CN100349047C - 硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法 - Google Patents
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- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 47
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 47
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 40
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 40
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims abstract description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000002161 passivation Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 24
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 16
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims abstract description 3
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 claims description 42
- 239000003292 glue Substances 0.000 claims description 13
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 8
- 238000001459 lithography Methods 0.000 claims description 6
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 5
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 2
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 claims 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract description 4
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 8
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 6
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 3
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Light Receiving Elements (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,属于微电子器件制备技术领域,其工艺步骤如下:1、在硅基片表面上光刻出反射电极图形;2、在光刻出图形的硅片表面用电子束蒸发出铝薄膜;3、采用常规剥离工艺得到所需的铝反射电极图形;4、在铝反射电极上生长二氧化硅作为钝化层,完成制作。本发明方法具有成本低和工艺简单的优点。
Description
技术领域
本发明属于微电子器件制备技术领域,特别涉及一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法。
背景技术
硅基液晶(LCOS)是在传统的液晶显示器件的基础上,结合硅半导体技术和光学成像技术为一体的高技术产品。反射电极作为硅基液晶(LCOS)的重要组成部分,其反射率对硅基液晶(LCOS)的整体显示性能有着直接的影响,目前硅基液晶(LCOS)的反射电极都是采用铝,但是铝反射面容易被氧化而生成氧化铝,从而使反射率下降,最终导致器件的整体性能下降。
发明内容
本发明的目的是提供一种解决硅基液晶(LCOS)铝反射电极易被氧化而使反射率下降的方法。
为达到上述目的,本发明的技术解决方案是首先在硅片上加工铝反射电极,然后再在反射电极上气相沉积二氧化硅作为钝化保护层。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其步骤如下:
步骤1、在硅基片表面上光刻出反射电极图形;
步骤2、在光刻出图形的硅片表面用低温电子束蒸发出铝薄膜;
步骤3、采用常规剥离工艺得到所需的铝反射电极图形;
步骤4、在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤1的在硅基片表面上光刻出反射电极图形,光刻前先涂9912胶,厚1000-1500nm。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤2的在硅基片表面上淀积的铝薄膜,厚度是45~55nm,用低温电子束蒸发的方法获得。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤3的剥离工艺是在丙酮中并采用超声波完成的。
所述的一种硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法,其所述步骤4在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层,厚度是200-350nm,用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法获得。
所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其所述涂胶之后,再在85~90℃热板上烘烤2.5~3.5分钟。
本发明方法具有成本低和工艺简单的优点。
附图说明
图1-1至图1-5是本发明硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法的流程图;
图2-1至图2-5是本发明实施例的流程图。
具体实施方式
本发明硅基液晶(LCOS)铝反射电极的钝化保护方法的具体实施步骤如下:
1、如图1-1所示,在硅基片101表面上涂光学光刻胶102,光学光刻胶为S9912,胶厚1000-1500nm。
2、如图1-2所示,光学光刻方法曝光顶层光学光刻胶102,显影顶层光学光刻胶获得图形103。
3、如图1-3所示,在光学光刻胶102表面上淀积铝薄膜104,铝薄膜104厚度是45~55nm,是采用低温电子束蒸发的方法获得的。
4、如图1-4所示,以丙酮加超声波方法剥离去除光刻胶及光刻胶上的铝薄膜,最后得到在硅片上的铝膜图形105。
5、如图1-5所示,采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法在铝反射电极上生长二氧化硅薄膜106,厚度为200-350nm,完成铝反射电极钝化保护层的制作。
实施例
1、如图2-1所示,在硅基片201表面上涂光学光刻胶202,光学光刻胶为S9912,胶厚1000-1500nm;涂胶之后再85℃热板上烘烤3分钟。
2、如图2-2所示,光学光刻方法曝光顶层光学光刻胶202,显影顶层光学光刻胶获得图形203。
3、如图2-3所示,在光学光刻胶202表面上淀积铝薄膜204,铝薄膜102厚度是50nm,是采用低温电子束蒸发的方法获得的。
4、如图2-4所示,以丙酮加超声波方法剥离去除光刻胶及光刻胶上的铝薄膜,最后得到在硅片上的铝膜图形205。
5、如图2-5所示,采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法在铝反射电极上生长二氧化硅薄膜206,厚度为200-350nm,完成铝反射电极钝化保护层的制作。
Claims (6)
1、一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,其主要步骤如下:
步骤1、在硅基片表面上光刻出反射电极图形;
步骤2、在光刻出反射电极图形的硅基片表面用电子束蒸发出铝薄膜;
步骤3、采用常规剥离工艺得到所需的铝反射电极图形;
步骤4、在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层。
2、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤1的在硅基片表面上光刻出反射电极图形,光刻前先涂S9912胶,厚1000~1500nm。
3、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤2的在硅基片表面上淀积的铝薄膜,厚度是45~55nm,用低温电子束蒸发的方法获得。
4、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤3的剥离工艺是在丙酮中并采用超声波完成的。
5、根据权利要求1所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述步骤4在铝反射电极上生长二氧化硅钝化层,用等离子增强化学气相沉积方法获得,厚度是200~350nm。
6、根据权利要求2所述的一种硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法,其特征在于,所述涂S9912胶之后,再在85~90℃热板上烘烤2.5~3.5分钟。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB2005100624858A CN100349047C (zh) | 2005-03-29 | 2005-03-29 | 硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB2005100624858A CN100349047C (zh) | 2005-03-29 | 2005-03-29 | 硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1841149A CN1841149A (zh) | 2006-10-04 |
CN100349047C true CN100349047C (zh) | 2007-11-14 |
Family
ID=37030236
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB2005100624858A Expired - Fee Related CN100349047C (zh) | 2005-03-29 | 2005-03-29 | 硅基液晶铝反射电极的钝化保护方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN100349047C (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101311802B (zh) * | 2007-05-23 | 2010-05-19 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 硅基液晶显示器、硅基液晶显示器反射镜面及制作方法 |
CN109633964A (zh) * | 2019-02-19 | 2019-04-16 | 惠科股份有限公司 | 导电层的制作方法和显示面板 |
CN110658649A (zh) * | 2019-08-29 | 2020-01-07 | 深圳市科创数字显示技术有限公司 | 硅基液晶器件的制作方法及硅基液晶器件、波长选择开关 |
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US20020159172A1 (en) * | 2001-04-26 | 2002-10-31 | Michael Kozhukh | Highly reflective optical components |
CN1529826A (zh) * | 2001-07-16 | 2004-09-15 | 日本板硝子株式会社 | 带有半透过反射镜的基板和半透过型液晶显示装置 |
CN1594066A (zh) * | 2004-07-06 | 2005-03-16 | 华东师范大学 | 硅基微机械光调制器芯片的制备方法 |
-
2005
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Title |
---|
硅基液晶显示器研究进展 代永平 等.液晶与显示,第17卷第5期 2002 * |
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN1841149A (zh) | 2006-10-04 |
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