CH709029A2 - Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität oder der Qualität eines anderen linearen Textilgebildes und optischer Zeilensensor zur Ausführung dieses Verfahrens. - Google Patents

Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität oder der Qualität eines anderen linearen Textilgebildes und optischer Zeilensensor zur Ausführung dieses Verfahrens. Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität oder der Qualität eines anderen linearen Textilbildes mit Hilfe eines optischen Zeilensensors, der eine oder zwei Reihen von einzelnen optischen Elementen (10) einer Rechteckform aufweist, die an ihrem Ausgang ein analoges Signal gewähren, das dem Grad deren Bestrahlung entspricht. Das Garn wird durch die Strahlung mit einer sich zyklisch abwechselnden niedrigen Strahlungsintensität und einer hohen Strahlungsintensität bestrahlt, wobei in jedem Zyklus die analogen Signale von allen einzelnen optischen Elementen (10) mindestens bei einer hohen Strahlungsintensität verfolgt und erfasst werden und von ihnen für jedes einzelne optische Element (10) der Wert des analogen Signals bei einer niedrigen Strahlungsintensität entweder im Voraus oder in dem entsprechenden Zyklus abgezogen wird, wobei das resultierende analoge Signal von allen parasitischen Einflüssen befreit wird und seine Grösse nur von dem Bestrahlungsgrad der Strahlungsquelle des optischen Sensors abhängig ist. Die Erfindung betrifft auch den optischen Zeilensensor zur Ausführung dieses Verfahrens.

Description

Bereich der Technik
[0001] Die Erfindung betrifft das Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität oder Qualität eines anderen linearen Textilgebildes in einem optischen Sensor der Garnqualität mit Hilfe eines optischen Zeilensensors, der eine oder zwei Reihen der einzelnen optischen Elemente einer Rechteckform aufweist, die an ihrem Ausgang ein analoges Signal gewähren, das dem Grad deren Bestrahlung entsprechend ist.
[0002] Die Erfindung betrifft ferner einen optischen Zeilensensor, der einen Sensor mit der Vielzahl der einzelnen optischen Elemente aufweist, die in einer oder zwei Reihen nebeneinander angeordnet sind, zur Ermittlung der Parameter des sich bewegenden Garns oder eines anderen linearen Textilgebildes auf den Textilmaschinen mit Hilfe einer senkrechten Projektion des Garns auf einzelne optische Elemente des Sensors mittels einer einzigen Strahlungsquelle.
Stand der Technik
[0003] Bekannte optische Sensoren zur Auswertung der On-line-Garnqualität weisen eine Strahlungsquelle und einen optischen Ein- oder Zweizeilen-CMOS-Sensor auf, zwischen denen sich das jeweilige Garn bewegt, dessen Schatten sich auf die optischen Elemente des Sensors projiziert.
[0004] Als die Quelle der Lichtstrahlung verwendet man in der Regel eine Strahlung generierende Quelle im sichtbaren Spektrum oder auch in einem infraroten Spektrum oder in einem ultravioletten Spektrum. Die Quelle kann sowohl monochromatisch sein als auch aus dem Spektrum der monochromatischen Komponenten zusammengesetzt werden.
[0005] Den Einfluss der parasitischen Strahlungsquellen kann man durch geeignete Konstruktionsanordnung der Messzone auf solche Weise minimieren, damit die parasitische Strahlung auf den jeweiligen Sensor nicht durchdringt. Zur vollkommenen Unterdrückung des Einflusses der parasitischen Quellen wäre es jedoch notwendig, die jeweilige Messzone vollkommen abzuschliessen, was im Falle eines Universalsensors, der die Garnqualität misst, problematisch ist. Die weitere Möglichkeit der Unterdrückung des Einflusses der parasitischen Quellen besteht in der Verwendung der Quelle zur Garnbeleuchtung mit einer hohen Intensität der Ausstrahlung. Der Nachteil dieser Methode besteht jedoch in einem hohen Energieverbrauch solcher Quelle und einem hohen Wärmeverlust. Ferner ist es möglich, z.B. optische Filter zu verwenden, die nur das erforderliche Strahlungsspektrum durchlassen und anderes unterdrücken.
