CN101299056B - 在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法 - Google Patents

在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101299056B
CN101299056B CN200810094291XA CN200810094291A CN101299056B CN 101299056 B CN101299056 B CN 101299056B CN 200810094291X A CN200810094291X A CN 200810094291XA CN 200810094291 A CN200810094291 A CN 200810094291A CN 101299056 B CN101299056 B CN 101299056B
Authority
CN
China
Prior art keywords
connector
metal clips
functional circuit
circuit
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN200810094291XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN101299056A (zh
Inventor
黄金亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Electric Connector Technology Co Ltd
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN200810094291XA priority Critical patent/CN101299056B/zh
Publication of CN101299056A publication Critical patent/CN101299056A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101299056B publication Critical patent/CN101299056B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明公开了一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能电路此之间相互连接；每相邻两个功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，其中，高频信号连接器的第一金属弹片与功能电路的信号输入端或者信号输出端连接，而第二金属弹片与另一高频信号连接器的第二金属弹片连接；当对一功能电路进行测试时，将测试探头分别插入此功能电路两端的高频信号连接器内，测试探头下压第一金属弹片，使其与第二金属弹片分开，此时对此功能单元进行单独测试；测试完成后，拔出两根测试电缆的测试探头，第一金属弹片将弹回原位将此功能电路重新连接至微波电路系统中，解决了测量某一功能电路时破坏微波电路系统的问题。

Description

在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法
技术领域
本发明涉及一种测试机内电路的方法，尤其是一种测试微波产品机内电路的方法。
背景技术
微波产品具有非常复杂的微波电路系统，作为微波电路工程师，在设计电路中必须十分小心，以解决数模电路、电磁兼容方面的问题。如何调试复杂的微波电路系统，对微波工程师是比较困难的工作。如图1所示，电路系统中包括功能电路1和连接各功能电路，如功能电路11、功能电路12和功能电路13的微波传输线4，一旦某一指标不合格或者要对系统中的某一功能电路，如功能电路12进行测试，微波工程师只能将连接功能电路12输入与输出端的微波传输线4在其41处与42处断开，以隔离功能电路12，再将功能电路12的前后各焊接一根电缆31进行测试。这种方法破坏了原有电路系统，只适于在实验室调试样机时采用，而不适于在产品的生产制造和维护时采用。
发明内容
本发明的目的是针对现有微波产品在进行测试时存在的破坏原有电路系统的缺点，提供一种测试时不会破坏原有电路的测试方法。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能电路彼此之间相互连接，形成微波电路系统；每相邻两个功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，分别为第一连接器和第二连接器；其中，第一连接器的第一金属弹片与前一功能电路的信号输出端连接，第一连接器的第二金属弹片与第二连接器的第二金属弹片连接；第二连接器的第一金属弹片与后一功能电路的信号输入端连接；而后一功能电路的信号输出端与另一第一连接器的第一金属弹片连接；
当对一功能电路进行测试时，将两根测试电缆的测试探头分别插入此功能电路两端的第一连接器与第二连接器内，两个测试探头分别与第一连接器的第一金属弹片和第二连接器的第一金属弹片接触，并下压与各自相接触的第一金属弹片，使第一连接器的第一金属弹片和第二连接器的第一金属弹片分别和与各自相对应的第二金属弹片分开，此时，对此功能电路进行单独测试；
测试完成后，拔出两根测试电缆的测试探头，此时第一连接器和第二连接器的第一金属弹片均将弹回原位而与各自相对应的第二金属弹片重新接触，将此功能电路重新连接至微波电路系统中。
本发明的有益之处是：通过在各功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，不仅可以使微波电路系统在非测试情况下正常工作，而且可以在需要对某个功能电路进行测试时，轻易的将该功能电路从微波电路系统中隔离，进行测试，并可以通过简单的操作恢复原微波电路系统的工作。
附图说明
图1为常规微波电路系统的测试方法示意图；
图2为接入高频信号连接器的微波电路系统处于工作状态的示意图；
图3为接入高频信号连接器的微波电路系统处于测试时的示意图。
具体实施方式
一种通过在机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，如图2或者图3所示，机内微波电路系统包括各功能电路1，如功能电路11、功能电路12和功能电路13，各功能电路通过微波传输线4连接。
如图2或者图3所示，相邻两功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器2；连接器2包括第一金属弹片21和第二金属弹片22，如图2所示，第二金属弹片22和第一金属弹片21接触时导通高频信号；如图3所示，第二金属弹片22和第一金属弹片21断开时关断RF信号；其中，如图2或者图3所示，在功能电路11和功能电路12之间，两个高频信号连接器2的连接方式如下：
第一连接器2的第一金属弹片21与功能电路11的信号输出端连接；第一连接器2的第二金属弹片22与第二连接器2的第二金属弹片22连接；第二连接器2的第一金属弹片21与功能电路12的信号输入端连接；其它各功能电路之间的两个连接器2的连接方式，如图2或图3中的功能电路12与功能电路13之间的两个连接器2的连接方式与上述相同。
在本实施例中可以采用专利号为ZL 200720147786.5的高频信号连接器，如图2所示，常态时，高频信号连接器2的第一金属弹片21和第二金属弹片22接触，高频信号导通，机体可以正常工作。
当需要对微波电路系统中的某一功能电路，如功能电路12进行测试时，如图3所示，采用的方法是：将两根测试电缆5的测试探头分别插入与其连接的第二连接器2和第一连接器2内，此时，测试探头与第二连接器2和第一连接器2的第一金属弹片21接触，并下压第一金属弹片21，使第一金属弹片21与第二金属弹片22断开，将功能电路12从微波电路系统中隔离，由于两个测试探头此时分别与第二连接器2和第一连接器2的第一金属弹片接触，所以通过测试电缆连接测试装置，即可将功能电路12连接至测试电路中完成测试。
当测试完成后，只需拔出测试探头，由于第一金属弹片21具有弹性，所以在撤销测试探头对其产生的下压力时，第一金属弹片21自动弹回原位与第二金属弹片22接触，从而将功能电路12重新接入微波电路系统，而不会破坏原有整个微波电路系统。

