CH615761A5 - Arrangement for microscope illumination, in particular inside microscopes - Google Patents

Description

615 761

Claims (3)

PATENTANSPRÜCHE

1. Anordnung zur Mikroskopierbeleuchtung, insbesondere innerhalb von Mikroskopen, bestehend, in Lichtrichtung betrachtet, aus einer Lichtquelle, einem ersten abbildenden Element, einer Faseroptik, einem zweiten abbildenden Element, einer Leuchtfeldblende, einer Aperturblende und einem dritten abbildenden Element, dadurch gekennzeichnet, dass das erste abbildende Element eine Sammellinse ist, die so angeordnet ist, dass das Strahlungselement der Lichtquelle im Bereich zwischen Brennpunkt und Linsenscheitel der Sammellinse liegt, dass unmittelbar neben der Sammelllinse, im Bereich zwischen Linsenscheitel und Brennpunkt auf der der Lampe abgewandten Linsenseite die Faseroptik angeordnet ist, deren Lichtaustrittsfläche eine Sekundärlichtquelle ist, dass das Strahlungselement der Lichtquelle kleiner ist als die Sekundärlichtquelle und dass das zweite abbildende Element ein sphärischer Kollektor ist, der, wie die Leuchtfeldblende, die Aperturblende und das dritte optische Element zur Lichtaustrittsfläche der Faseroptik optisch konjugiert ist.

2. Anordnung zur Mikroskopierbeleuchtung gemäss Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle eine Halogenlampe ist.

3. Anordnung zur Mikroskopierbeleuchtung gemäss Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtleitfasern der Faseroptik geordnet sind.

Die Erfindung betrifft eine Anordnung gemäss dem Oberbegriff des Patentanspruches.

Es sind Anordnungen zur Mikroskopierbeleuchtung innerhalb von Mikroskopen bekannt, die unter Verwendung einer herkömmlichen Lichtwurflampe, eines Kondensors, einer Faseroptik, nachfolgenden optischen, abbildenden Elementen, einer Leuchtfeldblende und einer Aperturblende ein reelles Bild der Lichtquelle auf die Lichteintrittsfläche der Faseroptik bzw. in die Aperturblende abbilden.

Die Faseroptik erfüllte dabei vor allem die Aufgabe, die Abbildung des Strahlungselementes, d.h. die Wendelstruktur in Achsrichtung und deren Einfluss auf die Beobachtungsebene des Mikroskops weitestgehend auszugleichen, um eine gleich-mässige Ausleuchtung zu erreichen.

Es sind auch zweckgleiche Anordnungen bekannt, die keine Faseroptik, aber eine Kombination asphärischer Linsen aufweisen. Weiterhin ist für den Zweck gleichmässiger Ausleuchtung der Einsatz von Streuscheiben bekannt.

Die Anordnungen nach dem Stand der Technik erweisen sich bei Verwendung von Halogenlampen, deren zunehmende Verwendung ein Trend der Technik ist, als unzweckmässig. Das Wendel der Halogenlampen ist etwa um die Hälfte kleiner aber leuchtintensiver als bei Normallampen gleicher Leistungsaufnahme. Die kleinere Abmessung des Wendeis erfordert einen höheren Abbildungsmasstab der der Lampe nachgeschalteten Abbildungsoptik, wodurch der Effekt der Wendelstrukturabbildung in der Beobachtungsebene des Mikroskops noch schwerer beherrschbar wird.

Eine Folge des vergrösserten Abbildungsmassstabes und ein Nachteil der bekannten Beleuchtungsanordnungen ist der für eine ausreichende Korrektur notwendige Einsatz von asphärischen Linsen, die nur unter hohen Kosten herstellbar sind.

Bei einer Verwendung von Streuscheiben wird eine homogenere Beleuchtung der Beobachtungsebene erreicht, es tritt in Abhängigkeit vom Halbwertswinkel der Streuscheibe ein Lichtverlust ein, der den Lichtgewinn bei Anwendung von Halogenlampen wieder kompensieren kann.

Überdies erscheint mit den nötigen höheren Abbildungsmassstäben die Abbildung der Streuscheibenstruktur störend in der Beobachtungsebene des Mikroskops.

Insbesondere bei Verwendung von Halogenlichtwurflampen ist mit standardisierten Mitteln der Optik vorzugsweise unter Verzicht auf asphärische Linsen eine gleichmässige Ausleuchtung der Beobachtungsebene von Mikroskopen zu erreichen. Die bisherigen Nachteile der Halogenlampe für genannte Einsatzzwecke sind zu beseitigen und die Vorteile vollständig zu nutzen.

Es ist Aufgabe der Erfindung, bei stark vergrössertem Abbildungsmassstab der optischen Elemente der Anordnung zur Mikroskopierbeleuchtung die Abbildung der Wendelstruktur in die Beobachtungsebene vollständig zu unterdrücken.

Die erfindungsgemässe Anordnung ist durch das Kennzeichen des Patentanspruches gekennzeichnet.

Die Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbeispiels erläutert. Die zugehörige Zeichnung zeigt die schematische Darstellung der erfindungsgemässen Lösung.

Eine Halogenlampe 1 ist so angeordnet, dass ihr Strahlungselement, Wendel 1', im Bereich zwischen Brennpunkt 2' und Scheitel 2' ' einer Sammellinse 2 liegt, die somit ein virtuelles Bild des Wendeis 1' erzeugt. Eine der der Lampe abgewandten Fläche 2" der Linse 2 angepasste Faseroptik, ein Bildkabel 3, ist unmittelbar hinter Linse 2 angeordnet. Es kann gegebenenfalls eine Kittverbindung zwischen Linse 2 und Bildleitkabel 3 bestehen.

Die Lichtaustrittsfläche 3' des Bildleitkabels 3 ist eine Sekundärlichtquelle, die im Vergleich zum Wendel 1 ' grösser ist und eine gleichmässigere Leuchtdichteverteilung aufweist. Die Lichtaustrittsfläche 3' wird mittels Kollektor 4 über die Leuchtfeldblende 5 in die Aperturblende 6 abgebildet. Der Kondensor 7 projiziert das Licht weiter in die Beobachtungsebene 8 des Mikroskops.

Es ist möglich, anstelle einer sammelnden Linse 2 eine Linsenkombination, z.B. Kittglieder anzuordnen.

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1 Blatt Zeichnungen