[0006] Jedes optische Element des CMOS-Sensors generiert die elektrische Ladung, die der Energie der fallenden Strahlen entspricht. Die Grösse der generierten elektrischen Ladung hängt von der Empfindlichkeit des optischen Elementes, der fallenden Lichtenergie und von der Zeit der Bestrahlung des optischen Elementes ab. Die fallende Energie auf den Sensor und also auch die Messung des Sensors sind jedoch von den parasitischen Strahlungsquellen beeinflusst (z.B. Glühbirne, Sonnenlicht, blinkende Rundumleuchten usw.), die die Menge der fallenden Energie auf das optische Element beeinflussen und dadurch einen Fehler in die Messung eintragen. Der weitere parasitische Einfluss ist die Temperatur und sog. Rauschen des optischen Elementes. Der Nachteil der Technologie der optischen Sensoren besteht in der Tatsache, dass die Elektronen in den optischen Elementen nicht nur infolge des fallenden Lichtes (aus den Funktions- sowie parasitischen Strahlungsquellen), sondern auch in der Abhängigkeit von der Umgebungstemperatur, Grösse des optischen Sensors, Sensorarchitektur und Produktionstechnologie entstehen. Obwohl der jeweilige Sensor ganz im Dunkel steht, generiert das optische Element ein Ausgangssignal, das infolge der Quantereignisse im Halbleiter generiert wird. Die positive Eigenschaft besteht darin, dass die parasitischen Ströme unter den jeweiligen Bedingungen immer gleich sind und dem Ausgangssignal additiv hinzugerechnet werden.
[0007] Das Ziel der Erfindung besteht darin, das Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität oder der Qualität eines anderen linearen Textilgebildes in einem optischen Sensor zu entwickeln, bei dem das resultierende analoge Signal von allen parasitischen Einflüssen befreit wird und seine Grösse nur von dem Bestrahlungsgrad von der Strahlungsquelle des optischen Sensors abhängig sein wird. Es ist ebenso auch ein optischer Zeilensensor zur Ausführung dieses Verfahrens zu bilden.
Darlegung des Wesens der Erfindung
[0008] Das Ziel der Erfindung wird durch das Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität oder der Qualität eines anderen linearen Textilgebildes erreicht, dessen Wesen darin besteht, dass das Garn mit der Strahlung mit einer sich zyklisch abwechselnden niedrigen Strahlungsintensität und hohen Strahlungsintensität bestrahlt wird, wobei in jedem Zyklus analoge Signale von allen einzelnen optischen Elementen mindestens bei der hohen Strahlungsintensität verfolgt und erfasst werden und von ihnen für jedes einzelne optische Element der Wert des analogen Signals bei einer niedrigen Intensität der jeweiligen Strahlung abgezogen wird, die entweder im Voraus oder im entsprechenden Zyklus ermittelt wird, wodurch das resultierende analoge Signal von den parasitischen Einflüssen befreit wird und seine Grösse nur von dem Bestrahlungsgrad von der Strahlungsquelle des optischen Sensors abhängig ist. Dadurch erreicht man auf eine energetisch nicht anspruchsvolle Weise die Eliminierung aller parasitischen Einflüsse und das resultierende analoge Signal entspricht nur dem Bestrahlungsgrad, beziehungsweise der Beschattung durch das Garn oder ein anderes zu verfolgende lineare Textilgebilde.
[0009] Die Vereinfachung des erfindungsgemässen Verfahrens erreicht man, wenn bei der Strahlung mit einer niedrigen Strahlungsintensität die Strahlungsquelle des optischen Sensors eine Nullstrahlung ausstrahlt. Die Strahlungsquelle strahlt oder strahlt nicht in diesem Fall, was man einfach regeln und ohne die Notwendigkeit der Einstellung unterschiedlicher Strahlungsintensität der jeweiligen Quelle verfolgen kann.
[0010] Zum Vergleich der analogen Signale aus den hintereinander folgenden Messungen ist es vorteilhaft, wenn die analogen Signale aus einzelnen optischen Elementen in den identisch langen Intervallen verfolgt werden.
[0011] Zugleich ist es vorteilhaft, wenn die analogen Signale von einzelnen optischen Elementen bei der niedrigen Strahlungsintensität in den identisch langen Intervallen verfolgt werden, wobei soweit in den identisch langen Intervallen sowohl analoge Signale bei einer hohen Strahlungsintensität als auch analoge Signale bei einer niedrigen Strahlungsintensität verfolgt werden, vereinfacht es ihren gegenseitigen Abzug.
