CN100463062C - 光盘和光盘装置 - Google Patents

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Abstract

根据本发明的光盘(1)具有导入区(4)，关于在记录或再现信息中使用的光学头的特性的信息以及用于在光盘上记录信息或从光盘中再现信息的光束的最优条件记录到导入区(4)中。

Description

光盘和光盘装置
技术领域
本发明涉及一种光盘和一种光盘装置，其可以在能够使用激光光束来记录、擦除和再现信息的信息记录媒体中记录、擦除和再现最优信息。
背景技术
用作信息记录媒体的光盘包括以CD和DVD-ROM为代表的只读型光盘、以CD-R和DVD-R为代表的写一次光盘、以计算机的外存储器和记录/再现视盘等为代表的可重写光盘.
在各种类型光盘中，红外线激光束用于CD系列的盘装置，而红色激光束用于DVD系列的盘装置。因此，当信息被记录时，通过将激光束波长改变到更短波长来减小聚焦光点直径导致优化记录功率的过程的必要性，记录功率依赖于每个光盘中光盘记录层的结构或密度而具有不同值.
在日本专利申请公开第5-290383号中提出，最好地适用于光盘的记录功率信息和/或制造时的历史信息通过磁光记录来记录到光盘的记录区中。
近年来，为了与信息相关装置和广播相关装置中所需的记录容量的迅速增加相对应，要求光盘中记录容量的增加.因此，当正在继续研究通过将激光束波长改变到更短波长来减小聚焦光点直径或利用超分辨率技术时，母版制作技术例如电子束曝光已经被研究，以便缩短轨道间距和标记凹坑间距.
例如，关于缩短激光波长，使用具有405nm波长的蓝-紫激光的装置的研制已经在进行中.
在日本专利申请公开第5-290383号中公开的发明中，当信息由光盘装置记录到具有CD-MO格式的光盘中时，信息可以以最优记录功率来记录，而不由记录层的结构或密度的差支配。
但是，当信息用具有由于使用具有更短波长的激光束例如蓝-紫激光而进一步减小的聚焦光点的激光束以高密度来记录时，最优记录由于除记录功率以外的各种因素而不能被执行。
例如，在使用具有405nm波长的蓝-紫激光束的情况下，众所周知，各个光学头的特性被改变，并且激光束的光点直径由下面的一个或全部影响而改变：从激光装置发出的激光束波长的变化、出射光束扩散角的变化、由温度的改变而引起的激光束波长的波动、由温度的改变而引起的物镜光学特性的波动，等等。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供一种能够使用光学头的光束记录或再现信息的光盘，其特征在于包括：第一记录区，信息可以由光学头记录到该区中；和第二记录区，光学头的信息记录到该区中，以便在光盘上记录信息；其中，光学头的信息包括RIM强度和记录功率。所述光学头的信息被事先记录在第二记录区中。所述光学头的信息以它能够在记录于第一记录区中的信息被读出之前被读出的方式进行记录。
根据本发明的另一个方面，提供一种能够从光盘再现信息的方法，所述光盘包括信息可以由光学头记录于其中的第一记录区，以及光学头的信息被记录于其中，以便在光盘上记录信息的第二记录区；其中，从第二记录区中读出光学头的信息，并且优化从光学头向光盘辐射的光强度。
附图说明
包括于说明书中并构成说明书一部分的附随附图，本发明的说明实施方案，以及与上面给出的一般描述和下面给出的实施方案详细描述一起，用来说明本发明的原理。
图1是说明本发明的实施方案应用于其中的光盘的示意图；
图2A～2K是说明制造图1中所示光盘的过程的示意图；
图3是说明在图1中所示的光盘中记录信息和从光盘中再现信息的光盘装置的光学头的实例的示意图；
图4是说明信号处理系统(光盘装置)的实例的框图，由图3中所示的光学头所获得的信号在该信号处理系统中处理；
图5是说明RIM值与记录功率之间的关系的曲线图；
图6A和6B是光盘的每个区中的记录数据密度的说明性视图；
图7是光盘的数据导入区和系统导入区中的排列和数据结构的说明性视图；
图8是说明图7中所示的导入区中的控制数据区的数据排列实例的说明性视图；
图9A～9D是说明记录到图7中所示导入区中的信息的实例的示意图；
图10A～10C是说明待记录到图9A～9D中所示导入区中的关于光束强度的信息与被输出以实际地在光盘中记录信息的光束(写入脉冲)之间的关系的示意图；以及
图11是说明待记录到图9A～9D中所示导入区中的关于光束强度的信息与被输出以实际地在光盘中记录信息的光束(写入脉冲)之间的关系的示意图.
具体实施方式
参考附随附图，本发明的优选实施方案将在下面描述.
图1是说明本发明的实施方案可以应用于其中的记录媒体的截面图.
