CN100583255C - 光学拾取装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光学拾取装置，所要解决的技术问题是：在利用差动推挽法对多层光盘进行循轨时，来自相邻层的反射光成为杂散光，从而对循轨控制信号或数据信号产生坏影响。本发明的光学拾取装置利用象差的影响小的会聚透镜使包含来自相邻层的杂散光在内的、来自光盘的反射光会聚一次，并利用具有部分反射区域的反射镜进行反射。该反射光是杂散光的影响减小的反射光，通过偏振光束分光器后，利用有象散的会聚透镜使该反射光入射到4分割检测器(主光线用)和2分割检测器(副光线用)。

Description

光学拾取装置

技术领域

本发明涉及光学拾取装置，特别是涉及光学拾取装置的读出光学系统。

背景技术

光盘的1层的容量很大程度上取决于所使用的半导体激光器的波长和物镜的数值孔径(NA)。半导体激光器的波长越短、或者NA越大，记录密度就可越大，从而可以增加每层的容量。现在市场上流通的光盘驱动器的主体是使用波长650nm附近的红色光和NA 0.6的物镜的DVD(数字通用盘)驱动器，但作为高于DVD的记录密度的光盘驱动器，以光波长405nm附近的蓝紫色半导体激光器为光源、使用NA 0.85的物镜的光盘驱动器开始上市。为了提高今后的记录密度而考虑使用波长的短波长化时，比该蓝紫色波长更短的半导体激光光源的开发使波长到达紫外区域，因此在开发中困难是可以预想的。另外，物镜在空气中的NA的极限为1，因此利用物镜来提高记录密度也很困难。

在这样的状况下，作为增加1张光盘的容量的方式，有人提出多层化的方案。在非专利文献1中介绍了4层ROM(只读存储器)。在将激光照射到多层光盘上的情况下，同时会照射多个层，因此会产生层间串扰的问题。为了减小该问题，使层间隔变大。由于激光被会聚，并且目的层以外的层从激光的会聚位置偏离，因此可以减少串扰。

另一方面，如果扩大层间隔，则球面象差成为问题。在记录层的层间使用与空气的折射率不同的聚碳酸酯，这成为球面象差的原因。物镜的球面象差设计成针对特定的层小，在将激光的焦点移动到其它层时，产生球面象差。可以通过将通常由2个透镜构成的放大透镜光学系统或液晶元件放置在物镜的前面来校正该象差。可以通过改变2个透镜的距离或液晶元件的相位来校正象差。但是，如果考虑在小型的光盘驱动装置内实现液晶元件的可补偿范围或透镜的移动机构，则无法校正大的球面象差。即，在实际的光盘驱动装置中，实际上很难使多层光盘的层间隔足够大。结果，在多层光盘中留下层间串扰。

为了减小上述的串扰，根据专利文献1，由透镜会聚的、来自多层光盘的反射光的会聚位置在目的层和相邻层中，在光轴上是不同的，因此，通过在光轴上配置微小反射镜，可以仅取出目的反射光，从而可以减小串扰。但是，由于采取的是使来自光盘的反射光相对光轴在横向上折曲的方式，因此光斑不得不变大。另外，根据专利文献2，提出了一种使用临界角棱镜来除去来自相邻层的反射光的方法。该方法利用来自该层的反射光变成准直后的平行光、但来自相邻层的反射光变成发散光或收敛光这一点，利用临界角棱镜除去相对光轴成某个角度以上的光线。该方式也使用2个临界角棱镜，因此光斑不得不变大。