[0012] Zur Vereinfachung der Auswertung weist die sich zyklisch abwechselnde niedrige und hohe Strahlungsintensität der Quelle des optischen Sensors solche Frequenz auf, die dem ungeteilten Vielfachen der Auswertungsfrequenz des optischen Zeilensensors gleich ist.
[0013] Die Strahlungsintensität der Strahlungsquelle ändert sich durch die Stromgrösse, der in die jeweilige Strahlungsquelle zugeführt wird. Im Falle der Nullstrahlungsintensität wird der Strom in die Strahlungsquelle nicht zugeführt.
[0014] Aus der Sicht des Preises ist es vorteilhaft, wenn die Strahlungsquelle durch eine LED-Diode gebildet wird.
[0015] Das Wesen des optischen Zeilensensors zur Ausführung des erfindungsgemässen Verfahrens besteht darin, dass die Strahlungsquelle für zyklische Bestrahlung der einzelnen optischen Elemente des Sensors durch die Strahlung mit einer hohen Strahlungsintensität und Strahlung mit einer niedrigen Strahlungsintensität und den Unterschied der analogen Signale der einzelnen optischen Elemente auswertende Analogschaltungen mit der Quelle der Steuersignale verkoppelt sind, die gegenseitig zeitlich synchronisiert werden. Zur zeitlichen Synchronisierung ist es vorteilhaft, wenn die Längen der Intervalle bei einer niedrigen und hohen Strahlungsintensität identisch lang sind und die Zeitpunkte der Abtastung mit der Auswertungsfrequenz des optischen Zeilensensors synchronisiert werden.
[0016] Die Vereinfachung der Konstruktion und die Erhöhung der Zuverlässigkeit des optischen Zeilensensors erreicht man dann, wenn mindestens die Quelle der Steuersignale, die Analogschaltungen, die den Unterschied der analogen Signale von einzelnen optischen Elementen auswerten, und einzelne optische Elemente des jeweiligen Sensors auf einem gemeinsamen Halbleitersubstrat angeordnet sind.
Erläuterung der Zeichnungen
[0017] Zur Erläuterung der Erfindung werden die Zeichnungen verwendet, wo es zeigen: <tb>Fig. 1<SEP>graphische Darstellung des Bestrahlungsgrades des einzelnen optischen Elementes des jeweiligen Sensors, <tb>Fig. 2<SEP>Schaltungszeichnung, die erfindungsgemäss arbeitet und <tb>Fig. 3a<SEP>Zeitverlauf der Strahlung der Strahlungsquelle, Verfolgung der analogen Werte der optischen Elemente und Datenverarbeitung aus den optischen Elementen mit einer kontinuierlichen Verfolgung des analogen Signals bei einer niedrigen Strahlungsintensität und <tb>Fig. 3b<SEP>Zeitverlauf der Strahlung der Strahlungsquelle, Verfolgung der analogen Werte der optischen Elemente und Datenverarbeitung aus den optischen Elementen mit dem im Voraus abgetasteten analogen Wert bei einer niedrigen Strahlungsintensität.
Ausführungsbeispiele der Erfindung
[0018] Optische Sensoren zur On-line-Verfolgung der Garnqualität oder der Qualität eines anderen linearen Textilgebildes auf der Textilmaschine, die das jeweilige Garn oder ein anderes lineares Textilmaterial erzeugt oder verarbeitet, weisen eine Strahlungsquelle und einen optischen Ein- oder Zweizeilensensor, gewöhnlich einen CMOS-Sensor, auf. Das Garn oder anderes lineare Textilgebilde bewegen sich im Strahlungsfluss zwischen der Strahlungsquelle und dem optischen Sensor, auf den sich das senkrechte Garnbild projiziert.
[0019] Einzelne optische Elemente 10 des Sensors gewähren an ihrem Ausgang ein analoges Signal, das dem Grad deren Bestrahlung entspricht. Auf Fig. 1 ist der Bestrahlungsgrad des optischen Elementes graphisch dargestellt, wobei die schwarze Farbe das analoge Signal darstellt, das der Energiemenge entspricht, die auf das optische Element fällt und/oder in dem sie durch parasitische Einflüsse, wie Temperatur und Rauschen des optischen Elementes und parasitische Strahlungsquellen gebildet wird.
[0020] Der Wert M ist der maximale Wert, den das optische Element an seinem Ausgang in der Sättigung gewähren kann, also bei der Bestrahlung durch eine sehr starke Lichtquelle.
