CN100568407C - 正温度系数(ptc)元件的分选方法 - Google Patents

Abstract

在一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法中，对PTC元件A和B施加使电流充分衰减的一预定电压，并根据经过PTC元件的电流到达一预定电流值(例如，52mA)的时间不同而分选出各PTC元件。

Description

正温度系数(PTC)元件的分选方法

技术领域

本发明涉及一种分选具有不同阻值温度特性的正温度系数(PTC)元件的方法。

背景技术

通常，具有正阻值温度特性的PTC元件在超过居里温度(以下用CP表示)时阻值将迅速增加。基于以上的特性，可用作电子电路中的过流保护元件或者温度感应元件等。

但这些PTC元件的缺陷是，例如加工过程中可能由于杂质的混入而引起特性不良。因此，生产的PTC元件的质量须是经控制的。一个执行该质量控制的方法的例子是，测量PTC元件的阻抗，并根据该元件的阻值评估其质量(例如专利文献1)。另一个控制方法的例子是设定通电时的突入电流值和稳态电流值，选择突入电流值和稳态电流值不超过相应设置值的PTC元件(例如参见专利文献2)。

目前，为迎合市场需求，市面上有各种阻值温度特性的PTC元件，并且PTC元件有微型化趋势。最近，已经有了1.6×0.8mm和0.6×0.3mm的微芯片。

专利文献1：日本未审查专利申请，公开号：特开平7-294568

专利文献2：日本未审查专利申请，公开号：特开平9-92504

发明内容

本发明解决的问题：

在PTC元件的处理期间，不同特性的PTC元件非常容易与所处理的PTC元件混合。在这种情况下，必须分离外来的混合元件。然而，利用上述的现有方法分选阻值温度特性不同的PTC元件是困难的，因此提高元件处理效率是迫切需要的。

目前，为了防止外来元件的混入，可以在PTC元件上用区别性标记的方法。但是，当芯片趋向小型化，标记微芯片是困难的，因此通过外观区分不同的阻值温度特性是不可能的。另外，虽然能在很短的时间内测得的电阻阻值或者耐压值，但其特性也不能据此来判断。因此，为了分离混合的PTC元件，必须100％地检查测量每个PTC元件的阻值温度特性，从而需要大量的时间和精力。

由于这些情况的存在，本发明的一个目的是提供一种分选PTC元件的方法，当混入外来元件时，该方法能容易并可靠地分选PTC元件。

解决上述问题的方案：

根据本发明的权利要求1，一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法特征是：对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据电流经过PTC元件到达一设定电流值的时间不同分选PTC元件。

根据本发明的权利要求2，一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法特征是：对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据当一预定时间过后，经过PTC元件的电流值不同而分选PTC元件。

根据本发明的权利要求3，一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法特征是：对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据电流经过PTC元件到达多个预定电流值的时间不同而分选PTC元件。

根据本发明的权利要求4，一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法特征是：对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据当多个预定时间过后，经过PTC元件的各个电流值不同而分选PTC元件。

本发明的权利要求5的特征是，根据权利要求4，对每个所述PTC元件至少测量两个电流值，所测量的电流值累加形成一累加值，所述PTC元件根据所述累加值的不同而分选。

本发明的权利要求6的特征是，根据权利要求5，所述累加的是大小介于突入电流值的20％至80％之间的电流值。

根据本发明的权利要求7，一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法特征是：对每个PTC元件施加多个使电流充分衰减的预定电压，并根据电流经过PTC元件到达一预定电流值的时间不同而分选PTC元件。

根据本发明的权利要求8，一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法特征是：对每个PTC元件施加多个使电流充分衰减的预定电压，并根据当一预定时间过后，经过PTC元件的电流值不同而分选PTC元件。

本发明中，“使电流充分衰减的预定电压”为如下描述的电压。流经PTC元件的电流会随着施加在该元件上的电压增加而逐步增加，当越过最大值时就会减少，而越过最大电流点的电压即是“使电流充分衰减的预定电压”。

