CH676043A5 - - Google Patents

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CH676043A5
CH676043A5 CH6994/83A CH699483A CH676043A5 CH 676043 A5 CH676043 A5 CH 676043A5 CH 6994/83 A CH6994/83 A CH 6994/83A CH 699483 A CH699483 A CH 699483A CH 676043 A5 CH676043 A5 CH 676043A5
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computer
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code reader
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CH6994/83A
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Inventor
Bernhard Dr Gaechter
Bernhard Dr Braunecker
Fritz H Dr Mueller
Original Assignee
Wild Leitz Ag
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C5/00Measuring height; Measuring distances transverse to line of sight; Levelling between separated points; Surveyors' levels

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

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Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine Messeinrichtung gemäss dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Auf verschiedenen Gebieten der Technik besteht ein Bedarf an einer berührungslosen Erfassung von Relativpositionen zweier relativ zueinander beweglicher Teile. Dies können Teile von Präzisionsmaschinen sein, deren Positionen mit hoher Genauigkeit erfasst werden sollen, oder Geräteskalen, beispielsweise an optischen Instrumenten. So wird z.B. bei bisher gebräuchlichen Nivellierinstrumenten durch ein mit dem Instrument verbundenes Fernrohr auf einer entfernt aufgestellten Nivellierlatte eine darauf angebrachte Höhenskala abgelesen. Das Ablesen der entfernten Höhenskala durch das Fernrohr erfordert eine relativ hohe Konzentration des Beobachters. Deswegen treten mit dieser Methode immer wieder Ablesefehler, insbesondere grobe Fehler durch ungeübte Beobachter auf.
Es wurde bereits versucht, die hohe Fehleranfälligkeit bekannter Nivelliereinrichtungen auf verschiedene Arten zu beheben. So wurde gemäss der japanischen Publikation JA 57 749-81 vorgeschlagen, die Nivellierlatte mit codierten Lichtquellen entsprechend der Höhenskala zu versehen. Das Ablesen dieser Latte soll mit Hilfe eines darauf angepassten Empfängers erfolgen. Die Nivellierlatte ist jedoch sehr aufwendig und für den rauhen Betrieb im freien Gelände oder auf Baustellen nur wenig geeignet. Ausserdem weist diese Nivellierlatte einen erheblichen Energieverbrauch auf, der sich ebenfalls störend auswirkt. Gemäss einem anderen Vorschlag (Austral. Provisionai Patent No. 2542/77} ist die Nivellierlatte mit Kombinationen von schwarzweissen Längsstreifen und Dreiecken versehen. Durch Abtasten dieser Markierungen quer zur Latte wird bei geeigneter Wahl des Codes aus der abgetasteten Impulslänge auf die gemessene Höhe geschlossen. Bei dieser Anordnung wirkt sich die geringe Messgenauigkeit sowie die geringe Empfindlichkeit beim Ablesen über grössere Distanzen nachteilig aus.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine möglichst allgemein verwendbare Messeinrichtung der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 definierten Art zu schaffen, welche Ablesefehler ausschaltet, eine hohe Zuverlässigkeit auch in rauhem Betrieb besitzt und ausserdem eine hohe Messgenauigkeit aufweist. Diese Aufgabe wird durch die in der Kennzeichnung des Patentanspruchs 1 definierte Erfindung gelöst.
Durch die erfindungsgemässe Massnahme ist ein automatisches Ablesen der Position bei sehr hoher Messgenauigkeit möglich. Das Messergebnis lässt sich digital anzeigen und kann bei Bedarf direkt auf einem Datenträger gespeichert und/oder in einem Rechner weiter verarbeitet werden. Insbesondere ist das Ablesen einer Skala auch dann möglich, wenn die Skala nicht mehr in die optische Achse eines Beobachtungsfernrohrs ragt. Zusätzlich kann durch die Ablesung eine Distanzinformation erhalten werden. Bei Verwendung als Nivellier erfolgt durch das Einbeziehen der gesamten sich im Bildfeld befindlichen Information der Messlatte in den Mess- und Auswertprozess die Bestimmung von Niveilierhöhe und Entfernung auch bei einem starken Anteil von Rausch- und Störsignalen mit höherer Genauigkeit als mit bekannten Einrichtungen.
