CN101300629A - 用于控制可记录光学存储系统中的写入功率的方法和设备 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种最优写入功率控制技术,用于控制可记录光学存储系统,特别是可重写光学系统中的写入过程期间的写入功率。在最优功率校准(OPC)过程中,从所记录的测试标记的抖动值来确定最优写入功率。

Description

用于控制可记录光学存储系统中的写入功率的方法和设备
技术领域
本发明总体上涉及控制可记录光学存储系统中的写入功率,更具体地涉及用于确定可记录光学存储系统和光学存储盘所使用的最优写入功率的方法和设备。
背景技术
众所周知,诸如CD-R(可记录光盘)、CD-RW(可重写光盘)、DVD-R(可记录DVD)、DVD+R(可重写DVD)等的光盘是由光学叠层构成的。这种叠层通常由聚碳酸酯衬底、染料敏感层(对于R型光盘)或相变层(对于RW型光盘)、金或银合金反射体和保护性漆涂层构成。通过将诸如激光束的高功率辐射光束聚焦到染料层或相变层上以加热某一区域使得该区域的反射率改变,从而将数据写入到盘片上。该区域形成了由可变长度“标记”(低反射率区域)以及“凸台”(标记之间的高反射率区域)组成的螺旋轨道。所产生的标记和凸台的模式对将要存储在盘片上的数据进行编码。标记区域和凸台区域之间的每个过渡对应于表示被编码数据的信号中的跃迁的物理编码。例如,对于CD来说,根据公知的EFM(八到十四调制)调制码来对数据进行编码,其中标记和凸台的长度典型地为3至11个时钟周期(3T至11T,其中“T”表示数据时钟周期)。
如果要精确地表示数据,那么精确的标记长度是关键的。例如,如果光学读取器读取具有多个过长的3T标记或凸台的盘片,则可能被误解释为4T特征。这种误解释可能会导致不正确的数据检索,在极端的情况下会导致读取失败。
为此,使光学记录器能够监视并维持向盘片写入数据的质量,以便确保在该被写入的特定盘上的所有标记和凸台长度的精确度是重要的。
为了实现精确的标记/凸台长度,对于所使用的盘片/记录器组合存在最优辐射记录功率。在记录光盘时应当使用的该最优辐射记录功率因此取决于实际的盘片、所使用的记录器,并且还可能取决于记录发生的速度。
该最优辐射记录功率(也称为最优写入功率)应当针对每个记录器/盘片组合在实际的记录速度下进行确定,优选地在实际记录数据之前进行确定。这种确定被称为最优功率控制(OPC)过程。应用该确定的最优辐射记录功率使得给定的记录器能够对于给定的盘片产生正确的标记/凸台长度。
当前使用了不同类型的OPC过程。对于R型盘片,通常使用“贝塔”(β)和基于抖动的OPC方法,而对于RW型盘片,通常使用“伽马”(γ)方法作为OPC过程。在“贝塔”(β)OPC方法中,最优辐射记录功率是通过使从所记录的测试模式中读取标记和凸台而获得的高频(HF)信号的非对称性最小化来确定的(例如参见DVD+R,Basic Format Specification,System Description)。在“伽马”(γ)OPC方法中,最优辐射记录功率是从通过以各种写入功率记录标记的测试模式,并且随后确定这样记录的标记的调制而获得的调制(m)与写入功率(P)的关系曲线来确定的(例如参见DVD+RW,Basic Format Specification,System Description)。
基于抖动的OPC过程是用于可记录介质的最优选的方法之一。抖动是对于每个游程长度在平均值附近的标记或凸台长度中的变化的统计学测量结果,并且通常是当播放器/记录器读取数据时发生的定时误差的可接受的测量。使抖动最小化确保了记录分别具有精确的标记长度和凸台长度的标记和凸台。基于抖动的OPC方法是一种特别具有吸引力的OPC方法,因为所测量的抖动直接与所记录的标记的质量有关,而“贝塔”(β)OPC方法和“伽马”(γ)OPC方法使用不直接与所记录标记的质量有关的参数(分别是非对称性和调制与写入功率的关系曲线)。
目前使用的OPC方法通常要求预存储在光盘本身上的信息。可以将信息预存储在盘片上,这为记录器提供了例如用来启动OPC过程的指示性功率电平,或者提供了盘片特定参数用于确定最优辐射记录功率。然而该信息可能并非永远是正确的,并可能导致OPC失败。