如图1中所示，作为记录媒体的光盘1包括第一衬底10、具有与第一衬底基本上相同结构的第二衬底20，以及粘合第一衬底10和第二衬底20的粘合层30.能够使用通过将具有例如405nm波长的激光束聚光而获得的聚束光点来在其上记录、擦除和再现信息的记录层在第一衬底10中形成.
具有15mm直径的中心孔2在光盘的中心，也就是第一衬底10和第二衬底20的中心处形成.第一衬底10和第二衬底20分别具有120mm的直径，并且包括粘合层30的光盘1的总厚度大约为1.2mm。
第一衬底10具有基底材料11和在其上形成的信息记录层12，并且第二衬底20具有基底材料21和在其上形成的信息记录层22。第二衬底20被粘合，使得第二衬底20的信息记录层22与第一衬底10相对.粘合层30与第一衬底10的基底材料11具有特性，其中至少具有405nm波长的激光束可以传输通过粘合层30以及基底材料11，到达第二衬底20的信息记录层22，并且激光束具有预先确定的强度.
标定和/或程序存储区3、导入区4、存储区5，以及导出区6在第一衬底10和第二衬底20的区方向上、以从位于预先确定位置的中心孔2朝向外周边的顺序而形成.以具有120mm外径的光盘为例，导入区4、存储区5、以及导出区6直径的实际尺寸分别是50mm、116mm、以及118mm。
在光盘1中，关于记录功率的优选信息以随后描述的形式预先记录到例如导入区4中，使得关于记录功率的信息在使用具有405nm波长的蓝-紫激光的情况下反映以下影响的任何一个或全部的考虑：从激光装置输出的激光束的发散角的变化、每个激光装置波长的变化、由温度的改变而引起的激光束波长的漂移、光盘装置的物镜的光学特性，等等。
根据关于涉及记录的光学头特性的信息，有显示物镜的数值孔径NA和激光束的强度分布之间的关系的边缘强度(以下称作RIM值)，物镜的数值孔径NA和激光束的强度分布在光盘装置的检取中使用，如下面参考图5所描述的.
RIM值是对于入射到物镜的光束，在物镜孔径边缘的光强度与光束中心强度的比值(或百分比)，并且RIM值是表示入射到物镜的光束的光学特性的参数之一.
例如，在光盘装置中，可以由物镜聚焦的直径R通过下面的等式来获得：
R＝2×f(RIM)×λ/NA
其中f(RIM)是RIM值的函数.
虽然物镜基本上具有圆形，但是光束特别是来自半导体激光装置的激光束是发散的，并且聚束光点的截面形状是椭圆的，因此当特别需要考虑方向性时，RIM值也通过表示RIMX来定义.
例如，在RIM(没有方向性)＝0.6、波长λ＝405nm，以及NA＝0.65的情况下，光束半径R是0.5260μm.在RIM(没有方向性)＝0.7、波长λ＝405nm，以及NA＝0.65的情况下，光束半径R是0.5218μm.
在光盘装置中，因为来自半导体激光装置的光束(激光束)是发散的，并且除物镜以外激光束也用于准直透镜，RIM值依赖于激光束的扩散角、准直透镜的焦距，以及随后描述的光束成形棱镜的特性。
图2A～2K是说明制造图1中所示光盘的过程的示意图.
如图2A中所示，表面被磨光到预先确定的表面粗糙度并被清洗的第一玻璃作为母盘301而准备好.
如图2B中所示，光刻胶303涂覆到玻璃母盘301的表面.
如图2C中所示，光刻胶303用具有预先确定波长的激光束曝光，以将物理信息(头部)、导向槽(凸出和凹陷)等等记录到与存储区5相对应的区域中，并且将初始信息(但没有详细描述)和关于记录功率的信息分别记录到与标定和/或程序存储区3和导入区4相对应的区域中.
图2D中所示的凸出和凹陷通过显影物理信息、初始信息以及关于记录功率的信息记录于其中的玻璃母盘301并去除光刻胶的未显影部分而获得.
如图2E中所示，压模311通过电镀玻璃母盘301来获得。
如图2F中所示，树脂成形板(图1中所示的第一衬底10中的基底材料11和第二衬底20中的基底材料21)通过使用压模311作为印模的喷射模塑来产生.基底材料11和21由例如聚碳酸酯或玻璃制成。
通过图2A～2F中所示的过程，与初始信息和关于记录功率的信息相对应的凸出和凹陷图案或预先确定的形状图案在与第一衬底10和第二衬底20的标定和/或程序存储区3和导入区4相对应的区域中同时形成。
如图2G中所示，在成形板(10或20)中，除变成记录层(12，22)的区域以外的区域由掩膜321掩蔽。然后，在与粘合层30粘合之前的单个衬底10或20以如下方式来获得，即通过例如溅射在被掩蔽的成形板上沉积适合于记录层的金属或合金，并且记录层具有预先确定的厚度。
如图2H中所示，虽然没有详细描述，当单个衬底10和20的一个安装到旋转器的转台上时，变成粘合层30的预先确定量的粘合剂例如由紫外线辐射而固化的UV固化树脂被提供，并且具有基本上均匀厚度的粘合剂层，也就是UV固化树脂的薄层通过以预先确定的速度旋转转台而获得(参看图2I)。
如图2J中所示，记录层叠置在待粘合的衬底上，使得记录层(12或22)在其上形成的一侧的表面面对安装在旋转器上的衬底，当粘合层先前在衬底上形成时.
