CH212216A - Photoelectric light meter. - Google Patents

Photoelectric light meter.

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Publication number
CH212216A
CH212216A CH212216DA CH212216A CH 212216 A CH212216 A CH 212216A CH 212216D A CH212216D A CH 212216DA CH 212216 A CH212216 A CH 212216A
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CH
Switzerland
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meter according
dependent
exposure meter
cell
scale
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Application number
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German (de)
Inventor
Aktiengesellschaft Zeiss Ikon
Original Assignee
Zeiss Ikon Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Zeiss Ikon Ag filed Critical Zeiss Ikon Ag
Publication of CH212216A publication Critical patent/CH212216A/en

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4209Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing
    • G01J1/4214Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing specially adapted for view-taking apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

  

  



  Photoelektrischer Belichtungsmesser.



   Es sind Belichtungsmesser bekannt, bei denen dem Ausschlag eines Galvanometerzeigers eine in   Scheinergrade    geeichte Skala nachgeführt wird, wobei gleichzeitig eine zweite Skala gegenüber einer feststehenden dritten Skala verschoben wird, und bei denen die erforderliche Belichtung (Blende, Verschlussgeschwindigkeit) an diesen beiden letzteren Skalen abgelesen werden kann.



   In der beiliegenden Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführungsform eines erfindungsgemässen photoelektrischen Belichtungsmessers dargestellt. Es zeigt :
Fig.   1    einen Längsschnitt durch den Be  lichtungsmesser    mit dem darin befindlichen Galvanometer einschliesslich der Zelle,
Fig. 2 in einem teilweisen Schnitt die Befestigung der beiden Gehäusehälften und des Systemträgers durch ein und dieselbe Schraube und
Fig. 3 den photoelektrischen Belichtungsmesser in Ansicht.



   In der Zeichnung ist die am Galvanometer bezw. am   Systemträger    in schräger Lage angeordnete Zelle   1    durch eine Glasplatte 2 abgedeckt. Die Zelle   1    ist beiderseitig in einer im   Systemträger    5   angebrach-    ten Schlittenfiihrung 1'gelagert. Das Gehäuse 6, 7 ist durch einen scharnierartig angelenkten Deckel 3, welcher eine Öffnung 4 besitzt, geschlossen. Zum Zusammenhalten der beiden Gehäusehälften 6 und 7, sowie zur gleichzeitigen Befestigung des Systemträgers dienen Schrauben 8 (Fig.   2), welche    beiderseits des Galvanometers angeordnet sind.



  Zwischen den beiden mit Falzen aufeinanderliegenden Gehäusehälften befindet sich eine Dichtungsmasse 9, z. B. ein   getränkter Woll-    faden. Fig. 3 zeigt die Andeutung der beiden Messbereiche durch auf einer Skalenscheibe angebrachte   symbolische    Darstellungen 10 und 11. Um einen sicheren Halt der Zelle in ihrer schlittenförmigen Lagerung, sowie eine gute   Eontaktgebung    zu gewährleisten, wird die Zelle durch eine Feder 12 an ihr Gegenlager gedrückt. Auf der Gehäusehälfte 7 ist eine   Stellscheibe      13    angebracht, die mit einem Index 14 versehen ist. Konzentrisch zu dieser ist eine mit den Blendenwerten versehene Skalenscheibe 15 gelagert, welche durch Friktion oder Rasten mit der Stellscheibe 13 verbunden und gegenüber diesen verstellbar ist.

   Auf der Skalenscheibe 15 sind zwei Blendenskalen gegenüberliegend angeordnet, während gegenüber diesen Skalen auf dem unbeweglichen Teil des InstrumentengehÏuses die   VerschluBzeiten    aufgebracht sind. Die Verschlusszeiten sind in der Weise angeordnet, dass die kürzeren Belichtungszeiten sich gegenüber der einen Blendenskala und die   längeren Belichtungszeiten    sich gegenüber der andern Blendenskala befinden.