当前使用的OPC过程的另一缺点在于要求大量的盘片区域来记录测试模式,以便将沿着盘周围的盘片特性(诸如盘片离心率)的变化平均化。所需的这些大测试区域占用了可用于数据存储的空间,并且测试也需要花费长的时间来进行。
对于通常用作RW型盘片的相变介质,“伽马”(γ)方法或其修改的形式“卡帕”(κ)方法通常用于不同的光盘标准中。在“伽马”(γ)方法中,从调制(m)与写入功率(P)的关系曲线来确定最优辐射记录功率(即最优写入功率)(例如参见US5,793,737和WO98/28742),而在“卡帕”(κ)方法中,该过程进行了修改以便使用调制乘以写入功率(P*m)与写入功率(P)的关系曲线(参见WO02/41306)。
然而,这些基于γ的方法对于调制(m)与写入功率(P)的关系曲线(或者调制乘以写入功率(P*m)与写入功率(P)的特征曲线)的非线性是非常敏感的。附图1示出了这一敏感性。图1的左边示出了这种线性(上部)和非线性(下部)行为。图1的右边示出了所得到的良好的(上部)和错误的(下部)γ与写入功率(P)的关系曲线,从中推出最优写入功率(例如使用预存储的盘片特定参数γtarget)。应当注意的是,γ是调制(m)除以写入功率(P)的导数通过写入功率(P)除以调制(m)来归一化。该非线性的结果是,OPC过程可能失败,或者至少导致了校准时间的增加。
当前基于γ的OPC技术利用了预存储在光盘本身上的校准数据(诸如γtarget)。不同的光学标准利用了不同种类的校准数据,该校准数据本身可能导致OPC方法的不精确。
可以使用这样的技术,该技术基于测量所记录的标记的抖动与用于记录这些标记的写入功率之间的关系,来改进已知的基于γ的OPC技术用于相变可重写介质。然而,这种适合于基于染料的介质(即可记录介质)的基于抖动的技术可能并不能很好地适合于相变介质(即可重写介质),这是由于抖动与功率的关系曲线通常在形状上是渐近的(例如参见图2)。因此,在已知的基于抖动的技术中使用的简单的二阶曲线逼近当用在相变介质时是不精确的。然而,基于抖动的OPC技术通常是在空间上高效的,因此期望使用基于抖动的技术用在相变介质中。
发明内容
因此,本发明的目的是提供一种快速且空间高效的基于抖动的OPC方法,该方法也可以组合用于相变(即可重写)介质。优选地,这种方法与预存储在盘片上的信息是无关的。
本发明提供了一种最优写入功率控制技术,用于在可记录(包括可重写)光学存储系统中进行写入过程期间提供辐射功率。通过将二阶曲线拟合到多个所测量和计算的抖动值上,本发明的实施例能够克服已知OPC技术的缺点。这种曲线拟合趋于减少了在估算最小抖动值时发生的误差。此外,确定了最优写入功率电平,其平衡了所记录的标记的最小抖动值与所期望的高直接覆写(DOW)因子。
根据本发明的第一方面,提供了一种用于控制可记录光学存储系统中的写入功率的方法,该方法包括下列步骤:
a)生成对应于多个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)中的各个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)的第一偶数个抖动值(σ0...σ2n-1),这些写入功率电平设置为相等的第一(Pw,0...Pw,n-1)和第二(Pw,n...Pw,2n-1)非重叠功率电平序列,抖动值(σ0...σn-1)对应于第一序列的功率电平,其从以所关注的写入功率电平进行的各个写入过程中得到的抖动值的测量中生成,抖动值(σn...σ2n-1)对应于第二序列的功率电平,其从与第一序列相对应的抖动值导出,使得对应于第二序列的抖动值和对应于第一序列的抖动值关于写入功率电平呈镜像关系;
b)从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成曲线数据;
c)从所生成的曲线数据中确定初始的最小抖动值和相应的写入功率电平;
d)迭代进行步骤a)至c)以确定每次迭代的另一最小抖动值和相应的另一写入功率电平,每次迭代比前一次迭代在每个序列中具有一个更小的抖动值,进行这一迭代过程直至在迭代中确定的另一最小抖动值比总的最小抖动值大预定量或更高,该总的最小抖动值是初始最小抖动值和在前一次迭代中确定的另一最小抖动值中的最小值;以及
e)从对应于该另一最小抖动值的另一写入功率电平中确定最优写入功率电平,该另一最小抖动值比总的最小抖动值大预定量或更高。
