CN101183080A - 棒状透镜阵列检测装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供的是一种能够以高精度、简便且迅速地检测构成透镜阵列的各棒状透镜端面上有无瑕疵和附着污物等的不规则因素的装置和方法。具有向构成棒状透镜阵列(1)的棒状透镜第一端面，对该端面法线以角度大于棒状透镜阵列的光接收角度照射检测光的第一光源部(2)，检测由棒状透镜阵列的第二端面出射光的第一光接收部(3)，以及光接收部(3)检测出的光强度在规定阈值以上时，判断该棒状透镜阵列(1)为不良产品的判断部(6)。

Description

棒状透镜阵列检测装置及方法

技术领域

本发明涉及一种检测多个折射率分布型棒状透镜排列后的棒状透镜阵列的检测装置及方法，更详细地说，涉及一种以高精度检测构成棒状透镜阵列的棒状透镜端面上有无瑕疵和附着污物等不规则因素的装置及方法。

背景技术

现有，将成为光搬运路径的折射率分布型棒状透镜，相互平行地排列在两片基板之间并粘接为一体的棒状透镜阵列，作为在各种图象扫描设备、复印机和传真机等中的图象传感器使用的光学构件，或者，作为打印机等的写入设备使用的光学部件正在被广泛使用着。

将构成棒状透镜阵列的各个棒状透镜进行镜面加工，使得两个端面成为与中心轴线相垂直的平行平面。当棒状透镜的端面上有瑕疵和附着污物这样的不规则因素时，会导致棒状透镜阵列的解象度降低。因此，在对棒状透镜阵列的出厂检测中，需要检测有无这样的不规则因素。然而现有棒状透镜的出厂检测是用目视检测法进行的。

近年来，随着棒状透镜阵列的高解象度化，使用在棒状透镜阵列上的棒状透镜直径处于越来越细小的情况。例如，对于直径为350μm左右的棒状透镜，用肉眼的目视检测法已不能适应，而一直在用微镜等放大进行目视检测。然而，使用了显微镜等的目视检测，精密地检测完了的棒状透镜，其检测结果仍然存在个人差异，有漏检瑕疵等的不规则因素，以及需要较长检测时间的问题。

专利文献1中提出了一种自动检测棒状透镜阵列的方法。按照该专利文献1公开的检测方法，通过将平行光束入射至棒状透镜阵列中的各棒状透镜处，并在消除了相邻棒状透镜的出射光束影响的条件下接收由各棒状透镜出射的光束，求出各棒状透镜独自的传输光量或光量分布，并与其预先设定的良好产品判断标准相比较，从而筛选良好产品和不良产品。

然而，如果采用这种检测方法，在瑕疵等的不规则因素较微小的场合，传输光量的减少和光量分布的变化也相当微小，所以良好产品判断标准与传输光量等的差异也很小，难以将其检测出来。而且，对一个个棒状透镜进行所测定的光量分布和预先设定的预定光量分布的比较处理比较麻烦，使得棒状透镜阵列的检测很费时间。而且，为了准确地将平行光束入射至各个棒状透镜，就要求位置吻合精度较高。

专利文献1：日本特开平8-15090号公报

发明内容

本发明的目的就是提供一种以高精度、简单而且迅速地检测构成棒状透镜阵列的棒状透镜端面上有无瑕疵和附着污物等的不规则因素的装置及方法。

为了能够实现上述目的，本发明提供的棒状透镜阵列检测装置，是一种检测两端面镜面加工后的多个折射率分布型棒状透镜相互平行排列的棒状透镜阵列实施检测的棒状透镜阵列检测装置，其特征在于具有向棒状透镜的一个端面(第一端面)，相对该端面法线，以角度大于该棒状透镜的光接收角半角照射检测光的光源部；以及检测从该棒状透镜的另一端面(第二端面)出射光的接收部。

折射率分布型棒状透镜对于向其第一端面，以角度小于该棒状透镜的光接收角半角入射光的场合，起着光传输路径作用，所以会有光束由第二端面出射。相反，向棒状透镜的第一端面，以角度大于该棒状透镜的光接收角半角照射检测光的场合，光将不能够在棒状透镜中传输，不会有光由第二端面出射。

然而，如果在棒状透镜的端面上存在诸如瑕疵等的不规则因素，光由该不规则因素而被散射。其结果，即使以大于棒状透镜的光接收角半角照射检测光的场合，散射光也入射到棒状透镜，且光由第二端面出射。因此如果采用本发明，仅仅入射测端面上存在不规则因素的场合，仍能够以高信噪比S/N测定由不规则因素产生的出射光。因此，能以高精度检测有无不规则因素。