Im folgenden wird die Erfindung anhand bevorzugter Ausführungsbeispiele, insbesondere bei Verwendung als Nivelliereinrichtung mit Hilfe der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Nivelliereinrichtung mit Nivelliergerät und mit entfernt angeordneter Messlatte sowie einen Ausschnitt aus einem längs der Latte angebrachten Strich-Code,
Fig. 2 einen Schnitt durch das verwendete Nivelliergerät,
Fig. 3 das Blockschaltbild einer an das Nivelliergerät angeschlossenen Auswert- und Anzeigeeinrichtung, und
Fig. 4 Signalbilder A, B und C zur Erläuterung der Arbeitsweise.
Die als Beispiel zur Erläuterung der Erfindung beschriebene Nivelliereinrichtung gemäss Fig. 1 um-fasst ein Nivelliergerät 1 sowie eine in einer Entfernung Z aufgestellte Nivellierlatte 2. Auf der Nivellierlatte ist gemäss dem bevorzugten Ausführungsbeispiel in Längsrichtung ein quer verlaufender Strich-Code 3 aufgebracht.
Zum Ablesen der Nivellieriatte dient das Nivelliergerät 1, welches gemäss Fig. 2 ein Objektiv 4, eine Fokussierlinse 5 mit zugehörigem Fokussiertrieb 6, einen Strahlteiler 7, eine Strichplatte 8 sowie ein Okular 9 enthält. Im Bereich der durch den Strahlteiler 7 aus dem Haupt-Strahlengang abgelenkten Strahlen befindet sich zusätzlich eine Detektorgruppe 10. Die Detektorgruppe dient zur Abtastung von Bildelementen quer zur optischen Achse. Die Anordnung ist derart gewählt, dass die durch das Objektiv 4 einfallenden Code-Elemente der Nivellierlatte 2 in die Ebene der Detektorgruppe 10 abgebildet werden. Der Detektorgruppe ist eine Signalverarbeitungseinrichtung 11 nachgeschaltet, die in Fig. 3 im einzelnen dargestellt ist.
In der Signalverarbeitungseinrichtung 11 werden die Signale der zu Detektorgruppe 10 gehörenden Detektoren Qi über einen Verstärker 12, einen Abtastspeicher (Sample & Hold) 13 und einen Ana-log/Digital-Wandler 14 einem Rechner 15 zugeführt. Auf der Ausgangsseite des Rechners ist eine Anzeigevorrichtung 16 zur Darstellung des Messergebnisses angeschlossen.
Am Fokussiertrieb 6 des Nivelliergerätes ist ein Positionsgeber 17 angeschlossen, beispielsweise ein Weggeber oder ein mit dem Drehknopf gekoppelter Winkelgeber. Mit dieser Einrichtung wird die jeweili-
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ge Position des Fokussiertriebs bei Scharfstellung auf die Nivellierlatte erfasst. Das Ausgangssignal des Positionsgebers 17 wird dem Rechner 15 als weiteres Eingangssignal zugeführt.
An den Rechner 15 ist ein Festwertspeicher 18 angeschlossen, in welchem ein Referenzcode abgespeichert ist, der z.B. dem Strich-Code auf der Nivellierlatte entspricht.
Der Rechner ermittelt auf die im folgenden näher beschriebene Weise durch Vergleich des von der Detektorengruppe 10 aufgenommenen Code-Bildes mit dem im Rechner abgespeicherten Referenzcode die Lage des Code-Bildes auf der Messlatte und damit die Nivellierhöhe.