在优选实施例中,从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成的曲线数据形成了二阶多项式曲线。
(在步骤a中)从所测量的抖动值中计算出抖动值的镜像组使得曲线,特别是二阶多项式曲线,(在步骤b中)可靠地拟合到这些抖动值,这本身使得最优功率电平的发现是可靠的。这是因为抖动值的序列(即跟随有抖动值镜像组的所测量的抖动值)在形状上不再是渐近的。
另外的优点在于,该方法的迭代步骤a)至c)的技术,其中每次迭代比前一次迭代少一个测量点,确保了找到真正的最小抖动值,而不是由所关注介质的游离测量或特性所生成的“错误”的最小值。值得注意的是,在使用根据本发明的上述方法时可以不迭代步骤a)至c),这将会产生最优功率电平的优值;然而当迭代了步骤a)至c)时获得了最优功率电平的最可靠值。
在本发明的实施例中,写入功率电平(Pw)彼此间隔了预定的功率电平步长。这使得该方法可以相对容易地进行。应当注意的是,OPC测量可以以相对低的写入功率电平来进行,这对所关注的介质的直接覆写因子不会有影响。
在本发明的实施例中,从与比总的最小抖动值大预定量或更高的另一最小抖动值相对应的另一写入功率电平中,和从与在前一次迭代中确定的另一最小抖动值相对应的另一写入功率电平中,来确定(步骤e)最优写入功率电平。在优选实施例中,最优写入功率电平是在这两个另一写入功率电平之间使用线性插值,通过下列方程来确定的:
P WO = P O , M + ( J M - ( σ min + Δσ ) J M - J M - 1 ) · ( P O , M - 1 - P O , M )
其中Pwo是最优写入功率电平,JM是比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高的另一最小抖动值,PO,M是相应的另一写入功率电平,JM-1是在前一次迭代中确定的另一最小抖动值,PO,M-1是相应的另一写入功率电平。
应当注意的是,当写入功率电平彼此间隔预定的功率电平步长ΔPw时,该方程简化为:
P WO = P O , M + ( J M - ( σ min + Δσ ) J M - J M - 1 ) · Δ P w
根据本发明的另一方面,提供了一种用于可记录光学存储系统中的功率控制器,该控制器可操作用于:
a)生成对应于多个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)中的各个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)的第一偶数个抖动值(σ0...σ2n-1),这些写入功率电平设置为相等的第一(Pw,0...Pw,n-1)和第二(Pw,n...Pw,2n-1)非重叠写入功率电平序列,抖动值(σ0...σn-1)对应于第一序列的写入功率电平,其从以所关注的写入功率电平进行的各个写入过程中得到的抖动值的测量中生成,抖动值(σn...σ2n-1)对应于第二序列的写入功率电平,其从与第一序列相对应的抖动值导出,使得对应于第二序列的抖动值和对应于第一序列的抖动值关于写入功率电平呈镜像关系;
b)从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成曲线数据;
c)从所生成的曲线数据中确定初始的最小抖动值和相应的写入功率电平;
d)迭代进行步骤a)至c)以确定每次迭代的另一最小抖动值和相应的另一写入功率电平,每次迭代比前一次迭代在序列中具有一个更小的抖动值,进行这一迭代过程直至在迭代中确定的另一最小抖动值比总的最小抖动值大预定量或更高,该总的最小抖动值是初始最小抖动值和在前一次迭代中确定的另一最小抖动值中的最小值;以及
e)从对应于该另一最小抖动值的另一写入功率电平中确定最优写入功率电平,该另一最小抖动值比总的最小抖动值大预定量或更高。
在优选实施例中,该功率控制器可操作用于从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成形成了二阶多项式曲线的曲线数据。