而且如果采用本发明，不需要对一个个棒状透镜，准确地与光轴吻合实施光入射。例如，即使是同时照射多条棒状透镜的端面也行。由于不需要高精度位置吻合作业，所以可以简单且迅速地检测有无不规则因素。

因此，如果采用本发明的棒状透镜阵列检测装置，就能够以高精度且简单迅速地检测构成棒状透镜阵列的棒状透镜端面上有无瑕疵和附着污物的这种不规则因素。

而且，本发明中在光接收部测定的光强度为规定阈值以上的场合，最好进一步具有将该棒状透镜阵列判断为不良产品的判断部。

因此，可以自动地判断棒状透镜阵列是否为良好产品。

而且，本发明中，在光源部和光接收部之间，最好进一步具有沿着棒状透镜的排列方向顺序搬运多个棒状透镜阵列的搬运用具。

因此，可以提高检测工序的通过量。

而且，本发明中，理想的是进一步具有向棒状透镜的第二端面，相对该端面法线，以角度大于该棒状透镜的光接收角半角照射检测光的第二光源部；以及检测该棒状透镜的第一端面出射光的第二光接收部。

这样一来，设有第二光源部和第二光接收部的话，不改变棒状透镜阵列方向，就可以检测棒状透镜阵列的棒状透镜两端面上有无不规则因素。因此，可以提高检测工序的通过量。

而且，本发明中，理想的是光源部具有环状配置的发光部。

因此，可以给棒状透镜的端面以角度大于棒状透镜的光接收角半角且对棒状透镜的中心轴线从整个周面方向，照射检测光。其结果是，不论棒状透镜端面上的瑕疵等的不规则因素的取向方向，都可以有效地检测不规则因素。

而且，本发明中，理想的是光源部具有与发光部中心轴线同轴配置的圆筒形状的漫射光防止部件。

因此，发光部来的光受到散射而从棒状透镜侧的开口入射至圆筒形状内侧的场合，光就向与棒状透镜阵列相反一侧散射。就是说，圆筒形状的内侧起着暗室的作用。因此，可以防止漫射光以角度小于棒状透镜的光接收角度的半角，入射至棒状透镜的端面上。

而且，本发明提供的棒状透镜阵列检测方法，是一种检测两端面镜面加工后的多个折射率分布型棒状透镜相互平行排列的棒状透镜阵列的棒状透镜阵列检测方法，其特征在于向棒状透镜的第一端面，相对该端面法线，以角度大于该棒状透镜的光接收角半角照射检测光，通过检测该棒状透镜的另一端面出射的光，进行棒状透镜阵列是否是良好的判断。

如果采用本发明的棒状透镜阵列检测装置和方法，就能够以高精度、简单而且迅速地检测构成棒状透镜阵列的棒状透镜端面上有无瑕疵和污物等这样的不规则因素。

附图说明

图1(a)和图1(b)为说明本发明的棒状透镜阵列检测方法的检测原理图。

图2为检测对象的棒状透镜阵列的立体图。

图3为实施形式的棒状透镜阵列检测装置的立体图。

图4为表示实施形式的棒状透镜阵列检测装置中的光源部和光接收部的配置的典型顶视图。

图5为表示实施形式中的光源部主要部分和光接收部的横剖视图。

图6为表示实施形式中的光源部和光接收部的纵剖视图。

图7(a)为实施形式中的发光部件的正视图，图7(b)为沿图7(a)中的线b-b的剖视图。

图8为实施形式中的判断部功能的方框图。

图9为检测出的光强度与判断部的输出信号的时间曲线图。

图10(a)为棒状透镜阵列的棒状透镜端面裂缝的典型图，图10(b)为棒状透镜阵列的棒状透镜端面缺陷的典型图。

图11(a)为棒状透镜阵列的端面研磨不良时的光强度的一个实例图，图11(b)为良好产品的棒状透镜阵列光强度的一个实例图。

标号说明：

1棒状透镜阵列

2(第一)光源部

2a(第二)光源部

3第一光接收部

3a第二光接收部

4滚轮

5剔除工具

6判断部

7支撑构件

8导板板

10棒状透镜

10a、10b端面

11基板

12粘接剂

20、20a发光部

21遮光罩

22漫射光防止构件

23发光射部件

31针孔构件

32光电二极管

60、60a次级部件

61放大器

62比较器

63门电路

64OR电路

具体实施方式

下面，参考附图，对本发明的棒状透镜阵列制造方法的实施法式进行说明。

首先，参考附图1，对本发明的棒状透镜阵列检测方法的原理进行说明。

图1(a)和图1(b)分别典型地表示构成棒状透镜阵列的折射率分布型棒状透镜10。在各个棒状透镜10的第一端面10a上，表示出了该棒状透镜10的接收角锥体C，还表示出了最大锥角相对端面10a的法线N的半角α。