然后，虽然没有显示，位于两个衬底之间的过量粘合剂通过以高速旋转的旋转器的转台来去除(过量粘合剂去除过程).如图2K中所示，图1中所示的光盘1以粘合剂通过紫外线辐射变成粘合层30的方式来获得.
图3和4示意性地说明信息可以记录到图1描述的光盘中并且信息可以从光盘中再现的光盘装置，以及包括在光盘装置中的光学头.
如图3中所示，在光盘装置100的光学头110中，来自光源也就是半导体激光装置111的光束(激光束)由准直透镜112对准，并且通过光束成形棱镜113改变预先确定的截面光束形状.
由光束成形棱镜113光束成形的激光束由光束分离器114引导到光盘1侧，并且从镜子115反射，以改变方向朝向光盘1.
通过镜子115朝向光盘1而定向的激光束由四分之一波长板116转化成圆偏振光，物镜117给予激光束预先确定的会聚度，并且激光束聚焦到光盘1的记录层12和22的一个上.
在信息被记录到记录层的情况下，激光束从光盘1的记录层12或22反射，并且激光束的反射率或偏振方向按照信息改变.反射激光束返回到物镜117，然后反射激光束通过由四分之一波长板116旋转偏振方向大约90°而返回到镜子115.
已经返回到镜子115的反射激光束从光束分离器114反射，并且由镜子118朝向预先确定的方向而定向.
在成像透镜119给予其行进方向被镜子118改变的反射激光束预先确定的成像特性之后，反射激光束的波前由聚焦错误模式产生装置120转变，该装置120可以提供聚焦错误检测中使用的预先确定的成像图案，以便能够产生预先确定的光点图案.然后，反射激光束聚焦到随后步骤的光检测器121中的光接收面上.
不必说，关于检测聚焦错误和跟踪错误和光接收面的图案以及光检测器121的信号处理的方法，众所周知的各种方法都可以利用.
信号处理为由图4中所示的信号再现系统以随后提及的方式聚焦到光检测器121上的聚焦错误检测模式和跟踪错误检测模式而执行.当物镜117的位置被焦点锁定到物镜117聚焦到光盘1的记录层12和22的一个上的位置上时，跟踪被控制，使得先前在记录层12或22中形成的信息凹坑的轨道或凹坑串的中心对应于激光束的中心.再现信号通过如随后描述的加上光检测器121的输出来获得.
图4是说明光盘装置的信号处理系统的实例的框图，其中通过使用图1中所示的光盘1和图3中所示的光学头，信息可以记录到光盘中以及从光盘中再现.
光检测器121包括第一到第四区光电二极管121A、121B、121C和121D.每个光电二极管的输出A、B、C和D分别由第一到第四放大器221a、221b、221c和221d放大到预先确定的水平.
在来自放大器221a～221d的输出A～D中，输出A和B由第一加法器222a相加，并且输出C和D由第二加法器222b相加.对于加法器222a和222b的输出，输出(A+B)通过改变输出(C+D)的符号加到输出(C+D)，也就是输出(C+D)由加法器223从输出(A+B)中减去.由加法器223相加(相减)的结果以聚焦错误信号的形式提供到聚焦控制电路231，使得物镜117的位置对应于物镜117和光束由物镜117聚焦到光盘1中的记录层12或22的轨道(没有显示)或凹坑串(没有显示)上的焦点之间的焦距.加法器224产生输出(A+C)，并且加法器225产生输出(B+D)。加法器224和225的输出(A+C)和(B+D)输出到相位差检测器232.相位差检测器232有利于当物镜117移位时获得准确的跟踪错误信号.
输出(A+C)和(B+D)的和由加法器226获得并以跟踪错误信号的形式输出到跟踪控制电路233。输出(A+C)和(B+D)由加法器227相加并转换成(A+B+C+D)信号，也就是待输入到缓冲存储器234中的再现信号.从激光装置111发出的激光束的光学反馈的强度输入到APC电路239.因此，基于存储在记录数据存储器236中的记录数据从激光装置111输出的激光束的功率是稳定的.
在具有上述信号检测系统的光盘装置100中，当光盘1安装到转台131上并且光学头110位于记录/再现位置(没有显示)时，预先确定的初始例程在CPU 238的控制下根据存储在ROM 240中的初始程序而启动.
