CN100349047C - 硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法 - Google Patents

硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法 Download PDF

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Abstract

一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,属于微电子器件制备技术领域,其工艺步骤如下:1、在硅基片表面上光刻出反射电极图形;2、在光刻出图形的硅片表面用电子束蒸发出铝薄膜;3、采用常规剥离工艺得到所需的铝反射电极图形;4、在铝反射电极上生长二氧化硅作为钝化层,完成制作。本发明方法具有成本低和工艺简单的优点。

Description

硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法
技术领域
本发明属于微电子器件制备技术领域,特别涉及一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法。
背景技术
硅基液晶(LCOS)是在传统的液晶显示器件的基础上,结合硅半导体技术和光学成像技术为一体的高技术产品。反射电极作为硅基液晶(LCOS)的重要组成部分,其反射率对硅基液晶(LCOS)的整体显示性能有着直接的影响,目前硅基液晶(LCOS)的反射电极都是采用铝,但是铝反射面容易被氧化而生成氧化铝,从而使反射率下降,最终导致器件的整体性能下降。
发明内容
本发明的目的是提供一种解决硅基液晶(LCOS)铝反射电极易被氧化而使反射率下降的方法。
为达到上述目的,本发明的技术解决方案是首先在硅片上加工铝反射电极,然后再在反射电极上气相沉积二氧化硅作为钝化保护层。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其步骤如下:
步骤1、在硅基片表面上光刻出反射电极图形;
步骤2、在光刻出图形的硅片表面用低温电子束蒸发出铝薄膜;
步骤3、采用常规剥离工艺得到所需的铝反射电极图形;
步骤4、在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤1的在硅基片表面上光刻出反射电极图形,光刻前先涂9912胶,厚1000-1500nm。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤2的在硅基片表面上淀积的铝薄膜,厚度是45~55nm,用低温电子束蒸发的方法获得。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤3的剥离工艺是在丙酮中并采用超声波完成的。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤4在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层,厚度是200-350nm,用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法获得。
所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其所述涂胶之后,再在85~90℃热板上烘烤2.5~3.5分钟。
本发明方法具有成本低和工艺简单的优点。
附图说明
图1-1至图1-5是本发明硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法的流程图;
图2-1至图2-5是本发明实施例的流程图。
具体实施方式
本发明硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法的具体实施步骤如下:
1、如图1-1所示,在硅基片101表面上涂光学光刻胶102,光学光刻胶为S9912,胶厚1000-1500nm。
2、如图1-2所示,光学光刻方法曝光顶层光学光刻胶102,显影顶层光学光刻胶获得图形103。
3、如图1-3所示,在光学光刻胶102表面上淀积铝薄膜104,铝薄膜104厚度是45~55nm,是采用低温电子束蒸发的方法获得的。
4、如图1-4所示,以丙酮加超声波方法剥离去除光刻胶及光刻胶上的铝薄膜,最后得到在硅片上的铝膜图形105。
5、如图1-5所示,采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法在铝反射电极上生长二氧化硅薄膜106,厚度为200-350nm,完成铝反射电极钝化保护层的制作。
实施例
1、如图2-1所示,在硅基片201表面上涂光学光刻胶202,光学光刻胶为S9912,胶厚1000-1500nm;涂胶之后再85℃热板上烘烤3分钟。
2、如图2-2所示,光学光刻方法曝光顶层光学光刻胶202,显影顶层光学光刻胶获得图形203。
3、如图2-3所示,在光学光刻胶202表面上淀积铝薄膜204,铝薄膜102厚度是50nm,是采用低温电子束蒸发的方法获得的。
4、如图2-4所示,以丙酮加超声波方法剥离去除光刻胶及光刻胶上的铝薄膜,最后得到在硅片上的铝膜图形205。
5、如图2-5所示,采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法在铝反射电极上生长二氧化硅薄膜206,厚度为200-350nm,完成铝反射电极钝化保护层的制作。

Claims (6)

1、一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,其主要步骤如下:
步骤1、在硅基片表面上光刻出反射电极图形;
步骤2、在光刻出反射电极图形的硅基片表面用电子束蒸发出铝薄膜;
步骤3、采用常规剥离工艺得到所需的铝反射电极图形;
步骤4、在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层。
2、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤1的在硅基片表面上光刻出反射电极图形,光刻前先涂S9912胶,厚1000~1500nm。
3、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤2的在硅基片表面上淀积的铝薄膜,厚度是45~55nm,用低温电子束蒸发的方法获得。
4、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤3的剥离工艺是在丙酮中并采用超声波完成的。
5、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤4在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层,用等离子增强化学气相沉积方法获得,厚度是200~350nm。
6、根据权利要求2所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述涂S9912胶之后,再在85~90℃热板上烘烤2.5~3.5分钟。
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