折射率分布型棒状透镜10的折射率，具有由中心轴线朝向外圆面依次减小的折射率分布。

前述折射率分布在与中心轴垂直的剖面上，设半径为R时，至少从中心轴线向外圆周面的0.3R～0.7R范围内的折射率分布近似于由下式(1)规定的二次曲线分布是理想的。

n(L)＝n₀{1-(g²/2)L²}    (1)

(其中，n₀为棒状透镜的中心轴处的折射率n₀(中心折射率)，L为距棒状透镜中心轴的距离(0≤L≤R)，g为棒状透镜的折射率分布常数，n(L)为距棒状透镜中心轴距离L位置的折射率。)

棒状透镜10的端面10a、10b，通过切削和研磨等方法进行镜面加工，使其形成与棒状透镜的中心轴线相垂直的平行平面。因此，端面10a的法线N与中心轴线相平行。

向其第一端面10a，以角度小于棒状透镜10的接收角半角α入射光的场合，折射率分布型棒状透镜10起到折射率分布的光搬运路径的作用，光就会由第二端面10b出射。

孔径数NA用入射至棒状透镜阵列端面上的光束最大锥角(接收角)的半角的正弦来表示，并以下列(1)式表示。

NA＝n·sinα    (1)

在这儿，n为介质(比如说空气)的折射率，α为最大锥角的半角。采用本实施形式检测的棒状透镜阵列的棒状透镜孔径数NA可以为0.22～0.5，比如说可以为0.18，因此，最大锥角的半角α可以为12.5～30°，比如说大约为10.4°。

相反，如图1(a)所示，即使向棒状透镜10的第一端面10a，相对端面的法线N，以角度θ(比如说约65°)大于该棒状透镜10的接收角的半角α照射光束Li，光也不能够在棒状透镜10中传输，不会有光从第二端面10b出射。

然而，如图1(b)所示，如果在棒状透镜10的入射侧端面10a上存在有瑕疵等的不规则因素D，光遭受该不规则因素D散射。其结果，即使是以角度大于棒状透镜10的接收角的半角α照射检测光的场合下，散射光也会入射至端面10a。实质上以角度小于接收角的半角α入射后的散射光Ls，由于折射率分布而在棒状透镜10中传输，并到达相对一侧的端面10b。其结果，在入射侧端面10a上只有不规则因素D的场合，会有光Lo从端面10b出射。

本发明利用这样的原理，通过向棒状透镜10的第一端面10a，相对端面10a的法线N以角度大于棒状透镜10的孔径数NA的最大锥角的半角α照射检测光Li，并检测从该棒状透镜10的第二端面10b出射后的光Lo，判断棒状透镜阵列是否为良好产品。

如果采用这种检测方法，棒状透镜入射端面上不存在不规则因素的场合，原则上不能够检测到出射光，仅仅存在有不规则因素的场合才能够检测到出射光，所以能够以高信噪比S/N检测因不规则因素D而产生出射光Lo的。因此，可以高精度检测有无不规则因素D。

而且，如果采用这种检测方法，就不需要对一个个的棒状透镜一一准确地吻合其光轴，使光入射。例如，也可以同时照射多个棒状透镜的端面。由于不需要高精度的位置吻合作业，所以能以高精度、简单且迅速地检测有无不规则因素。

这样，如果采用本发明的这种棒状透镜阵列检测方法，就能够以高精度、简单又迅速地检测构成棒状透镜阵列的棒状透镜端面上的瑕疵和附着污物的这种不规则因素。

下面，参考图2，对检测对象的棒状透镜阵列进行说明。

如图2所示，棒状透镜阵列1是在两片细长的矩形基板11之间，具有多个圆柱状的棒状透镜10，沿着与各个棒状透镜中心轴线垂直方向互相平行配置且粘接成整体的结构。对于本实施形式而言，就是将直径为350μm、折射率分布常数为g＝0.84mm^-1的棒状透镜10紧密地排列成一排而成为有效长度227mm。就基板而言，可以采用厚度为0.3mm、纵向长度为4.4mm×横向长度为227mm的酚醛树脂制基板。而且，在棒状透镜阵列1中，棒状透镜10是相互紧密排列的，以及有时也空出规定间隔排列一起，总之也都可以。