例如，当驱动电机141通过从电机驱动电路235提供预先确定的电机脉冲而以预先确定的速度旋转时，存取电机(没有显示)被开动，以将光学头110移动到光盘1的标定和/或程序存储区3或导入区4中预先确定的位置.
然后，具有由激光驱动电路237和APC电路239稳定的再现功率的激光束从激光装置111输出，并且记录到光盘1的标定和/或程序存储器区3或导入区4中的信息被读出.
这里，各类信息被取出.在使用具有405nm波长的蓝-紫激光的情况下，各类信息包括关于RIM、以及激光束发散角的变化、每个激光装置波长的变化，和由温度的改变而引起的激光束波长的漂移的信息。
虽然详细描述被省略，信号再现操作、擦出操作或记录操作开始。在记录操作中，具有基于关于RIM、以及激光束发散角变化、每个激光装置波长的变化，和由温度的改变而引起的激光束波长的漂移的信息而优化的记录功率的激光束从激光装置111输出，使得光盘1使用该激光束来照射.
在来自上面参考图3描述的半导体激光装置111的激光束中，已知在平行于激光器基片的接合面的方向上的扩散角不同于在垂直于接合面的方向上的扩散角.例如，在平行于接合面的方向上的扩展角中半全角在6～10°的范围内变化，而在垂直于接合面的方向上的扩展角中半全角在22～33°的范围内变化.
如上所述，当由物镜117聚焦到记录层12或22上的激光束的强度与物镜117的数值孔径NA和激光束的波长λ成比例时，物镜117的孔径边缘的RIM影响激光束的强度.在光盘装置101中，对于准直透镜112，RIM的影响也应当被考虑.
例如，如图5中所示，当信息通过使用具有不同RIM值的光学头记录到光盘中时，记录功率和CNR之间的关系由RIM支配.
图5中所示的RIMr和RIMt分别是与光盘的径向r和光盘的正切方向t相对应的RIM值.
如从图5中可以看到的，最优记录功率的差异由光学头110的RIM值的差异而产生.
因此，当信息记录到光盘1中时，优选地使用基于关于RIM、以及激光束发散角的变化、每个激光装置波长的变化，和由温度的改变而引起的激光束波长的漂移的信息而优化的记录功率.
因此，当在光盘装置100中信息记录到光盘1中、从光盘1再现以及在光盘1中擦除时，预先记录到光盘1中的关于光盘和功率的信息，以及包括由光学头110侧支配的特性和光盘侧的特性的相关信息被读出.
记录功率(包括擦除功率和再现功率)基于读出的信息来设置，从激光装置111输出的激光束(光束)被控制，并且从物镜发出的光束的功率可以被优化.预先记录到光盘1中的信息可以以下面的方式记录到光盘1中，其中信息与光学头110的特性之间的关系可以由光盘装置100确定，即使信息是仅关于与光学头110中的变化相对应地在光盘1中记录、擦除和再现信息的光束功率的信息.
待记录到光盘中的信息的实例将在下面顺序地描述.
如图6A和6B中所示的、以预先确定的记录数据密度而预先形成的数据排列结构已经转移到与光盘1中的导入区4相对应的区域，当通过使用图2E描述的压模311形成时.
如图7中所示，导入区4包括系统导入区(从物理扇区号[02 2640h]到物理扇区号[02 6AFFh])和数据导入区(从物理扇区号[02 9A00h]到物理扇区号[03 0000h])，而连结区(从物理扇区号[02 6AFFh]到物理扇区号[02 9A00h])插入到系统导入区和数据导入区之间.
控制数据区(从物理扇区号[02 4A00h]到物理扇区号[02 6700h])在系统导入区中定义.
系统导入区，控制数据区，和数据导入区以由上述压模311压印凹坑串的方式预先转移到光盘1中.
系统导入区中的轨道具有以360°围绕轨道的连续螺旋线.数据导入区、数据区，以及数据导出区中的轨道是以360°围绕轨道的螺旋线.轨道的中心是凹坑的中心.
图8显示待记录到控制数据区中的信息的实例.
如上所述，从激光装置111(参看图1)输出的激光束(光束)的功率基于以如下方式预先记录(转移)到光盘1侧上的信息来优化，也就是，物理格式信息和光盘制造商信息以预先确定的顺序记录，作为BP(字节位置)串401中的信息内容402.
图9A～9D是说明待记录到图7中所示的系统导入区、控制数据区以及数据导入区中的信息的示意图.
由图9A～9D说明的信息连续地记录(转移)，或者按单位记录，其中具有预先确定量的BP(字节位置)串501在任意位置处划分。在图9A～9D中，BP串501中的行“0”～“31”是只读光盘、写一次光盘以及可重写RAM光盘之间的公共信息被记录的区域.BP串501中的行“32”～“2047”行是指定给只读光盘、写一次光盘以及可重写RAM光盘的每个的特殊信息被记录的区域.
