测试装置的电容测量仪11电连接，进行数据采集，采集到的全屏电容数据和数据存储器21中对应的全屏电容标准值送到比较器31中进行对比，将对比结果返回微处理器9进行判断是否在数据存储器21对应数据范围内，如数据在其范围内，则屏体无缺陷；如果不在其范围内，则进行行或列扫描判断。
②微处理器9送所有行地址数据通过开关控制器10将屏体的行全部打开，然后依次打开各列开关进行列扫描，将采集到的每一列的电容数据与对应列地址的数据库数据21送比较器31进行对比后送给微处理器9进列判断，如数据在数据存储器21对应数据范围内，则继续列扫描，如不在数据存储器21对应数据范围内，则记录该列地址Ym，并将其存储在微处理器9的存储器中，依次扫描该列的各行，同时将检测到的像素电容值与数据存储器21中的像素电容标准值对比，由微处理器9判断是否在标准值范围内，如属于标准值范围，则继续下一行扫描，若不属于，记录该行地址Xn，即得到一个缺陷像素地址：Xn，Ym。继续下一行扫描，若该列其余各行像素再无缺陷像素，则进行前述操作，将屏体的行全部打开，从Ym+1列继续扫描、判断、记录，直到最后一列。
同理，在检测完全屏电容之后，检测数据如不符合数据存储器21中对应全屏电容标准值范围，需要确定缺陷像素地址时，也可先打开所有列开关，对行进行扫描，对每一行的采集数据与数据存储器21中的行电容标准值数据进行对比，记录不符合数据范围的行地址；将不符合数据范围的行地址，其中一行的控制开关打开，再进行列扫描，找到此行上不符合数据存储器21中对应像素电容标准值的列地址，再依次打开其余不符合数据存储器21中的行电容标准值数据的行，直到将所有不符合数据存储器21中对应像素电容标准值的行中的像素检测完。
实施例1
本实施例之检测对象为0.3cm×0.3cm的绿色实验片，器件结构为：阳极(ITO)/(空穴注入层)HIL/(空穴传输层)HTL/(发光层)EML/(电子传输层)ETL/(阴极)LiF/Al，本实施例所述实验片整片屏体为一个像素点。
将电容测量仪11的阳极连接实验片的阳极，阴极连接实验片的阴极，检测整个屏体的电容值5.06nF，符合数据存储器21中的0.3cm×0.3cm的绿色实验片电容标准值范围4.50nF～6.50nF，电流测试结果也表明实验片无缺陷。
实施例2
本实施例之检测对象为0.3cm×0.3cm的绿色实验片。
将电容测量仪11的阳极连接实验片的阳极，阴极连接实验片的阴极，检测整个屏体的电容值为4.00nF，不符合数据存储器21中的0.3cm×0.3cm的绿色实验片电容标准值范围4.50nF～6.50nF，测试时发光区亮度低，在放大镜中发现显示区有杂质，进入修复程序后，将缺陷修复，重复前述测试过程，测得实验片的电容值为4.64nF，符合数据存储器21中的电容标准值范围4.50nF～6.50nF，此时发光区工作正常。
实施例3
本实施例之检测对象为0.3cm×0.3cm的绿色实验片。
将电容测量仪11的阳极连接实验片的阳极，阴极连接实验片的阴极，检测整个屏体的电容值190nF，远远超出数据存储器21中的0.3cm×0.3cm的绿色实验片电容标准值范围4.50nF～6.50nF，并且很不稳定，此实验片有明显的短路点，不可修复，属报废品。
实施例4
本实施例之检测对象为发光区面积4.5cm×4.5cm的光源，本实施例所述光源整片屏体为一个像素点。
将电容测量仪11的阳极连接光源的阳极，阴极连接光源的阴极，检测整个屏体的电容值为190nF，符合数据存储器21中的4.5cm×4.5cm的光源电容标准值范围120nF～260nF，直接进入老化程序。
实施例5
本实施例之检测对象为发光区面积4.5cm×4.5cm的光源。
将电容测量仪11的阳极连接光源的阳极，阴极连接光源的阴极，检测屏体的电容值为61.7nF，不符合数据存储器21中的4.5cm×4.5cm的光源电容标准值范围120nF～260nF，发光区亮度低，且闪烁，显微镜下观察，显示区有杂质，进入修复程序，修复后，重复前述测试过程，测得光源的电容值为132nF，符合数据存储器21中的电容标准值范围120nF～260nF，可正常工作。
