CN101020386B - 确保喷墨头喷嘴喷出的墨量一致的墨滴均一化方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种墨滴的均一化方法，用于确保从喷墨头喷嘴喷出的墨量的一致。所述均一化方法包括：将预定数量的墨滴从喷嘴喷射到像素中，同时改变施加到所述喷嘴的电压；测量在像素中形成的墨层的平均厚度；以及设定所述墨层的目标厚度，并向每个喷嘴施加与所述目标厚度相应的电压。

Description

确保喷墨头喷嘴喷出的墨量一致的墨滴均一化方法
技术领域
本发明涉及一种用于确保从喷墨头喷嘴喷出的墨量一致的墨滴均一化方法。
背景技术
传统上，阴极射线管(CRT)显示器用于显示来自电视和电脑的信息。近来，为提供更大的屏幕尺寸，诸如液晶显示器(LCD)、等离子显示面板(PDP)、有机电致发光(EL)显示器、发光二极管(LED)显示器、以及场发射显示器(FED)之类的平板显示设备得以采用。由于其低功耗，LCD是电脑显示器与膝上型电脑的通常选择。
LCD包括彩色滤光片，用于由经过由液晶层调制的白光形成所需颜色的图像。该彩色滤光片的结构是多个红(R)、绿(G)、蓝(B)像素以一种模式(pattern)布置在透明基板上。彩色滤光片可通过染色、颜料分布、印刷和电沉积制造。但是，由于这些方法对于每种颜色的像素需要单独的工艺，工艺效率较低并且制造成本高昂。
因此，近来提出用喷墨打印制造彩色滤光片的方法，以简化制造过程并减少制造成本。通过喷墨方法，可将有色的，例如R、G、B墨滴，通过喷墨头的喷嘴排出到基板上的像素中。
图1和2是说明采用喷墨方法制造彩色滤光片的常规方法的概念图。如果如图1所示，有色墨滴60从喷墨头50的喷嘴55喷射到由基板10上黑色填隙物质20分隔的像素22中，则如图2所示有色墨层65形成在像素22中。但是，喷墨头50的喷嘴55可能具有不同的喷射特性，导致不同量的墨从喷嘴55喷出。因此，墨层65的厚度可能在像素与像素间不同，如图2所示。该彩色滤光片的不一致厚度导致色彩质量的显著降低。
因此，近来研制了各种均一化喷出墨量的方法，来确保彩色滤光片的厚度一致。一种方法是均一化墨滴的速度。但是，速度均一方法不能必然地使墨量均一。另一种方法是均一化墨滴的质量。但是，质量均一方法涉及测量墨滴数量，这会耗时并可能产生测量误差。另一种方法是均一化墨滴的体积。但是，当墨滴的形状不规则时这很困难。
发明内容
本发明提供一种均一化从喷墨头喷嘴喷出的墨量以确保彩色滤光片厚度一致的方法。
根据本发明的一个方面，提供了一种墨滴的均一化方法，用于确保从喷墨头喷嘴喷出的墨量的一致，所述均一化方法包括：将预定数量的墨滴从喷嘴喷射到像素中，同时改变施加到所述喷嘴的电压；测量在所述像素中形成的墨层的平均厚度；以及设定所述墨层的目标厚度，并向每个喷嘴施加与所述目标厚度相应的电压。
所述墨层的所述平均厚度可用扫描白光干涉测量法(SWLI)或针式表面轮廓仪测量。
根据本发明的另一个方面，提供了一种墨滴的均一化方法，用于确保从喷墨头喷嘴喷出的墨量的一致，所述均一化方法包括：将预定数量的墨滴从喷嘴喷射到基板上的预定位置上，同时改变施加到所述喷嘴的电压；测量在所述基板上形成的墨层的平均厚度；以及设定所述墨层的目标厚度，并向每个喷嘴施加与所述目标厚度相应的电压。
附图说明
本发明的以上和其它特征和优势将参照附图通过详细描述示例性实施例而变得更加显见，其中：
图1和2是说明采用喷墨方法制造彩色滤光片的常规方法的概念图；
图3是说明根据本发明的一个实施例的墨滴均一化方法的概念图，示出喷墨头中所包括的多个喷嘴以及喷嘴喷射的墨滴所进入的像素；
图4是通过从图3中所示喷墨头的喷嘴喷射墨滴而在像素中形成的墨层的图；
图5是示出由SWLI测量的图4的线A-A’上的墨层的厚度分布；
图6是根据施加到图3所示喷墨头喷嘴的电压而在像素中形成的墨层的平均厚度；以及
图7是根据本发明的另一个实施例说明墨滴的均一化方法的概念图，示出喷墨头中所包括的多个喷嘴以及由喷嘴在基板上形成的墨层。
