CN101308073A - 一种高强度螺栓或螺钉的hv0.3硬度测试方法 - Google Patents
一种高强度螺栓或螺钉的hv0.3硬度测试方法 Download PDFInfo
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Abstract
一种高强度螺栓或螺钉的HV0.3硬度测试方法，所述测试方法采用GB/T4340.2规定的硬度计进行测试，包括以下步骤：(1)选择螺栓或螺钉的螺纹段，将其横向切断；(2)任取螺栓或螺钉的一段，将横截面打磨平整；(3)选择在直径为螺纹外径3/4的同心圆范围内进行芯部硬度测试，取得芯部硬度值；(4)以横截面为支撑面，在螺栓、螺钉的头部端面进行表面硬度测试，取得表面硬度值。本发明提供一种采用GB/T4340.2规定的硬度计进行HV0.3硬度测试的高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度测试方法。
Description
技术领域
本发明涉及一种由碳钢、合金钢等金属材料制造的高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度测试方法。
背景技术
高强度螺栓、螺钉的制造要求规定，螺栓、螺钉的表面硬度应高于芯部硬度，并且它们的硬度差应不大于30HV0.3。但是高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度测试方法问题一直没有解决。
发明内容
为了克服已有的高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度无法测量的不足，本发明提供一种采用GB/T4340.2规定的硬度计进行HV0.3硬度测试的高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度测试方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种高强度螺栓或螺钉的HV0.3硬度测试方法，所述测试方法采用GB/T4340.2规定的硬度计进行测试，包括以下步骤：
(1)选择螺栓或螺钉的螺纹段，将其横向切断；
(2)任取螺栓或螺钉的一段，将横截面打磨平整；
(3)选择在直径为螺纹外径3/4的同心圆范围内进行芯部硬度测试，取得芯部硬度值；
(4)以横截面为支撑面，在螺栓、螺钉的头部端面进行表面硬度测试，取得表面硬度值。
作为优选的一种方案：在所述步骤(1)中，所述的横向切断采用铣、锯或线切割加工方法，加工过程采用冷却液控制温度。
作为优选的另一种方案：在所述步骤(3)中，所述的芯部硬度测试时，测点数量应不少于2点，芯部硬度值取各测点的平均值；在所述步骤(4)中，所述的表面硬度测试时，测点数量应不少于2点，表面硬度值取各测点的平均值。
本发明的技术构思为：采用GB/T4340.2规定的硬度计进行HV0.3硬度测试的方法，其操作简单、测试数据准确
本发明的有益效果主要表现在：1、能够对高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度进行测试；2、采用的仪器简单，操作方法简单；3、测试数据准确、可靠。
附图说明
图1是螺栓、螺钉横向切断位置的示意图。
图2是螺栓、螺钉横截面上硬度测点部位的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。
参照图1和图2，一种高强度螺栓或螺钉的HV0.3硬度测试方法，所述测试方法采用GB/T4340.2规定的硬度计进行测试，包括以下步骤：
(1)选择螺栓或螺钉的螺纹段，将其横向切断，如图1所示，螺栓或螺钉的横截面1，螺栓或螺钉的头部端面2；
(2)任取螺栓或螺钉的一段，将横截面打磨平整；
(3)选择在直径为螺纹外径3/4的同心圆范围内进行芯部硬度测试，如图2所示，螺栓或螺钉的横截面上直径为螺纹外径3/4的同心圆范围3，采用硬度计进行测量，取得芯部硬度值；
(4)以横截面为支撑面，在螺栓、螺钉的头部端面进行表面硬度测试，采用硬度计进行测量，取得表面硬度值。
在所述步骤(1)中，所述的横向切断采用铣、锯或线切割加工方法，加工过程采用冷却液控制温度。
在所述步骤(3)中，所述的芯部硬度测试时，测点数量应不少于2点，芯部硬度值取各测点的平均值；在所述步骤(4)中，所述的表面硬度测试时，测点数量应不少于2点，表面硬度值取各测点的平均值。
本实施例采用GB/T4340.2规定的硬度计，仪器简单，操作方法简单，且测试数据准确可靠。
Claims (3)
1、一种高强度螺栓或螺钉的HV0.3硬度测试方法，其特征在于：所述测试方法采用GB/T4340.2规定的硬度计进行测试，包括以下步骤：
(1)选择螺栓或螺钉的螺纹段，将其横向切断；
(2)任取螺栓或螺钉的一段，将横截面打磨平整；
(3)选择在直径为螺纹外径3/4的同心圆范围内进行芯部硬度测试，取得芯部硬度值；
(4)以横截面为支撑面，在螺栓、螺钉的头部端面进行表面硬度测试，取得表面硬度值。
2、如权利要求1所述的一种高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度测试方法，其特征在于：在所述步骤(1)中，所述的横向切断采用铣、锯或线切割加工方法，加工过程采用冷却液控制温度。
3、如权利要求1或2所述的一种高强度螺栓、螺钉的HV0.3硬度测试方法，其特征在于：在所述步骤(3)中，所述的芯部硬度测试时，测点数量应不少于2点，芯部硬度值取各测点的平均值；在所述步骤(4)中，所述的表面硬度测试时，测点数量应不少于2点，表面硬度值取各测点的平均值。
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