实施例6
本实施例之检测对象为128×64的点阵屏。
将待检测的128×64的点阵屏全行并联、全列并联，使电容测量仪11的阳极连接并联列，阴极连接并联行，检测整个屏体的电容值为900nF，符合数据存储器21中的128×64的点阵屏全屏电容标准值范围800nF～1200nF，直接进入老化程序。
实施例7
本实施例之检测对象为128×64的点阵屏。
将待检测的128×64的点阵屏全行并联、全列并联，使电容测量仪11的阳极连接并联列，阴极连接并联行，检测整个屏体的电容值为235nF，不符合数据存储器21中的128×64的点阵屏全屏电容标准值范围750nF～1300nF，则进行全行并联，电容测量仪11的阴极连接并联行，阳极对列引线进行扫描，对每一列的电容与数据存储器21中存储的列电容标准值对比，当扫描到第17列时，测得该列电容值为0.55nF，不符合数据存储器21中的128×64的点阵屏列电容标准值范围60.0nF～100nF，记录不符合数据存储器21中列电容标准值的列位置Y17，将电容测量仪11的阳极连接第17列的列引线，阴极对行进行扫描，扫描该列，对该列每一像素的电容与数据存储器21中存储的像素电容标准值对比，当扫描到第52行时，测得第17列、第52行该点像素电容值为0.33nF，不符合数据存储器21中的128×64的点阵屏像素电容标准值范围2.00nF～4.00nF，继续扫描，直至扫描完64行，未发现不符合数据存储器21中像素电容标准值的像素，记录不符合数据存储器21中像素电容标准值的行位置X52；由Y17、X52确定缺陷像素位置。继续并联所有行，从第18列开始扫描，直至扫描完128列，未发现不符合数据存储器21中列电容标准值的列，之后进入修复和老化程序。
虽然以上描述了本发明的最佳实施例，但本发明的技术范围并不局限于上述讨论的范围。上述提供的实施例只是仅仅用于进一步在发明内容的基础上解释本发明。应该理解的是，本领域的技术人员可以对上述过程做出多种改进，但是所有的这类改进也都属于本发明的范围内。
Claims (7)
1.一种有机电致发光器件的检测装置，包括电容数据采集单元，数据存储单元，数据比较单元、其特征在于，还包括数据处理单元及导通单元，所述电容数据采集单元分别与行列的导通单元连接，所述数据采集单元及数据存储单元的输出分别连接数据比较单元的输入端，所述数据比较单元的输出端与数据处理单元的输入端连接，所述数据处理单元的输出端与导通单元及数据存储单元连接，所述数据存储单元所存数据为有机电致发光器件的电容标准值。
2.根据权利要求1所述的有机电致发光器件的检测装置，其特征在于，所述导通单元包括行列开关电路及行列导通装置，该行列导通装置用于根据行列开关电路的通断导通被选中的行或列。
3.根据权利要求1所述的有机电致发光器件的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元通过地址存储器对数据存储单元的数据进行选择。
4.根据权利要求2所述的有机电致发光器件的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元通过地址存储器对数据存储单元的数据进行选择。
5.根据权利要求1所述的有机电致发光器件的检测装置，其特征在于，所述电容标准值包括屏体电容标准值，列电容标准值，行电容标准值及像素电容标准值。
6.根据权利要求1、2、3或4所述的有机电致发光器件的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元包括微处理器及行列开关控制器。
7.根据权利要求5所述的有机电致发光器件的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元包括微处理器及行列开关控制器。
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