在BP串501的行“31”之后的行中，例如关于速度的信息记录到行“AZ(33)”中。假设以十位显示的字母对应于记录信息的优先级，并且当导入区4的信息被再现时，信息按字母表顺序读出.在具有两个图形的字符串中以一位显示的字母是大写字母的情况下，假设记录信息根据字母表顺序是连续的.另一方面，在具有两个图形的字符串中以一位显示的字母是小写字母的情况下，这指示任意信息可以添加到该信息之前和之后的位置中的信息.
关于正切方向上RIM强度的信息记录到行“AZ(33)”之后的行“BA(34)”中.关于径向上RIM强度的信息记录到行“BA(34)”之后的行“BB(35)”中.
读功率，平台轨道的峰值功率，平台轨道的偏置功率1，平台轨道的偏置功率2，以及平台轨道的偏置功率3分别按照行“BC(36)”，“BD(37)”，“BE(38)”，“BF(39)”，以及“BG(40)”的顺序记录.凹槽轨道的峰值功率，凹槽轨道的偏置功率1，凹槽轨道的偏置功率2，凹槽轨道的偏置功率3等按照行“Bn”，“BX”，“BY”和“BZ”的顺序记录.
平台轨道的第一脉冲结束时间，平台轨道的多脉冲持续时间，平台轨道的最后脉冲起始时间等按顺序记录到行“CA”到行“CZ”的范围中.凹槽轨道的第一脉冲结束时间，凹槽轨道的多脉冲持续时间，凹槽轨道的最后脉冲起始时间等按顺序记录到行“DA”到行“DZ”的范围中.
代表与光学头RIM值有关的频率的信息可以记录到显示激光功率等的信息记录于其中的区域之前的记录区域中.在这种情况下，容易计算实际地应用于记录数据的激光束的强度.
记录(转移)到光盘的系统导入区中的控制信息的一部分，例如在行“CA(45)”到行“DZ(92)”的范围中描述的平台轨道的第一脉冲结束时间，平台轨道的多脉冲持续时间，平台轨道的最后脉冲起始时间，凹槽轨道的第一脉冲结束时间，凹槽轨道的多脉冲持续时间，凹槽轨道的最后脉冲起始时间等具有与作为DVD可重写光盘标准，也就是RAM光盘标准的标准ECMA-330的兼容性.
图10A，10B，和10C分别显示记录数据，记录波形，以及用于在光盘1中记录图10B中所示记录波形的写入脉冲.
与作为待记录信息的记录数据(图10A)相对应的、NRZI形式的记录波形(图10B)使用图10C中所示的写入脉冲记录到光盘1中。
图10C中所示的写入脉冲通过使用图9A～9D对应于上述每个记录条件。例如，记录到BP串501的行“CA”到行“DZ”的范围中的信息的每段与光束之间的对应，也就是写入脉冲在图10C中显示.
说明主要的写入脉冲，记录到行“BD”和“Bn”中的峰值功率分别对应于除平台轨道和凹槽轨道的条件以外的峰值功率PPP。
类似地，记录到行“BE”和“BX”中的平台轨道的偏置功率1和凹槽轨道的偏置功率1对应于PBP1.记录到行“BF”和“BY”中的平台轨道的偏置功率2和凹槽轨道的偏置功率2对应于PBP2，并且记录到行“BG”和“BZ”中的平台轨道的偏置功率3和凹槽轨道的偏置功率3对应于PBP3.继之以指示图10A和10B中说明的8T数据，3T数据，和2T数据结束的TLC的偏置功率1使用预先确定的持续时间，直到下一个数据的起始.偏置功率2具有指示图10A和10B中说明的8T数据，3T数据，和2T数据结束的TLC的电平。偏置功率3具有图10A和10B中说明的8T数据和3T数据中多脉冲的电平.因此，偏置功率3不用于2T数据.
指示写入各个记录数据的起始(前端)的第一脉冲PFa(8T)和PFb(3T)由记录到行“CA”和“DA”中的平台轨道的第一脉冲结束时间和凹槽轨道的第一脉冲结束时间来定义.类似地，指示写入各个记录数据的结束(后端)的第一脉冲PLa(8T)和PLb(3T)由记录到行“CC”和“DC”中的平台轨道的最后脉冲结束时间和凹槽轨道的最后脉冲结束时间来定义.在2T系列的情况下，因为第一脉冲和最后脉冲由一个峰值脉冲来表示，第一脉冲和最后脉冲不存在，并且PBP3(偏置功率3)在与第一脉冲相同波形的单脉冲之后使用.
不必说，第一脉冲和最后脉冲之间的所有时期由写入脉冲PWa，PWb，...代表.
详细说明写入脉冲的波形，如图11中所示，偏置功率1与峰值功率的电平之间的差A，峰值功率与偏置功率2的电平之间的差B，峰值功率与偏置功率2的电平之间的差C，以及偏置功率2与偏置功率1的电平之间的差D分别由第一功率P1，第二功率P2，第三功率P3，和第四功率P4来表示.也就是，图10C中所示的写入脉冲容易通过组合图11中说明的第一功率P1和第四功率P4来提供.