这些棒状透镜通常按单级排列起来，然而有时也按多级层叠棒状透镜的排列。在棒状透镜10与基板11的间隙内填充粘接剂，并借助于该粘接剂固定棒状透镜10。棒状透镜10的材料既可以是塑料，也可以是玻璃。而且，基板11的材料可以采用除酚醛树脂之外的任何合适的材料。

棒状透镜阵列1，在镜面加工其两个端面10a、10b的研磨工序之后，根据需要，经过清洗工序和干燥工序，投放到下面将说明的棒状透镜阵列检测装置中，通过出厂检测。

下面参考图3，对本实施形式的棒状透镜阵列检测装置结构进行说明。图3为表示本实施形式的棒状透镜阵列检测装置的典型立体图。

在图3中，省去了在规定位置设置各个构成要件用的支撑构件，以及滚轮的转动轴。

如图3所示，实施形式的棒状透镜阵列检测装置具有第一光源部2和第二光源部2a，以及第一光接收部3和第二光接收部3a。而且在本实施形式中，在第一光源部2和第一光接收部3之间，以及第二光源部2a和第二光接收部3a之间，具备使棒状透镜阵列1沿着棒状透镜的排列方向，即，向与各棒状透镜端面平行的方向搬运的搬运工具4。该搬运工具4由沿着直线排列的多个滚轮构成。通过下侧滚轮4的转动，将棒状透镜阵列1沿着图3中箭头A的方向进行搬运。

而且在本实施形式中，还具备由第一光接收部3或第二光接收部3a测定的光强度高于规定阈值的场合，将该棒状透镜阵列1判断为不良产品的判断部(图3中未示出)，以及剔除被判断部判断为不良产品的棒状透镜阵列1的剔除工具5。

如图4所示，第一光源部2和第二光源部2a以及第一光接收部3和第二光接收部3a夹着棒状透镜阵列1的搬运路径，各自对置配置在其两侧。而且，也可以将第一光源部2和第二光源部2a夹着棒状透镜阵列1的搬运路径，配置在互相相反一侧。采用这样的配置，可以将时间上彼此错开的检测光分别照射至棒状透镜阵列1的各棒状透镜10的相互相反侧的端面上。因而，不需要把棒状透镜阵列1倒过来，一次搬运就可以检测棒状透镜阵列1的两侧端面上有无瑕疵等的不规则因素。

就是说，第一光源部2依次向通过正面的棒状透镜阵列1的各棒状透镜的第一端面照射检测光Li。而且，第一光接收部3检测由第一光源部2照射后的棒状透镜第二端面出射的光Lo。与此相应，第二光源部2a依次向通过正面的棒状透镜阵列1的各棒状透镜的第二端面照射检测光Li。而第二光接收部3a检测由第二光源部2a照射后的棒状透镜第一端面出射的光Lo。由第一光接收部3和第二光接收部3a测定的检测信号输出至判断部6。关于判断部6的处理将在后面进行说明。

第一光源部2和第二光源部2a向棒状透镜端面，相对该端面的法线方向，以角度θ大于该棒状透镜的光接收角半角α照射检测光。

在本实施形式中，各光源部2和2a分别具有环状配置的发光部20和20a。

图5表示第一光源部2的主要部分和第一光接收部3的横剖视图。图6表示第一光源部2的主要部分和第一光接收部3的纵剖视图。而且在图6中，示出了在图2～图5中省略了的支撑部件7，以及防止棒状透镜阵列1出现位置错动用的海绵导板8。

而且，第二光源部2a和第二光接收部3a的构造也与第一光源部2(下面也称为光源部2)和第一光接收部3(下面也称为光接收部3)相同。

光源部2和光接收部3按照相隔比如说6mm的间隔，在同轴线上彼此相对配置。棒状透镜阵列1在通过光源部2与光接收部3之间时，要使棒状透镜阵列1的各棒状透镜的光轴依次与光源部2和光接收部3的轴线大体一致方式进行搬运。