根据本发明的功率控制器的实施例包括或者连接到存储装置,其用于存储总的最小抖动值。这种功率控制器可操作用于在所述存储装置中存储初始最小抖动值作为总的最小抖动值,并且在每次迭代中当发现该迭代步骤中的另一最小抖动值小于所存储的总的最小抖动值时,将所存储的总的最小抖动值替换为该另一最小抖动值。
本发明的另一方面提供了一种包括这种功率控制器的可记录光学存储系统。这种功率控制器和包含其的系统能够实现可靠的最优功率控制(OPC)过程,用于确定在光学介质上记录所用的最优写入功率电平。
应当注意的是,本发明提供了基于抖动的OPC过程,其可以用于确定在可重写光盘以及可记录光盘上记录所用的最优写入功率。这具有的额外优点是,可以对两种类型的盘片使用单一的OPC过程。
附图说明
在下文中将更为详细地阐述本发明。参考附图仅通过示例的方式来描述本发明的实施例,在附图中
图1示出了已知的功率控制方法;
图2示出了利用了本发明的方法所测量的抖动采样;
图3示出了利用了本发明的方法中的步骤;
图4(包括图4a、4b、4c、4d和4e)示出了图3的方法的结果;以及
图5示出了用于光学存储系统中的根据本发明实施例的功率控制器。
具体实施方式
本发明的实施例关注于控制用于将数据写入到光盘上的辐射光束的功率。这样,本发明的实施例提供了一种基于抖动(σ)测量与其上要写入数据的盘片功率(P)特性之间的关系的技术。
根据本发明的这种技术适用于相变介质中的应用,如对可重写介质所使用的技术。对于这种介质,期望将用于将标记记录到光盘的写入功率电平设定得尽可能低,而同时要保持所记录的标记的抖动在所期望的低水平之下。
在利用了本发明的OPC技术中,以各自不同的写入功率电平(Pw,i)进行了一系列写入过程,并测量了与以这些不同的写入功率电平记录的标记相关的抖动值(σi)。优选地,测量了以单一写入功率电平记录的若干标记的抖动值,以便为每个各自的写入功率电平(Pw,i)获得平均(因此是最可靠的)抖动值(σi)。这些初始测量的抖动值(σi)被用于后续的迭代步骤中,而无需另外的写入过程。
图3示出了在利用了本发明的方法中的步骤。现在参考图2、3和4来详细描述该方法。最初,对于预定数目n的采样,对相应的抖动值σi进行(步骤A1)写入功率Pw,i测量。这一测量的结果在图2中示出。然后将这些测量的抖动值σi(0≤i≤n-1)对下面n个功率值进行“镜像”(步骤A2),如下面的表1所示。在本文的上下文中,所测量的抖动值的“镜像”意味着将以各自间隔的写入功率电平的第一序列(Pw,0...Pw,n-1)的所测量抖动值(σ0...σn-1)反射并投影到类似间隔的功率电平的第二序列(Pw,n...Pw,2n-1)。在优选实施例中第二序列的功率电平在第一序列之上延伸。第二序列的抖动值(σn...σ2n-1)与所测量的抖动值相对于功率电平是镜像的。所测量并计算的抖动(σ0...σ2n-1)值由此形成了偶数个抖动值,有效地分为第一和第二单独的非重叠系列。
Figure A20068004117800131
然后从所测量的(0≤i≤n-1)和镜像的(n≤i≤2n-1)抖动值σi并从它们相应的写入功率电平Pw,i(0≤i≤2n-1)中计算(步骤B)二阶多项式回归曲线(σ=a·Pw2+b·Pw+c)。计算这种曲线的方式,包括曲线拟合技术,在本领域中是公知的。图4a示出了所测量和镜像的抖动值σ(图4a中的交叉),以及相应所计算的回归曲线(图4a中的虚线)。
从所计算的回归曲线中,可以确定(步骤C)初始的最优写入功率电平PO,0,其中该抖动是最小值。该初始最优写入功率电平对应于dσ/dPw=0时的写入功率电平。现在:
P O , 0 = - b 2 · a
因此,从该二阶回归曲线中确定的第一次迭代的最小抖动值J0将是
J 0 = a · P O , 0 2 + b · P O , 0 + c
现将该初始最小抖动值J0存储为初始总的最小抖动值σmin
然后迭代上述过程(步骤A2、B和C)以便找到比在后续的迭代步骤(步骤D1)中确定的总的最小抖动值σmin大预定量Δσ的抖动值。对于该预定量Δσ的优选值的范围为0.35%至0.65%。在该实施例中,借助示例的方式使用0.5%的值。然而,也可以替换地使用其他值。应当注意的是,相对于标记长度的平均值来表示抖动,因此是%的形式。
在步骤D2中,在对第二次和后续的迭代再次计算镜像抖动值之前,去除原始测量的抖动值(σ0...σn-1)中最后剩余的抖动值。因此,每次迭代将会比前一次迭代少两个抖动值(即少一个测量的抖动值和一个镜像的抖动值)。然后将该新序列的测量的和镜像的抖动值用于计算另一个二阶多项式回归曲线。