[0021] Ft ist der parasitische Wert, den das optische Element an dessen Ausgang gewährt, das durch die Lichtquelle des Sensors nicht bestrahlt wird, und zwar bei einer niedrigen der Null gleichen Strahlungsintensität. Dieser parasitische Wert entspricht der Summe von allen parasitischen Einflüssen, also parasitischen Strahlungsquellen und parasitischen Einflüssen, die von der Temperatur des Sensors in der Umgebung des optischen Elementes, der Grösse des optischen Elementes, Sensorarchitektur und der Produktionstechnologie abhängen.
[0022] Soweit die niedrige Strahlungsintensität nicht Null ist, wird der Wert Ft um diejenige Energie erhöht, die durch diese Strahlung mit einer niedrigen Intensität hervorgerufen wird.
[0023] Fs ist der Wert, den das optische Element an dessen Ausgang gewährt, das von der Lichtquelle bei einer hohen Strahlungsintensität bestrahlt wird und in sich auch einen parasitischen Wert Ft beinhaltet.
[0024] Fr ist der resultierende Wert des analogen Signals nach dem Abzug von allen parasitischen Einflüssen.
[0025] Fr = Fs – Ft
[0026] Damit es möglich ist, die oben genannten Werte auf diese Weise zu verarbeiten, müssen diese aus jedem optischen Element für das identisch lange Intervall gewonnen werden. Dazu verwendet man die Strahlungsquelle mit einer sich zyklisch abwechselnden niedrigen Strahlungsintensität und hohen Strahlungsintensität, die das jeweilige Garn bestrahlt, wobei die Frequenz der Zyklen der Strahlungsquelle höher oder mindestens gleich wie die Auswertungsfrequenz des jeweiligen Sensors ist. Das zyklische Abwechseln der Strahlung mit einer niedrigen Intensität und Strahlung mit einer hohen Intensität sind auf Fig. 3a , 3b dargestellt, wo zwecks der Vereinfachung die niedrige Strahlungsintensität Null ist. Der Zeitpunkt 1 stellt den Anfang der Strahlung mit einer hohen Intensität und der Zeitpunkt 6 das Ende der Strahlung mit einer hohen Intensität und zugleich den Anfang der Strahlung mit einer niedrigen Intensität dar, im dargestellten Beispiel mit Nullintensität. Die Strahlung mit einer niedrigen Intensität setzt bis zur erneuten Aufnahme der Strahlung mit einer hohen Intensität in einem weiteren Zeitpunkt 1 fort. Der Zeitpunkt 2 bezeichnet den Anfang der Messung des optischen Elementes, egal ob bereits im Intervall der Strahlung mit einer hohen Intensität oder im Intervall der Strahlung mit einer niedrigen Intensität. Der Zeitpunkt 3 bezeichnet das Ende der Messung des optischen Elementes für hohe Strahlungsintensität und zugleich den Zeitpunkt der Speicherung des analogen Messwertes für hohe Strahlungsintensität für das jeweilige optische Element, der dem Wert Fs gleich ist. Der Zeitpunkt 4 bezeichnet das Ende der Messung des optischen Elementes für niedrige Strahlungsintensität und zugleich den Zeitpunkt der Speicherung des analogen Messwertes für niedrige Strahlungsintensität, der bei einer niedrigen Nullstrahlungsintensität dem parasitischen Wert Ft gleich ist. Der Zeitpunkt 5 bezeichnet die Datenverarbeitung aus dem optischen Element, das bedeutet Abzug des parasitischen Wertes Ft vom Gesamtwert Fs und Speicherung des resultierenden Wertes zur weiteren Verarbeitung.
[0027] Wie es auf Fig. 3a dargestellt ist, kann man die Werte Ft und Fs in jedem Zyklus abziehen. In der Ausführung laut Fig. 3b wird der parasitische Wert Ft am Anfang der Messung ermittelt und gespeichert und in den einzelnen Zyklen wird nur der Gesamtwert Fs verfolgt, der sich mit dem parasitischen Wert Ft vergleicht, der am Anfang der Messung ermittelt und gespeichert wird. Beide von diesen Verfahren kann man selbstverständlich geeignet kombinieren, man kann zum Beispiel den parasitischen Wert Ft immer bei der Unterbrechung der Tätigkeit der Arbeitsstelle der Maschine ermitteln, in der die Verfolgung verläuft, zum Beispiel bei der Unterbrechung des Garnspinnprozesses, sowohl infolge des Bruches als auch des Austausches der vollen Spule gegen leere Spule.