Der eigentliche Nivelliervorgang besteht darin, dass mit dem Fernrohr des Nivelliergerätes 1 die Nivellierlatte 2 angezielt und mit dem Fokussiertrieb 6 scharfgestellt wird. Aus der vom Positionsgeber 17 gelieferten Fernrohr-Fokussierstellung des Nivelliergerätes 1 ermittelt der Rechner zunächst den Abstand Z zwischen dem Nivelliergerät 1 und der Nivellierlatte 2. Dazu sind im Festwertspeicher 18 entsprechende Eichwerte für die Distanz Z in Abhängigkeit von den Werten für die Fokussierstellung abgespeichert.
Aus der gegebenen Brennweite f des Fernrohrobjektivs, die vorzugsweise ebenfalls im Festwertspeicher 18 abgespeichert ist, und dem zuvor ermittelten Abstand Z zwischen dem Nivelliergerät 1 und der Nivellierlatte 2 wird vom Rechner 15 der Abbildungsmassstab m errechnet, gemäss der Beziehung m = - f / Z.
Mit diesem Abbildungsmassstab m wird die Nivellierlatte 2 auf die Detektorgruppe 10 abgebildet.
Anhand der Fig. 4A - 4C wird im folgenden die Funktionsweise der Signalverarbeitungseinrichtung 11 für das gewählte Beispiel erläutert. Fig. 4A zeigt das Signal für den aus dem Festwertspeicher 18 ausgelesenen Referenzcode R(r;m,A), wobei dieses Signal zum besseren Verständnis in der Ebene der Detektorgruppe 10 und in Abhängigkeit von der Position r der einzelnen Detektoren in dieser Ebene dargestellt ist. r bedeutet somit eine Variable, während der Abbildungsmassstab m als Parameter aufzufassen ist. A, ebenfalls ein Parameter, stellt die relative Position des Codeanfangs zum Anfang eines einzelnen Detektorelementes D gemäss Fig. 4B dar.
Die Wahl der Code-Darstellung bzw. der Detektoranordnung ist dabei derart getroffen, dass der Abstand A immer kleiner ist als der Detektorabstand h' zwischen zwei benachbarten Detektorelementen gemäss Fig. 4B.
Fig. 4B zeigt nun in Abhängigkeit von der örtlichen Position r die Empfindlichkeitskurven D(r) der einzelnen Detektorelemente Di, (r), für i = 1,2,...N.
Durch ein entsprechend gewähltes Steuerprogramm wird der Rechner 15 veranlasst, fortlaufend den jeweiligen Wert des Referenzcodes R(r;m,A) mit dem zugehörigen Wert der Detektorempfindlichkeitskurve D(r) gemäss den Fig. 4A und 4B zu multiplizieren und über die Position r zu integrieren. Als Ergebnis erhält man die in Fig. 4C aufgetragenen Diskretisierungswerte
OS
P1 (m,À) = f R(r;ni7A).D1 (r)'dr o
Anschliessend wird durch eine geeignete Rechnermanipulation die Empfindlichkeitskurven Di (r) um den Detektorabstand h' verschoben, wieder mit R (r;m,A) multipliziert und integriert. Aus dieser Operation ergibt sich ein zweiter Diskretisierungswert P2(m,A). Dieser Rechenvorgang wiederholt sich solange, bis der ganze Referenzcode abgedeckt ist. Das Ergebnis ist schematisch in Fig. 4C dargestellt.