[专利文献1]特开2005-302084号

[专利文献2]特开2002-367211号

[专利文献1]Jpn.J.Appl.Phys.Vol.42(2003)pp.778-783

发明内容

发明所要解决的技术问题

使用图3来说明光学拾取装置的检测光学系统中的、由多层光盘引起的串扰。循轨误差信号的检测在此使用DPP(差动推挽，Differential Push-Pull)法。在DPP法中，利用衍射光栅将激光分割成1条主光线和2条副光线，来照射光盘。图3中仅示出主光线80。为了简单起见，设501为2层光盘，511和512为信息记录层。来自物镜401的主光线的最小束斑位置如主光线80所示位于信息记录层511上，以读出来自信息记录层511的信息。信息记录层511上形成如图4所示的用于循轨的引导槽，主光线作为光斑94照射该槽，同时副光线作为照射光斑95、96照射偏移了半个轨道间距的位置。照射光的焦点聚焦在记录层511上，因此其反射光循着与入射光相同的光路，沿反方向返回图3的物镜401。然后，透过检测透镜402，变成光束81，入射到光检测器51中。检测透镜402有象散，光检测器51设置在最小弥散圆的位置上。

图5中示出光检测器的形状和来自盘的反射光的入射状态。位于中央的田字形状的4分割检测器541检测主光线，主光线作为光斑811照射检测器541。基于副光线的反射光分别作为光斑812、813入射到2分割检测器542、543上。设来自4分割检测器541的信号为A、B、C、D，来自2分割检测器542的信号为E、F，来自2分割检测器543的信号为G、H。此时，循轨误差信号TR表示为TR＝(A+B)-(C+D)-k{(E-F)+(G-H)}。这里，k为常数，根据主光线与副光线的强度比等决定。通常，主光线与副光线的强度相比较，被设定为大10倍以上。另外，当设聚焦误差信号为AF、数据信号为RF时，表示为AF＝A+C-(B+D)、RF＝A+C+B+D。TR和AF信号用于控制激光的照射位置。

设计成当将激光照射到多层盘上时，来自各个层的反射光量几乎为同量。因此，接近物镜的层的透过率大，从而激光也可以照射到离物镜远的层上。在这样的条件下，如果如图3所示使激光的焦点聚焦在作为信息读出对象层的511上，则一部分激光作为光束82透过该层511，由相邻层512反射，成为作为杂散光的反射光束83。该反射光束83返回物镜401，并在入射到检测透镜402中后，在光检测器51的前面会聚一次，如光束84所示扩宽并入射到光检测器51中。光束84在光检测器面上如图5所示，成为扩宽后的光斑841，从而处于覆盖了光检测器541、542、543的状态。因此，与光束811、812、813产生干涉。该干涉受到由于层间隔的变动引起的光斑841的相位变化的影响并发生变动。即，由于由此引起的干涉状态的变动，作为光束811的全部光量的RF信号强度中的变动引起RF信号的抖动的劣化，从而使数据读出时的错误率恶化。另外，利用衍射光栅分割生成的副光线的强度在设计时设定得较小，因此与来自相邻层的主光线的反射光的功率密度为同等程度，因此，干涉效应较强地出现。该干涉也受到光盘的倾斜或层间隔等的影响，在不均匀层间隔的盘的旋转中，光斑812或813的光量分布发生变化。结果，对TR信号的差动信号部分(E-F)+(G-H)产生影响，从而破坏了循轨信号的平衡。由此产生循轨偏离的问题。同样，在相邻层512位于读出对象层511的靠近物镜一侧的情况下，也从相邻层产生反射光，从而同样地产生成为问题的干涉。

本发明的目的是，在不使光学拾取装置大型化的情况下，减少对多层光盘中的数据信号或循轨信号的串扰。

解决技术问题的技术手段

为了解决上述问题，使用减小主光线的来自相邻层的反射的影响的方法。在图3的光学系统中，向会聚透镜402导入象散，并将光检测器放置在收敛光束成为最小弥散圆的光轴位置上。这种情况下，最小弥散圆与没有象差的会聚光斑相比更大，因此放置在最小弥散圆的位置上的光检测器不得不变宽。这种情况下，如在图5中所说明的那样，来自相邻层的反射光841作为杂散光入射到检测器542、543。为了减少该杂散光，利用没有象散、即象差小的会聚透镜使包含来自相邻层的杂散光在内的来自光盘的反射光会聚一次，在会聚位置上设置设有部分反射区域的反射板。由于利用象差小的透镜进行会聚，因此焦点位置上的光斑尺寸变小。另一方面，来自相邻层的反射光不管是否有象散都扩宽，因此功率密度的分布几乎不变。