有益效果

在本发明的权利要求1中，对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据电流经过PTC元件到达一设定电流值的时间不同而分选PTC元件。在本发明的权利要求2中，对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据当一预定时间过后，经过PTC元件的电流值不同而分选PTC元件。因此，利用PTC元件的动态特性不同可以很容易并可靠地把混入的外来元件分选出，从而提高元件处理的效率。

换句话说，当PTC元件被施加电压时，它的电阻阻值因为PTC元件的自加热而增加，经过PTC元件的电流因此渐渐衰减。衰减曲线的形状取决于PTC元件的特性(例如，居里温度和阻值温度特性)。因此，可以通过施加电压后达到一预定电流所需的时间比较，或者经过一预定时间后的电流值比较，来分选PTC元件。

在本发明的权利要求3中，对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据电流经过PTC元件到达多个预定电流值的时间不同来分选PTC元件。在本发明的权利要求4中，对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据当多个预定时间过后，经过PTC元件的电流值不同而分选PTC元件。因此，通过利用PTC元件的动态特性不同可以很容易并可靠地把混入的外来元件分选出，从而提高分选的精确度。

在本发明的权利要求7中，对每个PTC元件施加多个使电流充分衰减的预定电压，并根据电流经过PTC元件到达一预定电流值的时间不同而分选PTC元件。在本发明的权利要求8中，对每个PTC元件施加多个使电流充分衰减的预定电压，并根据当一预定时间过后，经过PTC元件的电流值不同而分选PTC元件。因此，可以很容易并可靠地分选出外来元件，提高分选的精确度。

在本发明的权利要求5中，对每个所述PTC元件至少测量两个电流值，所测量的电流值累加形成一累加值，所述PTC元件根据所述累加值的不同而分选。因此，根据累加值，利用PTC元件的阻值温度特性和居里温度值，混入的外来元件可容易并可靠地分选出，从而在短时间内完成PTC元件的分选。

在本发明的权利要求6中，所述累加的是大小介于突入电流值的20％至80％之间的电流值。因此，外来元件可以更可靠，更精确地分离出。

附图说明

图1是本发明的PTC元件的斜视图；

图2表示的是PTC元件的阻值温度特性；

图3表示的是PTC元件的动态特性；

图4是PTC元件的测量电路图；

图5是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图6是PTC元件的阻值温度特性图；

图7是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图8是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图9是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图10是PTC元件的阻值与时间的关系特性图；

图11是PTC元件的阻值与时间的关系特性图；

图12是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图13是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图14是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图15是当施加电压50V时，PTC元件的电流衰减曲线特性图；

图16是当施加电压80V时，PTC元件的电流衰减曲线特性图；

图17是PTC元件电流值与时间的关系特性图；

图18表示的是电流达到预定电流值所需的衰减时间；

图19是PTC元件的电流值与时间的关系特性图；

图20表示的是电流达到预定电流值所需的衰减时间；

图21是PTC元件的电流值与时间关系特性图；

图22表示的是经过预定时间后的电流值；

图23是PTC元件的电流值与时间关系特性图；

图24表示的是经过预定时间后的电流值；

图25是PTC元件的电流值与时间关系特性图。

符号说明：

1 PTC元件

A CP100±5℃的PTC元件

B CP120±5℃的PTC元件

C CP80±5℃的PTC元件

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式做进一步描述。

图1至图5表明的是根据本发明的第一实施方式分选PTC元件的方法。图1是本发明的PTC元件的斜视图。图2表示的是PTC元件的阻值温度特性。图3表示的是PTC元件的电流值与时间关系的动态特性。图4是PTC元件的测量电路图。图5是PTC元件的电流值与时间的关系特性图。

如图1所示，本实施方式的PTC元件1的结构中，内部电极(图未示)在长方体半导体陶瓷1a内，外部电极2设置在半导体陶瓷1a的两端，而各内部电极与外部电极2连接。该PTC元件1的尺寸是1.6mm(L)×0.8mm(W)×0.8mm(T)，且每个外部电极的宽度是0.4mm。