Schliesslich ermittelt der Rechner 15 programmgesteuert die Kreuzkorrelation Ki_(m,A) zwischen den in der Detektorgruppe 10 von den einzelnen Detektorelementen Di gemessenen Intensitätswerten Qi und den berechneten diskretisierten Referenzwerten Pi(m,A), gemäss folgender Formel, worin N die Anzahl der verwendeten Detektorelemente bedeutet:
Kl (r*i, Al ®
_ Qj - (m , A)
Aus den so berechneten Werten der Kreuzkorrelationsfunktion sucht der Rechner 15 anschliessend programmgesteuert die Verschiebung L mit dem grössten Wert der zuvor ermittelten Kreuzkorrelation. Daraufhin werden die Parameter m und A variiert und durch bekannte Methoden der numerischen Mathematik der maximale Wert der Kreuzkorrelationsfunktion Ki_(m,A) als Funktion von L, m und A programmgesteuert bestimmt.
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Aus den so berechneten Werten für L, m und A wird diejenige Wertegruppe mit der höchsten Korrelation ausgewählt und aus den entsprechenden Parametern die Ableseposition, im vorliegenden Beispiel also die Niveliierhöhe, berechnet.
Für die zu Beginn vorgenommene Bestimmung der Distanz Z zwischen dem Nivelliergerät 1 und der Nivellierlatte 2 ergibt sich eine Genauigkeitsabschätzung A Z / Z nach folgender Überlegung:
A Z / Z = OPD - 8 • Z / D2,
wobei D die Apertur des Femrohrobjektivs im Nivelliergerät 1 ist und OPD die optische Phasendifferenz. Wird für OPD ein Wert OPD < 7JZ und D = 40 mm angenommen, so wird die relative Distanzgenauigkeit A Z / Z besser als ± 14% für Z = 100 m und besser als + 0,7% für Z = 5 m.
Damit sich ein Strichcode 3 für die beschriebene Anwendung und Verarbeitung eignet, muss er die folgenden Bedingungen erfüllen.
Da der Abbildungsmasstab der Nivellierlatte 2 auf die Ebene der Detektorgruppe mit dem Abstand Z zwischen dem Nivelliergerät 1 und der Nivellierlatte 2 variiert, unterliegt der Abbildungmasstab m starken Veränderungen. Beispielsweise erfolgt bei Veränderung der Distanz Z von 1,5 m auf 100 m eine Aen-derung des Abbildungsmassstabes um den Faktor 66,6.
Da die einzelnen Elemente Di der Detektorgruppe 10 einen endlichen Abstand voneinander haben, muss die Projektion eines Codeelementes auf ein Detektorelement grösser sein als der gegenseitige Abstand h' der Detektorelemente untereinander, damit die Detektorelemente den Code noch auflösen können. Nach der aus der Nachrichtentechnik übernommenen Theorie von Nyquist sollte daher die Projektion eines Codeelementes G' mindestens ca. zweimal so gross sein wie der Abstand h' der Detektorelemente voneinander.
Diese Bedingung legt die Grösse des zu wählenden Rasters G des Codes für die Nivellierlatte 2 fest: Gi2h'm, wobei nun m der Abbildungsmassstab für die grösste Messdistanz Z der Nivellierlatte in die Ebene der Detektorgruppe 10 ist.
Für kurze Distanzen Z zwischen dem Nivelliergerät 1 und der Nivellierlatte 2 wäre bei beschränkter Anzahl der Detektorelemente das Gesichtsfeld so klein, dass sich nur wenige Rasterelemente G im Gesichtsfeld der Detektorgruppe 10 befinden würden. Diese Anzahl Rasterelemente kann so klein sein, dass sie nicht zum eindeutigen Code-Aufbau und damit zur eindeutigen Ablesung des Codeträgers ausreicht. Um dieser Schwierigkeit auszuweichen, wird in solchen Fällen eine Optik mit veränderbarer Brennweite, wie ein Zoom oder Vergrösserungswechsler im Ablesegerät, im Beispiel also am Nivelliergerät 1 verwendet. Auch eine Vorrichtung zur Abtastung des Gesichtsfeldes (Scanner) ist für diesen Zweck geeignet.