Claims (1)

1.一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能电路彼此之间相互连接，形成微波电路系统；其特征在于：每相邻两个功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，分别为第一连接器和第二连接器；其中，第一连接器的第一金属弹片与前一功能电路的信号输出端连接，第一连接器的第二金属弹片与第二连接器的第二金属弹片连接；第二连接器的第一金属弹片与后一功能电路的信号输入端连接；而后一功能电路的信号输出端与另一第一连接器的第一金属弹片连接；
当对一功能电路进行测试时，将两根测试电缆的测试探头分别插入此功能电路两端的第一连接器与第二连接器内，两个测试探头分别与第一连接器的第一金属弹片和第二连接器的第一金属弹片接触，并下压与各自相接触的第一金属弹片，使第一连接器的第一金属弹片和第二连接器的第一金属弹片分别和与各自相对应的第二金属弹片分开，此时，对此功能电路进行单独测试；
测试完成后，拔出两根测试电缆的测试探头，此时第一连接器和第二连接器的第一金属弹片均将弹回原位而与各自相对应的第二金属弹片重新接触，将此功能电路重新连接至微波电路系统中。
CN200810094291XA 2008-04-25 2008-04-25 在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法 Active CN101299056B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200810094291XA CN101299056B (zh) 2008-04-25 2008-04-25 在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200810094291XA CN101299056B (zh) 2008-04-25 2008-04-25 在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101299056A CN101299056A (zh) 2008-11-05
CN101299056B true CN101299056B (zh) 2010-07-14