  Die Skalenscheibe 15 besitzt ferner zwei Fenster 16, 17, unter denen sich die Film  empfindlichkeitswerte    (DIN oder Scheiner) befinden und abgelesen werden können. 18 ist der   Galvanometerzeiger    und 19 eine Leitlinienskala.



   Bei dem dargestellten   Ausführungsbei-    spiel wird statt einer Skala wie bei bekannten   Belichtungsmessern    ein Index dem Zeiger 18 des Belichtungsmessers nachgestellt. Der Index ist auf der   Stellscheibe    13 angeordnet, auf der sich ausserdem die Skala für die Filmempfindlichkeiten befindet. Konzentrisch zu dieser   Stellscheibe    ist die Skalenscheibe 15 gelagert, die durch Friktion oder Rasten mit der ersteren verbunden ist und auf der die Blendenwerte aufgebraeht sind.



  Gegenüber der Blendenskala befinden sich auf dem   Instrumentengehäuse    die Angaben über die Verschlusszeiten. Je nach der Lage der beiden Skalen zueinander, welche durch die Einstelllung auf die Filmempfindlichkeit und die Einstellung des Indexes auf den Zeiger 18 bestimmt wird, können die sich entsprechenden Werte (Blende,   Verschlusszeiten)    abgelesen werden.



   Die photoelektrische Zelle 1 befindet sich bei diesem Instrument an einer Stirnseite   20    des Gehäuses 6, 7, und zwar nicht wie bei den bekannten Instrumenten parallel zu der gegen berliegenden Stirnwand   21.    sondern sie ist schräg zur Oberseite 22 und zur Unterseite   23    dieses Gehäuses mit parallel zu den   Stirnwanden 20    und   21      verlaufenden Längs-    kanten   24    und   25    angeordnet. Die Zelle wird bei Nichtgebrauch des Instrumentes durch einen Deckel geschützt. Das gesamte Instrument ist für zwei Messbereiche eingerichtet,   wodurch ein grosser Messbereich    sowohl für schwache als auch für starke Beleuchtungen   @   wird.

   Die zwei Messbereiche werden durch eine   Liehtstromveränderung    vor der Zelle bewirkt. Dies bietet den Vorteil. bei beiden Messbereiehen die gleiche Zellen-und Ausschlagcharakteristik benutzen zu k¯nnen, wodurch eine einzige Leitlinien Skala 19 Verwendung finden kann. Bei schwachen   Beleuchfvungen    wird mit offenem Deckel 3 gearbeitet, so dass der volle einfallende Lichtstrom auf die Zelle   gelant.   



  Bei starken Beleuehtmgen erfolgt die Messung bei geschlossenem Deckel, wobei der Lichtstrom durch eine in demselben enthallene Lochblende auf die Zelle gelant. Fiir die beiden Messbereiche sind zwei versehiedene Einstellskalen vorgesehen, und zwar eine mit kurzen und eine mit langen Ver  schlusszeiten.    Die kurzen Verschlusszeiten sind auf der obern Skala und die langen Verschlusszeiten auf der untern Skala des In  strumentes    angeordnet. Der benutzte Me¯  bereich ist durch symbolische Darstellungen.    die sich auf der Skalenscheibe befinden. kenntlich gemacht.

   Beim   Arbeiten mit star-    ken Beleuchtungen besteht das Symbol aus einem kleinen Kreis innerhalb eines dunkel gehaltenen Rechteckes, beim Arbeiten mit schwachen Beleuchtungen dagegen aus einem hellen   Rechtecli    auf dunklem Grund. Der am m Me¯instrument scharnierartig angelenkte Deckel dient im aufgeklappten Zustande   gleichzeitig als Messwinkelbegrenzung nach    unten. Die im Deckel befindliche Lochblende muss eine solche Lage haben, dass die mittlere   Einstrahlungsriehtung auf    die Zelle die gleiche ist. wie bei der Messung mit offenem Deckel, damit der Belichtungsmesser in beiden Fällen immer in der gleichen Lage zum Objekt gehalten werden kann.