Eine andere Lösung des genannten Problems besteht darin, die Rasterelemente des Codes, entweder die hellen oder die dunklen Teile oder beide, durch ein feineres Rastersystem zu unterteilen und damit einen weiteren Feincode zu bilden. Für grosse Distanzen Z wird dieser Feincode von der Detektorgruppe nicht aufgelöst, sondern wirkt wie ein Grauwert. Für kurze Distanzen Z hilft er, die Position bei beschränktem Gesichtsfeld auf der Detektorgruppe eindeutig zu bestimmen. Als Grobcode hat sich ein Code-Raster als zweckmässig erwiesen, welches für die grösste praktisch vorkommende Messdistanz Z ca. 1,5 mal der Bildgrösse des Strichabstandes auf dem Codeträger ist.
Ergänzend sei darauf hingewiesen, dass der Codeträger eine beliebige, von einer Abtastvorrichtung erfassbare Form aufweisen kann, beispielsweise auch eine Kreisform. In diesem Fall lassen sich Winkelpositionen eines mit dem Codeträger verbundenen Bauteils mit hoher Genauigkeit automatisch ablesen. Dabei vereinfacht sich die notwendige Rechenoperation insofern, als der Abbildungsmassstab m als systembezogene feste Grösse betrachtet werden kann, sofern der Abstand zwischen Codeträger und Lesegerät fest eingestellt ist, was für die meisten derartigen Anwendungsfälle zweckmässig sein dürfte.
Anstelle der im bevorzugten Ausführungsbeispiel beschriebenen Kreuzkorrelation können die im Rechner vorgenommenen Vergleichsoperationen aus einer beliebigen integralen Vergleichsoperation bestehen. Dabei wird mindestens ein Grossteil, vorzugsweise die Mehrzahl derjenigen Detektorelemente, auf denen das Codemuster abgebildet ist, zum Vergleich mit dem Referenzcode herangezogen.

Claims (16)

Patentansprüche
1. Messeinrichtung zum Erfassen einer Relativposition zwischen einem ersten Teil oder einem durch optische Abbildung erzeugten Bild eines ersten Teils und einem zweiten Teil, wobei erstes bzw. dessen Bild und zweites Teil relativ zueinander verschiebbar oder verdrehbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Teil einen Code-Träger aufweist, welcher entlang einer Bahn angeordnet ist, dass der Code-Träger mit einem längs der Bahn verlaufenden eindimensionalen Codemuster versehen ist, dass das zweite Teil einen auf die Bahn des Code-Trägers ausgerichteten Code-Leser aufweist und dass dem Code-Leser ein Rechner nachgeordnet ist, welcher mit Mitteln zum Quantisieren der vom Code-Leser gelieferten Signale und zum Vergleichen mit dem als Referenzcode gespeicherten Code-Muster des Code-Trägers sowie zum Errechnen der Relativposition aus dem Vergleichsergebnis versehen ist, wobei zur Auswertung mindestens ein Teil des Codemusters berücksichtigt ist.
2. Messeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel des Rechners (15) zum
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Quantisieren der Messwerte des Code-Lesers sowie zum integralen Vergleich zwischen den quantisier-ten Messwerten und dem abgespeicherten Referenzcode ausgebildet sind.
3. Messeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel des Rechners (15) zum Kreuzkorrelationsvergleich zwischen den quantisierten Messwerten und dem Referenzcode ausgebildet sind.
4. Messeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Code-Leser eine in einer Bildebene angeordnete Detektorgruppe (10) enthält.
5. Messeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Code-Leser mit Mitteln zum zeitlich gestaffelten Abtasten verbunden ist.
6. Messeinrichtung nach den Ansprüchen 2 und 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel des Rechners (15) zur Modifikation des Referenzcodes mit den Empfindlichkeitswerten der Detektorgruppe (10) ausgebildet sind und dass ein Vergleicher zum Vergleich des sich aus dieser Operation ergebenden Signals mit dem Messsignal vorgesehen ist.