[0028] Wie es auf Fig. 2 für ein optisches Element 10 des Sensors dargestellt ist, wird das analoge Signal aus dem optischen Element 10 über den Ladungsverstärker 20 in die Speicherzelle 310 oder in die Speicherzelle 320 geführt, die zusammen mit dem Ladungsverstärker 20 mit der Quelle 40 der Steuersignale verkoppelt sind, die ihre Synchronisierung mit einer nicht dargestellten Strahlungsquelle sicherstellt. Dadurch wird sichergestellt, dass in die Speicherzelle 320 der analoge Wert Ft gespeichert wird, der durch den Einfluss von allen parasitischen Einflüssen in solcher Zeit generiert wird, wann die Strahlungsquelle nicht strahlt (niedriger Wert der Strahlungsintensität ist dem Null gleich) und das optische Element deshalb nicht bestrahlt wird, und in die Speicherzelle 310 wird derjenige analoge Wert Fs gespeichert, der durch das optische Element in solcher Zeit generiert wird, wann die Strahlungsquelle strahlt und das optische Element also bestrahlt wird. Der Wert Fs weist deshalb sowohl das durch die Strahlungsquelle des Sensors generierte Signal, als auch das durch den Einfluss der parasitischen Einflüsse generierte Signal. Signale Fs und Ft werden an den Ausgang des Differenzgliedes 50 zugeführt, an dessen Ausgang das Signal ist
[0029] Fr = Fs – Ft,
[0030] das nachfolgend in dem analog-digitalen Umwandler 60 zum Signal Fp umgewandelt wird. Zur Sicherstellung der Synchronisierung sind sowohl Differenzglied 50 als auch analog-digitaler Umwandler 60 mit der Quelle 40 der Steuersignale verkoppelt.
[0031] In der genannten Lösung werden die analogen Werte bei allen optischen Elementen ohne Rücksicht darauf abgetastet und gespeichert, ob das jeweilige optische Element von dem Garn unbeschattet oder teilweise oder vollkommen beschattet ist.
[0032] Damit die jeweiligen Ergebnisse richtig sind, ist es notwendig, dass beide Intervalle, während deren die gespeicherten Signale gebildet werden, identisch sind und damit die Anfänge der Messung und die Zeitpunkte der Speicherung der Werte in die Speicherzellen richtig zeitlich abgestimmt und synchronisiert werden. Deshalb ist auf demselben Halbleitersubstrat auch die Quelle der Steuersignale gebildet. Die Quelle der Steuersignale generiert das Signal zur Steuerung der Intensität der Strahlungsquelle, abstimmt die Anfänge der Messungen, bestimmt die Zeit der Integration der elektrischen Ladung und Enden der Messung der einzelnen analogen Werte, synchronisiert die Wertspeicherung in Speicherzellen und Ausführung der Berechnung.
[0033] In solchen Fällen, wann die Intervalle, in denen es zur Integration der elektrischen Ladung kommt, unterschiedlich sind, sind die gewonnenen Werte im Verhältnis der Längen der jeweiligen Intervalle umzurechnen.
[0034] In der Speicherzelle 310 ist der Wert Fs für die Zeit T der Strahlung der Quelle gespeichert und in der Speicherzelle 320 ist der parasitische Wert Ft für die Zeit T bei einer ausgeschalteten Quelle gespeichert, also bei einer Null-Strahlungsintensität. Hinter dem Differenzglied 50 ist der resultierende analoge Wert Fr.