具体实施方式
现将参照附图更完整地描述本发明，其中示出本发明的示例性实施例。附图中，相同的附图标记表示相同的元素。
图3是说明根据本发明的一个实施例的墨滴均一化方法的概念图，示出喷墨头150中所包括的多个喷嘴以及喷嘴喷射的墨滴所进入的像素122。
参照图3，喷墨头150包括用于喷出墨滴的喷嘴。当前实施例的喷墨头150示出包括20个喷嘴。在图3中，N1，N2，N3，N4，...，N20表示喷嘴编号。在彩色滤光片130上，像素122形成为多个行，在这种情况中是9行，与喷嘴数相应的20个像素122组成一个像素行。
预定数量的墨滴从喷嘴喷射到彩色滤光片130上的每个像素122中，同时改变施加到喷嘴的电压。例如，通过向喷墨头150的喷嘴施加电压V1，5滴墨滴从喷嘴喷射到第一像素行中的每个像素122中。因此，在第一像素行的像素122中由从施加了电压V1的喷嘴喷出的墨滴形成墨层。然后，喷墨头150移动，通过向喷嘴施加电压V2，同样数量的墨滴从喷嘴喷射到第二像素行的每个像素122中。因此，在第二像素行的像素122中由从施加了电压V2的喷嘴喷出的墨滴形成墨层。类似地，相继向喷嘴施加电压V3，V4，...，V9，并且从施加了电压V3，V4，...，V9的喷嘴向其余每个像素行的像素122中喷射同样数量的墨滴。由此，在像素122中形成与每个所施加的电压相应的厚度的墨层。喷嘴数量、像素行数以及从喷嘴喷出的墨滴数量可以根据需要改变。
如上所述，当预定数量的墨滴从喷嘴喷出，同时改变施加到喷嘴的电压时，与每个喷嘴和每个所施电压相应的墨层形成在彩色滤光片130的像素122中。图4是通过从喷墨头150的喷嘴喷射墨滴而形成在像素122中的墨层的图。
测量在彩色滤光片130上的像素122中形成的墨层的平均厚度。墨层的平均厚度可通过扫描白光干涉测量法(SWLI，scanning white lightinterferometry)而快速测量。在当前实施例中，SWLI被用于利用包括多个测量区域的掩模测量墨层的平均厚度。所述测量区域具有与彩色滤光片130上的像素122相同的形状和尺寸。图5示出由SWLI测得的图4所示线A-A’上的墨层的厚度分布。利用测得的厚度分布测量墨层的平均厚度。墨层的平均厚度还可用针式表面轮廓仪(stylus type surface profiler)测量，针式表面轮廓仪根据针响应材料表面不规则的垂向移动来测量表面特性，主要用于测量薄膜厚度。但是，针式表面轮廓仪需要更长的测量时间。
图6是形成在彩色滤光片130上的像素122中的墨层的平均厚度的图。参照图6，可获得由不同喷嘴在不同电压下形成的墨层的平均厚度。类似地，测量在彩色滤光片130上的像素122中形成的墨层的所有平均厚度。然后，设置要在像素122中形成的墨层的目标厚度To。相应地，确定施加到每个喷嘴以获得目标厚度To的电压。通过将这些电压施加到喷嘴，可从喷嘴喷出相等量的墨。即，如果通过将与墨层的目标厚度相应的电压施加到喷墨头的喷嘴来制造彩色滤光片，则在彩色滤光片的所有像素中形成相等厚度的墨层。如果对于一喷嘴没有电压可实现墨层的该目标厚度To，可通过调节从喷嘴喷出的墨滴数和/或喷嘴的电压而形成具有与其它喷嘴形成的墨层相同厚度的墨层。
图7是根据本发明的另一个实施例说明墨滴的均一化方法的概念图，示出喷墨头250中所包括的多个喷嘴以及由喷嘴在基板210上形成的墨层265。以下将描述与前一实施例不同的部分。