7. Messeinrichtung nach den Ansprüchen 2 und 4, dadurch gekennzeichnet, dass programmierbare Rechnermittel zum Verschieben des Referenzcodes um Bruchteile (A) eines Detektorabstandes (h') vorgesehen sind.
8. Messeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Code-Leser ein Fernrohr enthält, welches mit einem Fokussiertrieb (6) versehen ist, und dass der Fokussiertrieb mit einem Positionsgeber (17) verbunden ist, dessen Ausgang mit einer den Rechner (15) einschliessenden Signalverarbeitungseinrichtung (11 ) in Verbindung steht.
9. Messeinrichtung nach Anspruch 1, für unterschiedliche Messdistanzen, dadurch gekennzeichnet, dass das Codemuster mindestens aus einem Grobcode und aus mindestens einem Feincode besteht.
10. Messeinrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass ein Codemuster ausgewählt ist, welches nach Quantisierung die zur Decodierung erforderlichen quasi-stochastischen Eigenschaften beibehält.
11. Verfahren zum Betrieb einer Messeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Abbildungsmassstab (m) des Referenzcodes aus einer Distanzbestimmung zwischen Codeträger und Code-Leser abgeleitet und in den Berechnungsvorgang einbezogen wird.
12. Verfahren zum Betrieb einer Messeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass durch eine programmgesteuerte Optimierungsrechnung der Maximalwert der Kreuzkorrelationsfunktion bestimmt wird, indem der Abbildungsmassstab (m) des Referenzcodes und seine relative Lage zu den Detektorelementen variiert wird.
13. Verfahren zum Betrieb einer Messeinrichtung nach den Ansprüchen 2 und 8, dadurch gekennzeichnet, dass mittels des Positionsgebers (17) des Fokussiertriebs (6) eine Grobdistanzbestimmung zwischen Codeträger und Codeleser erzeugt und zur Berechnung des Ausgangs-Abbildungsmassstabs (m) verwendet wird.
14. Verwendung einer Messeinrichtung nach Anspruch 1 als Nivellier, mit einem Nivelliergerät (1) als zweitem Teil und einer Nivellierlatte (2) als erstem Teil.
15. Verwendung einer Messeinrichtung nach Anspruch 1 als Distanzmesser.
16. Verwendung einer Messeinrichtung nach Anspruch 1 als Neigungsmesser.
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DE19843424806 DE3424806A1 (de) 1983-12-30 1984-07-05 Messeinrichtung zum erfassen einer relativposition zwischen zwei teilen
US06/686,889 US4715714A (en) 1983-12-30 1984-12-27 Measuring device for determining relative position between two items

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Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH665715A5 (de) * 1984-11-08 1988-05-31 Wild Heerbrugg Ag Verfahren und vorrichtung zur messung der winkelablage eines mit einer zielmarke versehenen objektes.
US4756621A (en) * 1985-10-16 1988-07-12 Toshiba Kikai Kabushiki Kaisha Apparatus for measuring a length of displacement
CH670907A5 (de) * 1985-10-21 1989-07-14 Wild Heerbrugg Ag
DE3710068A1 (de) * 1986-04-04 1987-10-15 Polytec Ges Fuer Analysen Mess Einrichtung zum messen der bewegungs- und positionierungsgenauigkeit eines maschinenteiles
DE3612146A1 (de) * 1986-04-10 1987-10-29 Hinkel Ralf Verfahren und einrichtung zur weglaengenmessung
DD257113A1 (de) * 1987-01-02 1988-06-01 Univ Dresden Tech Laengenmessverfahren
JPS63252216A (ja) * 1987-04-08 1988-10-19 Opt:Kk 比高測定用水準儀
US5076690A (en) * 1990-05-14 1991-12-31 Spectra-Physics Laserplane, Inc. Computer aided positioning system and method
DE69119500T2 (de) * 1990-07-18 1996-11-14 Spectra Physics Laserplane Inc System und Verfahren zur dreidimensionalen Positionserfassung
NL9201059A (nl) * 1992-06-15 1994-01-03 Bootsman Holding Bv Positiedetectiesysteem.