Bezugszeichenliste
[0035] <tb>M<SEP>maximaler Wert der Bestrahlung des optischen Elementes <tb>Ft<SEP>parasitischer Wert der Bestrahlung des optischen Elementes <tb>Fs<SEP>Gesamtwert der Bestrahlung des optischen Elementes <tb>Fr<SEP>resultierender Wert der Bestrahlung des optischen Elementes <tb>Fp<SEP>digitalisiertes Signal <tb>T<SEP>Zeit der Quellenstrahlung <tb>1<SEP>Anfang der Strahlung mit einer hohen Intensität <tb>2<SEP>Anfang der Messung des optischen Elementes <tb>3<SEP>Ende der Messung des optischen Elementes und Speicherung des Wertes für hohe Intensität <tb>4<SEP>Ende der Messung des optischen Elementes und Speicherung des Wertes für niedrige Intensität <tb>5<SEP>Datenverarbeitung aus dem optischen Element <tb>6<SEP>Ende der Strahlung mit einer hohen Intensität <tb>10<SEP>optisches Element des Sensors <tb>20<SEP>Ladungsverstärker <tb>310<SEP>Speicherzelle für Fs <tb>320<SEP>Speicherzelle für Ft <tb>40<SEP>Quelle des Steuersignals <tb>50<SEP>Differenzglied <tb>60<SEP>analog-digitaler Umwandler

Claims (10)

1. Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität oder Qualität eines anderen linearen Textilgebildes im optischen Sensor der Garnqualität mit Hilfe eines optischen Zeilensensors, der eine oder zwei Reihen von einzelnen optischen Elementen (10) einer Rechteckform aufweist, die an ihrem Ausgang ein analoges Signal gewähren, das dem Grad deren Bestrahlung entspricht, dadurch gekennzeichnet, dass das Garn durch die Strahlung mit einer sich zyklisch abwechselnden niedrigen Strahlungsintensität und einer hohen Strahlungsintensität bestrahlt wird, wobei in jedem Zyklus die analogen Signale von allen einzelnen optischen Elementen (10) mindestens bei der hohen Strahlungsintensität verfolgt und erfasst werden und von ihnen für jedes einzelne optische Element (10) der Wert des analogen Signals bei der niedrigen Strahlungsintensität entweder im Voraus oder in dem entsprechenden Zyklus abgezogen wird, wobei das resultierende analoge Signal von allen parasitischen Einflüssen befreit wird und seine Grösse nur von dem Bestrahlungsgrad von der Strahlungsquelle des optischen Sensors abhängig ist.
2. Verfahren nach dem Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Strahlung mit einer niedrigen Intensität die Strahlungsquelle des optischen Sensors eine Nullstrahlung emittiert.
3. Verfahren nach dem Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die analogen Signale von einzelnen optischen Elementen (10) bei einer hohen Strahlungsintensität in denselben Intervallen verfolgt werden.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die analogen Signale von einzelnen optischen Elementen (10) bei einer niedrigen Strahlungsintensität in denselben Intervallen verfolgt werden.
5. Verfahren nach dem Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass die analogen Signale von einzelnen optischen Elementen (10) bei einer niedrigen Strahlungsintensität in den identisch langen Intervallen wie die analogen Signale von einzelnen optischen Elementen (10) bei einer hohen Strahlungsintensität verfolgt werden.
6. Verfahren nach dem Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die sich zyklisch abwechselnde niedrige und hohe Strahlungsintensität der Strahlungsquelle des optischen Sensors solche Frequenz aufweist, die dem ungeteilten Vielfachen der Auswertungsfrequenz des optischen Zeilensensors gleich ist.
7. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsintensität der Strahlungsquelle des optischen Sensors durch die Grösse des in die Strahlungsquelle zugeführten Stromes geändert wird.
8. Verfahren nach dem Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle durch eine LED-Diode gebildet wird.
9. Optischer Zeilensensor, der einen Sensor mit einer Vielzahl der optischen Elemente (10) aufweist, die in einer oder zwei Reihen nebeneinander angeordnet sind, zur Ermittlung der Parameter des sich bewegenden Garns oder eines anderen linearen Textilgebildes auf den Textilmaschinen mit Hilfe einer senkrechten Projektion des Garns auf einzelne optische Elemente (10) des Sensors mittels einziger Strahlungsquelle zur Ausführung des Verfahrens nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle zur zyklischen Bestrahlung von einzelnen optischen Elementen (10) des Sensors durch Strahlung mit einer hohen Strahlungsintensität und Strahlung mit einer niedrigen Strahlungsintensität und den Unterschied der analogen Signale von einzelnen optischen Elementen (10) auswertende Analogschaltungen mit der Quelle (40) der Steuersignale verkoppelt sind, die gegenseitig zeitlich synchronisiert werden.
10. Optischer Zeilensensor nach dem Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens die Quelle (40) der Steuersignale, den Unterschied der analogen Signale von einzelnen optischen Elementen (10) auswertende Analogschaltungen und einzelne optische Elemente (10) des Sensors auf einem gemeinsamen Halbleitersubstrat angeordnet sind.
CH01946/14A 2013-12-17 2014-12-15 Verfahren zur Verfolgung einer Qualität eines linearen Textilgebildes mit einem optischen Sensor und optischer Sensor zur Ausführung dieses Verfahrens. CH709029B1 (de)

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