本实施方式中分选两种具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法，是通过对每个PTC元件施加一使电流充分衰减的预定电压，并根据电流经过PTC元件衰减至一预定电流值的时间不同来分选PTC元件。

如图2和图3所示，分选R25＝470Ω±50％，CP＝100±5℃的PTC元件A(用虚线表示)和CP＝120±5℃的PTC元件B(用实线表示)的分选为具体例子进行描述。其中，R25是指25℃下的电阻值。

如图4所示的测量电路，PTC元件A和B上施加直流电压50V，并用示波器3测量经过PTC元件A和B的电流波形。如图5所示，读取从施加电压至经过PTC元件A和B的电流到达52mA所需的时间。结果，PTC元件A到达52mA所需时间范围是31ms至33ms，而PTC元件B到达52mA所需时间范围是39ms至42ms。

实施例一：

在本实施例中，在10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B，并分选这些PTC元件A和B。

PTC元件A和B上施加直流电压50V，读取从施加电压至经过PTC元件A和B的电流到达52mA所需的时间，分离偏离31ms至33ms标准范围的元件。

结果5个偏离标准范围的元件被分离出。如表1所示，序号1至5的所有样品都是CP120±5℃的PTC元件B。

根据实施例一，因为在PTC元件A和B上施加使电流充分衰减的电压，且PTC元件A和B的分选是根据电流到达预定电流值所需时间的不同，所以利用PTC元件A和B的动态特性的不同，外来元件可以容易并可靠地分选出，一个元件只需几十毫秒的时间，从而提高了元件处理的效率。

表1

样品序号	时间[ms]	CP[℃]
			1	41.6	123
2	41.2	121
			3	41.0	120
4	40.7	119
			5	40.1	117

在以上实施方式中，混入的外来PTC元件被分离。事实上，根据本发明的分选方法，采用上述方式，也可以用于PTC元件的质量控制。

图6和图7是本发明的第二实施方式。图6是PTC元件的阻值温度特性图。图7是PTC元件的电流值与时间的关系特性图。

在本实施方式中，除了PTC元件A和B外，还混入了CP＝80±5℃的PTC元件C，分选了具有不同阻值温度特性的PTC元件A，B和C。

PTC元件A至C上施加直流电压50V，且用示波器测量经过PTC元件A至C的电流的波形。如图7所示，读取施加电压后经过PTC元件A至C的电流达到52mA所需的时间。结果，达到52mA所需的时间：PTC元件A的范围是31ms至33ms，PTC元件B的范围是39ms至42ms，而PTC元件C的范围是25ms至27ms。

实施例二

在实施例二中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B和5个PTC元件C，分选PTC元件A、B、C。

PTC元件A至C上施加直流电压50V，且用示波器测量经过PTC元件A至C的电流的波形。如图7所示，读取施加电压后经过PTC元件A至C的电流达到52mA所需的时间。从而，分离出偏离31ms至33ms标准范围的PTC元件。

结果，10个偏离31ms至33ms标准范围的PTC元件被分离出。如表2所示，序号11至20样品是CP＝120±5℃的PTC元件B和CP＝80±5℃的PTC元件C。根据实施例二，PTC元件可容易并可靠地分选出，每个元件只需几十毫秒。从而和上面例子一样，可获得类似的有益效果。

表2

样品序号	时间[ms]	CP[℃]
			11	41.6	123
12	41.2	121
			13	41.0	120
14	40.7	119
			15	40.1	117

样品序号	时间[ms]	CP[℃]
			16	27.0	85
17	26.6	83
			18	25.5	77.5
19	25.3	76.5
			20	25.0.	75

图8是PTC元件的电流值与时间的关系特性图，用于说明本发明第三实施方式的分选方法。

在该实施方式中，PTC元件A和B上施加直流电压50V，并用前述的示波器测量经过PTC元件A和B的电流的波形。施加电压后30ms，测得电流值。结果，30ms时经过PTC元件A的电流值范围是58mA至62mA，而PTC元件B的电流值范围是87mA至93mA。