参照图7，预定数目的墨滴从喷嘴喷射到基板210上的预定位置上，同时改变施加到喷墨头250的喷嘴的电压。基板210可为平表面的玻璃基板，平表面的硅基板，或其它类似基板。在图7中，N1，N2，N3，N4，N5，...表示喷嘴编号。通过向喷墨头250的喷嘴施加电压V1，预定数目的墨滴从喷嘴喷射到基板210上，形成第一行。因此，由从施加了电压V1的喷嘴喷出的墨滴在基板210上形成墨层265。然后，在移动喷墨头250之后，通过向喷嘴施加电压V2，相同数目的墨滴从喷嘴喷射到基板210上，形成第二行。因此，由从施加了电压V1的喷嘴喷出的墨滴而在基板210上形成墨层265形状。类似地，相继向喷嘴施加电压V3，V4，V5，...，并且通过施加每个电压V3，V4，V5，...，同样数目的墨滴从喷嘴喷射到基板210上以形成后续的行。因此，与向喷嘴施加的电压V3，V4，V5，...相应的墨层265形成在基板210上。喷嘴数，行数以及从喷嘴喷出的墨滴数可以根据需要改变。如上所述，当预定数量的墨滴从喷嘴喷出，同时改变向喷墨头250的喷嘴施加的电压时，具有与喷嘴数和所施加电压相应的预定形状的墨层265形成在基板210上。
测量在基板210上形成的墨层265的平均厚度。在当前实施例中，利用包括测量区域270的掩模，使用SWLI方法测量墨层265的平均厚度。通过测量每个测量区域270中的墨层265的平均厚度来测量与每个喷嘴相应的墨层265的平均厚度。为此，测量区域270形成得比墨层265略大。墨层265的平均厚度还可用针式表面轮廓仪测量。测量在基板210上形成的墨层265的平均厚度得到与图6所示相类似的结果。
一旦设定要在基板210上形成的墨层265的目标厚度，就确定了要施加到每个喷嘴以获得墨层265的目标厚度的电压。通过将这些电压施加到喷嘴，等量的墨可从喷嘴喷出，从而生成均匀厚度的彩色滤光片。
如上所述，在本发明中，通过均一化由从喷墨头喷出的墨滴形成的墨层的平均厚度，可调节施加到每个喷嘴的电压以确保均匀量的墨从喷嘴喷出。由于该平均厚度均一化方法是通过直接测量墨层厚度而进行的，所以该平均厚度均一化方法所得到的结果优于常规的均一化方法。
尽管描述了一种均一化从喷墨头喷嘴喷出的墨量以实现彩色滤光片的均匀厚度的方法，但是本发明也可用于通常的喷墨打印方法，以及用于形成有机LED(OLED)的有机发光层或者有机薄膜晶体管的有机半导体材料的喷墨打印方法。
如上所述，根据本发明，通过调节施加到喷嘴的电压以均一化由从喷嘴喷出的墨滴形成的墨层的平均厚度，喷嘴之间的喷射特性上的差异可最小化。如此，从喷嘴喷出的墨量可变得均匀，具有均匀厚度的墨层可形成在彩色滤光片的像素中。因此，可提高彩色滤光片的产量，并提高滤光片的性能。
尽管参照其示例性实施例具体示出和描述了本发明，但是本领域的一般技术人员应该理解，在不背离如所附权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下，对这些实施例可做出形式和细节上的各种改变。

Claims (8)

1.一种墨滴的均一化方法，用于确保从喷墨头的喷嘴喷出的墨量的一致，所述均一化方法包括：
将预定数量的墨滴从喷嘴喷射到像素中，同时改变施加到所述喷嘴的电压；
测量在所述像素中形成的墨层的平均厚度；以及
设定所述墨层的目标厚度，并向每个喷嘴施加与所述目标厚度相应的电压。
2.根据权利要求1所述的均一化方法，其中，所述墨层的所述平均厚度用扫描白光干涉测量法测量。
3.根据权利要求2所述的均一化方法，其中，扫描白光干涉测量法利用掩模测量所述墨层的所述平均厚度，所述掩模中形成有具有与所述像素相同大小的测量区域。
4.根据权利要求1所述的均一化方法，其中，所述墨层的所述平均厚度用针式表面轮廓仪测量。
5.一种墨滴的均一化方法，用于确保从喷墨头喷嘴喷出的墨量的一致，所述均一化方法包括：
将预定数量的墨滴从喷嘴喷射到基板上的预定位置上，同时改变施加到所述喷嘴的电压；
测量在所述基板上形成的墨层的平均厚度；以及
设定所述墨层的目标厚度，并向每个喷嘴施加与所述目标厚度相应的电压。
6.根据权利要求5所述的均一化方法，其中，所述墨层的所述平均厚度用扫描白光干涉测量法测量。
7.根据权利要求6所述的均一化方法，其中，扫描白光干涉测量法利用掩模测量所述墨层的所述平均厚度，所述掩模中形成有具有预定形状的测量区域。
8.根据权利要求5所述的均一化方法，其中，所述墨层的所述平均厚度用针式表面轮廓仪测量。
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