光源部2除环状配置的发光部20外，由与配置发光部20的中心轴线同轴配置的顶部具有开口的圆锥形状的遮光罩21以及与遮光罩21的中心轴线同轴配置、前端部缩小的圆筒形状的漫射光防止构件22构成。采用这样的结构，可以相对棒状透镜的中心轴线，以角度θ(比如约65°)大于棒状透镜的光接收角的半角α(比如约10.4°)，从整个圆周方向，向棒状透镜的端面有效地照射检测光。漫射光防止构件22呈圆筒形状的内侧起着暗室的作用，所以可以防止漫射光以角度小于棒状透镜的光接收角半角α入射至棒状透镜的端面上。因此，不论棒状透镜端面上的瑕疵等不规则因素的取向方向，都可以有效地检测规则因素。

图7中表示构成光源部2的发光部20的环状发光部件23。如图7(a)所示，该发光部件23中，作为发光部的白色LED20呈同心圆状三重排列一起。如图7(b)的剖视图所示，白色LED20配置成朝着环形中心倾斜的研钵状。就这样的发光部件23来说，其外径为50mm以下是理想的，例如，可以使用日本シ-シ-エス株式会社制作的白色LED环状照明部件“LDR2-50SW”。

光源部2的发光部配置形式并不仅限于环状，例如还可以采用诸如与棒状透镜阵列的搬运路径平行配置的直线状发光部等等能够满足检测光照射角度条件的任何适当的配置形式。检测光既可以为散射光，也可以为平行光。而且，检测光既可以为单色光，也可以为白色光，但是需要用特定波长检测的场合，既可以采用以特定波长发射的激光，也可以采用白色光源和滤色器形成的单色光。

光接收部3由与光源部2同轴具有针孔的针孔构件31，和作为光接收元件的光电二极管32构成。光电二极管32的光接收面与针孔轴线相垂直地进行配置。借助于该针孔构件31，可以防止漫射光入射至光电二极管32上。用光电二极管32来检测，并将光电变换后的检测信号输出至判断部6。

图8为表示判断部6的方框图。

本实施形式的判断部6具有把第一光接收部3和第二光接收部3a分别输出的检测信号实施分别处理的第一和第二次级部件60和60a。这两个次级部件60和60a的结构相同，所以仅对第一次级部件60的结构进行说明。

第一次级部件60由放大器61、比较器62和门电路63构成。由第一光接收部3输出的检测信号以放大器61，通过电流/电压变换加以放大，并作为电压信号输出。表示检测出的光强度电压信号在比较器62与预先设定的规定阈值Th进行比较。该阈值Th的电压值，可以根据检测信号的背景噪音强度和棒状透镜阵列所要求的光学性能设定适当的值。

对于不存在不规则因素、电压信号值比阈值低的场合，就从比较器输出“1”的数字信号。另一方面，对于存在不规则因素、电压信号在阈值以上的场合，则从比较器输出“0”的数字信号。由于大大缩短了该判断所需的运算时间，所以能够充分地缩短从一端到另一端检测棒状透镜阵列而需要的时间。

由比较器62输出的数字信号被输入至门电路63。门电路63用与搬运工具4的滚轮转动电动机(图中未示出)同步的脉冲发生器(图中未示出)输入表示棒状透镜阵列1正被检测器实施检测中的信号。而且，门电路63仅在棒状透镜阵列1通过检测器之中时输出判断信号。

在这儿，图9(a)表示由第一次级部件60的放大器61输出的电压信号的一个实例。图9(a)中的曲线纵轴表示由第一光接收部3给出的检测光强度的电压。横轴表示时间，且与棒状透镜阵列1的宽度方向相对应。图9(b)表示由第一次级部件60的门电路63输出的数字信号的一个实例。图9(b)中的曲线纵轴表示由第一光接收部3给出的检测光强度的判断结果，横轴表示时间。

图9(c)表示由第二次级部件60a的放大器61输出的电压信号的一个实例。图9(c)中的曲线纵轴表示由第二光接收部3a给出的检测光强度的电压，横轴表示时间。图9(d)表示由第二次级部件60a的门电路63输出的数字信号的一个实例。图9(d)中的曲线纵轴表示由第二光接收部3a给出的检测光束强度的判断结果，横轴表示时间。

如曲线图9(a)中的曲线I所示，在棒状透镜阵列1通过第一光源部2的正面期间，一般地说电压值比阈值Th低。然而如图10(a)和图10(b)所示那样的，第一端面上有裂缝D1和破茬D2的这种瑕疵棒状透镜10通过了第一光源部2的正面的时候，会暂时分别出现远远超过阈值Th的尖峰P1～P6。