实施例三

在实施例三中，在10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B，如前所述，分选PTC元件A和B。

PTC元件A和B上施加直流电压50V，施加电压后30ms，测得电流值。于是，偏离58mA至62mA的范围的元件被分离。

结果5个偏离上述电流值范围的元件被分离出。如表3所示，序号21至25的样品均是CP＝120±5℃的PTC元件B。根据实施例，PTC元件可容易并可靠地分选出。每个元件只需几十毫秒。从而和上面例子一样，可获得类似的有益效果。

表3

产品序号	电流值[mA]	CP[℃]
			21	92.0	123
22	91.5	121
			23	91.0	120
24	90.0	119
			25	89.0	117

实施例四

在实施例四中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B和5个PTC元件C，分选这PTC元件A、B、C。

如图9所示，PTC元件A至C上施加直流电压50V，施加电压后30ms，测得电流值。于是，偏离58mA至62mA的标准电流值范围的元件被分离出。

结果有10个偏离标准电流值范围的元件被分离出。如表4所示，序号31至40的样品是CP＝120±5℃的PTC元件B或是CP＝80±5℃的PTC元件C。根据实施例四，PTC元件可容易并可靠地分选出，每个元件只需几十毫秒。从而和上面例子一样，可获得类似的有益效果。

表4

样品序号	电流值[mA]	CP[℃]
			31	92.0	123
32	91.5	121
			33	91.0	120
34	90.0	119
			35	89.0	117

样品序号	电流值[mA]	CP[℃]
			36	40.0	85
37	39.0	82
			38	38.0	80
39	37.0	78
			40	36.0	75

实施例五

在实施例五中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B。如图10所示，PTC元件A和B上施加直流电压50V，施加电压后40ms，通过相应的电流值换算为电阻值。于是，偏离1620Ω至1670Ω标准电阻值范围的元件被分离出。

结果有5个偏离1620Ω至1670Ω标准范围的元件被分离出。如表5所示，序号41至45的样品均是CP＝120±5℃的PTC元件B。根据实施例五，可获得和上面例子一样的有益效果。

表5

样品序号	电阻[Ω]	CP[℃]
			41	965	123
42	953	121
			43	950	120
44	944	119
			45	936	117

实施例六

在实施例六中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B和5个PTC元件C。如图11所示，PTC元件A至C上施加直流电压50V，当施加电压后40ms，读取通过相应的电流值换算为电阻值。从而，偏离1620Ω至1670Ω标准电阻值范围的元件被分离出。

结果，10个偏离1620Ω至1670Ω标准范围的元件被分离出。如表6所示，序号51至60的样品是CP＝120±5℃的PTC元件B和CP＝80±5℃的PTC元件C。根据实施例六，可获得和上述例子类似的有益效果。

表6

样品序号	电阻[Ω]	CP[℃]
			51	965	123
52	953	121
			53	950	120
54	944	119
			55	936	117

样品序号	电阻[Ω]	CP[℃]
			56	2300	85
57	2230	83
			58	2200	80
59	2180	78
			60	2100	75

图12是PTC元件的电流值与时间的关系特性图，用于说明本发明第四实施方式的分选方法。

在本实施方式中，如前述，PTC元件A和B上施加直流电压50V，并用示波器测量经过PTC元件A和B的电流波形。在施加电压后20ms，30ms及40ms分别测得经过PTC元件A和B的电流值。结果，PTC元件A在20ms，30ms及40ms的电流值范围分别是97mA至93mA，58mA至62mA，以及31mA至33mA，而PTC元件B的电流值范围分别是108mA至112mA，87mA至93mA，以及51mA至53mA。

实施例七

在实施例七中，10,000个PTC元件A混入5个PTC元件B，分选这些PTC元件A和B。

PTC元件A和B上施加直流电压50V，在施加电压后20ms，30ms及40ms分别测得经过PTC元件A和B的电流值，偏离97mA至93mA，58mA至62mA，以及31mA至33mA电流值标准范围的被分离。