这些连续迭代的结果示于图4a至4e中。在图4a中,在相应的写入功率电平PO,0为195时初始的最小抖动值J0显示为10%。将该10%的初始最小抖动值J0存储作为总的最小抖动值σmin。在图4b中,示出了第二次迭代步骤的结果,在相应的另一写入功率电平PO,1为185时另一最小抖动值J1比10%略大,在图4c中,示出了第三次迭代步骤的结果,在相应的另一写入功率电平PO,2为175时另一最小抖动值J2为10.2%。在下一迭代步骤中(其结果显示在图4d中),在相应的另一写入功率电平PO,3为165时另一最小抖动值J3为10.6%(因此比总的最小抖动值σmin10%大0.5%的预定量Δσ)。
在本实施例中,现在将停止这一迭代过程,因为另一最小抖动值(J3=10.6%)比总的最小抖动值σmin大预定量Δσ或更高。然而,在另外的实施例中,进行附加的检验以确定下一次迭代步骤的另一最小抖动值是否也与该总的最小抖动值σmin具有至少预定量Δσ或更高的差别。如果确实是这种情况,则在步骤E中计算最优写入功率电平PWO。在图4e中示出了该下次迭代的结果,其中在相应的另一写入功率电平PO,4为155时出现了11%的另一最小抖动值J4
在后续的步骤(步骤E)中,借助下列方程,通过在与比总的最小抖动值σmin大预定量Δσ(0.5%)或更高的另一最小抖动值Jm(J3=10.6)相对应的另一写入功率电平PO,M(PO,3=165)和与在前一次迭代中确定的另一最小抖动值JM-1(J2)相对应的另一写入功率电平PO,M-1(PO,2=175)之间进行线性插值,计算出最优写入功率电平PWO
P WO = P O , M + ( J M - ( σ min + Δσ ) J M - J M - 1 ) · ( P O , M - 1 - P O , M )
因此,对于图4a至4e中示出的示例,根据上述方程,最优写入功率电平是167.5,如下所示:
P WO = 165 + ( 10.6 - ( 10 + 0.5 ) 10.6 - 10.2 ) · ( 175 - 165 ) = 167.5
应当注意的是,可以从如图4a所示的原始测量中看到,该最优写入功率电平大致等于抖动值中的第一次下降的最低点。
图5示出了用在可记录光学系统中的利用了本发明的功率控制器2。功率控制器2用于控制激光设备4的写入功率电平。众所周知,将激光设备4用于通过将聚焦的激光束辐射到光学介质上从而将数据写入到所述光学介质上。提供了抖动测量设备6,用于对在最优功率校准(OPC)所使用的测试写入过程期间使用的不同写入功率电平Pw,i,来测量所记录的标记的抖动值。为了传输数据,功率控制器2还与存储设备8连接。
在使用中,功率控制器可操作用于使激光设备4以某一范围的写入功率电平(Pw,0...Pw,n-1)来写入一系列的测试标记,这些写入功率电平优选地彼此间隔固定的预定功率电平步长ΔPw。然后操作抖动测量设备6以测量与在初始测试写入过程期间使用的不同写入功率电平(Pw,0...Pw,n-1)相对应的这些序列的测试标记的抖动值(σ0...σn-1)。然后将这些抖动值提供给功率控制器2用于进一步处理。根据上面描述的方法,功率控制器由第一组测量的抖动值(σ0...σn-1)产生第二组抖动值(σn...σ2n-1)。第二组抖动值将所测量的值相对于功率电平进行镜像。所测量并计算的抖动值形成了偶数个抖动值,有效地划分为第一和第二单独的非重叠组。然后功率控制器2可操作地生成拟合所测量并计算的抖动值的二阶曲线,如上文所述。功率控制器然后确定初始最小抖动值和相应的写入功率电平,并且将这些结果存储在存储设备8中。然后功率控制器2迭代上述步骤,对每次后续的迭代使用更少的测量抖动值,以便达到比总的最小抖动值σmin大预定量Δσ或更高的抖动值。在适当的时候,在每次迭代步骤期间更新存储设备8中存储的值。最后,功率控制器2可操作用于从与比总的最小抖动值σmin大预定量Δσ或更高的抖动值JM相对应的另一写入功率电平PO,M中确定最优写入功率电平PWO
该功率控制器2可以借助包括若干分立元件的硬件来实现,和/或借助适当编程的处理器来实现。功率控制器2的上述功能可以通过分立的硬件项来实现,或者若干功能可以通过同一硬件项来实现。