图6示出利用没有象差的透镜使来自光盘的反射光缩小范围的状态。821是来自该层的主光线的反射光的会聚光斑，822、823是副光线的反射光的会聚光斑。由于透镜没有象差，因此形成小于图5所示的最小弥散圆的光斑。来自相邻层的反射光842处于较大扩宽的状态，与图5的情况相比几乎不变。这里，将具有部分反射区域的反射镜设置在焦点位置上。在图6中，601表示形成四角形状的反射部分，反射主光线。602、603同样表示反射部分，分别反射副光线。该反射部分的大小使各个光线的光斑直径小，因此可以小于放置在最小弥散圆的位置上的光检测器542或543(图5)。在使用图5所示的光检测器检测由图6的反射部分反射的光的情况下，入射到各个检测器中的来自相邻层的反射光由于反射部分601～603的面积小而减少。另一方面，821、822、823的来自该层的反射光大大减少，因此当两者在检测器上产生干涉时，其干涉效应减小。

在本发明中，通过在利用具有部分反射区域的反射镜使来自该层以及相邻层的反射光反射后进行检测，可以减少来自相邻层的反射光的影响。同样的效果通过使用针孔也可以得到，但针孔为透过型，因此在针孔的后方必须有光学系统，从而导致装置的大型化。在本发明中使用具有部分反射区域的反射板，因此可以共用已设的光学元件，从而可以实现装置的小型化。

发明效果

根据本发明，可以减少入射到用于得到循轨误差信号的光检测器中的、来自相邻层的反射光的光量，从而可以减小由于干涉导致的循轨误差信号的变动。由此，在读写光盘时，光斑不会偏离轨道。同时，可以减少来自相邻层的反射光对光检测器的影响，因此可以减小数据信号的抖动，从而提高读出的数据的可靠性。

附图说明

图1是表示本发明的光学拾取装置的光学系统的一个例子的图。

图2是表示本发明的光学拾取装置的光学系统的一个例子的图。

图3是表示来自相邻层的反射光的影响的图。

图4是表示1条主光线和2条副光线照射有槽记录面的状态的图。

图5是表示光检测器的形状和来自光盘的反射光的光斑位置和扩宽的图。

图6是表示利用没有象差的会聚透镜使来自光盘的反射光缩小了范围的状态和具有部分反射区域的反射板的图。

图7是表示具有相同大小的部分反射区域的反射板的形状的图。

图8是表示具有不同大小的部分反射区域的反射板的形状的图。

图9是表示具有条带状的部分反射区域的反射板的形状的图。

图10是表示信号处理电路的概略的图。

图11是表示由于副推挽信号的层间隔变化引起的变化的图。

图12是表示改变了中心反射部分的大小时的副推挽信号的图。

图13是表示改变了中心反射部分的大小时的AF信号的图。

图14是表示本发明的光学拾取装置的光学系统的一个例子的图。

图15是本发明的光盘驱动装置的概略图。

符号说明

43：反射板、46：反射板、47：反射板、48：有象散的凹面镜、52：检测器、53：信号处理电路、101：半导体激光器、103：衍射光栅、104：偏振光束分光器、105：λ/4板、106：λ/4板、404：物镜、405：会聚透镜、406：有象散的会聚透镜、501：多层盘、541：4分割检测器、542：2分割检测器、543：2分割检测器、601：部分反射区域、602：部分反射区域、603：部分反射区域、821：主光线束斑、822：副光线束斑、823：副光线束斑

具体实施方式

以下利用附图说明用于实施本发明的光盘驱动装置的最佳实施方式。

[实施例1]