记录到图8中说明的BP串401中的行“1”中的“光盘制造商信息(制造商名)”以预先确定代码串的形式记录到BP串501中的行“EA”～“FZ”的范围中.作为关于对于信息在光盘中的记录以及信息从光盘中的再现和擦除的大影响的信息的光束波长中的差，以与从行“GA”到行“Gn”范围内的“光盘制造商辅助信息”中的波长相对应的记录，擦除，或再现光束功率的形式来记录.与光学头固有RIM值的差和光束波长的差的参数相对应的、记录，擦除，或再现光束功率的信息也记录到行“GA”到行“Gn”的范围中.
导入区甚至在已经广泛使用的DVD标准光盘(信息记录媒体)中提供.在作为DVD标准光盘中的只读记录媒体的DVD-ROM中，据说λ/(4n)是凹坑深度中的最优深度，其中光束的波长为λ并且光盘(树脂材料)的折射率为n.
在作为可重写信息记录媒体的DVD-RAM中，据说具有λ/(5n)～λ/(6n)范围的前凹槽深度在使得来自数据区中相邻轨道的记录标记的串音(再现信号的泄漏)达到最小的情况下是最优的.
因此，在DVD-RAM中，压印导入区的凹坑深度也设置在λ/(5n)～λ/(6n)的范围中.
具有足够大振幅的再现信号从具有λ/(5n)的深度或者λ/(5n)～λ/(6n)范围的深度的凹坑中获得，因为具有λ/(5n)的深度或者λ/(5n)～λ/(6n)范围的深度的凹坑足够深.
相反地，在DVD-R(写一次)光盘中，因为数据区中凹槽的深度与DVD-RAM相比较是浅的，存在有如下问题，即具有足够大振幅的再现信号不能从与数据区具有相同深度的压印导入区中的凹坑中获得，并且再现不稳定.
因此，为了保证来自写一次信息记录媒体导入区的稳定再现信号，同时对于所有只读，写一次，以及可重写信息记录媒体格式的兼容性，本实施方案其特征在于，系统导入区被提供，并且系统导入区中的轨道间距和最小凹坑间距与数据导入区和数据区中的轨道间距和最小凹坑间距(最小标记间距)相比较极大地扩大.
目前，为了获得来自DVD标准光盘的再现信号，再现信号通过电平限制方法来检测(二进制再现信号被输出).
但是，即使在当前的DVD标准光盘中，通过记录层光学特性的改变而形成的微凸出和凹陷形状的凹坑的最小凹坑间距或者记录标记的最小标记凹坑接近于在光学头110中使用的物镜117的OTF(光学传递函数)特性的截止频率，来自最小凹坑间距和最小标记凹坑的再现信号的振幅非常小.
但是，记录密度通过缩短最小凹坑间距或最小标记凹坑而增加的方法已经被提出，在电平限制方法中从其间距短于当前DVD标准光盘的间距的最小凹坑间距或最小标记凹坑中获得再现信号是不可能的.在DVD-R光盘中，因为最小凹坑间距已经因上述原因而缩短，难以获得来自导入区的稳定的再现信号.
在本实施方案中，为了解决该自相矛盾的问题，
[α]导入区划分成系统导入区和数据导入区，并且系统导入区和数据导入区的轨道间距和最小凹坑间距被改变.
[β]来自最小凹坑间距的再现信号的振幅到来自轨道间距的振幅的减少量通过极大地扩大系统导入区中的轨道间距和最小凹坑间距来减小，从而来自最小凹坑的信号容易再现并且来自系统导入区的信号可以在具有浅凹坑深度的写一次信息记录媒体中再现.
[γ]为了为增加信息记录媒体自身的存储容量而增加导入区和数据区的记录密度，最小凹坑间距或最小标记凹坑被缩短，并且通过代替难以检测再现信号(难以数字化模拟信号)的当前电平限制方法而采用PRML方法.
[δ]适合于提高记录密度的调制法通过缩短最小凹坑间距或最小标记凹坑而采用.
也就是，在当前的DVD光盘中，对于d＝1或d＝2的调制规则的上面四种方法以最小数目(调制后在(d，k)约束条件下d的值)组合，其中调制后“0”继续.
划分的系统导入区和数据导入区的提供可以改变系统导入区和数据导入区的轨道间距和最小凹坑间距，并且轨道间距和最小凹坑间距可以在系统导入区中延长.
如上所述，在本发明的光盘1中，显示与光学头110的RIM值相对应的记录光束功率的信息预先记录到光盘1的预先确定区域，例如标定和/或程序存储区3或者导入区4中，使得信息可以通过使用图4中所示的信号处理系统根据存储在ROM 240中的初始程序获得记录功率信息来以最优功率记录.
