CN100386813C - 检测光盘片缺陷区块的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种在可记录与再现的系统中，侦测一光盘片的缺陷区块的方法，特别是当数据写录于该光盘片时检测光盘片缺陷区块的方法。本发明的检测光盘片缺陷区块的方法包含：比较一ATIP信号与该ATIP信号的载波ATFM信号以得到该两信号之差；若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定缺陷时间范围内维持着比一特定缺陷临界值为高的准位，则一晃动缺陷旗标信号被设置为一标记状态。相反的，若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定正常时间范围内维持着比一特定正常临界值为低的准位，则该晃动缺陷旗标信号被清除为一正常状态。

Description

检测光盘片缺陷区块的方法
技术领域
本发明提供一种在可记录与再现的系统中，侦测一光盘片的缺陷区块的方法，特别是当数据写录于该光盘片时的检测光盘片缺陷区块的方法。
背景技术
近年来，圆盘形的记录媒介譬如CD-R、CD-RW、DVD-RAM与DVD-RW等，由于其存储容量很高以及价格越来越低，而被广泛的使用。也因此，那些可记录(recording)和再现(reproducing)的系统，譬如CD-ROM、DVD-ROM、DVD-RW或是CD/DVD组合在一起的Combo光驱等，皆成为标准计算机配备中的装置，用以帮助使用者记录数据至上述的圆盘形的记录媒介。
一张可写录的光盘片，其表面上可能会因为刮痕、指印或是灰尘等而产生有缺陷的区块，这会导致不能将数据记录在这些缺陷区块中、或是无法由这些缺陷区块读取所记录等问题。为了避免将数据记录于这些缺陷区块中，也同时为了提高记录的可靠性，那些可记录和再现的系统通常会应用一些保护的机制，以使数据在读取时，系统不会发生故障。一般而言，系统会先去扫描光盘片的螺旋状数据轨道，用以侦测缺陷区块的位置，然后再启动相关的写录动作，并在当扫描以及标记缺陷区块位置时，启动相关的保护机制来确保写录操作能正确执行。该些保护机制包含了已知的技术，如下所述。第一种方法即所谓的最佳功率控制方法(Optimum Power Control，OPC)，该方法动态地调整写录该些缺陷区块时的读写头功率。另一种方法为Mountain Rainier缺陷区块处理方法(Mountain Rainier defect management approach)，该方法设置一缺陷表(defect table)并将记录于该些缺陷区块的数据记录至其它正常区块。因此，一可记录与再现的系统才能有效地避免数据写录错误及/或读取记录于该些缺陷区块的数据发生错误，使得数据写录的可靠性大为提升。显然地，当该系统要维持如此高的数据写录可靠性时，该系统必须适当地检测与标记一缺陷区块。因此本发明揭露一方法用以检测与标记一光盘片上的缺陷区块，而使得后续的保护机制得以在数据写录时识别该些缺陷区块。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的是提供一种检测光盘片缺陷区块的方法。在本发明的一实施例中，利用一预刻槽绝对时间信息ATIP(AbsoluteTime in Pre-groove)信号来检测光盘片的缺陷区块，并提供一可记录与再现的系统该些缺陷区块的位置。本发明的侦测一光盘片的缺陷区块的方法，包含下列步骤。首先，接收该光盘片上的一预刻槽绝对时间信息ATIP信号，接着，该系统将该ATIP信号进行频率调制(frequency-modulating)动作以产生一预刻槽绝对时间频率调制信息ATFM(Absolute Time in Pre-groove Frequency Modulating signal)信号，也就是说，该ATFM信号为该ATIP信号的载波(carrier)。之后，该系统比较该ATIP信号与该ATFM信号以得到该两信号之差。若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定缺陷时间范围(predetermined defecttime interval)内，维持着比一特定缺陷临界值(predetermined defectthreshold)高的准位，则一晃动缺陷旗标(wobble defect flag)信号被设置为一标记状态；相反的，若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定正常时间范围(predetermined normal time interval)内，维持着比一特定正常临界值(predetermined normal threshold)低的准位，则该晃动缺陷旗标信号被清除为一正常状态。