图1示出光盘驱动装置的光学拾取部分。利用准直透镜403和三角棱镜102将从半导体激光器101射出的激光变换成圆形的、准直后的光束。准直后的光束由衍射光栅103分割成3条光束，形成1条主光线和2条副光线。主光线的行进方向与入射光束为相同方向，但副光束形成位于光轴两侧的、具有倾角的出射光。通常将主光线与副光线的光量差设定为10倍以上。3条光束透过偏振光束分光器104，由λ/4板105变换成圆偏振光，并利用物镜404使其在通过旋转机构旋转的多层盘501上缩小范围。这里图示出2层盘，但不限于2层盘，也可以实施为3层以上的多层盘。读出对象层(该层)为511，激光的最小光斑的位置位于511上。从相邻层512也产生反射光83，形成成为串扰原因的杂散光。

来自多层盘的反射光还包含杂散光，返回物镜404，由λ/4板105变换成相对原来的偏振方向正交的方向上的直线偏振光。因此，由偏振光束分光器104反射，朝向λ/4板106，被变换成圆偏振光。然后，由会聚透镜405会聚，并由反射板43反射。反射板43设置在来自记录层511的反射光成为最小光斑的位置上。图7中示出反射板43的形状。主光线由反射区域431反射，两条副光线由反射区域432和433反射。各个反射区域的大小是，半径为10μm，中心间隔为130μm。由反射板43反射的反射光返回会聚透镜405，利用λ/4板106形成相对入射时的偏振方向正交的偏振方向上的直线偏振光，并透过光束分光器104。406为有象散的会聚透镜，在最小弥散圆的位置上放置光检测器52。光检测器的有灵敏度的部分的形状如图5所示。来自光检测器的信号由信号处理电路53进行处理，形成控制光斑位置的AF信号和TR信号以及作为数据信号的RF信号。

图10中示出用于信号处理的电子电路。光检测器541以及542、543与图5所示的光检测器相同。4分割检测器541检测主光线，2分割检测器542、543分别检测副光线。551到555为差动放大器，561到566为加法电路。580为k倍放大器，k为考虑到主光线与副光线的强度比来决定的值。来自各检测器的信号在由前置放大器放大后，由这些电子电路进行处理，成为控制信号或数据信号。将来自4分割检测器的输出A以及B、C、D全部加在一起得到的信号为572，为数据信号。574为利用象散法的AF信号。573为基于主光线的推挽信号，571为基于副光束的副推挽信号。571的信号由放大器580放大为k倍，与基于主光线的推挽信号573一起由差动放大器555进行处理，形成TR信号575。

图11示出图10的571的副推挽信号(SPP)的计算例。设使用波长为0.405μm、物镜的NA为0.85、轨道间距为0.32μm。在计算中，设主光线的光斑位置位于靠近物镜的511的记录层的在轨(on track)上、副光线的位置固定在偏离了半个轨道的位置上，在改变层间隔的同时，计算考虑到2层干涉的SPP。该SPP不改变轨道位置，因此可以计算由干涉效应引起的SPP的变动。图11的横轴是2个记录层的层间隔，纵轴是用SPP的振幅归一化后的SPP信号。用中空的四角形表示的线是实施例1的SPP信号。为了进行比较，同时示出在没有反射板43的通常的光学系统、即在反射板43的位置上配置了光检测器541和542、543的光学系统中的计算结果。从该图可知，在该层间隔的范围内，SPP信号的变动在实施例1中为0.024，而在没有对策的现有光学系统中为0.22。

在本实施例中，设会聚透镜405和有象散的透镜406的焦距两者均为46mm。利用会聚透镜405形成的光斑尺寸为4μm。另外，有象散的透镜406的象散为1.7mm，最小弥散圆上的光斑大小约为30μm。由于可以在小的反射区域上反射这样小的光斑尺寸的光束，因此可以减小SPP变动。