实际上，因为可能存在不必要详细地指出RIM值和功率函数的情况，例如，下面的信息可能适用.
RIMr≤0.65，RIMt≤0.65→Pw＝4.8mW，
RIMr>0.65，RIMt>0.65→Pw＝4.4mW
也就是，必须记录到光盘中的信息是记录光束功率的信息，其中最优条件可以被提供，而不由影响光盘照射的光束状态的光学头变化支配.记录光束功率的信息可能是表示功率关系的函数或者表格1中所示的LUT(查找表)形式.
        表格1
 
RIMr\RIMt 0.55≤0.60 0.60≤0.65 0.55≤0.70 0.70≤0.75
0.55≤0.60 5.2 5 4.8 4.6
0.60≤0.65 5 4.8 4.6 4.4
0.55≤0.70 4.8 4.6 4.4 4.4
0.70≤0.75 4.6 4.4 4.4 4.2
记录到光盘中的信息，也就是控制信息可以是具有压缩格式的文件，其可以仅使用光盘装置来容易地解压缩。
在从光学头110输出的光束的波长的变化极大地影响光盘中信息的记录，再现，或擦除的情况下，优选地，将与波长相对应的记录，擦除，或再现光束的功率预先记录到光盘1中.
当光学头110的RIM值的变化和光束波长的变化极大地影响光盘中信息的记录，再现，或擦除时，优选地，将与RIM值和波长变化的参数相对应的记录，擦除，或再现光束的功率预先记录到光盘1中。有时，光盘装置在高温或低温时使用.
在激光束中，通常波长随着温度的升高而增大，所以有时光学头110的特性由温度的升高而改变.有时，记录，擦除，或再现光束功率也具有温度相关性.在这种情况下，可能适当地，将与温度相对应的记录，擦除，或再现光束的功率预先记录到光盘1中.
如上所述，在RIM值的参数，波长的变化，和装置的温度极大地影响光盘中信息的记录，再现，或擦除的情况下，可能适当地，将与所有参数相对应的记录，擦除，或再现光束的功率预先记录到光盘1中。
在图4中所示的光盘装置100中，包括用于读取上述“能够消除不能仅由光盘侧固有信息优化的激光束波长的变化，以及作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息”的程序的实例已经描述.但是，也可能将用于读出上面“能够消除不能仅由光盘侧固有信息优化的激光束波长的变化，以及作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息”的程序同时记录到光盘1的标定和/或程序存储区3或导入区4中.
不必说，预先记录到光盘预先确定区域中的信息可能是对于RIM值的变化和波长的变化的激光功率或擦除功率.
因此，能够使用记录光束功率将能够消除不能仅由光盘侧固有信息优化的激光束波长的变化，以及作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息更优地记录到光盘中.
考虑到使用光盘装置从光盘中再现信息的例程，信息最初被读出的导入区适合于能够消除不能仅由光盘侧固有信息优化的激光束波长的变化，以及作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息应当被记录的区域.但是，光盘的任何区域都可能是该信息应当被记录的区域，只要信息可以被读出，直到信息实际地被记录.
能够消除激光束波长的变化，和作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息可以在形成光盘之后使用例如记录光束记录到每个光盘中。
而且，能够消除不能仅由光盘侧固有信息优化的激光束波长的变化，以及作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息，可以记录到具有第一层和第二层两层的光盘中，同时信息划分成第一层和第二层。例如，能够消除不能仅由光盘侧固有信息优化的激光束波长的变化，以及作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息，以及信息的位置可以记录到第一层中，而能够消除不能仅由光盘侧固有信息优化的激光束波长的变化，以及作为光盘装置侧因素的RIM值的变化的信息自身可以记录到第二层中.
关于至少光学头的RIM值和记录，再现，擦除光束功率的信息可以记录到至少光盘中.在这种情况下，待记录到光盘中的信息可以减少.也就是，在记录和再现使用光盘装置来执行的情况下，最优记录条件可以通过读出记录到光盘中的RIM值以及记录条件，并且将光盘装置的RIM值与记录到光盘中的RIM值相比较而获得.
因此，记录光束功率等对应于在记录和再现信息中使用的光束直径，并且光束直径对应于RIM值，所以记录光束功率可以从RIM值之间的差来计算.
本发明并不局限于上述实施方案，并且可以不背离本发明的本质和范围而在本发明中做各种改变和修改是可能的.本发明可以通过尽可能适当地组合每个实施方案来实现.在那种情况下，组合效果可以获得.
如上面详细描述的，根据本发明的光盘具有记录区，最优条件记录到其中，而不由影响光盘照射的光束状态的光学头变化支配.因此，光盘使用对于在光盘装置的初始操作中安装到光盘装置上的光盘的特性的最优光束来照射，以便信息可以稳定地记录，再现，和擦除.