结果，5个偏离电流标准范围的元件被分离。如表7所示，序号61至65的样品均是CP＝120±5℃的PTC元件B。根据实施例七，PTC元件可容易并可靠地分选出，每个元件只需几十毫秒。从而和上面例子一样，可获得类似的有益效果。

表7

上面实施方式中通过读取施加电压后20ms，30ms，40ms时经过PTC元件A和B的电流值来分选PTC元件。然而，如图13所示，可以通过PTC元件的电流到达多个电流值i3，i2和i1分别所需的时间t3，t2和t1来分选元件，同样可以获得和上述实施例类似的有益效果。

实施例八

在实施例八中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B和5个PTC元件C，分选这些PTC元件A、B、C。如图14所示，PTC元件A至C上施加直流电压50V，从施加电压后20ms，30ms和40ms时分别测量通过PTC元件A至C的电流值。偏离97mA至93mA，58mA至62mA和31mA至33mA标准范围的被分离。

结果，10个偏离电流标准范围的元件被分选出。如表8所示，序号71至80的元件是CP＝120±5℃的PTC元件B和CP＝80±5℃的PTC元件C。根据实施例八，可以获得和上述实施例类似的有益效果。

表8

图15至图18解释了本发明第五实施方式的分选方法。图15是当施加电压50V时，PTC元件的衰减曲线特性图。图16是当施加电压80V时，PTC元件的衰减曲线特性图。图17表示了当施加电压50V和80V时，PTC元件电流值与时间的关系特性图。图18表示的是电压与PTC元件衰减时间的关系。

在本实施方式中，PTC元件A和B上先后施加直流电压50V和80V，并用示波器测量通过PTC元件A和B的电流的波形。在50V的情况下，读取施加电压后至经过PTC元件A和B的电流为60mA所需的时间。在80V的情况下，读取施加电压后至经过PTC元件A和B的电流为105mA所需的时间。结果，在50V的情况下，经过PTC元件A的电流所需的时间是31ms至33ms，80V的情况下，所需的时间是18ms至20ms。而在50V情况下，经过PTC元件B的电流所需的时间是39ms至42ms，80V情况下，所需的时间是23ms至25ms。

实施例九

在实施例九中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B，分选这些PTC元件A和B。PTC元件A和B上施加直流电压50V，读取通过PTC元件A和B的电流到达60mA所需的时间。在PTC元件A和B冷却至室温后，再施加直流电压80V，读取通过PTC元件A和B的电流到达105mA所需的时间。分离在50V的情况下，偏离31ms至33ms电流值范围的元件，以及分离在80V的情况下，偏离18ms至20ms电流值范围的元件。

结果，5个偏离范围的元件被分选出。如表9所示，序号81至85的样品均是CP＝120±5℃的PTC元件B。根据实施例九，可以获得如上述例子的类似有益效果。

表9

实施例十

在实施例十中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B，以及5个PTC元件C，分选这些PTC元件A、B、C。如图19至20所示，PTC元件A至C上施加直流电压50V，读取经过PTC元件A至C的电流达到60mA所需的时间。在PTC元件A至C冷却至室温后，再施加直流电压80V，读取经过PTC元件A至C的电流达到139mA所需的时间。从而，分离50V电压下偏离31ms至33ms范围的元件，以及分离80V电压下偏离17ms至19ms范围的元件。

结果，10个偏离范围的元件被选出。如表10所示，序号91至100的样品是CP＝120±5℃的PTC元件B和CP＝80±5℃的PTC元件C。根据实施例十，可以获得和上面例子类似的有益效果。

表10

图21至图22显示了根据本发明第六实施方式的分选方法。图21是当施加电压50V和80V时，PTC元件的电流值与时间关系特性图。图22表示的是施加电压经过预定时间后通过PTC元件的电流与施加的电压的关系。