在本发明的一实施例中，一可记录与再现的系统应用此方法扫描(scan)与标记(lable)一光盘片上所有的缺陷区块，当后续保护的机制启动后，该系统会跳过该些缺陷区块或是将数据写至其它正常的区块。
在本发明的一实施例中，当数据写录于该光盘片时，该系统同时应用此方法扫描与标记该光盘片上的一缺陷区块，当后续保护的机制启动后，该系统会跳过该些缺陷区块或是将数据写至其它正常的区块。
在本发明的一实施例中，该特定缺陷时间范围与该特定正常时间范围定义为相同，而该特定缺陷临界值与该特定正常临界值亦定义为相同。
在本发明的一实施例中，该光盘片可为一空白的光盘片，亦即螺旋状的轨道上并无记录数据，亦或是该螺旋状的轨道上已记录数据的光盘片。
附图说明
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，特举较佳实施例，并配合所示附图，作详细说明如下：
图1为本发明的检测光盘片缺陷的方法流程图。
图中符号说明：
110、120、130、140、150步骤
具体实施方式
该领域技术者皆知，在一空白光盘片预先会形成一预刻槽(pre-groove)来记录ATIP信号(Absolute Time in Pre-groove signal)，亦即所谓的时间信息(time information)，该ATIP信号用以提供一可记录与再现的系统该螺旋状的数据轨道的位置。也因为该空白光盘片上并无记录着其它数据，因此一ATIP信号可作为判断缺陷区块之用。该ATIP信号为一正弦(sinusoidal)信号，其上参杂了21.05千赫兹与23.05千赫兹频率的正弦波。
于是，一可记录与再现的系统写录一光盘片时必须存取该ATIP信号，然而该光盘片已记录数据时，也必须由该系统去判别该ATIP信号以得到相关的信息。因此，假如一空白光盘片上有黑点或是缺陷时，该ATIP信号会发散，同时该ATIP信号与其在中心频率为22.05千赫兹作频率调制的载波(carrier)ATFM信号(Absolute Time in Pre-grooveFrequency Modulating signal)之差会非常大。也因为如此，本发明才考虑利用该ATIP信号与该ATFM信号来检测光盘片上的缺陷。
如图1所示，本发明的在可记录与再现的系统中侦测一光盘片的缺陷区块的方法包含下列步骤，请注意该光盘片可为一空白光盘片或是已记录数据的光盘片。首先，该可记录与再现的系统写录数据至该光盘片时，投射一激光束至该光盘片，并从一反射的光盘信号中取得一ATIP信号(如步骤110所示)。之后，该可记录与再现的系统将该ATIP信号频率调制以取得一ATFM信号(如步骤120所示)。接着，比较该ATIP信号与该ATFM信号以得到该两信号之差，如步骤130所示。若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定缺陷时间范围(predetermined defect time interval)内维持着比一特定缺陷临界值(predetermined defect threshold)高的准位(如步骤140所示)，则一晃动缺陷旗标(wobble defect flag)信号被设置为一第一逻辑状态，用以标记缺陷区块的位置(如步骤150所示)。相反的，若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定正常时间范围(predetermined normal time interval)内维持着比一特定正常临界值(predetermined normal threshold)低的准位(如步骤160所示)，则该晃动缺陷旗标信号被清除为一第二逻辑状态，用以标记该正常区块的位置(如步骤170所示)。一般而言，当侦测到一正常区块时，在步骤130中所得到之差则会收敛在该特定缺陷临界值所界定的范围内。换句话说，在侦测到该些缺陷区块时，在步骤130中所得到之差则会高于该特定缺陷临界值且维持一段时间，若该特定缺陷时间范围被适当地调整后，则该些缺陷区块即能被正确地识别并被标记出来。在实际的操作上，在步骤140中可以该ATIP信号与该ATFM信号差的绝对值与该特定缺陷临界值比较，用来作为设置或是清除该晃动缺陷旗标信号的参考。此外，该光盘片的每个ECC方块可设置一晃动缺陷旗标信号用以标明该ECC方块为正常或有缺陷的ECC方块。如此，可通过上述的方式将所有ECC方块的晃动缺陷旗标信号建置至一表格中，使得后续的保护机制得以存取此表格中的晃动缺陷旗标信号，并从中得知哪些ECC方块为有缺陷的ECC方块。内建的存储器，例如DRAM或是闪存等，皆可用来存储数字信号处理器(digitalsignal processor，DSP)的程序代码，用以提供该可记录与再现系统的伺服系统存储该表格，而所本发明方法所产生的表格随后可烧录在光盘片中，作为指出缺陷区块所在位置之用。然而，任何熟习此项技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所述的权利要求范围所界定者为准。