如上所述，根据本发明，可以减少循轨误差信号伴随层间隔的变动而发生变动的现象。来自相邻层的反射光与用于循轨的副光线发生干涉，其相位差由于层间隔而改变，因此副推挽信号发生变动，但利用本发明可以减小来自相邻层的反射光的影响，因此循轨误差信号的变动减小。由此，可以进行精度高的激光照射位置的控制，从而可以正确地决定读出和写入时的激光照射位置，因此可以提高信号的质量。另外，在数据信号自身，来自相邻层的反射光的混入也变小，因此可以得到错误少的数据信号。

在本实施例中使用了偏振光学系统，但在半导体激光器的最大输出有足够余量的情况下，也可以将104的偏振光束分光器置换成通常的光束分光器，并使用去掉了105和106的λ/4板的光学系统。

[实施例2]

在实施例1中，作为反射板43的形状，使用的是主光线用与副光线用的反射区域的大小相同的反射板。但是，有时焦点的引入范围未必象设计的那样。为了应对该情况，在实施例2中，反射主光线的区域的大小与反射副光线的区域的大小不同。图8中示出在图1的反射板43的位置上作为一个例子应当代替设置的反射板。反射板46的反射部分461用于主光线，反射部分462、463用于副光线。图12中示出使用了该反射板时的、图10的571的副推挽信号(SPP)的计算例。这里设462和463的反射区域的半径为10μm，并将461的半径设定为30μm和40μm。其它参数与实施例1同样，设反射部分的中心间隔为130μm、使用波长为0.405μm、物镜的NA为0.85、轨道间距为0.32μm。图12的横轴是两个记录层的层间隔，纵轴为用SPP振幅归一化后的SPP信号。△标记表示中心的反射部分的半径为40μm的SPP信号，○标记表示半径为30μm的SPP信号。根据该图可知，半径为40μm的SPP变动为0.061，半径为30μm的情况下的SPP变动为0.053。如图11所示，没有对策的情况下的SPP变动是0.21，因此SPP变动减少，显示出本发明的效果。

图13示出使光盘沿光轴方向移动时的AF信号574的变化。横轴表示散焦量，散焦为0时，光盘的记录面与激光的最小光斑的位置一致。461的反射部分的半径为30μm时引入范围为1.25μm，半径40μm时为1.45μm，如果增大半径，则引入范围变宽。

另外，即使在图1的反射板43的位置上使用具有图9所示的条带状的反射区域的反射板，也可以减小来自相邻层的反射光的影响。471的反射区域反射主光线，472和473的区域反射副光线。相对于通过主光线和两条副光线的中心的直线，条带的方向不仅可以设定为垂直方向，而且可以设定为倾斜的方向。在这些情况下，仅通过使具有条带状的反射区域的反射板沿横向移动，就可以进行与3条光束的位置调整，从而具有调整容易的优点。

[实施例3]

在图2所示的实施例3中，衍射光栅103和偏振光束分光器104设置在比准直透镜407更靠近半导体激光器101的一侧。从而，从半导体激光器101射出的激光以发散光的状态透过偏振光束分光器104，然后利用准直透镜407变换成准直后的光束，入射到衍射光栅105中。在实施例1中，衍射光栅103和偏振光束分光器104设置在准直透镜403与物镜404之间，因此需要会聚透镜405，但在实施例3中，如图2所示，从多层盘501的读出对象层511反射的光束通过准直透镜407后变成收敛光，因此不需要会聚透镜，因此具有削减部件个数的效果。

[实施例4]

图14中示出实施例4。来自光盘501的反射光由偏振光束分光器104反射后，透过λ/4板106变成圆偏振光，并由反射板43反射。在反射板43上，光检测器52设置在从光轴偏离的位置上，但并非用于直接检测由偏振光束分光器104反射的、来自光盘的反射光。由具有部分反射区域的反射板43反射的光通过λ/4板，从而偏振方向与入射时相差90度，因此透过偏振光束分光器104，由凹面镜48反射。凹面镜的光轴朝向光检测器52的方向，反射光由光检测器52检测。为了得到AF信号而使用象散法，因此凹面镜48有象散。基于由光检测器52检测出的光的信号由信号处理电路53处理，形成控制光斑位置的AF信号和TR信号、作为数据信号的RF信号。在本实施例中通过使用凹面镜48，可以使到光检测器的光路与到反射板43的光路共用，从而可以将光检测器放置在反射板43上。由此，不需要偏振光束分光器104上部的光学系统，从而具有使装置小型化的效果。