Family

ID=40078947

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200810094291XA Active CN101299056B (zh) 2008-04-25 2008-04-25 在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101299056B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104237769B (zh) * 2014-10-11 2016-08-24 中国电子科技集团公司第十三研究所 毫米波单片电路芯片的可靠性测试系统及其测试方法
CN111308322B (zh) * 2020-03-17 2024-07-26 集美大学 一种基于tem小室的ic电磁兼容测试装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN101299056A (zh) 2008-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201562166U (zh) 信号转接器
CN103293450B (zh) 模块化线束测试系统和设备
CN104267781B (zh) 扩展坞可复用的移动终端及其扩展坞复用的方法
CN103105578A (zh) 通用芯片测试系统
CN101470134A (zh) 转接板
CN201699689U (zh) 一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统
CN109901045A (zh) 电路板的连接器插槽引脚导通检测系统及其方法
CN101299056B (zh) 在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法
CN208368877U (zh) 一种汽车车门对接连接器
CN101453065A (zh) 转接板
CN101666839A (zh) 一种检测装置及面板的检测方法
CN201918523U (zh) 可相容传统脚位的正反插的连接器固持结构
CN204205219U (zh) 连接器
CN201018143Y (zh) 同轴电缆连接器
CN201281850Y (zh) 扩展接口检测装置
CN102906415B (zh) 用于检查燃料喷射器的装置及相应的方法
CN102087527B (zh) 一种校验输电线路互投方式的备自投逻辑测试方法
CN201134597Y (zh) 接插件通用转接盒
CN209766708U (zh) 充电枪转接头
CN101739324A (zh) 扩展接口检测装置
CN203607591U (zh) 具开关的同轴连接器
CN102914670B (zh) 绝缘电阻测试夹具
CN219716751U (zh) Bms继电器电路和电子设备
CN202550251U (zh) 用于连接检测装置与检测点的接头
CN201163296Y (zh) 多路可任意拓展电子校准件

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: SHENZHEN ELECTRIC CONNECTOR TECHNOLOGY CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: HUANG JINLIANG

Effective date: 20110104

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 518000 ROOM 2001, TOWER A, BAIFU BUILDING, NANYOU AVENUE, NANSHAN DISTRICT,SHENZHEN CITY, GUANGDONG PROVINCE TO: 518000 AREA A, 1-3/F, BUILDING 8, JINXIU INDUSTRIAL PARK, XITIAN NEIGHBORHOOD, GONGMING SUBDISTRICT, BAO AN DISTRICT, SHENZHEN CITY, GUANGDONG PROVINCE

TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20110104

Address after: 518000, Guangdong, Baoan District, Gongming Shenzhen street, West Tian community Fairview Industrial Park 8, the first floor to the third floor, A District

Patentee after: Shenzhen Electric Connector Technology Co., Ltd.

Address before: 518000 Guangdong city of Shenzhen province Nanshan District Nanyou Avenue, building block A room 2001

Patentee before: Huang Jinliang

C56 Change in the name or address of the patentee

Owner name: ELECTRIC CONNECTION PRECISE TECHNOLOGY CO., LTD.

Free format text: FORMER NAME: SHENZHEN ELECTRIC CONNECTOR TECHNOLOGY CO., LTD.

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 518000, Guangdong, Baoan District, Gongming Shenzhen street, West Tian community Fairview Industrial Park 8, the first floor to the third floor, A District

Patentee after: SHENZHEN ELECTRIC CONNECTOR TECHNOLOGY CO.,LTD

Address before: 518000, Guangdong, Baoan District, Gongming Shenzhen street, West Tian community Fairview Industrial Park 8, the first floor to the third floor, A District

Patentee before: Shenzhen Electric Connector Technology Co., Ltd.

C56 Change in the name or address of the patentee
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 518000, Guangdong, Baoan District, Gongming Shenzhen street, West Tian community Fairview Industrial Park 8, the first floor to the third floor, A District

Patentee after: ELECTRIC CONNECTOR TECHNOLOGY CO., LTD.

Address before: 518000, Guangdong, Baoan District, Gongming Shenzhen street, West Tian community Fairview Industrial Park 8, the first floor to the third floor, A District

Patentee before: SHENZHEN ELECTRIC CONNECTOR TECHNOLOGY CO.,LTD