如曲线图9(b)中的曲线II所示，与这些尖峰P1～P6分别对应的数字信号值为“0”，表示检测到了不规则因素。

如曲线图9(c)中的曲线III所示，在棒状透镜阵列1通过第二光源部2a的正面期间，在一般地说电压值比阈值Th低。由于第二光源部2a配置在第一光源部2的下游侧，所以曲线III表示比曲线I延迟通过棒状透镜阵列1的情况。连续多个棒状透镜的第二端面由于人手接触而附着有污物等的部分，当其通过第二光源部2a的正面的时候，会持续出现超过阈值Th的曲线峰P7。

如曲线图9(d)中的曲线IV所示，与该峰值P7对应的数字信号值为“0”，表示检测到了不规则因素。

判断部6在每一棒状透镜阵，以第一光接收部3和第二光接收部3a的至少一个检测到了不规则因素的场合，该棒状透镜阵列都判断为不良产品。因此，第一和第二次级部件60和60a的输出信号，即门电路63分别输出的数字信号，经过OR电路64从判断部6输出给剔除工具5。

剔除工具5可以依据由判断部6给出的信号，朝向通过其正面的被判断为不良产品的棒状透镜阵列1吹出风力，使该棒状透镜阵列1由滚轮4上掉落而将其剔除。

而且，对正在搬运路径上依次搬运的棒状透镜阵列1彼此的识别，可以用沿着搬运路径配置的传感器，通过检测棒状透镜阵列1的前端部和后端部的通过情况来进行。

采用本实施形式的棒状透镜阵列检测装置，除了能够检测各个棒状透镜的瑕疵和附着污物之外，还能够检测出因镜面加工而在多个棒状透镜上产生的、端面呈栅状起伏的不规则因素。这类不规则因素用目视检测法，是以端面上出虹这样的颜色而加以识别的。

图11(a)所示的曲线图，表示检测了有这样不规则因素的棒状透镜阵列时的检测光强度。曲线纵轴表示检测光强度的电压，横轴表示棒状透镜阵列长度。如曲线图11(a)中的曲线I所示，在整个阵列长度范围内电压值都超过阈值Th。

图11(b)表示对这种棒状透镜阵列实施再次研磨、并进行再次检测时获得的检测光强度。如曲线图11(b)中的曲线II所示，可以知道在阵列整个长度的范围内，电压值都在阈值Th以下，已经去掉了不规则因素。

如果采用本发明，就能够以高精度、简便而且迅速地检测构成透镜阵列的各棒状透镜端面上的瑕疵和附着污物等的不规则因素，所以可以快速且准确地对棒状透镜阵列是否为良好产品进行判断。因此，能够实现提高棒状透镜阵列出厂产品的合格率，降低棒状透镜阵列的检测费用。

Claims (7)

1.一种检测多个折射率分布型棒状透镜相互平行排列的棒状透镜阵列的棒状透镜阵列检测装置，其特征在于具有：

向棒状透镜的第一端面，相对该端面的法线，以角度大于该棒状透镜的光接收角的半角照射检测光的第一光源部；

以及检测由该棒状透镜的第二端面出射光的第一光接收部。

2.如权利要求1所述的棒状透镜阵列检测装置，其特征在于还具备在前述光接收部检测出的光强度大于规定阈值时，判断该棒状透镜阵列为不良产品的判断部。

3.如权利要求1或2所述的棒状透镜阵列检测装置，其特征在于还具备在前述光源部和前述光接收部之间，沿着棒状透镜的排列方向依次搬运多个前述棒状透镜阵列的搬运工具。

4.如权利要求1所述的棒状透镜阵列检测装置，其特征在于还具备向前述棒状透镜的第二端面，相对该第二端面的法线，以角度大于该棒状透镜的光接收角的半角照射检测光的第二光源部；

以及检测由该棒状透镜的第一端面出射光的第二光接收部。

5.如权利要求1至4中任何一项权利要求所述的棒状透镜阵列检测装置，其特征在于前述光源部具有呈环状配置的发光部。

6.如权利要求5所述的棒状透镜阵列检测装置，其特征在于前述光源部具有与前述发光部的中心轴线同轴配置的圆筒形状漫射光防止构件。

7.一种检测多个折射率分布型棒状透镜相互平行排列的棒状透镜阵列的棒状透镜阵列检测方法，其特征在于向棒状透镜的第一端面，相对该端面的法线，以角度大于该棒状透镜的光接收角半角照射检测光，通过检测由该棒状透镜的另一端部出射的光，进行棒状透镜阵列是否为良好产品的判断。

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