CN101256844A - 内存测试装置及内存测试方法 - Google Patents
内存测试装置及内存测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101256844A CN101256844A CNA2007101372834A CN200710137283A CN101256844A CN 101256844 A CN101256844 A CN 101256844A CN A2007101372834 A CNA2007101372834 A CN A2007101372834A CN 200710137283 A CN200710137283 A CN 200710137283A CN 101256844 A CN101256844 A CN 101256844A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- memory
- module
- test
- measured
- internal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
本发明提供一种内存测试装置及内存测试方法，适用于测试一内存，其中，该内存测试装置包括一调整模块、一构建模块及一测试模块，且该调整模块耦合该内存；而该内存测试方法通过上述内存测试装置以达成，且该内存测试方法包括以下步骤：调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；构建模块为待测内存模块构建字符设备；测试模块依序对字符设备进行测试。如此一来，本发明内存测试装置及内存测试方法可令待测内存模块的物理地址连续，且可依序测试，以避免长时间的重复测试以及内存被漏测，从而保证内存测试的高效性且准确性。
Description
【技术领域】
本发明提供一种内存测试装置及内存测试方法，特别是一种高效且准确的内存测试装置及内存测试方法。
【背景技术】
内核占用内存的区域是随机、不连续的；相应地，待测内存的区域也是随机、不连续的。目前的测试方法，是在待测内存的区域随机调用一测试页框，然后对该测试页框下的内存进行测试；待该测试页框的测试完成以后，再随机调用一测试页框并进行测试；内存的测试需不断地重复上述的步骤。
但是，各测试页框之间不存在连续性，便会使得有些内存区域被重复测试，而有些内存区域却未被测试到，从而导致测试结果不够准确。若保证尽可能多的内存区域被测试，需采用长时间的测试，但测试效率较低。
【发明内容】
本发明的主要目的在于提供一种高效且准确的内存测试装置及内存测试方法。
为达到以上目的，本发明提供一种内存测试装置，适用于测试一内存，且该内存测试装置包括一调整模块，该调整模块耦合该内存，且该调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；该调整模块耦合一构建模块，且该构建模块为待测内存模块构建字符设备；该构建模块耦合一测试模块，且该测试模块依序对字符设备进行测试。
本发明提供一种内存测试方法，适用于测试一内存，并通过一内存测试装置以达成，其中，该内存测试装置包括一调整模块、一构建模块及一测试模块，且该调整模块耦合该内存；且该内存测试方法包括以下步骤：调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；构建模块为待测内存模块构建字符设备；测试模块依序对字符设备进行测试。
相较于现有技术，本发明内存测试装置及内存测试方法可令待测内存模块的物理地址连续，且可依序测试，以避免长时间的重复测试以及内存被漏测，从而保证内存测试的高效性且准确性。
【附图说明】
图1是本发明内存测试装置的原理方框图。
图2是本发明内存测试方法的流程图。
【具体实施方式】
请参阅图1所示，本发明提供一种内存测试装置100，适用于测试一内存200，且该内存测试装置100包括一调整模块30，该调整模块30耦合该内存200，且该调整模块30将内存200划分成一内核占用模块201及一待测内存模块202，其中，该待测内存模块202的物理地址连续；该调整模块30耦合一构建模块40，且该构建模块40为待测内存模块202构建字符设备；该构建模块40耦合一测试模块50，且该测试模块50依序对字符设备进行测试。
请参阅图1及图2所示，该内存测试方法通过图1所示的内存测试装置100达成，且该内存测试方法包括以下步骤：
步骤301：调整模块30将内存200划分成一内核占用模块201及一待测内存模块202，其中，该待测内存模块202的物理地址连续；
步骤302：构建模块40为待测内存模块202构建字符设备；
步骤303：测试模块50依序对字符设备进行测试。
本发明内存测试装置100及内存测试方法可令待测内存模块202的物理地址连续，且可依序测试，可避免长时间的重复测试以及内存200被漏测，从而保证内存200测试的高效性且准确性。
Claims (2)
1. 一种内存测试装置，适用于测试一内存，其特征在于该内存测试装置包括：
一调整模块，耦合该内存，且该调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；
一构建模块，耦合该调整模块，且该构建模块为待测内存模块构建字符设备；
一测试模块，耦合该构建模块，且该测试模块依序对字符设备进行测试。
2. 一种内存测试方法，适用于测试一内存，并通过一内存测试装置以达成，其中，该内存测试装置包括一调整模块、一构建模块及一测试模块，且该调整模块耦合该内存；其特征在于该内存测试方法包括以下步骤：
调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；
构建模块为待测内存模块构建字符设备；
测试模块依序对字符设备进行测试。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNA2007101372834A CN101256844A (zh) | 2007-03-01 | 2007-07-19 | 内存测试装置及内存测试方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN200710037756.3 | 2007-03-01 | ||
