CN101114661A - Cmos图像传感器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种CMOS图像传感器,包括以N型区为电荷收集区的光电二极管和可产生低于“地”的负电压Vs’的电荷泵,光电二极管的P端与该负电压Vs’相连接;或者包括以P型区为电荷收集区的光电二极管和可产生高于“电源”的正电压Vd’的电荷泵,光电二极管的N端与该正电压Vd’相连接。本发明可以显著改善CMOS图像传感器的动态信号范围。
Description
技术领域
本发明涉及一种半导体集成电路器件,特别是涉及一种CMOS(互补金属氧化物半导体)图像传感器。
背景技术
在图像传感器领域,CCD(电荷藕合器件)一直处于主导地位。但是由于其制造工艺与CMOS工艺无法兼容,信号处理电路无法与CCD集成在同一芯片上,给CCD在制造成本和系统解决方案上带来了无法克服的局限。
近年来,CMOS图像传感器(有源像素)技术迅速发展。CMOS图像传感器的制造工艺与信号处理芯片的CMOS电路制造工艺完全兼容,因此可以很方便的将图像传感器与信号处理集成在同一芯片上,不仅降低了系统成本,而且使系统的功耗降低,系统集成方案更加简单,并更加微型化。
通常地,一个CMOS有源像素包含了3-4个MOS晶体管和一个反偏压的光电二极管。根据工艺和设计的不同,该光电二极管可以是,如图1所示的以N型区为电荷收集区的光电二极管,或如图2所示的以P型区为电荷收集区的光电二极管。
CMOS图像传感器的动态范围取决于光电二极管的Well Capacity(阱容量)和噪声的比值,在噪声不变的情况下提高阱容量可以提高动态范围。而光电二极管的阱容量取决于它的电容和PN结两端的电压。提高它的电压就可以提高光电二极管的阱容量。
以N型区为电荷收集区的光电二极管的电压等于Vn(光电二极管N端的电位)和Vp(光电二极管P端的电位)的差值。在现有的所有设计中,Vp通常接地,因此,若想提高光电二极管的电压只能提高Vn,而提高Vn会受到电路设计的很多限制。
以P型区为电荷收集区的光电二极管的电压等于Vp(光电二极管P端的电位)和Vn(光电二极管N端的电位)的差值。在现有的所有设计中,Vn通常接电源,因此,若想提高光电二极管的电压只能降低Vp,而降低Vp也同样会受到电路设计的很多限制。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种CMOS图像传感器结构,可以显著改善其动态信号范围。
为解决上述技术问题,本发明的CMOS图像传感器结构,包括:
以N型区为电荷收集区的光电二极管和产生低于“地”的负电压Vs’的电荷泵,光电二极管的P端与该负电压Vs’相连接;或,
以P型区为电荷收集区的光电二极管和产生高于“电源”的正电压Vd’的电荷泵,光电二极管的N端与该正电压Vd’相连接。
由于采用上述结构,光电二极管的两端的电压差Vn-Vp会增大。这样可以提高光电二极管的阱容量,进而显著改善CMOS图像传感器的动态信号范围。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
图1、2是CMOS图像传感器中光电二极管的结构与现有的偏压方式示意图;
图3、4是CMOS图像传感器中光电二极管的结构与本发明的偏压方式示意图。
具体实施方式
如图3所示,对于以N型区为电荷收集区的光电二极管,在CMOS图像传感器的芯片电路中加入电荷泵电路,以产生低于“地(GND)”的负电压Vs’;所述光电二极管的P端接至负电压Vs’。
以N型区为电荷收集区的光电二极管的P端与传感器外围电路的P阱通过N型区域隔离。传感器外围电路的P阱接地。
如图4所示,对于以P型区为电荷收集区的光电二极管,在CMOS图像传感器芯片电路中加入电荷泵电路,以产生高于“电源(VDD)”的正电压Vd’;所述光电二极管的N端接至正电压Vd’。
以P型区为电荷收集区的光电二极管的N端与传感器外围电路的N阱通过P型区域隔离。传感器外围电路的N阱接电源。
Claims (3)
1.一种CMOS图像传感器,其特征在于:
包括以N型区为电荷收集区的光电二极管和产生低于“地”的负电压Vs’的电荷泵,光电二极管的P端与该负电压Vs’相连接;
或者包括以P型区为电荷收集区的光电二极管和产生高于“电源”的正电压Vd’的电荷泵,光电二极管的N端与该正电压Vd’相连接。
2.根据权利要求1所述的CMOS图像传感器,其特征在于:
具有以N型区为电荷收集区的光电二极管的CMOS图像传感器的芯片电路中,光电二极管的P端与外围电路的P阱隔离,外围电路的P阱接地;
具有以P型区为电荷收集区的光电二极管的CMOS图像传感器的芯片电路中,光电二极管的N端与外围电路的N阱隔离,外围电路的N阱接电源。
3.根据权利要求1或2所述的CMOS图像传感器,其特征在于:
具有以N型区为电荷收集区的光电二极管的CMOS图像传感器的芯片电路中,光电二极管的P端与外围电路的P阱通过N型区域相互隔离;
具有以P型区为电荷收集区的光电二极管的CMOS图像传感器的芯片电路中,光电二极管的N端与外围电路的N阱通过P型区域相互隔离。
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