   Zu diesem Zweck ist die Lochblende 4 am Deckel 3 unterhalb einer parallel zur   Gehäuseunter-    seite liegenden Mittelebene X-X des Ge  rätes    6, 7 nach der Unterseite hin angeordnet.



  Die Form der Lochblende muss nun so beschaffen sein, dass einmal die Zelle bis in die Ecken hinein möglichst gleichmässig ausgeleuchtet wird und dass eine vollständige Vignettierung vermieden wird. Dies wird durch die nach innen zu sich vergrössernde konische Form erreicht, wodurch auch die wirksame Offnung den   gröBtmöglichsten    Abstand von der Zelle erhält.



   Die Handhabung des Instrumentes geschieht in folgender Weise : Durch Drehen der Scheibe 13 wird der auf derselben befindliche Index 14 dem Ausschlag des Galvanometerzeigers 18 nachgeführt. Daraufhin erfolgt die Einstellung der   Filmempfindlich-    keit durch Drehen der Skalenscheibe 15, wel che die zwei Fenster 16 und 17 besitzt, so lange, bis der auf der   Stellscheibe    13 ge  wünschte      Filmempfindlichkeitswert    (DIN oder Scheiner) unter dem Fenster 16 bezw.



   17 erscheint. Durch diese Einstellung können nun nach der Stellung des Zeigerausschlages und des Indexes 14 unter   Zuhilfe-    nahme der   schwarzweiss    gezeichneten Leitlinien die Blendenwerte und   Verschlusszeiten,    die sich gegenüberstehen, auf beiden Seiten   des Umfangskreises der Skalenscheibe    abgelesen werden. Selbstverständlich können die Angaben für die Blendenwerte und Ver  schluBzeiten    auch umgekehrt wie im   Ausfüh-    rungsbeispiel vorgesehen, angebracht werden, also in der Weise, dass die   VerschluBzeiten    auf der beweglichen Skalenscheibe 15 und die Blendenwerte auf dem Instrumentengehäuse aufgebracht werden.



  



  Photoelectric light meter.



   Exposure meters are known in which the deflection of a galvanometer pointer is tracked by a scale calibrated in shine degrees, with a second scale being shifted from a fixed third scale at the same time, and in which the required exposure (aperture, shutter speed) can be read on these two latter scales can.



   In the accompanying drawing, an exemplary embodiment of a photoelectric exposure meter according to the invention is shown. It shows :
Fig. 1 is a longitudinal section through the loading light meter with the galvanometer located therein including the cell,
Fig. 2 in a partial section the attachment of the two housing halves and the system carrier by one and the same screw and
3 shows the photoelectric exposure meter in view.



   In the drawing is BEZW on the galvanometer. Cell 1 arranged in an inclined position on the system carrier covered by a glass plate 2. The cell 1 is mounted on both sides in a slide guide 1 ′ fitted in the system carrier 5. The housing 6, 7 is closed by a hinged cover 3 which has an opening 4. Screws 8 (FIG. 2), which are arranged on both sides of the galvanometer, are used to hold the two housing halves 6 and 7 together and to fasten the system support at the same time.



  Between the two housing halves lying on top of one another with folds there is a sealing compound 9, e.g. B. a soaked wool thread. 3 shows the indication of the two measuring ranges by symbolic representations 10 and 11 attached to a graduated disk. In order to ensure that the cell is held securely in its slide-like mounting and that it is well connected, the cell is pressed against its counter-bearing by a spring 12. An adjusting disk 13, which is provided with an index 14, is attached to the housing half 7. A graduated disk 15 provided with the aperture values is mounted concentrically to this, which is connected to the adjusting disk 13 by friction or notches and is adjustable relative to it.