DE69320708T3 (de) * 1992-06-24 2005-07-28 Kabushiki Kaisha Topcon Elektronisches Höhenmessgerät mit Höhenmesslatte
US5301005A (en) * 1993-02-10 1994-04-05 Spectra-Physics Laserplane, Inc. Method and apparatus for determining the position of a retroreflective element
US5537201A (en) * 1993-02-16 1996-07-16 Kabushiki Kaisha Topcon Electronic leveling system, electronic leveling apparatus and leveling staff
JP3407143B2 (ja) * 1993-02-16 2003-05-19 株式会社トプコン 標尺検出機能付き電子レベル及び標尺
US5332539A (en) * 1993-03-26 1994-07-26 Cincinnati Milacron Inc. Non-contact linear position transducer for an injection molding machine and method of using
US5430537A (en) * 1993-09-03 1995-07-04 Dynamics Research Corporation Light beam distance encoder
DE4338038C1 (de) * 1993-11-08 1995-03-16 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren zur Kodierung eines maschinell lesbaren Meßstabes
DE4438759C1 (de) * 1994-10-29 1995-11-02 Leica Ag Heerbrugg Ch Niederla Verfahren zur Bestimmung des Kippwinkels von codierten Nivellierlatten
DE19500817C1 (de) * 1995-01-13 1996-02-22 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren zur Bestimmung von Kantenpositionen
DE19504039C1 (de) * 1995-02-08 1996-04-04 Leica Ag Vorrichtung für Nivellierzwecke
DE19528465C2 (de) * 1995-08-03 2000-07-06 Leica Geosystems Ag Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Erfassung der Lage einer Zielmarke
DE19530788C1 (de) * 1995-08-22 1996-08-01 Leica Ag Meßlatte für geodätische Meßaufgaben
DE29522170U1 (de) * 1995-08-22 2000-03-09 Leica Geosystems Ag Anordnung zur Retroreflexion einer Strahlung mit Tripelprismen
JP3683350B2 (ja) * 1996-07-24 2005-08-17 株式会社ソキア 電子レベル用標尺及び電子レベル
JP3789625B2 (ja) * 1997-12-19 2006-06-28 株式会社ソキア 電子レベル用標尺及び電子レベル
US6671058B1 (en) 1998-03-23 2003-12-30 Leica Geosystems Ag Method for determining the position and rotational position of an object
GB9807020D0 (en) 1998-04-02 1998-06-03 Bamford Excavators Ltd A method of marking a mechanical element, an encoding scheme, a reading means for said marking and an apparatus for determining the position of said element
DE19826873C1 (de) * 1998-06-17 1999-11-25 Zeiss Carl Jena Gmbh Digitalnivellierlatte
JP2000266540A (ja) 1999-03-17 2000-09-29 Topcon Corp 電子レベル
DE10008769C1 (de) * 2000-02-24 2001-09-27 Zsp Geodaetische Sys Gmbh Verfahren und Einrichtung zur Signalverarbeitung, insbesondere für Digitalnivelliere
JP2002039750A (ja) 2000-07-19 2002-02-06 Asahi Precision Co Ltd 自動測量システム
US6606798B2 (en) * 2001-02-23 2003-08-19 Black & Decker Inc. Laser level
EP1593934A1 (de) * 2004-05-06 2005-11-09 Leica Geosystems AG Nivellierlatte und Vorrichtung zur Höhenbestimmung zum Beispiel für Anwendungen in der Geodäsie
EP1593935A1 (de) * 2004-05-06 2005-11-09 Leica Geosystems AG Höhenmesslatte, ihre Verwendung in einem Höhenmessgerät und in einem Verfahren zur Bestimmung von Höhen
GB0420441D0 (en) * 2004-09-14 2004-10-20 Ncr Int Inc Sensing arrangement