[实施例5]

图15中示出可以使SPP的变动减小的光盘驱动装置的实施例。从711到714的电路用于将数据记录在多层光盘501中。711为纠错用编码电路，向数据附加纠错代码。712为记录编码电路，用1-7PP方式对数据进行调制。713为记录补偿电路，产生用于进行适合标记长度的写入的脉冲。根据所产生的脉冲串，由半导体激光器驱动电路714驱动光学拾取器60内的半导体激光器，并对从物镜射出的激光80进行调制。在由电机502旋转驱动的光盘501上形成相变膜，由激光加热，如果急冷，则形成非晶状态，如果慢冷，则形成结晶状态。这两个状态的反射率不同，从而可以形成标记。在写入状态下，不进行降低激光的相干性的高频重叠，因此来自相邻层的反射光和来自该层的反射光处于容易干涉的状态。因此，在不实施用于减小SPP变动的对策的情况下，会产生循轨偏离或将相邻轨道的数据擦除的问题。在本实施例中，在光学拾取器60中采用实施例1到4所示的光学拾取器中的任意一种，从而在多层盘中也不会产生循轨的偏离。

从721到726的电路用于数据的读出。721为均衡器，用于改善最短标记长度附近的信噪比。该信号输入到722的PLL电路中，并抽出时钟。另外，由均衡器处理后的数据信号按照所抽出的时钟的定时，由723的A-D转换器数字化。724为PRML(Partial ResponseMaximum Likelihood，部分响应极大似然)信号处理电路，进行维特比译码。记录译码电路725根据1-7PP方式的调制规则进行译码，并由纠错电路726恢复数据。

产业上的可利用性

利用本发明，可以减小在光盘驱动装置中读出多层光盘时产生的、来自相邻层的反射光的影响。在读出多层光盘或进行写入时，需要利用误差信号对光盘正确地进行激光循轨位置的控制。在出现了来自相邻层的反射光时，由于由干涉效应导致的误差信号的变迁，循轨位置产生偏差，从而无法高精度地读出数据信号或高精度地确定写入位置。本发明可以消除这些问题。而且，由于可以减小混入到数据信号自身中的、来自相邻层的反射光导致的串扰，因此可以提高信号的质量。

Claims (18)

1.一种光学拾取装置，其特征在于，具有：

激光光源；

会聚光学系统，将来自上述激光光源的激光分割成主光线和副光线，并使上述主光线和副光线会聚在多层光信息存储媒体的一个记录层上；和

检测光学系统，检测从上述多层光信息存储媒体的上述记录层反射的反射光，

其中，上述检测光学系统包括：光学系统，使来自上述记录层的反射光缩小范围；反射板，在由上述光学系统缩小了范围的上述主光线的光斑位置以及上述副光线的光斑位置上分别独立地设置有反射区域；有象散的会聚元件；和光检测器，具备检测上述主光线的检测元件以及检测上述副光线的检测元件，