   On the graduated disk 15, two aperture scales are arranged opposite one another, while the locking times are applied opposite these scales on the immovable part of the instrument housing. The shutter speeds are arranged in such a way that the shorter exposure times are opposite one aperture scale and the longer exposure times are opposite the other aperture scale.



  The dial 15 also has two windows 16, 17, under which the film sensitivity values (DIN or Scheiner) are and can be read. 18 is the galvanometer pointer and 19 is a guide line scale.



   In the illustrated embodiment, instead of a scale as in known exposure meters, an index is adjusted to the pointer 18 of the exposure meter. The index is arranged on the adjusting disk 13, on which there is also the scale for the film sensitivity. The graduated disk 15 is mounted concentrically to this adjusting disk and is connected to the former by friction or notches and on which the aperture values are applied.



  Opposite the aperture scale, the information about the shutter speed is on the instrument housing. Depending on the position of the two scales with respect to one another, which is determined by setting the film sensitivity and setting the index on the pointer 18, the corresponding values (aperture, shutter speeds) can be read off.



   The photoelectric cell 1 is located in this instrument on an end face 20 of the housing 6, 7, and not as in the known instruments parallel to the opposite end wall 21, but it is oblique to the top 22 and to the bottom 23 of this housing with parallel Longitudinal edges 24 and 25 running towards end walls 20 and 21 are arranged. The cell is protected by a cover when the instrument is not in use. The entire instrument is set up for two measuring ranges, which creates a large measuring range for both weak and strong lighting @.

   The two measuring ranges are caused by a change in the light current in front of the cell. This has the advantage. to be able to use the same cell and deflection characteristics in both measurement ranges, whereby a single guideline scale 19 can be used. In the case of weak lighting, the cover 3 is open so that the full incident luminous flux reaches the cell.



  In the case of strong lighting, the measurement is carried out with the cover closed, with the luminous flux reaching the cell through a perforated screen contained in the cover. Two different setting scales are provided for the two measuring ranges, one with short and one with long closing times. The short shutter speeds are arranged on the upper scale and the long shutter speeds on the lower scale of the instrument. The used mē range is through symbolic representations. which are on the dial. marked.

   When working with strong lighting, the symbol consists of a small circle within a dark rectangle; when working with weak lighting, on the other hand, it consists of a light square on a dark background. The lid, which is hinged on the m measuring instrument, also serves as a downward limitation of the measuring angle when it is opened. The aperture in the cover must be in such a position that the central direction of irradiation on the cell is the same. as with the measurement with the lid open, so that the exposure meter can always be held in the same position in relation to the object in both cases.

   For this purpose, the perforated diaphragm 4 is arranged on the cover 3 below a center plane X-X of the device 6, 7 lying parallel to the underside of the housing towards the underside.



  The shape of the pinhole must now be such that the cell is illuminated as evenly as possible right into the corners and that complete vignetting is avoided. This is achieved by the conical shape, which enlarges towards the inside, whereby the effective opening is also given the greatest possible distance from the cell.



   The instrument is handled in the following way: By turning the disk 13, the index 14 located on it is adjusted to the deflection of the galvanometer pointer 18. The film sensitivity is then set by turning the dial 15, which has the two windows 16 and 17, until the film sensitivity value (DIN or Scheiner) required on the adjusting disk 13 is below the window 16 or.



   17 appears. With this setting, after setting the pointer deflection and the index 14, with the aid of the guidelines drawn in black and white, the diaphragm values and shutter speeds that are opposite each other can be read on both sides of the circumference of the dial. Of course, the information for the aperture values and closure times can also be applied in reverse as provided in the exemplary embodiment, i.e. in such a way that the closure times are applied to the movable dial 15 and the aperture values are applied to the instrument housing.