在光盘装置中，在光盘安装到光盘装置上之后，涉及记录到光盘中的最优条件的记录区的程序在初始操作中准备好，以便信息可以在最优条件下记录，再现，和擦除，而不由影响光盘照射的光束状态的光学头变化支配.此外，信息可以在最优条件下记录，再现，和擦除，而没有由光盘装置温度的变化而引起的光学头特性的变化的影响，并且不由影响光盘照射的光束状态的光学头变化支配.
另外，根据本发明，可以广泛取得光学头的生产能力(productivity)和光盘的制造裕度(manufacturing margin)，并且可以以低成本获得光盘装置和光盘系统.
本发明并不局限于上述实施方案，并且可以以不背离本发明本质和范围的各种方式来修改.
例如，本发明可以提供一种能够用光束记录和再现信息的光盘，其具有第一记录区，信息可以用光辐射记录到其中，以及
第二记录区，光束的最优条件记录到其中，以便与在记录和再现信息中使用的光学头的特性相对应地在光盘上记录信息和从光盘中再现信息.
本发明也可以提供一种能够用光束记录和再现信息的光盘，其具有第一记录区，信息可以用光辐射记录到其中，以及第二记录区，光束的最优条件记录到其中，以便与在记录和再现信息中使用的光学头的特性相对应地在光盘上记录信息和从光盘中再现信息，其中待记录到第二记录区中的条件包括在光盘的固有信息段中与光学头的固有因素相关所必需的条件.
本发明还可以提供一种能够用光束记录和再现信息的光盘，其具有第一记录区，信息可以用光辐射记录到其中，以及第二记录区，光束的最优条件记录到其中，以便与在记录和再现信息中使用的光学头的特性相对应地在光盘上记录信息和从光盘中再现信息，其中条件包括关于与光盘的固有RIM强度相对应的光束强度的条件.
更进一步，本发明可以提供一种能够用光束记录和再现信息的光盘，其具有第一记录区，信息可以用光辐射记录到其中，以及第二记录区，光束的最优条件记录到其中，以便与在记录和再现信息中使用的光学头的特性相对应地在光盘上记录信息和从光盘中再现信息，其中条件包括与并入光学头中的光源的光的波长相对应的条件.
此外，本发明可以提供一种能够用光束记录和再现信息的光盘，其具有第一记录区，信息可以用光辐射记录到其中，以及第二记录区，光束的最优条件记录到其中，以便与在记录和再现信息中使用的光学头的特性相对应地在光盘上记录信息和从光盘中再现信息，其中条件包括与环境温度相关的条件.
更进一步，本发明可以提供一种能够用光束记录和再现信息的光盘，其具有第一记录区，信息可以用光辐射记录到其中，以及第二记录区，光束的最优条件记录到其中，以便与在记录和再现信息中使用的光学头的特性相对应地在光盘上记录信息和从光盘中再现信息，其中第二记录区也用作光盘的导入区。
此外，本发明可以提供一种光盘装置，其具有：包括输出具有预先确定波长的光束的光源的光学头装置，将来自光源的光束导向并聚焦到记录媒体的预先确定记录区的光学元件的准直透镜，以及将光束聚焦在记录媒体的预先确定位置的物镜，用于读出关于在记录媒体上记录信息、从记录媒体中再现信息、或擦除记录于记录媒体中的信息的光束的强度的信息的控制程序记录于其中的程序保留装置，信息由准直透镜的焦距、来自光源的光束的波长和扩散角、以及物镜的数值孔径NA和焦距来定义，以及根据记录到程序保留装置中的控制程序从记录媒体中读出光束强度并且优化来自光源的光束的强度的光源驱动装置.

Claims (3)

1.一种能够使用光束记录或再现信息的装置，其特征在于包括光学头，所述光学头可以将第一信息记录到光盘(1)的第一记录区(5)中，其中，所述光学头的第二信息记录在所述光盘(1)的第二记录区(4)中，
其中，所述光学头的所述第二信息包括RIM强度和用于计算激光记录功率的信息，以便将所述第一信息记录在光盘上，并且所述光学头的所述第二信息记录在作为前凹坑的且处于记录有表示激光读取功率的信息的区域前面的记录区域中。
2.根据权利要求1的装置，其特征在于，所述光学头的所述第二信息以它能够在记录于所述第一记录区中的所述第一信息被读出之前被读出的方式进行记录。
3.一种能够从光盘再现信息的方法，所述光盘包括信息可以由光学头记录于其中的第一记录区，以及所述光学头的信息被记录于其中以便在所述光盘上记录信息的第二记录区，所述光学头的信息包括RIM强度和用于计算激光记录功率的信息，以便将信息记录在所述光盘上，并且所述光学头的信息记录在作为前凹坑的且处于记录有表示激光读取功率的信息的区域前面的记录区域中，
其中，从所述第二记录区中读出所述光学头的信息，并且优化从所述光学头向所述光盘辐射的光的强度。
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