因此,体现本发明一个方面的功率控制器可以实现根据本发明一个方面的方法,并且可以为可记录光学系统提供有效的写入功率电平控制。本发明的另一方面提供了包含这种功率控制器的这种系统。
本发明的实施例的附加优点在于,在OPC方法中仅使用了有限数量的相对低的写入功率电平测量。由于使用增大的写入功率电平可能会不利地影响可重写光学介质被覆写的性能,因此这是有利的。通常,期望这种可重写介质能够处理最少数量的覆写处理,即介质上的数据可以被覆写的最少次数。对介质上的数据可以被覆写的最少次数进行量化的参数称为直接覆写(DOW)因子。例如,包括相变层的可重写介质具有500的DOW因子。对于给定的介质,DOW因子通常随着写入功率电平的增大而减小。因此,使用更高的写入功率电平以便仅仅为了减小抖动,或者为了为OPC方法提供增大数量的抖动值测量,这将减小所关注的介质的DOW因子。因此有必要平衡高DOW因子、低抖动值和精确的OPC方法的冲突要求。因此,本发明的实施例提供了一种技术,该技术寻求生成对于高DOW因子足够低,同时对于所期望的记录标记的低抖动值足够高的最优写入功率电平,并且该最优写入功率电平由其本身并不降低介质的DOW因子的技术来确定。

Claims (13)

1、一种用于确定可记录光学存储系统中的最优写入功率电平(PWO)的方法,该方法包括下列步骤:
a)生成对应于多个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)中的各个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)的第一偶数个抖动值(σ0...σ2n-1),这些写入功率电平设置为相等的第一(Pw,0...Pw,n-1)和第二(Pw,n...Pw,2n-1)非重叠写入功率电平序列,
对应于第一序列的写入功率电平的抖动值(σ0...σn-1)从以所关注的写入功率电平进行的各个写入过程中得到的抖动值的测量中生成,和
对应于第二序列的写入功率电平的抖动值(σn...σ2n-1)从与第一序列相对应的抖动值导出,使得对应于第二序列的抖动值和对应于第一序列的抖动值关于写入功率电平呈镜像关系;
b)从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成曲线数据;
c)从所生成的曲线数据中确定初始的最小抖动值(J0)和相应的写入功率电平(PO,0);
d)迭代进行步骤a)至c)以确定每次迭代的另一最小抖动值(Ji)和相应的另一写入功率电平(PO,i),每次迭代比前一次迭代在每个序列中具有一个更小的抖动值,进行这一迭代过程直至在迭代中确定的另一最小抖动值比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高,该总的最小抖动值是初始最小抖动值和在前一次迭代中确定的另一最小抖动值中的最小值;以及
e)从对应于该另一最小抖动值(JM)的另一写入功率电平(PO,M)中确定最优写入功率电平(PWO),该另一最小抖动值比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高。
2、根据权利要求1的方法,其中从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成的曲线数据形成了二阶多项式曲线。
3、根据权利要求1的方法,其中写入功率电平(PW)彼此间隔预定的功率电平步长(ΔPw)。
4、根据权利要求1的方法,还包括
存储初始最小抖动值(J0)作为总的最小抖动值(σmin)的步骤,以及
在每次迭代中当该另一最小抖动值(Ji)小于所存储的总的最小抖动时,更新所存储的总的最小抖动值的步骤。
5、根据权利要求1的方法,其中在步骤e)中最优写入功率电平(PWO)是从以下两者中确定的:
与比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高的另一最小抖动值(Jm)相对应的另一写入功率电平(PO,M),以及
与在前一次迭代中确定的另一最小抖动值(JM-1)相对应的另一写入功率电平(PO,M-1)。
6、根据权利要求5的方法,其中最优写入功率电平(PWO)是通过根据下列方程的线性插值来确定的:
P WO = P O , M + ( J M - ( σ min + Δσ ) J M - J M - 1 ) · ( P O , M - 1 - P O , M )
其中Pwo是最优写入功率电平,JM是比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高的另一最小抖动值,PO,M是相应的另一写入功率电平,JM-1是在前一次迭代中确定的另一最小抖动值,PO,M-1是相应的另一写入功率电平,σmin是总的最小抖动值,Δσ是预定量。
7、根据权利要求1的方法,其中最优写入功率电平(Pwo)平衡低抖动值与高直接覆写因子。
8、一种用于可记录光学存储系统中的功率控制器,该控制器可操作用于:
a)生成对应于多个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)中的各个写入功率电平(Pw,0...Pw,2n-1)的第一偶数个抖动值(σ0...σ2n-1),这些写入功率电平设置为相等的第一(Pw,0...Pw,n-1)和第二(Pw,n...Pw,2n-1)非重叠写入功率电平序列,
抖动值(σ0...σn-1)对应于第一序列的写入功率电平,其从以所关注的写入功率电平进行的各个写入过程中得到的抖动值的测量中生成,和
抖动值(σn...σ2n-1)对应于第二序列的功率电平,其从与第一序列相对应的抖动值导出,使得对应于第二序列的抖动值和对应于第一序列的抖动值关于写入功率电平呈镜像关系;
b)从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成曲线数据;
c)从所生成的曲线数据中确定初始的最小抖动值(J0)和相应的写入功率电平(PO,0);
d)迭代进行步骤a)至c)以确定每次迭代的另一最小抖动值(Ji)和相应的另一写入功率电平(PO,i),每次迭代比前一次迭代在每个序列中具有一个更小的抖动值,进行这一迭代过程直至在迭代中确定的另一最小抖动值比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高,该总的最小抖动值是初始最小抖动值和在前一次迭代中确定的另一最小抖动值中的最小值;以及
e)从对应于该另一最小抖动值(JM)的另一写入功率电平(PO,M)中确定最优写入功率电平(PWO),该另一最小抖动值比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高。
9、根据权利要求8的功率控制器,可操作用于从第一和第二序列的抖动值以及相应的写入功率电平中生成形成二阶多项式曲线的曲线数据。
10、根据权利要求8的功率控制器,包括或者连接到用于存储总的最小抖动值的存储装置(8),以及
可操作用于在所述存储装置中将初始最小抖动值(J0)存储作为总的最小抖动值(σmin),以及在每次迭代中当该另一最小抖动值(Ji)小于所存储的总的最小抖动值时,更新所存储的总的最小抖动值。
11、根据权利要求8的功率控制器,可操作用于从以下两者中确定最优写入功率电平(PWO):
与比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高的另一最小抖动值(JM)相对应的另一写入功率电平(PO,M),以及
与在前一次迭代中确定的另一最小抖动值(JM-1)相对应的另一写入功率电平(PO,M-1)。
12、根据权利要求11的功率控制器,可操作用于根据下列方程在线性插值中确定最优写入功率电平(PWO):
P WO = P O , M + ( J M - ( σ min + Δσ ) J M - J M - 1 ) · ( P O , M - 1 - P O , M )
其中Pwo是最优写入功率电平,JM是比总的最小抖动值(σmin)大预定量(Δσ)或更高的另一最小抖动值,PO,M是相应的另一写入功率电平,JM-1是在前一次迭代中确定的另一最小抖动值,PO,M-1是相应的另一写入功率电平,σmin是总的最小抖动值,Δσ是预定量。
13、一种可记录光学存储系统,包括如权利要求8至12所述的功率控制器。
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