在该实施方式中，PTC元件A和B上先后施加50V和80V的直流电压，并用示波器测量经过PTC元件A和B的电流的波形。在50V情况下，当30ms时，测量通过PTC元件A和B的电流值。在80V情况下，当20ms时，测量通过PTC元件A和B的电流值。结果，50V下，PTC元件A的电流值范围是58mA至62mA，80V下，电流值的范围是108mA至110mA。而50V下，PTC元件B的电流值范围是87mA至93mA，80V下电流值的范围是128mA至132mA。

实施例十一

在实施例十一中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B，分选这些PTC元件A和B。如图21至图22所示，PTC元件A和B上施加直流电压50V，当经过30ms时，测量经过PTC元件A和B的电流。在PTC元件A和B冷却至室温后，再施加直流电压80V，当经过20ms时，测量经过PTC元件A和B的电流。分离出50V下偏离58mA至62mA电流范围的元件，以及80V下偏离108mA至110mA电流范围的元件。

结果，5个偏离范围的元件被分离。如表11所示，序号101至105的样品是CP＝[20±5℃的PTC元件B。如上所述，根据实施例十一，可以获得以上实施例类似的有益效果。

表11

实施例十二

在实施例十二中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B和5个PTC元件C，分选这些PTC元件A、B、C。

如图23和图24所示，PTC元件A至C上施加直流电压50V，当经过30ms之后，测量经过PTC元件A至C的电流。在PTC元件A至C冷却至室温后，再施加直流电压80V，并当经过18ms后，测量经过PTC元件A至C的电流。分离出50V下测得的电流偏离58mA至62mA范围的元件，以及80V下偏离138mA至140mA范围的元件。

结果，10个偏离电流范围的元件被分选出。如表12所示，序号111至120的样品是CP＝120±5℃的PTC元件B和CP＝80±5℃的PTC元件C。如上所述，根据实施实施例十二，可以获得与以上例子类似的有益效果。

表12

图25是PTC元件的电流值与时间关系特性图，表示了根据本发明的第七实施方式的分选方法。

在该实施方式中，PTC元件A和B上施加直流电压50V，并用示波器测量经过PTC元件A和B的电流的波形。在施加电压后，20ms至40ms期间，每隔5ms测量一次电流值。测得的电流值累加。结果，经过PTC元件A的电流累加值范围是280mA至340mA，而经过PTC元件B的电流累加值范围是400mA至460mA。

实施例十三

在实施例十三中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B，分选这些PTC元件A和B。

PTC元件A和B上施加直流电压50V，在20ms至40ms之间，每隔5ms测量经过PTC元件A和B的电流值。测得的电流值累加。分离出累加值偏离280mA至340mA的元件。

结果，5个偏离范围的元件被分选出。如表13所示，序号121至125的样品是CP＝120±5℃的PTC元件B。根据实施例十三，每个元件的筛选只需几十毫秒，从而可以获得类似上面例子的有益效果。

表13

样品序号	累加值[mA]	CP[℃]
			121	447.7	123
122	435.9	121
			123	430.0	120
124	424.1	119
			125	412.3	117

实施例十四

在实施例十四中，10,000个PTC元件A中混入5个PTC元件B和5个PTC元件C，分选这些PTC元件A、B、C。

PTC元件A至C上施加直流电压50V，在20ms至40ms之间，每隔5ms测量经过PTC元件A至C的电流值。累加所测量的电流值，并分离出累加值偏离280mA至340mA范围的元件。

结果，10个偏离累加值范围的元件被分选出。如表14所示，序号131至140的样品是CP＝120±5℃的PTC元件B和CP＝80±5℃的PTC元件C。根据实施例十四，可以获得与上面例子类似的有益效果。

表14

样品序号	累加值[mA]	CP[℃]
			131	217.6	77
132	225.9	79
			133	230.0	80
134	234.1	81
			135	242.4	83
136	412.3	117
			137	424.1	119
138	430.0	120
			139	435.9	121
140	447.7	123