| CN200710037756 | 2007-03-01 | ||
| CNA2007101372834A CN101256844A (zh) | 2007-03-01 | 2007-07-19 | 内存测试装置及内存测试方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101256844A true CN101256844A (zh) | 2008-09-03 |
Family
ID=39891544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNA2007101372834A Pending CN101256844A (zh) | 2007-03-01 | 2007-07-19 | 内存测试装置及内存测试方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101256844A (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103902419A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-07-02 | 华为技术有限公司 | 一种缓存测试方法及装置 |
| CN112382333A (zh) * | 2020-11-06 | 2021-02-19 | 润昇系统测试(深圳)有限公司 | 内存测试装置以及内存测试方法 |
| WO2022252248A1 (zh) * | 2021-06-01 | 2022-12-08 | 长鑫存储技术有限公司 | 内存测试方法、装置、设备及存储介质 |
-
2007
- 2007-07-19 CN CNA2007101372834A patent/CN101256844A/zh active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103902419A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-07-02 | 华为技术有限公司 | 一种缓存测试方法及装置 |
| CN112382333A (zh) * | 2020-11-06 | 2021-02-19 | 润昇系统测试(深圳)有限公司 | 内存测试装置以及内存测试方法 |
| WO2022252248A1 (zh) * | 2021-06-01 | 2022-12-08 | 长鑫存储技术有限公司 | 内存测试方法、装置、设备及存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN105205249B (zh) | 一种soc调试验证系统及其软硬件协同方法 | |
| CN109190223B (zh) | 一种车联网lccc芯片焊点热循环与随机振动寿命优化方法 | |
| CN107436414B (zh) | 一种存储系统中bbu的有效性测试方法和装置 | |
| CN101256844A (zh) | 内存测试装置及内存测试方法 | |
| CN107202756A (zh) | 一种玻璃粘胶失效的仿真分析方法 | |
| CN102682189B (zh) | 一种磁场建模系统 | |
| CN108089960B (zh) | 一种验证内存功耗限制功能的方法及装置 | |
| CN104330474A (zh) | 一种岩石损伤裂隙系统标定方法 | |
| CN104880232A (zh) | 一种测试软包装锂离子电池化成产气量的装置及其使用方法 | |
| CN106297889B (zh) | 存储器测试系统及其测试方法 | |
| CN103528844A (zh) | 基于经验模态分解的结构损伤预警方法 | |
| TW200739778A (en) | A test structure and method for detecting charge effects during semiconductor processing using a delayed inversion point technique | |
| CN105320583A (zh) | 基于uvm验证方法学的只写寄存器验证测试平台及验证方法 | |
| CN106782669A (zh) | 一种自校准可扩展性sram延时测试电路 | |
| CN103412032A (zh) | 增强型功率mos器件栅内引线脱落的检测方法 | |
| CN103344898A (zh) | 晶圆允收测试系统及方法 | |
| CN103593637B (zh) | 一种二维码扫描系统及其扫描校验方法、系统 | |
| CN102024725B (zh) | 半导体工艺中的检测方法和检测系统 | |
| CN104465435A (zh) | 一种离子注入倾角的日常监控方法 | |
| TW200302487A (en) | A variable self-time scheme for write recovery by low speed tester | |
| CN108346451A (zh) | 存储器的测试方法 | |
| CN103095820A (zh) | 一种确定访问页面的终端数量的方法及装置 | |
| CN102982847A (zh) | 一种静态随机存储器的寄生参数的测试系统和方法 | |
| CN106200353A (zh) | 一种用于测试双芯电能表的时钟的方法 | |
| CN103943151A (zh) | 内存测试方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20080903 |