步骤130至步骤170会一直重复地执行直到该光盘片完全扫描结束，使得所有缺陷区块可被识别与标记，后续的保护机制才会启动，并根据该些标记的缺陷区块，进行相关的处理方式。然而，本发明揭露的方法亦可在数据写录时预先扫描与标记该光盘片的一缺陷区块，再进行后续保护机制。请注意该特定缺陷/正常临界值以及缺陷/正常时间范围可被程序化(programmable)以做调整。然而，该特定缺陷/正常临界值以及缺陷/正常时间范围要适当地程序化，因为该些参数会影响系统的敏感度以及稳定性。举例来说，该特定缺陷临界值过小时，会使得该可记录与再现的系统对于信号的变动很敏感，以致于一些正常的区块也许会被不正确地判定为缺陷区块。相反的，该特定缺陷临界值过大时，会使得该可记录与再现的系统对于信号的变动不敏感，以致于一缺陷区块也许会被判定为正常区块。同时，该特定缺陷临界值与该特定正常临界值可定义为相同，而该特定缺陷时间范围与该特定正常时间范围亦可定义为相同。于是，若该特定缺陷临界值与该特定正常临界值定义为相同，且该特定缺陷时间范围与该特定正常时间范围亦定义为相同，则步骤160可被省略
本发明的方法应用该ATIP信号与其载波ATFM信号在数据写录时检测光盘片缺陷区块的位置，则该些保护机制会陆续起动以防止数据写录至被标记的缺陷区块，进而避免写录错误的发生。举例来说，当经过该些缺陷区块时，该些保护机制会调整读写头写录光盘片的功率，避免数据写录至被标记的缺陷区块，或是前述的缺陷处理方法(defect management approach)，用来避免数据写录时，系统不会发生故障的情形。
请注意此方法可应用来扫描与标记一光盘片上所有的缺陷区块，当后续保护的机制启动后，该系统会跳过该些缺陷区块或是将数据写至其它正常的区块。另一方面，当数据写录于该光盘片时，此方法可应用来扫描与标记该光盘片上的一缺陷区块，当后续保护的机制启动后，该系统会跳过该些缺陷区块或是将数据写至其它正常的区块。任何熟习此项技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。
根据上述，本发明提供了一种在可记录与再现的系统中数据写录时，侦测一光盘片的缺陷区块的方法。在本发明中比较该ATIP信号与该ATFM信号，并根据其比较结果设定一晃动缺陷旗标信号，也因此该光盘片上的缺陷区块得以识别。
本发明虽以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明的范围，任何熟习此项技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (7)

1.一种在可记录与再现的系统中，侦测一光盘片的缺陷区块的方法，其特征是，包含：
接收一时间信息信号；
接收一频率调制信号；
比较该时间信息信号与该频率调制信号；以及
若该时间信息信号与该频率调制信号之差在一缺陷时间内维持着比一缺陷临界值高的准位，则一缺陷信号被设置为一标记状态；
其中该频率调制信号为该时间信息信号的载波。
2.如权利要求1所述的侦测缺陷区块的方法，其特征是，该时间信息信号为预刻槽绝对时间信息ATIP。
3.如权利要求1所述的侦测缺陷区块的方法，其特征是，该缺陷信号为晃动缺陷旗标信号。
4.如权利要求1所述的侦测缺陷区块的方法，其特征是，更包含：
若该时间信息信号与该频率调制信号之差在该缺陷时间内维持着比该缺陷临界值低的准位，则该缺陷信号被清除为一正常状态。
5.如权利要求1所述的侦测缺陷区块的方法，其特征是，该可记录与再现的系统包含CD-RW、DVD+RW、DVD-RW、CD-MRW、DVD-MRW以及CD/DVD组合在一起的Combo系统。
6.一种在可记录与再现的系统中，侦测一光盘片的缺陷区块的方法，其特征是，包含：
比较一预刻槽绝对时间信息ATIP信号与一预刻槽绝对时间频率调制信息ATFM信号，以得到该ATIP信号与该ATFM信号之差值；
若该差值在一缺陷时间内维持着比一缺陷临界值高的准位，则一晃动缺陷旗标信号被设置为一标记状态；以及
若该ATIP信号与该ATFM信号之差在该特定时间内维持着比该特定临界值低的准位，则该晃动缺陷旗标信号被清除为一正常状态；
其中该ATFM信号为该ATIP信号的载波。
7.如权利要求6所述的侦测缺陷区块的方法，其特征是，该可记录与再现的系统包含CD-RW、DVD+RW、DVD-RW、CD-MRW、DVD-MRW以及CD/DVD组合在一起的Combo系统。
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