实施例十五

在实施例十五中，100个PTC元件A中混入5个PTC元件B。PTC元件A和PTC元件B上施加直流电压50V，并用示波器测量经过PTC元件A和B的电流波形。

表15

如表15所示，电流值是通电后1ms至13ms间，每隔4ms测得的，并累加测量值。PTC元件A的累加值范围是215mA至650mA。然而，所有的PTC元件的累加值范围都在215mA至650mA之间。所以，不能有效地分选PTC元件。当在这一时段测量PTC元件B的电流值时，发现其累加值的范围是220mA至660mA。可见，利用此时间区间不能有效地分选PTC元件。

接着，在通电后60ms至80ms之间，每隔5ms测量电流值，并累加测量值。PTC元件A的累加值在80mA至90mA之间。然而，在所有测量的PTC元件中，偏离80mA至90mA范围的只有序号141和142的样品，所以不能分离出所有的PTC元件B。当测量该时间段的PTC元件B的电流，其累加值范围是85mA至95mA。因此，该时间区间不足以稳定地分选PTC元件。

接着，PTC元件A和B上施加50V直流电压，在通电后25ms至45ms区间内每隔5ms测量电流值，并累加测量值。偏离210mA至270mA范围的元件被分选出。

结果，样品序号141至145的五个元件被分离出。样品序号141至145的元件的电流累加值都在330mA至460mA之间。

当检测偏离标准范围的序号141至145元件的阻值温度特性时，所有元件都是PTC元件B。可见，如果按此变更分选区间，混入的元件可以分离。也就是说，对于电流波形达到或高于突入电流值的80％的区域，不能进行有效的分选，因为R25严重地影响了它。另一方面，对于电流值处于或低于突入电流值的20％，CP的影响微乎其微。因此，优选的电流值累加区间是介于突入电流值的20％至80％间的区域。

如果同一批样品中的R25和CP的误差很小，那么即使是在电流值处于或者高于突入电流值的80％的区间，也可以有效地进行元件的分选。具体地说，当R25的误差是±20％，及CP的误差是±2℃时，就可以在电流值处于或高于突入电流值的85％的范围内进行分选。当R25的误差是±5％，CP的误差是±0.5℃时，就可以在电流值处于或高于突入电流值的90％的范围进行分选。

另外，如果同批次的R25和CP的误差很小，那么即使电流值低于突入电流值的20％，也可进行元件的分选。具体地，当R25的误差是±30％，CP的误差是±3℃，元件的分选可在电流值等于或大于突入电流的18％，小于突入电流的20％的区间内有效进行。当R25的误差是±10％，CP的误差是±1℃，元件的分选可在电流值等于或大于突入电流值的15％，小于突入电流值的20％的区间内进行。

实施例十六

在实施例十六中，100个PTC元件A中混入5个PTC元件B和5个PTC元件C。PTC元件A至C上施加直流电压50V，并用示波器测量经过PTC元件A、B、C的电流的波形。

表16

如表16所示，在通电后的1ms至13ms区间内，每隔4ms测量电流值，并累加测量值。PTC元件A的电流累加值范围是215mA至650mA。然而，所有的PTC元件累加值都在215mA至650mA的范围内，不能有效的分选。在此时间段内的PTC元件C的累加值范围是210mA至640mA，而在此区间内PTC元件B的累加值范围是220mA至660mA。因此，利用此区间范围不能有效地分选PTC元件。

接着，在通电后60ms至80ms区间范围每隔5ms测量电流值，并累加测得的电流值。PTC元件A的累加值范围是80mA至90mA。然而，在所有测量的PTC元件中，累加值偏离80mA至90mA范围的只有序号156和157的样品，所以不能分离出所有的PTC元件B和C。当测量在该区间范围的电流值并累加时，PTC元件C的累加值范围是80mA至90mA，而PTC元件B的累加值范围是85mA至95mA。因此，在这一区间范围也不足以稳定地分选PTC元件。

接着，PTC元件A至C上施加直流电压50V，并在通电后25mS至45mS时间区间内，每隔5ms测量电流值，并累加电流值。分离出累加值偏离210mA至270mA范围的元件。