 

Claims (1)

PATENTANSPRUCH : Photoelektrischer Belichtungsmesser, gekennzeichnet durch ein Stellorgan (13) mit darauf befindlichen Filmempfindlichkeitsskala und Index (14), der dem Zeiger (18) eines Galvanometers nachgeführt werden kann, sowie durch eine nach Iiösung einer Verbindung mit dem Stellorgan (13) diesem gegenüber verstellbare Skalenscheibe (15), auf der sich die Skala für einen weiteren, die Belichtung beeinflussenden Faktor befindet, und durch eine dieser letztgenannten Skala gegenüberliegende weitere Skala für einen dritten Belichtungsfaktor auf dem Instru mentengehäuse. PATENT CLAIM: Photoelectric exposure meter, characterized by an actuator (13) with a film sensitivity scale and index (14) thereon, which can be tracked to the pointer (18) of a galvanometer, and by a dial which can be adjusted with respect to the actuator (13) after a connection has been released ( 15), on which there is the scale for a further factor influencing the exposure, and another scale for a third exposure factor on the instrument housing opposite this last-mentioned scale. UNTEBANSPRÜCHE : 1. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, daB die Ver schluBgeschwindigkeitswerte auf dem In strumentengehäuse und die Blendenwerte auf der Skalenscheibe (15) einander ge genüberliegend angeordnet sind. SUBSTANTIAL CLAIMS: 1. Exposure meter according to patent claim, characterized in that the closing speed values on the instrument housing and the aperture values on the dial (15) are arranged opposite one another. 2. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Ver schluBgeschwindigkeitswerte auf der Skalenscheibe (15) und die Blenden werte auf dem Instrumentengehäuse ein ander gegenüberliegend angeordnet sind. 2. Exposure meter according to claim, characterized in that the closing speed values on the Dial (15) and the aperture values on the instrument housing are arranged opposite one another. 3. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Skalen scheibe (15) mit dem Stellorgan (13) durch Rasten verbunden ist. 3. Exposure meter according to claim, characterized in that the scale disc (15) is connected to the actuator (13) by locking. 4. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Skalen scheibe (15) mit dem Stellorgan (13) durch Friktion verbunden ist. 4. Exposure meter according to claim, characterized in that the scale disc (15) is connected to the actuator (13) by friction. 5. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Skalen scheibe (15) Fenster (16, 17) besitzt, durch welche hindurch die auf dem Stell- organ (13) befindlichen Skalenwerte für die Filmempfindlichkeit ablesbar sind. 5. Exposure meter according to claim, characterized in that the scale disk (15) has windows (16, 17) through which the scale values for the film sensitivity located on the adjusting member (13) can be read. 6. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, daB die licht- empfindliche Zelle (1) an der Stirnseite des Instrumentengehäuses schräg zur Ober-und zur Unterseite des Gehäuses mit parallel zu den Stirnwänden dessel ben verlaufenden Längskanten angeord net ist. 6. Exposure meter according to claim, characterized in that the light-sensitive cell (1) on the end face of the instrument housing at an angle to the The top and bottom of the housing with longitudinal edges running parallel to the end walls of the same are angeord net. 7. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass ein Deckel (3) zum Schutz der lichtempfindlichen Zelle (1) vorgesehen ist. 7. Exposure meter according to claim, characterized in that a cover (3) to protect the light-sensitive Cell (1) is provided. 8. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daB der Deckel (3) mit einer Öffnung (4) versehen ist zur Verwendung bei hohen Lichthellig keiten bezw. hohen Verschlussgeschwin- digkeiten. 8. Exposure meter according to dependent claim 7, characterized in that the cover (3) is provided with an opening (4) for use with high light brightness respectively. high closing speeds. 9. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Zelle am Systemträger des Galvanometers be festigt ist. 9. Exposure meter according to claim, characterized in that the cell is fastened to the system carrier of the galvanometer BE. 10. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Zelle beiderseitig in einer im Systemträger an gebrachten Schlittenführung (1') ge- lagert ist. 10. Exposure meter according to dependent claim 9, characterized in that the cell is mounted on both sides in a slide guide (1 ') placed in the system carrier. 11. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass zur Be festigung des Galvanometers die zum Zu sammenhalten zweier Gehäusehälften dienenden Schrauben benutzt werden. 11. Exposure meter according to dependent claim 9, characterized in that the screws used to hold the two housing halves together are used to fasten the galvanometer. 12. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen den beiden Gehäusehälften eine gegen äussere Einflüsse dienende Dichtung vor gesehen ist. 12. Exposure meter according to dependent claim 7, characterized in that a seal serving against external influences is seen between the two housing halves. 13. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 12, gekennzeichnet durch eine Dichtungs masse, die aus einem getränkten Woll faden besteht. 13. Exposure meter according to dependent claim 12, characterized by a sealing compound which consists of a soaked wool thread. 14. Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Instru ment für zwei Messbereiche eingerichtet ist, die durch auf der Skalenscheibe an gebrachte symbolische Darstellungen kenntlich gemacht sind. 14. Exposure meter according to claim, characterized in that the instru ment is set up for two measuring ranges, which are indicated by symbolic representations attached to the dial. 15. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass die zwei Messbereiche durch Veränderung des zur Zelle gelangenden Lichtstromes bewirkt werden. 15. Light meter according to the dependent claim 14, characterized in that the two Measuring ranges by changing the for Cell reaching luminous flux can be caused. 16. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass als Mit tel zur Veränderung des zur Zelle ge langenden Lichtstromes ein vor die Zelle schaltbarer Deckel mit darin angebrach ter Lochblende dient. 16. Light meter according to the dependent claim 15, characterized in that a cover which can be switched in front of the cell and has an aperture plate attached therein serves as a means of changing the luminous flux reaching the cell. 17. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass für die beiden Messbereiche je eine getrennte Skala, und zwar eine für kurze und eine für lange VerschluBzeiten vorgesehen ist. 17. Light meter according to the dependent claim 15, characterized in that one separate each for the two measuring ranges Scale, one for short and one for long locking times. 18. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass ein Zellendeckel im aufoeklappten Zustande als Messwinkelbegrenzung nach unten dient. 18. Light meter according to the dependent claim 15, characterized in that a cell cover in the unfolded state serves as a downward measuring angle limit. 19. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 15. dadurch gekennzeichnet, dass die Lochblende (4) am Deckel (3) unterhalb einer parallel zur Gehäuseunterseite lie genden Mittelebene des Gerätes nach der Unterseite hin liegt, so dass die mittlere Einstrahlungsriehtung auf die Zelle (1) bei Messung mit geschlossenem Deckel die gleiche ist wie bei Messung mit offe nem Deckel. 19. Exposure meter according to dependent claim 15, characterized in that the Orifice plate (4) on the cover (3) below a parallel to the underside of the housing lying mid-plane of the device after Is on the underside, so that the middle irradiation direction on the cell (1) when measuring with the lid closed is the same as when measuring with the lid open. 20. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass eine Lochblende im Deckel eine nach innen zu sich vergrössernde konische Form besitzt, damit die Zellenfläche bei grösstmögli- chem Abstand der wirksamen Öffnung eine möglichst gleichmϯige Ausleuch tung erhält. 20. Exposure meter according to dependent claim 15, characterized in that a The aperture in the cover has a conical shape that enlarges towards the inside so that the cell surface is illuminated as evenly as possible with the greatest possible distance from the effective opening. 21. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass eine Feder (12) vorgesehen ist, welche die lichtempfindliche Zelle an ihr Gegen lager drückt. 21. Light meter according to the dependent claim 11, characterized in that a Spring (12) is provided which presses the light-sensitive cell against its counter-bearing.
CH212216D 1938-09-08 1939-07-26 Photoelectric light meter. CH212216A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10213410B4 (en) * 2002-03-26 2006-02-16 Gossen - Foto- und Lichtmeßtechnik GmbH Photoelectric measuring device

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