DE102005032871A1 (de) * 2005-07-14 2007-01-25 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Bestimmen der absoluten Winkelstellung des Lenkrades eines Kraftfahrzeugs
DE102005032870A1 (de) * 2005-07-14 2007-01-25 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Bestimmen der absoluten Winkelstellung des Lenkrades eines Kraftfahrzeugs
CN101501445B (zh) 2006-08-01 2012-06-27 特里伯耶拿有限公司 电子找平设备和方法
KR100819844B1 (ko) 2006-10-31 2008-04-07 (주)아세아항측 측지측량에서 영상정보 취득을 이용한 국가수준기준점측량방법
EP2224205A1 (de) * 2009-02-25 2010-09-01 Leica Geosystems AG Nivelliergerät und Verfahren zum Nivellieren
US20110172952A1 (en) * 2009-10-05 2011-07-14 Upendra Ummethala Apparatus and Method for Measuring Position and/or Motion Using Surface Micro-Structure
JP5378259B2 (ja) * 2010-02-10 2013-12-25 株式会社 ソキア・トプコン 電子レベル
JP5829848B2 (ja) * 2011-07-04 2015-12-09 株式会社トプコン 電子レベル用標尺
EP2618103A1 (de) 2012-01-17 2013-07-24 Hexagon Technology Center GmbH Verfahren, System und Computerprogramm zum Messen eines Winkels zwischen zwei räumlich voneinander entfernten Elementen und dessen Verwendung
JP2013221831A (ja) * 2012-04-16 2013-10-28 Topcon Corp 電子レベル
DE102014103728A1 (de) 2014-03-19 2015-09-24 Karl Storz Gmbh & Co. Kg Automatische Erfassung der Eindringtiefe und/oder der rotatorischen Orientierung eines invasiven Instrumentes
CN107014348B (zh) * 2017-03-31 2020-08-04 武汉理工大学 一种用于测距电子水准仪水准尺的标尺条码及其编码解码方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2896327A (en) * 1957-04-17 1959-07-28 Bernard M Thomann Surveying apparatus
US3002419A (en) * 1957-11-13 1961-10-03 Perkin Elmer Corp Alignment theodolite
DE1241628B (de) * 1961-03-24 1967-06-01 Otto Fennel Soehne K G Registrierendes Vermessungsinstrument fuer vercodete Lattenteilungen
DE1673887A1 (de) * 1968-01-16 1972-01-20 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Anordnung zur Bestimmung der Lage zweier relativ zueinander beweglicher Teile
NL7403468A (nl) * 1974-03-15 1975-09-17 Philips Nv Inrichting voor het bepalen van de verplaat- sing van een onderdeel van een werktuig.
US4112295A (en) * 1974-12-30 1978-09-05 Instytut Geodezji I Kartograffi Apparatus for direct measurement of displacements with a holographic scale
US4029415A (en) * 1975-02-03 1977-06-14 Dakota Electron, Inc. Laser land-surveying apparatus with digital display
DE2826213B2 (de) * 1978-06-15 1980-06-04 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Photoelektrisches inkrementales Längen- und Winkelmeßsystem
JPS56159794A (en) * 1980-05-12 1981-12-09 Tokyo Optical Length or angle measuring device
JPS576996A (en) * 1980-06-17 1982-01-13 Tokyo Optical Absolute encoder
JPS57172210A (en) * 1981-04-16 1982-10-23 Tokyo Optical Co Ltd Measuring machine
US4461575A (en) * 1981-09-17 1984-07-24 Harris Corporation Reference marker/correlation scheme for optical measurements

Also Published As

Publication number Publication date
DE3424806A1 (de) 1985-08-01
DE3424806C2 (de) 1988-04-28
US4715714A (en) 1987-12-29

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