结果，样品序号151至160的10个元件被分选出。被分选出来的样品序号151至160的元件的累加值范围是155mA至185mA，或者330mA至390mA。对偏离范围的样品序号151至160的元件的阻值温度特性的测定结果表明，这些元件是PTC元件B或者PTC元件C。因此，在该实施例中，同样优选的所累加的是大小位于突入电流值的20％至80％之间的电流值。

同上，如果同批次试验样品的R25和CP波动很小，那么即使在电流值处于或高于突入电流值的80％区域，元件的分选也能够进行。具体地，R25的误差是±20％，CP的误差是±2℃时，就可以在电流值处于或高于突入电流的85％的区域有效地分选这些元件。当R25的误差是±5％，CP的误差是±0.5℃，在电流值范围处于或高于突入电流值的90％的区域，也可以有效地分选这些元件。

另外，如果同批次样品的R25和CP的误差很小，那么即使在电流值低于突入电流值的20％的区域，也可以有效地分选元件。具体地，当R25的误差是±30％，CP的误差是±3℃，在电流值等于或大于突入电流值的18％，并小于突入电流值的20％的范围内，可以有效地分选元件。当R25的误差是±10％，CP的误差是±1℃，在电流值等于或高于突入电流值的15％，并小于突入电流值的20％，可以有效地分选元件。

在上述例子中，PTC元件的分选是利用它们的动态特性。其实，在本发明中，还可以结合利用PTC元件的静态特性、居里温度、阻值温度特性等特性进行分选。

根据静态特性的分选方法的例子包括：(1)对PTC元件施加一预定电压，并根据PTC元件基本到达热平衡状态时的电流值的不同来分选元件；(2)通一预定电流，并根据PTC元件基本到达热平衡状态时的电压值不同来分选元件；(3)对PTC元件施加不同的预定电压，并根据PTC元件基本到达热平衡状态时的相应电流值的不同来分选元件；(4)通以预定的不同电流，并根据PTC元件基本到达热平衡状态时的相应电压值不同来分选元件。

根据居里温度和/或阻值温度特性的分选方法的例子包括：(1)对PTC施加电压，利用PTC元件的自加热升高阻值，当到达一预定阻值时测量PTC的阻值和温度，根据PTC元件的居里温度的不同来分选元件；(2)改变施加在PTC元件的电压，利用PTC元件的自加热增加阻值，经一预定时间后测量温度，并根据PTC元件的居里温度值的不同来分选元件。

Claims (8)

1.一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法，该方法包括：对每个PTC元件施加使电流充分衰减的一预定电压，并根据经过PTC元件的电流到达一预定电流值的时间不同而分选PTC元件。

2.一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法，该方法包括：对每个PTC元件施加使电流充分衰减的一预定电压，并根据当一预定时间后，经过PTC元件的电流值不同而分选PTC元件。

3.一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法，该方法包括：对每个PTC元件施加使电流充分衰减的一预定电压，并根据经过PTC元件的电流到达多个预定电流值的时间不同而分选PTC元件。

4.一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法，该方法包括：对每个PTC元件施加使电流充分衰减的一预定电压，并根据当多个预定时间后，经过PTC元件的电流值不同而分选PTC元件。

5.根据权利要求4所述的分选PTC元件的方法，其特征在于：对每个所述PTC元件至少测量两个电流值，所测量的电流值累加形成一累加值，所述PTC元件根据所述累加值的不同而分选。

6.根据权利要求5所述的分选PTC元件的方法，其特征在于：所述累加的是大小位于突入电流值的20％至80％之间的电流值。

7.一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法，该方法包括：对每个PTC元件施加多个使电流充分衰减的预定电压，并根据经过PTC元件的电流到达一设定电流值的各个时间不同而分选PTC元件。

8.一种分选具有不同阻值温度特性的PTC元件的方法，该方法包括：对每个PTC元件施加多个使电流充分衰减的预定电压，并根据当一预定时间后，经过PTC元件的各个电流值不同而分选PTC元件。

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