上述反射板设置在来自上述记录层的反射光成为最小光斑的位置上，上述光检测器设置在由上述反射板反射后的反射光成为最小弥散圆的位置上，

其中通过由上述有象散的会聚元件将由上述反射板反射后的反射光会聚在上述光检测器上来进行检测。

2.如权利要求1所述的光学拾取装置，其特征在于，

在上述会聚光学系统的光路中设置光束分光器，上述会聚光学系统和上述检测光学系统在上述光束分光器和上述记录层之间共用光路。

3.如权利要求2所述的光学拾取装置，其特征在于，

在设置在上述反射板上的反射区域的面积中，对应于上述主光线的反射区域的面积与对应于上述副光线的反射区域的面积不同。

4.如权利要求2所述的光学拾取装置，其特征在于，

设置在上述反射板上的反射区域的形状为条带状。

5.如权利要求4所述的光学拾取装置，其特征在于，

在上述条带的宽度中，对应于上述主光线的反射区域的宽度与对应于上述副光线的反射区域的宽度不同。

6.如权利要求2所述的光学拾取装置，其特征在于，上述有象散的会聚元件为会聚透镜，上述反射板与上述有象散的会聚元件夹着上述光束分光器配置。

7.如权利要求2所述的光学拾取装置，其特征在于，

上述有象散的会聚元件为凹面镜，上述反射板与上述光检测器相对于上述光束分光器配置在相同侧。

8.如权利要求2所述的光学拾取装置，其特征在于，

上述会聚光学系统使来自上述激光光源的激光作为发散光透过上述光束分光器。

9.如权利要求2所述的光学拾取装置，其特征在于，

上述光束分光器为偏振光束分光器。

10.一种光盘驱动装置，其特征在于，具有：

媒体驱动部，保持多层光信息存储媒体并进行旋转驱动，

光学拾取装置，具有信号处理光学系统，该信号处理光学系统将激光照射在保持在上述媒体驱动部上的多层光信息存储媒体上，并检测记录信息；和

信号处理电路，从由上述光学拾取装置的信号处理光学系统检测出的信号中，取出焦点位置控制信号、循轨位置控制信号和数据信号，

其中，上述信号处理光学系统具有：激光光源；会聚光学系统，将来自上述激光光源的激光分割成主光线和副光线，并使上述主光线和副光线会聚在上述多层光信息存储媒体的一个记录层上；和检测光学系统，检测从上述记录层反射后的反射光，

其中，上述检测光学系统包括：光学系统，使来自上述记录层的反射光缩小范围；反射板，在由上述光学系统缩小了范围的上述主光线的光斑位置以及上述副光线的光斑位置上分别独立地设置有反射区域；有象散的会聚元件；和光检测器，具备检测上述主光线的检测元件以及检测上述副光线的检测元件，

上述反射板设置在来自上述记录层的反射光成为最小光斑的位置上，上述光检测器设置在由上述反射板反射后的反射光成为最小弥散圆的位置上，

其中通过由上述有象散的会聚元件将由上述反射板反射的反射光会聚在上述光检测器上来进行检测。

11.如权利要求10所述的光盘驱动装置，其特征在于，

在上述会聚光学系统的光路中设置光束分光器，上述会聚光学系统和上述检测光学系统在上述光束分光器和上述记录层之间共用光路。

12.如权利要求11所述的光盘驱动装置，其特征在于，

在设置在上述反射板上的反射区域的面积中，对应于上述主光线的反射区域的面积与对应于上述副光线的反射区域的面积不同。

13.如权利要求11所述的光盘驱动装置，其特征在于，

设置在上述反射板上的反射区域的形状为条带状。

14.如权利要求13所述的光盘驱动装置，其特征在于，

在上述条带的宽度中，对应于上述主光线的反射区域的宽度与对应于上述副光线的反射区域的宽度不同。

15.如权利要求11所述的光盘驱动装置，其特征在于，上述有象散的会聚元件为会聚透镜，上述反射板与上述有象散的会聚元件夹着上述光束分光器配置。

16.如权利要求11所述的光盘驱动装置，其特征在于，

上述有象散的会聚元件为凹面镜，上述反射板与上述光检测器相对于上述光束分光器配置在相同侧。

17.如权利要求11所述的光盘驱动装置，其特征在于，

上述会聚光学系统使来自上述激光光源的激光作为发散光透过上述光束分光器。

18.如权利要求11所述的光盘驱动装置，其特征在于，

上述光束分光器为偏振光束分光器。

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